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Fターム[5L096BA03]の内容

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Fターム[5L096BA03]に分類される特許

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【課題】屋外の評価対象物や判定実施物から離れた地点から撮影した画像であって照明条件が一定に保たれていない画像であっても腐食度の判定を精度良く行うことを可能にする。
【解決手段】評価対象物の事例画像データ及び事例画像に対して色温度及び明るさ又はそれらの一方を変化させた加工事例画像データの画像特徴量を抽出すると共に特徴空間上に表現して腐食度の判別面を生成するステップ(S1)と、判定実施物の判定画像データ及び判定画像に対して色温度及び明るさ又はそれらの一方を変化させた加工判定画像データの画像特徴量を抽出して判別面を用いて判定画像の腐食度を判定するステップ(S2)とを有するようにした。 (もっと読む)


【課題】パターン形状に歪みがあり、エッジ強度にバラつきがある画像においても、的確なマッチング位置が得られる統一的なテンプレート・マッチング手法を提供する。
【解決手段】テンプレート・マッチングで得られた正規化相関マップに重心距離フィルタを施して得られた上位候補の各位置周辺における相関値寄与率マップを作成し、これらの相関値寄与率マップから補正強度画像を作成し、補正強度画像に基づいて輝度補正し、各候補位置周辺で再度局所的にマッチングを行い、新たに得られた候補位置と相関値によって候補をソートしなおす。これにより、パターン形状に歪みがあり、エッジ強度にバラつきがある画像においても、統一的に的確なマッチング位置を得ることができる。 (もっと読む)


【課題】疵の判別性能を従来よりも向上させる。
【解決手段】第1群の特徴量f1〜f50について、第1群の特徴量f1〜f50の値の組と疵種「C1」、「C2」とを対応付けるための複数の部分特徴量空間を生成して学習モデルAを形成する。次に、第2群の特徴量f51〜f100のデータの夫々について学習モデルAを適用する。この結果、第2群の特徴量f51〜f100のデータのうち、学習モデルAでは疵種「C1」、「C2」を特定できない疵データを棄却クラスのデータとする。そして、学習モデルAでは疵種「C1」、「C2」を特定できない特徴量について、当該特徴量の値の組と疵種「C1」、「C2」とを対応付けるための複数の部分特徴量空間を生成して学習モデルBを形成する。 (もっと読む)


【課題】入力画像の対象物対応領域がテンプレート画像の対象物領域と比べて変形している場合や、入力画像にノイズが重畳している場合でも、対象物を正しく検出することができる(検出したかどうかの判断が可能となる)一致度を計算する。
【解決手段】入力画像と、対象物のテンプレート画像とを対比し、入力画像とテンプレート画像との一致度を計算する一致度計算装置であって、入力画像を、テンプレート対象物領域と整合するように変形する変形手段と、変形後の入力画像とテンプレート画像との一致度を計算する手段とを備え、前記変形手段は、入力画像の対象物対応領域において、テンプレート対象物領域の形状に合わせて非背景領域を整形する手段と、入力画像の対象物非対応領域において、テンプレート対象物対応領域に接する非背景領域を、前記一致度に影響を与えないように設定する処理手段と、を備える。 (もっと読む)


【課題】一様な照明変化ではなく各スペクトルが変動した場合において、画像の照合が困難であった。
【解決手段】基準画像の各画素と、対象画像の各画素について、2以上の色成分を取得する色成分取得部と、基準画像の各画素の色成分ごとに、方向符号値を算出し、1以上の方向符号値の集合である第一の方向符号値群を取得し、かつ、対象画像の各画素の色成分ごとに、方向符号値を算出し、1以上の方向符号値の集合である第二の方向符号値群を取得する方向符号値算出部と、色成分ごとの第一の方向符号値群と、色成分ごとの第二の方向符号値群との類似度である第一の類似度を算出し、当該色成分ごとの第一の類似度を用いて、基準画像と対象画像との類似度である第二の類似度を算出する類似度算出部と、第二の類似度を出力する類似度出力部を具備する画像処理装置により、カラー画像の類似度の精度の高い検出が可能となる。 (もっと読む)


