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国際特許分類[C25D7/12]の内容

国際特許分類[C25D7/12]に分類される特許

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シリコン基板内のビア内に高純度の銅を電着し、スルーシリコンビア(TSV)を形成するプロセスである。本プロセスは、電解銅めっきシステム内の電解槽内にシリコン基板を浸漬するステップと、高純度の銅を電着してTSVを形成するのに十分な時間の間、電圧を印加するステップとを含み、電解槽が酸、銅イオンの発生源、第一鉄イオン及び/又は第二鉄イオンの発生源、及び析出した銅の物理−機械的特性を制御するための少なくとも1つの添加剤とを含み、銅金属の発生源からの銅イオンを溶解することによって電着されることになる付加的な銅イオンを提供するために、前記槽内でFe2+/Fe3+レドックス系が、確立される。 (もっと読む)


【課題】アノードの全体に均一に通電することができ、アノードを均一に溶解させることができ、アノードを安定して保持することができるアノードホルダ用通電部材およびアノードホルダを提供する。
【解決手段】めっき槽内に基板とアノードを対向させて縦型に配置するめっき装置に用いられ、アノード5に給電するためのアノードホルダ用通電部材1において、アノード5の裏面の略全面に接触可能な円板状の導電性材料からなる接触部材2と、接触部材2とめっき装置の給電部とを接続する導電性材料からなる接続部材3とを備え、接続部材3は、接触部材2がアノード5と接触する面の裏面の中心部から延びている。 (もっと読む)


【課題】半導体基板の一方の面側にめっき処理をおこなう際に、めっき液の汚染を防ぎ、他方の面側に不均一なめっき層が析出するのを防ぎながら、一方の面側に低いコストで安定しためっき層を形成する。
【解決手段】半導体基板に上の一方の面に電極を形成し、他方の面に電極を形成し、他方の面の電極上に硬化型樹脂を塗布し、硬化型樹脂上にフィルムを貼り付けて硬化型樹脂を硬化させる。そのあと一方の面の電極上にめっき処理行い、めっき処理後、フィルムを硬化型樹脂とともに剥離する。 (もっと読む)


【課題】 フラットパネルディスプレイ基板及びフォトマスク基板等の電子材料基板の表面の平坦性を損ねることなく適度なエッチング性を付与し、また界面活性剤を用いて基板表面から脱離したパーティクルの分散性を高めることで、優れたパーティクルの除去性を実現し、これにより、製造時における歩留まり率の向上や短時間で洗浄が可能となる極めて効率的な高度洗浄を可能にするフラットパネルディスプレイ基板及びフォトマスク基板等の電子材料用洗浄剤を提供する。
【解決手段】 界面活性剤(A)を含有してなる電子材料用洗浄剤であって、有効成分濃度0.01〜15重量%における25℃でのpH及び酸化還元電位(V)[単位はmV、vsSHE]が下記数式(1)を満たすことを特徴とする電子材料用洗浄剤。
V ≦ −38.7×pH+550 (1) (もっと読む)


【課題】装置内のコンタクト領域の汚染を抑制することを目的として、方法、装置、および、装置のさまざまな構成要素、例えば、ベースプレート、端縁シール、およびコンタクトリングアセンブリを提供する。
【解決手段】汚染が発生し得る状況として、電気メッキプロセス後に装置から半導体ウェハを取り出す時が挙げられる。特定の実施形態によると、疎水性コーティング、例えばポリアミドイミド(PAI)コーティング、および、時にポリテトラフルオロエチレン(PTFE)コーティング712が設けられるベースプレートを用いる。また、コンタクトリングアセンブリのコンタクト端部は、端縁シールのシール端縁からの距離を大きくして配置されるとしてよい。特定の実施形態によると、コンタクトリングアセンブリの一部および/または端縁シールにも同様に、疎水性コーティングを設ける。 (もっと読む)


【課題】めっき膜の膜厚によらず、めっき膜の膜厚分布の均一性を向上する。
【解決手段】半導体装置製造装置は、基板保持部8と、給電部3と、アノード6と、複数の誘電体13とを具備する。基板保持部8は、カソード5有する基板20を保持可能である。給電部3は、カソード5の周辺部に電力を供給する。アノード6は、カソード5と対向する位置に設けられている。複数の誘電体13は、カソード5とアノード6との間に設けられている。複数の誘電体13は、カソード5表面に平行な平面に複数の誘電体13を射影したとき、射影のパターンが平面内で略均一であり、射影の面積が可変であるように構成されている。 (もっと読む)


【課題】めっき時の基体の反りを抑制し基体の汚れを有効に除去するめっき装置およびめっき方法を提供する。
【解決手段】本発明のめっき装置は、めっき層を形成すべき基体を保持する保持板12と、前記基体10にめっき液22を供給するめっき液供給部50と、前記基体10のめっきを行う第1の面36に対向する第2の面38を、前記めっき液22よりも高い温度に加熱する加熱手段18とを具備し、前記基体の表面にめっき層を形成する。 (もっと読む)


【課題】コンタクトピンと電極板との間の通電不良を防ぐことができるめっき装置を提供する。
【解決手段】めっき装置は、通電可能な凹状電極板200と、上下可動に支持され、凹状電極板200と通電するコンタクトピン190と、コンタクトピン190が下に移動して挿通する上面開口を有し、凹状電極板200の上に形成された、液体を溜める凹部とを備える。 (もっと読む)


【課題】より容易な手段でもってウィスカの発生を抑制できるようにした、PbフリーのSnめっき層を有するめっき基材の製造方法を開示すること。
【解決手段】少なくとも表面がCuまたはCu合金からなる母材2の表面にPbフリーのSnめっき層3を有するめっき基材1を製造するに際し、母材表面にPbフリーのSnめっき層3を形成した後、めっき層3の溶融温度以下の温度で熱処理を行い、形成しためっき層3と母材2の表面との間にSnCu化合物層を生成する。製造されためっき基材1でのめっき層3におけるウィスカの成長は大きく抑制される。 (もっと読む)


【課題】半導体集積回路デバイス基板におけるビア構造をメタライズするための方法を提供する。
【解決手段】半導体集積回路デバイス基板は、前面、背面、ビア構造を備え、ビア構造は、基板の前面に開口部、基板の前面を内向きに伸びる側壁部、および底部を備え、前記方法は以下からなる:
半導体集積回路デバイス基板に、(a)銅イオン源、および(b)レベラー化合物からなる電解銅沈積組成物を接触させて、前記レベラー化合物はジピリジル化合物およびアルキル化剤の反応生成物からなり;
電流を電解銅沈積組成物に供給し銅金属をビア構造の底部および側壁部に沈積し、これによって銅充填ビア構造を得る。 (もっと読む)


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