【課題】ランプ信号の傾きを変えてＡＤ変換ゲインを上げても横線状のノイズの発生を抑制することができる固体撮像装置を提供することを課題とする。
【解決手段】２次元状に配列された複数の画素と、ランプ信号を生成する参照信号生成回路と、ランプ信号の出力に合わせてカウント動作を行うカウンタ回路と、列毎に配置され、画素からの画素信号をランプ信号と比較処理してＡＤ変換するＡＤ変換回路とを備え、ＡＤ変換回路に、画素信号及びランプ信号が入力される比較器とＡＤ変換結果を記憶する記憶部とを設けるとともに、参照信号生成回路の出力端子とランプ信号を入力するための比較器の入力端子との間にランプ信号の傾きを変える振幅変換回路を設けて、ランプ信号に重畳するノイズがランプ信号の傾きに依存して変化するようにする。 （もっと読む）

【課題】複数のメモリ間でのショート故障の有無を検査できる構成を有するＡＤＣおよびその検査方法、ＡＤＣを有する撮像装置、撮像装置を有する撮像システムを提供する。
【解決手段】複数のメモリと複数の比較器とを含んで構成される回路部を複数有し、アナログ信号をデジタル信号に変換するアナログデジタル変換回路であって、複数の回路部の一部に含まれるメモリと複数の回路部の別の一部に含まれるメモリとで異なるデジタル信号を保持するようにテスト信号を供給するテスト信号供給部と、出力比較部と、転送部を有することを特徴とするアナログデジタル変換回路である。 （もっと読む）

【課題】ゲインａ、およびオフセットｂの変動を動的に補正することで、１チップのＩＣ内で高精度な電流検出が可能な電流制御用半導体素子、およびそれを用いた制御装置を提供することにある。
【解決手段】
同一半導体チップ上に、トランジスタ４と、電流−電圧変換回路２２とＡＤコンバータ２３とを有する。参照電流生成回路６，６’は、負荷２の電流に電流パルスＩｃを重畳して、ＡＤコンバータが出力する電圧デジタル値を変動させる。ゲインオフセット補正部８は、参照電流生成回路６，６’による電圧デジタル値の変動を信号処理して、ＡＤコンバータ２３が出力する電圧デジタル値と負荷の電流デジタル値の線形関係式におけるゲインａ，ａ’及びオフセットｂ，ｂ’を動的に取得する。電流デジタル値演算部１２は、ゲインオフセット補正部８により取得されたゲイン及びオフセットを用いて、ＡＤコンバータが出力する電圧値を補正する。 （もっと読む）

【課題】画素数の増大に伴うバッファの数の増大、微細化に伴うプロセスばらつきの増大により、このクロック信号のデューティ比の崩れを抑制する。
【解決手段】固体撮像装置１は、複数の画素１０がアレイ状に配置された画素部２０と、少なくとも一つのアナログデジタル変換部３０を含む第１グループおよび第２グループを有する変換部と、直列に接続された第１のクロックバッファおよび第２のクロックバッファを有するクロック供給部とを含み、第１グループおよび第２グループのアナログデジタル変換部のそれぞれは、比較部およびカウンタ部を有し、第１のクロックバッファは、補正されたクロック信号を偶数段のＣＭＯＳインバータ回路を介して、第１グループのカウンタ部のそれぞれと第２のクロックバッファに出力し、第２のクロックバッファは、補正されたクロック信号を偶数段のＣＭＯＳインバータ回路を介して第２グループのカウンタ部のそれぞれに出力する。 （もっと読む）

【課題】応答性を早くすることができるライトセンサを提供する。
【解決手段】センサ信号をデジタル信号に変換する制御部３０に、センサ信号と所定の閾値とを比較する比較手段３２と、比較手段３２の比較結果に基づいてＡＤ変換開始信号を出力する処理手段３３と、センサ信号を第１デジタル信号に変換する第１ＡＤ変換手段３１とを備える。そして、処理手段３３に、受光素子が所定期間露光したときの所定期間経過時のセンサ信号を出力制御回路から比較手段３２に入力させ、比較手段３２の比較結果に基づき、センサ信号が閾値以上のときは第１ＡＤ変換手段３１にＡＤ変換開始信号を入力してセンサ信号を第１デジタル信号に変換させ、センサ信号が閾値未満のときは出力制御回路に受光素子の出力期間を延長させ、延長期間経過時のセンサ信号を比較手段３２に入力させて比較手段３２の比較結果に基づいた処理を行わせる。 （もっと読む）