【課題】他の判別結果に対する影響を抑えつつ、誤判定した判定対象に対し所望の判別結果が得られるよう判別規則を調整可能な判別装置、判別方法及びプログラムを提供すること。
【解決手段】判別対象が複数種類の集合のいずれに属するかを判別する判別装置100を提供する。この判別装置100は、判別結果が既知の学習用特徴情報とその学習用判別結果情報とに基づいて、学習用特徴情報を特徴情報による空間上の点を写像した際を写像先の空間上で点を線形分離する判別面と、判別面までの距離が最短の点との距離が最大になるように判別面を算出して判別関数とする判別関数算出部112と、判別関数による判別結果情報と既知の判別結果とが異なる誤判別特徴情報の判別関数への影響係数を調整する判別関数修正部120と、当該判別結果が未知の判別対象の特徴情報と修正された判別関数とに基づいてその判別対象を判別する判別部130とを有する。 (もっと読む)


【課題】非検出対象のノイズを確実に除去し、検出対象の欠陥を安定に検出できる画像検査装置を提供する。
【解決手段】第1閾値設定手段31が、検出対象画像中の検出すべき最低輝度値を第1閾値として設定し、ラベリング処理手段32が、撮像手段2が取得した多値画像から、第1閾値より大きい輝度値を有する画素の集合体(ブロブ)を特定する。第2閾値設定手段33が、第1閾値よりも大きい第2閾値を設定し、削除手段34が、ラベリング処理手段32により特定されたすべてのブロブから、第2閾値より小さい輝度値のみからなるブロブを削除し、ノイズ処理画像を出力する。 (もっと読む)


【課題】中空糸膜モジュールの欠陥検査方法では、検査精度を高めるためには、画像の分解能をあげなければならない。しかし、画像の分解能を上げると、画像データ量が増える。すると画像撮影のために時間がかかり、検査時間が増大するという課題があった。
【解決手段】比較的低い分解能で中空糸膜モジュールの端面の映像を撮り、画像補間によって情報量を増やす。その上で2値化した画像データを用いて欠陥検査を行う。このようにすることで、撮影時間を短くすることができ、またデータ補間と2値化によって、誤検出や過検出といったことのない精度よい欠陥検出をすることができる。 (もっと読む)


【課題】動的アラインメント・ビーム校正のためのシステムおよび方法
【解決手段】プラズマ処理システムにおいてDA(動的アラインメント)ビーム校正を実施するための方法が提供される。方法は、位置差を取得することを含み、位置差は、光学的撮像手法を使用して取得される。光学的撮像手法は、ウエハをエンドエフェクタ上に位置決めすることと、エンドエフェクタ上のウエハの静止画像を撮影することと、ウエハの中心およびエンドエフェクタによって定められたエンドエフェクタ規定中心を決定するために静止画像を処理することと、ウエハの中心とエンドエフェクタによって定められたエンドエフェクタ規定中心との間の位置差を決定することとを含む。方法は、また、ウエハとエンドエフェクタとの間の位置差をロボット移動補償によって補償することによってウエハをエンドエフェクタに対して中心合わせすることを含む。方法は、ウエハおよびエンドエフェクタに、プラズマ処理モジュールに付随するDAビームを通らせることを含む。方法は、また、DAビームの遮断−回復パターンを記録することによって基準DAビームパターンを得ることを含む。遮断−回復パターンは、ウエハおよびエンドエフェクタがDAビームを通って移動するのに伴って生じる。 (もっと読む)


