【課題】出力信号がＯＮ／ＯＦＦのセンサのみならず、アナログ信号のセンサも併せてハーネスを少なくし得るセンサ信号処理回路装置を提供する。
【解決手段】ＯＮ／０ＦＦの検出信号を出力する複数のセンサの各検出信号を、各検出信号が入力される記憶部を持つ記憶回路４２，４３，４５に記憶し、またアナログの検出信号を出力するセンサの検出信号をＡ／Ｄ変換器４８Ａ、４８Ｂ、でデジタル信号に変換して記憶回路４９Ａ，４９Ｂに記憶し、これら記憶回路４２、・・・、４９Ｂに記憶したパラレルのデジタル信号をシリアルＯＵＴ回路４６で、シリアルデータに変換し、シリアルデータ伝送路13、２６を介してメインコントロール部３に伝送する。 （もっと読む）

【課題】簡単な回路構成で製造コストの上昇につながらないＡＤ変換器の故障検出装置を提供する。
【解決手段】アナログ信号電圧を入力するための３チャンネル以上の入力端子を有し、アナログ信号電圧をデジタル信号値にＡＤ変換するＡＤ変換器において、ＡＤ変換後の値が予め定められた所定の関係になるように、少なくとも２点の電圧値を設定する設定手段と、少なくとも２点の電圧値のＡＤ変換値から少なくとも２点の電圧値の関係を求める算出手段と、算出された少なくとも２点の電圧値の関係と所定の関係とを比較し、両者の差が所定の値を超えた場合にＡＤ変換器の故障と判定する故障検出手段と、を備えることを特徴とするＡＤ変換器の故障検出装置として実現可能である。 （もっと読む）

【課題】簡単な回路構成で製造コストの上昇につながらないＡＤ変換器の故障検出装置を提供する。
【解決手段】アナログ信号電圧を入力するための少なくとも一つの入力端子を有し、アナログ信号の電圧値をデジタル信号値にＡＤ変換するＡＤ変換器と、アナログ信号のＡＤ変換値に、パリティビットを付加するパリティ演算部と、アナログ信号のＡＤ変換値およびパリティビットを記憶する変換結果記憶部と、変換結果記憶部からＡＤ変換値を読み出すとともにパリティビットの整合性を調べ、パリティビットの不整合があった場合にＡＤ変換器の故障と判定する故障検出手段と、を備えたことを特徴とするＡＤ変換器の故障検出装置として実現可能である。 （もっと読む）

【課題】ＡＤ変換ブロックに入力されるアナログ信号をサンプルして少なくとも保持するための回路に入力される信号のセトリングタイムは、遅延しがちであった。
【解決手段】アナログデジタル変換器３において、ＡＤ変換回路１８は、アナログ信号をサンプルし、目標ビット数より少ない所定ビット数のデジタル値に変換する。増幅回路１６は、ＡＤ変換回路１８と並列に設けられ、ＡＤ変換回路１８がサンプルするアナログ信号を保持、または所定の増幅率で増幅する。サンプルホールド回路１０の出力側に、増幅回路１６用の第１ソースフォロワ回路１２と、ＡＤ変換回路１８用の第２ソースフォロワ回路１４を個別に設けた。 （もっと読む）

【課題】漏れ信号の少ないＤＡコンバータを提供する。
【解決手段】抵抗値Ｒの抵抗１８ａ，１８ｂ，１８ｃと抵抗値２Ｒの抵抗１９ａ，１９ｂ，１９ｃ，１９ｄ，１９ｅから成り、基準電圧Ｖｒｅｆを分割する様に成したＲ−２Ｒ型ラダー抵抗網、入力信号であるデジタル信号の各ビット毎に設けられ、抵抗値２Ｒ抵抗の抵抗値Ｒ抵抗と接続されていない端部をアース若しくは演算増幅器ＯＡの反転入力端子の何れかに切り換える切換スイッチを備え、切換スイッチは２段構えとし、１段目の切換スイッチは、前記抵抗値２Ｒ抵抗の抵抗値Ｒ抵抗と接続されていない端部をアース若しくは２段目の切換スイッチの何れかに切り換える様にし、２段目の切換スイッチはアース若しくは演算増幅器ＯＡの反転入力端子の何れかに切り換える様に成す。 （もっと読む）

