本発明は、決められた方向に従って偏光されたＮ（Ｎは、３以上の整数である）波長のビームでシーン（１）を照明するステップを含む、シーン（１）の画像を識別するための方法である。それには、以下のステップ、すなわち、
− 前記方向に従って偏光された画像、すなわちｉが１からＮまで変わる、Ｘ_‖（λ_ｉ）で示されたＮ画像（１１）、および前記方向に垂直な方向に従って偏光された画像、すなわちＸ_⊥（λ_ｉ）で示されたＮ画像（１２）であって、これらの画像Ｘ_⊥（λ_ｉ）が画像Ｘ_‖（λ_ｉ）と空間的に異なる画像の、各波長用の同時取得ステップと、
− Ｘ_‖（λ_ｉ）およびＸ_⊥（λ_ｉ）の線形結合である強度画像の、各波長用の計算ステップであって、したがってこれらのＮ強度画像に対して、各画素用に強度スペクトルが対応するステップと、
− Ｘ_‖（λ_ｉ）およびＸ_⊥（λ_ｉ）の関数として計算された強度比に基づいた偏光コントラスト画像の、各波長用の計算ステップであって、したがってこれらのＮ偏光コントラスト画像に対して、各画素用に偏光コントラストスペクトルが対応するステップと、
− 分光偏光コントラスト画像と名付けられ、かつＳＰＣ画像と呼ばれる、シーンの画像の計算ステップであって、この画像の各画素が、検討される画素の強度スペクトルおよびコントラストスペクトルに基づいて取得されるステップと、
が含まれる。
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【課題】被測定光の波長毎又は周波数毎の強度特性であるスペクトルの測定に加えて、被測定光の波長毎又は周波数毎の偏光特性を測定することができる光スペクトラムアナライザを提供する。
【解決手段】光スペクトラムアナライザ１は、被測定光Ｌ０の光路上に配置されて被測定光Ｌ０の光路の周りに回転可能であって被測定光Ｌ０を互いに直交する偏光状態の分岐光Ｌ１，Ｌ２に分岐する偏光解消板１２と、分岐光Ｌ１，Ｌ２の入射面に交差する軸Ａ１の周りに回転可能であって偏光解消板１２で分岐された分岐光Ｌ１，Ｌ２を分散させる回折格子１５と、回折格子１５で分散された分岐光Ｌ１，Ｌ２の所定の波長成分を個別に受光して各々の受光信号を出力する受光部２０と、受光部２０から出力される受光信号に対して所定の信号処理を行って被測定光Ｌ０の偏光特性を求める信号処理部３０とを備える。 （もっと読む）

【課題】本発明は、ヘテロダイン光スペクトラムアナライザにおいて受光系を１系統にすることを目的とする。
【解決手段】本発明に係るヘテロダイン光スペクトラムアナライザは、互いに直交し且つ波長差を有する２つの直線偏光光のペアをローカル光Ｐ_Ｌとして出射するローカル光光源２と、被測定光Ｐ_０とローカル光Ｐ_Ｌとを合波する合波部３と、合波部３からの合波光を受光して被測定光Ｐ_０とローカル光Ｐ_Ｌのヘテロダイン検波信号を出力する受光部４と、を備え、波長差は、受光部４におけるヘテロダイン検波の検波帯域よりも狭いことを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】ステージ装置を不要とするとともに、より少ないデータ数で解析を可能とし短時間で解析可能とする干渉装置を提供する。
【解決手段】干渉装置（１００）は、スペクトル幅の広い光を照射する広域スペクトル光源（１１）と、広域スペクトル光源から光を分岐するビームスプリッター（ＢＳ）と、ビームスプリッターで分岐された一方の光（Ｌ２）を、スペクトル幅内の第１波長領域と該第１波長領域と異なる第２波長領域とで位相を変調する位相変調部（３０）と、位相が変調された光束を第１反射面（ＲＭＲ）に照射し、ビームスプリッターで分岐された他方の光を第２反射面（ＳＡ）に照射し、第１反射面で反射した第１反射光と第２反射面で反射した第２反射光を合成して合成光とする光分割合成部（ＰＢＳ、２６）と、を備える。 （もっと読む）

