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国際特許分類[C23C16/01]の内容

国際特許分類[C23C16/01]に分類される特許

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【課題】基材基板と窒化ガリウム単結晶層との分離が容易であって大面積化が可能な窒化ガリウム単結晶基板の製造方法を提供する。
【解決手段】窒化ガリウム単結晶基板の製造方法は、(a)窒化ガリウムより熱膨張係数の小さい物質からなる偏平な基材基板10上に窒化ガリウム膜12を成長させて冷却させることで、基材基板10と窒化ガリウム膜12を上方へ凸状に反らせると同時に窒化ガリウム膜12にクラックを発生させるステップと、(b)上方へ凸状に反った基材基板10上のクラックが発生した窒化ガリウム膜12上に窒化ガリウム単結晶層14を成長させるステップと、(c)窒化ガリウム単結晶層14が成長した結果物を冷却させることで、上方へ凸状に反った結果物を再び偏平に又は下方へ凸状に反らせると同時に、クラックが発生した窒化ガリウム膜12を境界に基材基板10と窒化ガリウム単結晶層14とを自己分離させるステップと、を含む。 (もっと読む)


【課題】十分微細なパーティクルを検出することができる程度に高精度に平坦化された表面を有し、かつ、ダミーウエハはもちろん、高い表面平坦性が要求されるパーティクルモニタウエハとしても、比較的多くの回数にわたって繰り返し利用することができるモニタウエハ、およびこのようなモニタウエハの作製方法を提供する。
【解決手段】モニタウエハは、CVD法で形成されたSiC結晶からなるSiCウエハと、このSiCウエハ上の最表層に設けられ、非透明性を有する膜と、を有する。非透明性を有する膜は、低圧気相成長法で形成された多結晶Si膜である。 (もっと読む)


【課題】抵抗率の制御を容易にすることにより抵抗率を低くでき、かつ抵抗率の面内分布の悪化を防止できるIII族窒化物半導体結晶の成長方法、III族窒化物半導体結晶基板の製造方法およびIII族窒化物半導体結晶基板を提供する。
【解決手段】III族窒化物半導体結晶の成長方法は、以下の工程を有している。まず、下地基板が準備される(ステップS1)。そして、気相成長法により下地基板上に、四フッ化珪素ガスをドーピングガスとして用いることによりシリコンをドーピングしたIII族窒化物半導体結晶が成長される(ステップS2)。 (もっと読む)


【課題】転位が少なく、また、基板と化合物半導体エピ層との分離にレーザーリフト・オフ工程を適用しなくてもよい、窒化ガリウムのような化合物半導体基板の製造方法を提供する。
【解決手段】基板10上に複数の球形のボール20をコーティングする工程と、球形のボール20がコーティングされた基板上10に化合物半導体エピ層30を成長させつつ、球形のボール20下部にボイド35を形成する工程と、ボイド35に沿って基板10と化合物半導体エピ層30とが自家分離されるように、化合物半導体エピ層30が成長した基板10を冷却させる工程と、を含む化合物半導体基板の製造方法。球形のボール処理により転位減少効果を持つ。また、自家分離を利用するので、基板と化合物半導体エピ層との分離にレーザーリフト・オフ工程を適用しなくてもよい。 (もっと読む)


【課題】二種類の材料系を分離する方法を提供する。
【解決手段】本発明の一実施例による二種類の材料系の分離方法は、サファイアバルクを提供するステップと、サファイアバルク上に窒化物系を形成するステップと、サファイアバルクと窒化物系との間に少なくとも二つの中空通路を形成するステップと、中空通路のうち少なくとも内表面をエッチングするステップと、サファイアバルクと窒化物系を分離するステップと、を含む。 (もっと読む)


【課題】表面品質の良好な半導体デバイスを製造し、製造歩留まりを向上させ、製造コストの低下を図ることができる半導体デバイスの製造方法を提供する。
【解決手段】成長基板11上に、互いに間隔をおいて成長基板11の表面側に隆起してなる底部131と該底部131の上に続いて形成する先端部132とを有する複数の突起13、13、・・・を形成する工程と、複数の隣り合う突起の間に成長基板11側とキャビティ16が画成されるようベース層15を、複数の突起13、13、・・・のそれぞれの先端部132、132、・・・に跨るように横方向へ成長させる工程と、半導体デバイスとして、ベース層15を直接厚く成長させて、厚膜層17を形成する工程と、複数の突起13、13、・・・のそれぞれの底部131、131、・・・を除去し、厚膜層17を半導体デバイスとして成長基板11から剥離する工程とを含む。 (もっと読む)


【課題】III族窒化物半導体の転位密度の更なる低減と同時に特に自立基板製造時のケミカルリフトオフ所要時間の大幅な短縮が可能な手法を提供する。
【解決手段】サファイア、SiC、Siのいずれかからなる基板上にAlN単結晶層を0.1μm以上10μm以下の厚みで形成したAlNテンプレート基板又はAlN単結晶基板の上に金属層を成膜する工程と、該金属層をアンモニア混合ガス雰囲気で加熱窒化処理を行ない、略三角錐ないし三角台形状の複数の微結晶を有する金属窒化物層を形成する工程と、該金属窒化層上にIII族窒化物半導体層を成膜する工程を有することを特徴とするIII族窒化物半導体の製造方法である。 (もっと読む)


【課題】緑色単色の発光が得られる閃亜鉛鉱型窒化物半導体自立基板および、当該閃亜鉛鉱型窒化物半導体自立基板を用いた発光装置とを提供する。
【解決手段】(001)面を有するGaAs基板10の裏面にSiO2保護層20を、表面に約10nmのGaNバッファ層12を成長させる。アニールのあと、GaNバッファ層12上に1800nmのGaN層14を成長させる。つづいて、HVPE法によりGaN層14の上に所定膜厚のGaN層16を成長させたあと、成長基板1のGaAs基板10及びGaNバッファ層12を研磨、エッチング等により除去してGaN自立基板を得た。GaN層16の厚さが200μmでGaN層14の表面のウルツ鉱構造の割合が5%、GaN層16の厚さが500μmでウルツ鉱構造の割合が1.5%まで低下した。これらの閃亜鉛鉱型窒化物半導体自立基板を用いることにより、発光の単色性のよい発光装置の製造が可能となる。 (もっと読む)


【課題】粗研磨を実施したときのクラックの発生率を低下することができるIII−V族窒化物半導体基板及びIII−V族窒化物半導体基板の製造方法を提供する。
【解決手段】本発明に係るIII−V族窒化物半導体基板は、異種基板上にファセット面で成長したIII−V族窒化物半導体結晶の第1の領域と、異種基板上に所定の面方位で成長したIII−V族窒化物半導体結晶の第2の領域とを有し、第1の領域は、第2の領域に対して10%以下の面積比を有する。 (もっと読む)


【課題】転位密度が低く、かつ、不純物の濃度が低いIII族窒化物結晶の製造方法、III族窒化物結晶基板およびIII族窒化物半導体デバイスを提供する。
【解決手段】本III族窒化物結晶の製造方法は、液相法により少なくとも1種類の金属元素を含有する溶媒とIII族元素とを含む結晶成長用液体2を用いて第1のIII族窒化物結晶10を成長させる工程と、金属元素の少なくとも1種類を含む結晶処理用液体4中で第1のIII族窒化物結晶10を熱処理する工程と、熱処理がされた第1のIII族窒化物結晶10上に気相法により第2のIII族窒化物結晶20を成長させる工程とを含む。 (もっと読む)


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