【課題】 共通の信号発生源からのアナログ信号が複数のマイクロコンピュータに入力される場合に、信号ラインにインピーダンス変換素子やノイズ吸収用のコンデンサを設けなくとも、正確に信号を入力できる信号処理装置を提供する。
【解決手段】 共通の信号発生源からのアナログ信号をデジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換処理部を有し、前記Ａ／Ｄ変換処理部で変換処理されたデジタル信号を入力して所定の処理を実行するマイクロコンピュータが前記共通の信号発生源に対して複数設けられる信号処理装置であって、前記マイクロコンピュータの少なくとも一つに、他のマイクロコンピュータからの入力許容信号を受けて前記Ａ／Ｄ変換処理部を駆動する受動入力制御を実行する信号入力制御部と、他のマイクロコンピュータに対して前記Ａ／Ｄ変換処理部の駆動を許容する入力許容信号を出力する信号出力制御部を設ける。 （もっと読む）

【課題】 試験力や伸び等の複数の検出出力をそれぞれＡ−Ｄ変換する材料試験機において、その材料試験機が有しているＡ−Ｄ変換用のチャンネル数を無駄なく活かした設定を可能とする。
【解決手段】 Ａ−Ｄ変換器２２，２３として、複数のチャンネルを備え、かつ、外部からの選択信号により各チャンネルの使用／不使用状態を選択できるとともに、使用チャンネル数がサンプリングレート／精度とトレードオフとなっているものを用い、その各Ａ−Ｄ変換器２２，２３に対して各チャンネルの使用／不使用の選択信号を供給する選択手段（操作部２ａ）を設けることにより、材料試験機が有しているＡ−Ｄ変換用チャンネル数と、ユーザーが実際に使用するＡ−Ｄ変換チャンネル数との関連により、少ないチャンネル数でよい場合には高速・高精度のＡ−Ｄ変換を行うなど、チャンネル数とサンプリングレートまたは精度のうち、どちらを優先させるか等をユーザーサイドで選択可能とする。 （もっと読む）

【課題】アナログ信号（４０）をデジタル信号に変換するシステムおよび方法を提供する。
【解決手段】本技術は、サンプリングされたアナログ信号を受け取り、ＤＡＣ出力値と所望のＡＤＣ入力値との間のセグメント化された関係（６４）の複数のセグメント（６６、７０、７２、７４、７６、および７８）のうちの１つを選択するものである。選択されたセグメントに基づいて、所望のゲインおよびオフセット値がＤＡＣ出力値またはサンプリングされたアナログ信号に適用される。サンプリングされたアナログ信号は、所望のゲインおよびオフセット値に基づいてデジタル信号に変換される。 （もっと読む）

【課題】 センサの温度ドリフトや外来ノイズの影響により出力信号が大きく変動して飽和することを防ぎ、安定した測定を行うこと。
【解決手段】 オフセット成分１１を加減算して測定されたアナログ入力信号１０をＡ／Ｄコンバータ２によりデジタルの出力信号１３に変換し、オフセット成分を更新する条件が満たされている場合にはＡ／Ｄコンバータ２から出力された出力信号１３をもとに、新たにオフセット成分を算出し、その算出されたオフセット成分を更新する。 （もっと読む）

【課題】
供給される基準電圧に応答して、入力されるアナログ信号をＡＤ変換してデジタルデータを出力する半導体装置において、その基準電圧が変動するときでも、その電圧変動の影響を受けることのないデジタルデータを生成する半導体装置を提供する。
【解決手段】
基準電圧を生成する基準電圧生成回路と、その基準電圧に応答して、センサから出力される出力電圧をＡＤ変換するＡＤ変換回路とを具備する半導体装置を構成する。そして、その基準電圧生成回路は、基準電圧に対応するセンサ用電圧を生成して、そのセンサ用電圧をセンサ用電圧出力端子を介してセンサに供給する。 （もっと読む）