【課題】アナログ信号の減算を行うことができるAD変換回路および撮像装置を提供する。
【解決手段】ランプ部19は、時間の経過とともに増加または減少する参照信号を生成する。比較部109は、AD変換の対象となるアナログ信号と参照信号とを比較し、参照信号が前記アナログ信号に対して所定の条件を満たしたタイミングで比較処理を終了する。主カウント部18はカウントを行い、カウント値を出力する。ラッチ部108は、第1のアナログ信号に係る比較処理の終了に応じた第1のタイミングで第1のカウント値をラッチした後、第2のアナログ信号に係る比較処理の終了に応じた第2のタイミングで第2のカウント値をラッチする。列カウント部103は、ラッチ部108に保持された第1のカウント値を構成する各ビットの値に基づいて初期値を設定した後、ラッチ部108に保持された第2のカウント値を構成する各ビットの値を順次カウントする。 （もっと読む）

【課題】消費電流を低減することができるAD変換回路および固体撮像装置を提供する。
【解決手段】比較部109は、AD変換の対象となるアナログ信号と、時間の経過とともに増加または減少する参照信号とを比較し、参照信号がアナログ信号に対して所定の条件を満たしたタイミングで比較処理を終了する。第1のカウント部18は、所定の周波数のクロック信号をカウントクロックとしてカウントを行い、カウント値を出力する。ラッチ部108は、第1のカウント部18から出力されるカウント値をラッチする。ラッチ制御部105は、比較処理の終了に係る第1のタイミングでラッチ部108を有効にし、第1のタイミングを所定の時間だけ遅延させた第2のタイミングでラッチ部108にラッチを実行させる。 （もっと読む）

【課題】Ａ／Ｄ変換回路によるアナログ・デジタル変換動作に伴う消費電力を低減し、かつ、高い精度の変換結果を得ることができる撮像装置を提供する。
【解決手段】画素が行列状に複数配置された画素部と、対応する列の画素信号の大きさに応じた遅延時間でパルス信号を走行させる遅延素子が円環状に複数段連結された複数のパルス走行回路と、対応する１つの遅延素子からの遅延出力信号が入力され、入力信号を反転した第１の反転信号を出力する第１の反転回路と、第１の反転信号を反転した第２の反転信号を出力する第２の反転回路とを具備した複数のラッチ回路と、ラッチ回路による反転動作を制御するラッチ制御回路と、を備え、パルス走行期間に遅延出力信号の反転動作を禁止し、パルス走行期間が終了する前の予め定めたラッチタイミングのときに遅延出力信号の反転動作を許可し、ラッチ期間に第１の反転回路に第２の反転信号の反転動作を行わせる。 （もっと読む）

【課題】オーバーレンジのアナログデジタル変換において、隣接する２つのサブレンジの境界付近における入出力特性の不連続性を低減することができる固体撮像装置を提供する。
【解決手段】カウンタ７８２は、第２の変換ステージにおいて、クロックに応じてインクリメントされる。ランプ電圧発生部６１８は、カウンタ７８２の値に応じた大きさのランプ電圧を出力する。第２の変換ステージにおいて、カウンタ７８２の初期値がＳであり、カウンタの取りうる値はサブレンジに対応してＭ個で、隣接するそれぞれのオーバーラップ領域に対応してＬ個である。シーケンサは、第１の電圧と第２の電圧の差が、カウンタ７８２の値が（Ｓ＋Ｌ）のときのランプ電圧の値である第１ランプ電圧とカウンタ７８２の値が（Ｓ＋Ｌ＋Ｍ−１）のときのランプ電圧の値である第２ランプ電圧との差に等しくなるように調整部６１３に調整させる。 （もっと読む）

【課題】低照度から高照度までの入力に対してリニアな出力を得ることが可能であるとともに、フォトダイオードの出力電流の温度依存性を補正することができる光センサを実現する。
【解決手段】光センサ（１）において、第１のアナログ−デジタル変換回路（１１）に、第１のフォトダイオード（ＰＤ１）の出力電流の温度依存性を補正する温度係数を有する抵抗を備えた第１の基準電流源が備えられ、第２のアナログ−デジタル変換回路（１２）に、第２のフォトダイオード（ＰＤ２）の出力電流の温度依存性を補正する温度係数を有する抵抗を備えた第２の基準電流源が備えられ、第１の基準電流源を用いて出力された第１の検出結果（ＡＤＣＯＵＴ１）と、第２の基準電流源を用いて出力された第２の検出結果（ＡＤＣＯＵＴ１）とから、第２のフォトダイオード（１２）による可視波長域の受光強度を検出することによって照度を測定する。 （もっと読む）