本発明は、１）第１周波数コムと、２）干渉を生成するべく、第１周波数コムと相互作用するべく構成された第２周波数コムと、３）２つのコムの周波数成分中の周波数成分のサブセットの間においてうなり信号を隔離する手段であって、この周波数成分のサブセットは、好ましくは、第１周波数コムの単一ライン及び第２周波数コムの単一ラインであるが、これは、必須ではない、手段と、４）このうなり信号を監視し、且つ、この信号を第１及び第２周波数コムの周波数成分全体の間のうなり干渉信号を記録する取得ユニット装置用のトリガとして又はクロックとして使用する手段と、を有する干渉計に関する。
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【課題】Ｓ／Ｎの低下を防止したチューナブルフィルタと、これを用いた光源装置、或いはこれを用いたスペクトル測定装置を提供すること。
【解決手段】偏光分岐光学系と、波長分散型分光光学系と、偏光変調手段とを有し、外部入射光を当該偏光分岐光学系で直線偏光化して前記波長分散型分光光学系で所定のスペクトラム光にし、前記スペクトラム光の結像位置に配設された前記偏光変調手段で前記スペクトラム光に所定のリターデーションを付加して逆行させて前記前記偏光分岐光学系で外部出力光路に合致する直線偏光成分を選択して当該外部出力光路へ射出するチューナブルフィルタであって、前記偏光変調手段は入射側にウェッジ形状の透明媒質を有し、前記偏光変調手段の配置は、当該偏光変調手段に入射する入射光束の中心軸に対して所定の角度傾けて配設されているチューナブルフィルタ。 （もっと読む）

【課題】分光画像の撮像を高速で実現できるようにする。
【解決手段】偏光板２１，２３および可変波長板２２は、可視光および非可視光を含む入射光を設定された分光透過率で変調し、撮像素子２４は、変調された光を撮像し、分光輝度メモリ２８は、前記既知の分光輝度からなる入射光と、前記既知の分光輝度からなる入射光が変調されて撮像された撮像結果とを記憶し、変換係数生成部２９は、記憶された既知の分光輝度と撮像結果より一般化逆行列を含む線形式を生成して変換係数を求める演算を行い、変換係数メモリ３０は、前記変換係数を記憶し、分光画像生成部２５は、前記未知の分光輝度からなる入射光が変調されて撮像された撮像結果と、記憶された変換係数との積和により、前記帯域毎の分光画像を生成する。本発明は、分光撮像装置に適用することができる。 （もっと読む）

【課題】光の利用効率が高い波長可変型の分光装置を提供する。
【解決手段】表面に電極膜と反射膜が積層形成された一対の基板と、所定の間隔で対向配置された一対の基板の間に形成された液晶層とを有し、常光と異常光の双方を透過させる、少なくとも１段の波長可変ファブリペロー型フィルタと、波長固定フィルタとを備え、常光と異常光の少なくとも一方が所定の受光面に到達するよう、少なくとも１段の波長可変ファブリペロー型フィルタと波長固定フィルタとが光源から所定の面に至る光路上に配置された分光装置を提供する。 （もっと読む）

【課題】狭帯域の光ＢＰＦを用いることなく、変調された被測定光の波長を短時間かつ高精度に測定することができる波長モニタを提供すること。
【解決手段】波長モニタ１００は、所定波長の光を抽出する光フィルタ１２と、入射光を直線偏光に変換する偏光子１４と、偏光子１４の出射光を被測定光の波長に応じて異なる光強度の光を出射する偏光変換部１５と、偏光変換部１５の出射光を偏波面が互いに直交する光に分離する偏光プリズム１６と、偏光プリズム１６によって分離された一方の光及び他方の光をそれぞれ光電変換するＰＤ２１及び２２と、ＰＤ２１及び２２の出力信号から所定の周波数成分を抽出する周波数成分抽出部３０と、周波数成分抽出部３０が出力する各信号に基づいて被測定光の波長を算出する波長算出部２５とを備える。 （もっと読む）

【課題】被測定物の特性に応じて、より高精度に光学異方性を測定できる光学異方性測定装置および光学異方性測定方法を提供する。
【解決手段】光源１１８は、所定の紫外波長範囲（たとえば、１８５ｎｍ〜４００ｎｍ）を含む波長範囲の光を発生し、照射部１１４は、円偏光の光を被測定物ＯＢＪに照射する。分光部１２０は、入射光が被測定物ＯＢＪで反射されて生じる反射光を分光し、マルチチャンネルフォトディテクタ１２０ｂが、反射光の分光スペクトルを出力する。データ処理部２は、反射光の分光スペクトルのうち、特定波長のエリプソパラメータに基づいて、被測定物ＯＢＪの光学異方性を測定する。 （もっと読む）