【課題】 アナログ信号のレベルを検出できない場合でも、アナログ信号をデジタル信号に正しく変換でき、異常なデジタル信号が出力されてしまうような事情を抑制すること。
【解決手段】 ＡＤ変換回路は、アナログ信号のレベルが基準信号のレベルより低い場合に、このアナログ信号を第１の固定レベルのデジタル信号に変換する第１のレベル固定回路、及びアナログ信号のレベルが基準信号のレベルより高い場合に、このアナログ信号を第２の固定レベルのデジタル信号に変換する第２のレベル固定回路の少なくともいずれか一つを含む。 （もっと読む）

【課題】多線読出しセンサを用いた撮像装置において、ＡＤ変換後にディジタル信号処理プロセッサまでの基板内配線数を減らすことによって、装置内部でのノイズ発生量を抑圧し、センサからＡＤまでのアナログ信号系にフィードバックするキックバックノイズを減少させる。
【解決手段】結果的にディジタル信号の配線数を減らすことによって、アナログ・フロント・エンドＬＳＩや基板の面積を小さくする。 （もっと読む）

マルチチャンネル回路（１）は、複数のオンチップチャンネル（ＣＨ１からＣＨ４）を備えていて、それらの各々は、インターフェース及び制御論理回路（１１）の制御下で、互いに別々に、デジタルデータをアナログ出力信号に変換するためのＤＡＣ（３）を備えている。ＤＡＣ（３）からのアナログ出力信号は、それぞれのチャンネル（ＣＨ１からＣＨ４）の出力端子（７）に出力される。デジタル入力データと、ＤＡＣ（３）内のデジタルデータの変換を制御するための制御及びアドレス信号とが、Ｉ／Ｏポート（１０）を通して、インターフェース及び制御論理回路（１１）に入力される。ＤＡＣレジスタ（９）が、それぞれのチャンネル（ＣＨ１からＣＨ４）に設けられていて、対応するＤＡＣ（３）で変換されるべきデジタルワードを格納する。アナログ入力端子（２０）が設けられていて、アナログ入力信号、例えば、ＤＡＣ（３）からの出力信号によって制御可能な外部システムからのアナログ信号を受信する。マルチプレクサ（１５）は、インターフェース及び制御論理回路（１１）の制御下で操作可能であり、ＤＡＣ（３）からのアナログ出力信号と、アナログ入力端子（２０）からのアナログ入力信号とを、監視出力端子（１６）に、選択的かつ順次的に加えて、ＤＡＣ（３）からのアナログ出力信号と、アナログ入力端子（２０）上のアナログ入力とを別々に監視することを容易にする。
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【課題】ＡＤ変換装置を同一チップ上に搭載した固体撮像装置において、回路規模や伝送信号線の数をコンパクトにしつつ、積和演算処理も効率的にできるようにする。
【解決手段】ｎ行の読出期間の画素信号と、この画素信号をデジタル化する参照信号とを比較するとともに、この比較処理と並行してダウン／アップの何れかのモードでカウント処理を行ない、比較処理が完了した時点のカウント値を保持する。次に、このｎ行のカウント処理結果を初期値として、ｎ＋１行の読出期間の画素信号と、この画素信号をデジタル化する参照信号とを比較するとともに、ダウン／アップの何れかのモードでカウント処理を行ない、比較処理が完了した時点のカウント値を保持する。ｎ＋１行のカウント処理後のカウント値は、ｎ＋１行のカウント処理のモードをｎ行におけるカウントモードと逆にすれば減算結果となり、同じにすれば加算結果となる。 （もっと読む）