【課題】高精度且つ高分解能のＡ／Ｄ変換を行いつつ、サイズ縮小を可能にしたＡ／Ｄ変換回路を搭載した半導体装置を提供する。
【解決手段】１つのループ状抵抗配線を複数の電源供給スイッチ及び複数の出力回路で共有化し、該抵抗配線及び複数の電源供給スイッチを用いて発生させた三角波（階段状）波形を有する参照電圧を利用する事で、煩雑な回路を用いることなくサイズ縮小を可能にしたＡ／Ｄ変換回路を出力回路に用いて、高精度なデジタル信号を得ることができる。また、Ａ／Ｄ変換回路の構成要素が少ないため、並列型のＡ／Ｄ変換回路では、個々のＡ／Ｄ変換回路間でのばらつきを少なくすることができる。 （もっと読む）

【課題】フィールド機器の状態を監視するに際して、フィールド機器が接続されているアナログ通信路を通じた通信の状態を確認できるようにする。
【解決手段】機器監視ユニット１５は、（１）フィールド機器１０におけるアナログ通信路へのアナログ出力値についてのデジタル設定値と、（２）入出力ユニット１１におけるＡＤ変換器１１５３のデジタル値、及び、（３）入出力ユニット１１のメモリ１４に記憶されたデジタル設定値の一方との組を、それぞれデジタル通信路１６を通じて取得し、取得した各値に基づいて、アナログ通信路を通じた通信の状態をチェックする。 （もっと読む）

【課題】より簡単な回路構成で高分解能な変換が実現できるＡＤ変換回路を提供する。
【解決手段】参照信号とアナログ信号とを比較する比較部１０７と、増幅部１０６と、を有し、１段階目のＡＤ変換によってｉ−ｂｉｔ（ｉ≧２の整数）のデジタルコードを得、２段階目のＡＤ変換によってｊ−ｂｉｔ（ｊ≧２の整数）のデジタルコードを得ることで、前記アナログ信号を（ｉ＋ｊ）−ｂｉｔのデジタル信号に変換するＡＤ変換回路であって、該ＡＤ変換回路は、前記１段階目のＡＤ変換において、前記比較部で前記アナログ信号と前記参照信号との比較を行い、前記増幅部は、前記アナログ信号と、前記ｉ−ｂｉｔのデジタルコードに対応するアナログ信号と、の差分を増幅した増幅残差信号を出力し、前記２段階目のＡＤ変換において、前記増幅残差信号を前記参照信号と前記比較部で比較する。 （もっと読む）

【課題】ポテンショメータの抵抗値や電流源による電流が変化した場合でも、製造バラツキや使用環境等の影響を受けないデジタル出力を得ることができるＡＤ変換器を提供する。
【解決手段】被第１積分電圧Ｖｉｎが入力されているときに被第１積分電圧Ｖｉｎと基準電圧Ｖｃｏｍとの差分の電圧を積分する第１積分を行い、第１積分の実行後、被第２積分電圧Ｖｒｅｆが入力されているときに被第２積分電圧Ｖｒｅｆと基準電圧Ｖｃｏｍとの差分の電圧を積分する第２積分を行い、少なくとも第２積分に応じた積分電圧を出力する積分器１２と、第２積分を開始してから積分電圧と基準電圧Ｖｃｏｍとが等しくなるまでの時間を計測して出力するコンパレータ１３及びＬＯＧＩＣ１４と、を備えた２重積分型ＡＤコンバータ１０と、被第１積分電圧Ｖｉｎを変化させるとともに、被第２積分電圧Ｖｒｅｆ及び基準電圧Ｖｃｏｍを変化させる抵抗−電圧変換回路３０と、を備える。 （もっと読む）