タイヤの表面の一部分を検査する方法であって、表面が隆起マークを有し、この方法では、検査されるべき表面の3次元プロフィールを求め、検査されるべき表面上の特徴的な箇所の存在場所を突き止め、これら箇所を基準面の3次元データから得られた対応の特徴的な箇所と照合して1組の対をなす照合状態の特徴的箇所を生じさせ、繰り返し、第1の変換関数により変換された基準面の特徴的箇所の各々とこれらと照合された検査されるべき表面の特徴的箇所の各々との間の相互間の距離の合計を表す値が最小であるように基準面の特徴的箇所に適用されるべき第1の変換関数を探し、第1の変換関数を基準面の特徴的箇所の全てに適用して変換済み基準面を得る検査方法。
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【課題】探索画像中にテンプレートと類似したパターンが存在する場合でも正確なマッチング位置を出力する検査装置及び方法を提供する。
【解決手段】画像探索部にテンプレート選択画像におけるテンプレートの相対位置と探索画像における現在探索中の場所の相対位置を比較してその位置ずれ量を出力する相対位置比較部を有し、マッチング位置決定部において探索画像類似度分布情報のみならず、前記位置ずれ量をも考慮しマッチング位置を決定する。 (もっと読む)


【課題】本発明の目的は、被検物が正しい箇所に取り付けられる前の状態を撮像した画像をテンプレート画像とし、最初に被検物との比較を実施することで、被検物の良否を判定することにある。
【解決手段】本発明の検査装置では、画像比較を行うテンプレートを被検物が正しい箇所に取り付けられる前の状態を撮像した画像をテンプレート画像にし、最初に披見物との比較を行うこととした。これにより不良として除外できるものを積極的に排除し、可能な限り早期に検査の完了を図ることができる。 (もっと読む)


【課題】検出精度の低下を招くことなく検索時間の短縮を図る。
【解決手段】テンプレート画像記録用メモリ24に記憶されたテンプレート画像データVG に対しその水平走査ライン数(256本)より少数の8本の特徴ラインL1〜L8を設定する。そして、このテンプレート画像データに対し設定した特徴ラインL1〜L8ごとに、そのラインデータと1画面分のサーチ画像データVF との差分相関値|F−Gs|を算出し、この特徴ラインL1〜L8ごとに得られた差分相関値|F−Gs|を位置座標を合わせて順次累積加算する。 (もっと読む)


【課題】少ない教師サンプルを用いて抽出程度の変化に対する分類性能のロバスト性を確保すること。
【解決手段】画像より欠陥領域を抽出する欠陥領域抽出手段101と、前記欠陥領域が抽出されるべき正解カテゴリを入力する操作手段104と、正解カテゴリが入力された領域に対し、新たな抽出パラメータを設定する抽出パラメータ設定手段108と、前記新たな抽出パラメータを基に欠陥領域を再抽出する欠陥領域抽出手段101と、再抽出結果を基に前記欠陥領域に対して抽出程度が異なる複数の教師データを作成する教師データ作成手段105と、前記教師データを基に分類を行う分類手段107と、を備える。 (もっと読む)


【課題】真偽判定の基準となる基準パターンを、誤判定率を低減できるものに設定できる真偽判定装置及び真偽判定プログラムを提供する。
【解決手段】画像データ受付部42が、真偽判定対象物の表面パターンを複数受け付け、類似度算出部48が、上記複数の表面パターン相互の類似度を算出する。基準パターン決定部44は、上記複数の類似度の平均値と標準偏差とを算出し、これに基づいて基準パターンを決定する。決定された基準パターンは、基準パターン格納部46に格納する。真偽判定対象物の真偽を判定する場合には、あらためて真偽判定対象物の表面パターンを取得し、類似度算出部48が、この表面パターンと基準パターン格納部46に格納されている基準パターンとの類似度を算出する。同一性判定部50は、類似度算出部48が算出した類似度に基づき、上記基準パターンと表面パターンとの同一性を判定する。 (もっと読む)


【課題】投影画像について画像処理を施すことで物体間の隙間や文字等に紛れた透明物体を識別可能な物体識別方法、物体識別装置を提供する。
【解決手段】画像処理部5は、投影画像について不透明領域と透明領域とに2値化する2値化手段6と、2値化後に不透明領域で囲まれた透明領域のうち面積が予め設定されている透明物体2aの面積の範囲内にある透明領域を検査領域として抽出する検査領域抽出手段7と、抽出された検査領域ごとに基準点を設定し、基準点と検査領域の外周縁上の各点とを結ぶ複数本の探索線の長さをそれぞれ求める測距手段8と、検査領域の周方向に探索線を順次走査したときに測距手段8で求めた探索線の長さの変化が予め設定されている透明物体2aの形状に対応する検査領域について、透明物体2aを表すものと判断する識別手段9とを有する。 (もっと読む)