オプトエレクトロニック送受信機の動作監視回路は、オプトエレクトロニック送受信機の一つまたは複数の動作状態を表わすアナログ入力信号を処理しディジタル信号結果を生成するための一連の相互接続された信号処理回路を含む。一連の信号処理回路は、アナログ入力信号を利得値により増幅または減衰してスケーリングされたアナログ信号を生成する利得回路、スケーリングされたアナログ信号を第１のディジタル信号に変換するアナログ・ディジタル変換器、および第１のディジタル信号をディジタル的に調整してディジタル信号結果を生成するディジタル調整回路を含む。ディジタル調整回路は、ディジタルシフト信号を生成するために、入力ディジタル信号をシフト値に従ってシフトするように構成されたシフト回路を含む。ディジタル信号結果は、ホストによりアクセス可能な所定の場所の記憶装置に格納される。

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【解決手段】信号のダイナミックレンジを増加するための複数の信号利得を有するデータ信号増幅及び処理回路が与えられる。入力データ信号は複数の信号利得に従って処理される。生成された信号は複数の信号値を有し、所定の下側及び上側閾値と比較される。所望の出力信号は、最大値が所定の下側閾値を横切らない場合には最大サンプル信号値であり、複数のサンプル信号値の内の隣接する大きいものが所定の上側閾値を横切る場合には最小サンプル信号値であり、一対のサンプル信号値の大きい方が所定の上側閾値を横切りかつ小さい方の値が所定の下側閾値を横切らない場合には複数のサンプル信号値の内の相互に隣接する一対の小さい方であり、大きい方の値が所定の下側閾値を横切りかつ所定の上側閾値を横切らない場合には一対のサンプル信号値の小さい方と大きい方との組み合わせである。 （もっと読む）

センサ（１０）は、第１の比較器入力端に結合される出力端を有する。制御回路（１８）は、上方向追跡モードから、下方向相対レベル検出モード、下方向追跡モード、上方向相対レベル検出モード、そして再び上方向追跡モードに、次々に切り換わるように構成される。第１および第２のディジタル・アナログ変換回路（１４ａ、ｂ）は、制御回路（１８）からそれぞれ第１および第２のディジタル制御値を受け取る。制御可能コンバイナ回路（１６）は、第１および第２のディジタル・アナログ変換回路（１４ａ、ｂ）の出力端に結合された入力端と、第２の比較器入力端に結合された出力端とを有し、制御回路（１８）は、コンバイナ回路（１６）が、上方向および下方向追跡モードではそれぞれ第１および第２のディジタル・アナログ変換回路（１４ａ、ｂ）によって決まる第１および第２のコンバイナ出力信号を第２の比較器入力端に供給し、相対レベル検出モードでは第１および第２のコンバイナ出力信号の平均値に対応する第３のコンバイナ出力信号を第２の比較器入力端に供給させるために、制御可能コンバイナ回路（１６）に結合された、第１の出力端を有する。制御回路（１８）は比較器（１２）の出力端に結合された入力端を有し、制御回路（１８）は、上方向追跡モードでは、第１のディジタル・アナログ変換回路（１４ａ）による、センシング信号の上方向変化に対する一方向性の上方向追跡を制御し、上方向追跡モードでは、第２のディジタル・アナログ変換回路（１４ｂ）による、センシング信号の下方向変化に対する一方向性の下方向追跡を制御する。
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本発明は、アナログ測定信号を用意するための少なくとも１つのセンサ装置とアナログ測定信号のデジタル化のための第１のアナログ／デジタル変換器を備えている信号検出装置とを備えている電子回路に関する。センサ装置および信号検出装置に給電する給電電圧の変動の差異は基本的に測定信号中の所望しない変動の形において現れる。
この作用効果を最小限にするまたは補償するために、本発明によれば、第１の給電電圧（ＶＳ１）の不正確さｘ１を表している電圧信号（Ｕ）に応答してデジタル化された測定信号を補正することが提案される。
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