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国際特許分類[C23C16/01]の内容

国際特許分類[C23C16/01]に分類される特許

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一態様における方法は、第1熱伝導率を有する第1ダイアモンド層と、第1熱伝導率よりも高い第2熱伝導率を有する第2ダイアモンド層とを有する窒化ガリウム(GaN)層を製造するステップを含む。この製造するステップは、第2ダイアモンド層を第1ダイアモンド層上に堆積させるために、マイクロ波プラズマ化学蒸着(CVD)プロセスを用いるステップを含む。 (もっと読む)


【課題】元来有する細孔機能を維持しながら担持された金属が有する機能を発現可能なミクロポーラス炭素系材料を提供する。
【解決手段】ミクロポーラス炭素系材料5であって、0.7nm以上2nm以下の範囲内の3次元の長周期規則構造と、ミクロ細孔2aとを有するミクロポーラス炭素系材料であって、ミクロ細孔2a表面に遷移金属4が担持されている。この材料を、遷移金属を含む多孔質材料の表面及びミクロ細孔内に有機化合物を導入し、この有機化合物を化学気相成長法により炭化して遷移金属を含むミクロポーラス炭素系材料と多孔質材料の複合体を得る工程と、多孔質材料を除去する工程とを有する方法、又は多孔質材料の表面に有機化合物を導入して化学気相成長法によりミクロポーラス炭素系材料を得て、このミクロポーラス炭素系材料を遷移金属塩溶液中に浸漬・含浸し、ミクロポーラス炭素系材料の表面に遷移金属を担持する方法により得る。 (もっと読む)


【課題】化合物半導体発光素子及び化合物半導体発行素子の製造方法を提供すること。
【解決手段】、Si−Al合金基板101と、このSi−Al合金基板101の上面及び下面に設けられた保護層120と、このSi−Al合金基板101の上面に設けられた保護層120上に順に積層されているp型半導体層104、活性層105及びn型半導体層106とを含む化合物半導体発光素子100を提供する。また、化合物半導体発行素子100の製造方法を提供する。 (もっと読む)


【課題】III−V族窒化物系半導体基板の面内の結晶軸の傾きの分布を低減することがで
きるIII−V族窒化物系半導体基板の製造方法を提供する。
【解決手段】異種基板1の中心Oにおける、異種基板表面1aの法線nに対して異種基板1の基準となる結晶面の結晶軸aが傾斜している角度αと、その傾斜方向に異種基板1の中心Oから半径方向に20mmの位置Pにおける、異種基板表面1aの法線nに対して結晶軸aが傾斜している角度ηとの関係が、0.02°<|η−α|であり、且つ、異種基
板1a面内の各点において異種基板表面1aの法線nに対し結晶軸aが異種基板1の半径方向の外側に傾斜している異種基板1を用い、この異種基板1上にIII−V族窒化物系半
導体結晶をヘテロエピタキシャル成長させるIII−V族窒化物系半導体基板の製造方法で
ある。 (もっと読む)


【課題】反りやクラックの抑制された窒化ガリウム層を有する半導体基板を、低コスト、高効率で製造することができる半導体基板の製造方法を提供する。
【解決手段】面方位が(111)のシリコン基板10を準備する工程と、シリコン基板10の両面に窒化ガリウム層12をエピタキシャル成長させる工程と、窒化ガリウム層12がエピタキシャル成長されたシリコン基板10を、エピタキシャル成長面と平行にスライスして2分割するスライス工程とを含み、1枚のシリコン基板10から2枚の窒化ガリウム層12が形成された半導体基板13を製造する。 (もっと読む)


【課題】品質に優れ、平坦で厚い化合物半導体を成長させるための方法を提供する。
【解決手段】HVPEを利用し、ナノ構造層を使用して高品質の平坦かつ厚い化合物半導体(15)を異種基板(10)上に成長させる。半導体材料のナノ構造(12)は、分子線エピタキシャル成長(MBE)、化学気相成長(CVD)、有機金属化学気相成長(MOCVD)又はハイドライド気相エピタキシャル成長(HVPE)によって基板(10)上に成長させることができる。化合物半導体の厚膜(15)又はウェハは、HVPEを使用したエピタキシャル横方向成長によってナノ構造(12)上に成長させることができる。 (もっと読む)


【課題】下地基板の無極性面上に高品質のIII族窒化物半導体層を成長させ得る、III族窒化物半導体基板の製造方法を提供する。
【解決手段】m面の無極性面を主面とする下地基板10の当該無極性面上に炭素とアルミニウムとを含む中間層11を形成する工程と、中間層11の少なくとも一部を窒化して窒化膜11Nを形成する工程と、窒化膜11Nの上部にIII族窒化物半導体層12,13をエピタキシャル成長させる工程と、III族窒化物半導体層12,13から下地基板10を剥離させてIII族窒化物半導体層12,13を含むIII族窒化物半導体基板14を得る工程と、を含むIII族窒化物半導体基板の製造方法。 (もっと読む)


少なくとも、10μmに等しいかそれより大きな厚さを有するドープダイアモンドベースの薄膜(106)と、少なくとも一つの半導体か前記半導体ベースの層を含む積層に基づく層(102)と、前記ドープダイアモンドベースの薄膜上、すなわち、前記ドープダイアモンドベースの薄膜と前記半導体ベースの層との間に位置する真性ダイアモンドベースの薄膜(104)と、を備えている基板(100)。
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【課題】 本発明の目的は半導体をその基板から分離する方法を提供することである。
【解決手段】 複数の棒状体を基板上に形成し、複数の棒状体上で半導体層をエピタキシー成長させ、更に、複数の棒状体の間の空隙にエッチング液を注入することによって、半導体層をその基板から分離する。複数の棒状体の間の空隙がエッチングの反応面積を大幅に増加させることができるため、本発明による方法によれば、エッチングによって半導体層を基板から分離する効率を向上させ、製造工程のコストを低減させることができ、しかも、基板に使われる材料も前記分離方法に制限されない。 (もっと読む)


【課題】III族窒化物の結晶体の基板を製造する際における剥離バッファー層をエッチングするための時間を短縮する方法を提供する。
【解決手段】基板の製造方法は、下地基板の上にバッファー層を形成するバッファー層形成工程S1と、バッファー層の上に、バッファー層の一部を覆うマスクパターンを形成するマスクパターン形成工程S2と、バッファー層及びマスクパターンを覆うように、III族窒化物の結晶体を成長させる成長工程S5と、マスクパターンの第1のエッチャントを用いてマスクパターンを選択的にエッチングすることにより、バッファー層の第2のエッチャントを供給するための経路を形成する経路形成工程S6と、経路を介して第2のエッチャントを供給してバッファー層を選択的にエッチングすることにより、結晶体を下地基板から分離する分離工程S7とを備える。 (もっと読む)


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