【課題】比較する2つの画像分布のずれに起因した誤差を低減した画像欠陥検査方法及び画像欠陥検査装置の実現。
【解決手段】2つの画像の対応する部分のグレイレベル差を検出する差画像検出部6と、検出したグレイレベル差を閾値と比較して、グレイレベル差が閾値より大きい場合に、欠陥であると判定する欠陥検出部8とを備える画像欠陥検査装置であって、差画像検出部は、正負の符号付きグレイレベル差を検出し、符号付きグレイレベル差の平均値を算出する平均算出部11と、符号付きグレイレベル差を算出した平均値で補正して符号付き補正グレイレベル差を算出する補正部12と、符号付き補正グレイレベル差から符号なしの絶対値補正グレイレベル差を算出する絶対値変換部13とを備え、欠陥検出部8は、絶対値補正グレイレベル差を閾値と比較する。 (もっと読む)


記載されているのは、セキュリティ文書、特に紙幣の真正を確認するための方法であって、ここで真正のセキュリティ文書は該セキュリティ文書に印刷、付与、又は設けられたセキュリティ特徴(41−49;30;10;51,52)を含んでなり、該セキュリティ特徴は該セキュリティ文書の製造に使用されたプロセスに固有の特徴的な視覚的特徴を含んでなる。当該方法は以下の工程(i)認証すべき候補文書の表面の、セキュリティ特徴の少なくとも一部を包含する少なくとも一つの関心領域(R.o.l.)のサンプル画像(c)を取得する工程、(ii)サンプル画像(c)を、該サンプル画像(c)の高解像度の詳細を含む少なくとも一つのスケールサブスペース(d,d,d,...)へ分解することと、該スケールサブスペースから分類特徴(σ,C,...)を抽出することとによって前記サンプル画像(c)をデジタル処理する工程、及び(iii)抽出された分類特徴(σ,C,...)に基づいて候補文書の真正評価を導き出す工程を含んでなる。 (もっと読む)


【課題】主に半導体ウェハ及び液晶パネルのマクロ検査におけるレジストの塗付ムラや露光不良、キズ、塵埃の付着などの欠陥に関して、欠陥データの登録を必要とせず、より人間の判断に近い分類を可能にする欠陥分類装置を提供する。
【解決手段】被検体の画像を基に検出された欠陥の種類を判別する欠陥分類装置において、検出された欠陥領域の画像より特徴量を抽出する手段であって、少なくとも2つ以上の検出領域の配置形状に基づく特徴量を抽出する手段を含む特徴抽出手段102と、この特徴抽出手段102により抽出された特徴量に基づき、欠陥種を判別する推論判別手段106と、この推論判別手段106により判別された欠陥種が確定した領域を前記欠陥領域の画像から除外する確定領域除外手段107とを具備する。 (もっと読む)


【課題】平面に沿って分布した特性をもつ解析対象データが特定の分布形状パターンに類似しているかどうかを評価する分布解析方法および装置であって、様々な要因によって解析対象データが変動したとしても、常に精度良く評価を行えるものを提供すること。
【解決手段】分布形状パターンを、解析対象データを定めた平面に対応する平面を格子状に複数の矩形領域に区画するとともに、各矩形領域毎に、解析対象データの特性値の相対的な大小関係を表すように或る数値範囲内で多値を取り得る濃度値を付与して定義する(S101)。分布形状パターンに類似し、かつ複数の解析対象データの間で生じる変動を反映した代表データを作成する(S102)。解析対象データが代表データに類似している度合いを表す類似度を求める(S103)。この類似度に応じて上記解析対象データが上記分布形状パターンに類似しているかどうかを評価する。 (もっと読む)


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