【課題】誤カウントの発生を抑制することができるAD変換回路および撮像装置を提供する。
【解決手段】上位カウンタ101は、遅延回路から出力される第1の下位位相信号を構成する1つの出力信号をカウントクロックとしてカウントを行い、さらに下位カウンタ103から出力されるカウントクロックに基づいてカウントを行って第1の上位計数値を取得する。第1の上位計数値を構成する各ビットの値が反転された後、上位カウンタ101は、遅延回路から出力される第2の下位位相信号を構成する1つの出力信号をカウントクロックとしてカウントを行い、さらに下位カウンタ103から出力されるカウントクロックに基づいてカウントを行って第2の上位計数値を取得する。また、上位カウンタ101は、カウントクロックの切換えの際に保持している上位計数値を保護するデータ保護機能を有する。 （もっと読む）

【課題】消費電力を低減させる。
【解決手段】時間とともに電圧値が線形に変化するランプ波形の参照電圧と入力電圧とを比較する比較器と、比較器の出力が反転したことをトリガとして動作開始もしくは動作停止し、クロック信号の周期毎に計数する上位ビットカウンタと、位相の異なる複数のクロック信号を用いて比較器の出力が反転したタイミングで位相情報をラッチしその値をデコードすることでクロック信号周期より分解能が高い下位ビットを出力する時間量子化器を有する積分型Ａ／Ｄ変換装置において、照度に応じて分解能を減じることで、位相情報を持つクロック信号を停止させ、消費電流を減らす。本発明は、イメージセンサに適用できる。 （もっと読む）

【課題】ＡＤＣのＳＮＲを向上し、かつ、マイクロフォン用ＩＣ全体の歪み特性の劣化を最低限に抑えること。
【解決手段】本発明にかかる信号変換装置は、入力アナログ信号を増幅して出力するプリアンプ回路と、入力クロックのサイクルに応じて、プリアンプ回路からの出力に基づくアナログ信号をデジタル信号へ変換するＡＤ変換器と、入力クロックの周波数に応じて、デジタル信号へ変換される前のアナログ信号である変換前アナログ信号の調整を制御する調整制御回路と、を備える。 （もっと読む）

【課題】加熱部に流れるＰＷＭ制御された交流電流の振幅および実効値を正確に測定する。
【解決手段】加熱部３に流れるＰＷＭ制御された交流電流を電圧信号に変換する電流電圧変換部１０１と、電流電圧変換部１０１により変換された電圧信号を、当該電圧信号の波形を再現可能なサンプリング周期で、デジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換器１０３と、Ａ／Ｄ変換器１０３により変換されたデジタル信号に基づいて、交流電流の振幅および実効値を算出する測定部１０５とを備えた。 （もっと読む）

【課題】低コスト化および小型化を図ることが可能なセンサ故障検出装置を提供する。
【解決手段】電源ラインと複数のセンサのそれぞれの、接地されていない他の一端に接続された分圧回路を介して分圧された複数のセンサの出力電圧が入力され、入力された複数のセンサの出力電圧のうちの一つを選択して出力する出力選択回路と、出力選択回路を介して入力されたセンサの出力電圧をデジタル値に変換するアナログ／デジタル変換回路と、電源ラインと出力選択回路の出力側との間に分圧回路をバイパスする、導通／遮断の切換が可能なバイパス回路と、を備え、バイパス回路を導通した状態で、出力選択回路を介して入力されたセンサの出力電圧をデジタル値に変換し、そのデジタル値に基づいて該センサの故障を判定する。 （もっと読む）

【課題】固体撮像装置を大型化させることなく、Ａ／Ｄ変換回路の動作に起因する入力およびＧＮＤの電圧レベルの変動を低減し、出力するデジタル値の変動（誤差）を低減することができる固体撮像装置を提供する。
【解決手段】光電変換素子のリセット信号と画素信号とを出力する画素が二次元の行列状に複数配置された画素部と、所定の１つの画素からのリセット信号および画素信号が順次入力される第１の容量と、画素信号とリセット信号との差を保持する第２の容量とを具備し、差分信号を出力するアナログ信号処理部と、差分信号の大きさに応じた遅延時間でパルス信号を遅延させる遅延素子がリング状に複数段接続された遅延回路と、パルス信号の遅延回路内の伝播を検出した結果に基づいたデジタル信号を生成するアナログ・デジタル変換器と、アナログ信号処理期間とサンプリング期間とで第１の容量の接続を切り替える切り替え回路と、を備える。 （もっと読む）