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国際特許分類[G01B15/02]の内容

国際特許分類[G01B15/02]に分類される特許

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【課題】成膜した薄膜の膜厚を従来より広い範囲で測定できる膜厚測定方法と、均一な膜厚の薄膜を成膜する真空蒸着装置及び真空蒸着方法を提供する。
【解決手段】
薄膜材料60に電子線を照射して、薄膜材料60から蒸気を放出させ、成膜対象物80を薄膜材料60に対して走行移動させながら、成膜対象物80の表面に薄膜を成膜する際に、薄膜材料60から放出され、成膜対象物80上のX線検出装置20で薄膜と成膜対象物80とを透過した透過X線の強度を検出し、あらかじめ記憶された透過X線の強度と薄膜の膜厚との対応関係から、成膜対象物80に形成された薄膜の膜厚を測定する。測定結果を基準値と比較して、比較結果から、成膜対象物80の移動速度や電子線の照射位置の移動速度を変更し、薄膜の膜厚を増減させることで、薄膜の膜厚を基準値に近づける。 (もっと読む)


【課題】複層膜厚の測定のために2つの線源を用いなくても、1つの線源と異なるシンチレータの組み合わせにより高精度にエネルギー弁別が行える安価でコンパクトな装置を用いて複層膜厚の同時独立算出を可能にした放射線測定方法を提供する。
【解決手段】同一線源から照射された放射線を複数の材質からなる被測定物に照射して透過させ、透過した透過線量から被測定物の物理量を測定する放射線測定方法において、透過した放射線を少なくとも2種類の検出器により検出し、それぞれの検出器からの出力を検量線を用いて弁別演算を行う工程と、弁別演算した値を用いて各層の坪量を演算する工程を含んでいる。 (もっと読む)


【課題】精度よく基板に塗布されたはんだと部品とのはんだ付け検査を行なうX線検査装置を提供する。
【解決手段】X線検査装置は、予め基板に塗布されたはんだの厚みとして、クリームはんだ印刷におけるマスク厚を取得し、記憶しておく。検査対象の基板のマスク厚から、基板面に平行な断層のうち検査対象とする高さ方向の範囲を設定し、その断層数Nを特定する(S801)。X線検査装置は、各断層について検査ウィンドウ中のはんだの面積Sおよび真円度Tを計測し(S807〜S819)、その最小値がいずれも基準値以上である場合にはその検査ウィンドウのはんだ付けが良好と判定し(S821、S823)、一方でも基準値を下回ったら不良と判定する(S821、S823)。 (もっと読む)


【課題】 蛍光X線強度が弱い場合でも、正確に磁性層厚さが測定できる層厚測定装置を提供することを目的とする。
【解決手段】 蛍光X線分析法を用いて非磁性支持体上に少なくとも磁性層を設けた磁気記録媒体の磁性層厚さを測定する層厚測定装置であって、該層厚測定装置は、X線の発生源であるX線管と、磁気記録媒体に照射されたX線により発生した蛍光X線を受ける検出器と、これらを含んで外気と遮断し、前記X線と前記蛍光X線を透過させるX線窓を有する密閉箱と、を含み、該密閉箱内は空気よりも密度の小さい気体で置換されており、前記X線窓と前記磁性層との距離が1〜50mmであることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】内径が小さく長尺な既製中空管の奥部でも、簡便かつ精度良く内壁側からの非破壊測定を行える非破壊測定用治具、該治具を用いたコンクリート被り厚測定装置、該測定装置によるSC杭におけるコンクリート被り厚測定方法を提供する。
【解決手段】SC杭100の中空部104内には、被り厚Xを測定すべくコンクリート被り厚測定装置IIが設置されている。コンクリート被り厚測定装置IIは、非破壊測定用治具と鉄筋探査機からなる。中空部104の断面中心付近には、回転ロッド200が配され、この回転ロッド200の先端部(SC杭の奥部)には測定部が接続され、その近傍にセンターライザー部が接続され、SC杭100の端面開口部には操作部が接続され、これらで前記非破壊測定用治具を構成している。 (もっと読む)


【課題】通電時のみ放射線発生可能なX線を用いて、リチウムイオン2次電池の負極の塗工量測定を行うことで、放射性物質の取り扱い業務、管理業務などから作業者の負担を軽減ずる。
【解決手段】X線発生装置と、該X線発生装置から出射された一次X線が照射されてコンプトン散乱線を発生する被検査物と、からなり、
前記被検査物の測定に用いるX線のエネルギーを概ね40−80keVとして前記被検査物に照射して前記被検査物から生じた前記コンプトン散乱線を測定する。 (もっと読む)


【課題】試料透過後の線束を減ずる事無く、放射線検出素子に入力させることでS/Nを改善した放射線検出装置を提供する。
【解決手段】放射線源と、該放射線源からの放射線を被検査物を介して受光する第1放射線検出素子と、該第1放射線検出素子の近傍に配置された前記第1放射線検出素子と同等の第2放射線検出素子を少なくとも一つ設けるとともに、前記第2放射線検出素子を前記放射線から隔離する隔離手段を備えている。 (もっと読む)


【課題】放射線の瞬時的な変動(スパイク)に対して、検出器の出力値を選択したデータを除去して演算を行うことで、高精度測定が可能な線源変動補正方法を提供する。
【解決手段】放射線発生装置と、該放射線発生装置からの放射線出力を検出する放射線検出器と、該放射線検出器から連続して出力されるデータを予め定めた時間毎に順次グルーピングし、該グルーピングした領域に含まれる複数のデータを加算平均して出力する放射線検出器の線源変動補正方法において、前記グルーピングした領域の中の選択したデータを除去して加算平均した値を用いて放射線の強さを演算する。 (もっと読む)


【課題】ビームハードニングの発生を抑制しつつ、フラックスの空間的な強度分布を改善し、中央部と周辺強度のフラックスのエネルギー分布と線量を揃え、測定位置に起因する測定誤差を低減することを可能とするX線測定装置を実現する。
【解決手段】X線源から出射されるX線を試料に照射し、試料の透過線量をX線検出器で検出するX線測定装置において、
前記X線源より円錐状に出射されたX線を扇状に薄くスライスしたスライスビームX線にビーム変換するコリメータと、
このコリメータと前記試料の間に介在し、前記スライスビームX線のフラックスの一部を通過または遮蔽し、ビームハードニングを抑制すると共に前記フラックスの強度分布を調整するフラックス遮蔽板と、
を備える。 (もっと読む)


【課題】量産品で安価なX線管を用いて、高いX線管電圧にて高出力線量の白色X線を発生させると共に、白色X線からローパスフィルタ手段により低エネルギー域の軟X線を高線量で抽出して試料に照射可能なX線測定装置を実現する。
【解決手段】X線源から出射される軟X線を含むX線を試料に照射し、試料の透過線量をX線検出器で検出するX線測定装置において、
前記X線源より円錐状に出射されたX線ビームを、スライスした扇状ビームX線に生成するコリメータと、
前記扇状ビームX線を所定の角度で入射し、反射した前記軟X線を前記試料に照射する反射ミラーと、
を備える。 (もっと読む)


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