【課題】分光された光のスペクトルを検出して分光測定を行うときに、測定時間を短縮化することを目的とする。
【解決手段】本発明の分光測定装置は、ＬＥＤ１１からの光を分光した光を波長ごとに受光する複数の受光素子を有する光センサ１６と、光センサ１６の各受光素子についてのスペクトルデータを順番に生成するＡＤ変換部２１および補正部２２と、補正部２２が全ての前記受光領域のスペクトルデータを生成するよりも前に、既に生成されたスペクトルデータを用いて演算処理を開始する演算部２４と、を備えている。これにより、スペクトルデータの生成動作と演算動作とをオーバラップさせることができ、分光測定の時間を短縮化できる。 （もっと読む）

【課題】照明光源が発光した光を受光して光学測定を行うときに、照明光源に熱のダメージを与えることなく正確に光学測定を行うことを目的とする。
【解決手段】本発明の光学測定装置は、ＬＥＤ８に対して電源部７が駆動電流を供給することでＬＥＤ８を発光させる発光部２と、ＬＥＤ８が発光した光Ｌを受光してＬＥＤ８の光学測定を行う測光部５と、発光部２と測光部５との間を接続し、発光部２の発光タイミングと測光部５の測定タイミングとを同期させるためのトリガ信号ｔｒｉｇを伝送するトリガ信号伝送部２０と、を備えている。これにより、光学測定を正確に行うことができ、ＬＥＤ８に対して作用する熱のダメージを軽減することができる。 （もっと読む）

【課題】光分析装置に組み込んだ際にＳ／Ｎ比を高くできて高精度の測定を行うことができる波長可変干渉フィルター、光モジュールと、高精度の測定を行うことができる光分析装置を提供すること。
【解決手段】波長可変干渉フィルターであるエタロン５は、第１基板５１と、第２基板５２と、固定ミラー５４と、可動ミラー５５と、静電アクチュエーター５６を備える。各ミラー５４，５５は、一層のＴｉＯ_２膜５７と、一層の合金膜５８とが積層されて形成される。ＴｉＯ_２膜５７の膜厚寸法ＴおよびＡｇ合金膜５８の膜厚寸法Ｓは、参照波長５６０ｎｍの反射率が目標反射率９１％となり、かつ、設定波長４００ｎｍの反射率が、前記金属膜のみで反射膜を構成した場合より低くなる膜厚に設定される。 （もっと読む）

【課題】高コストを招くことなく、対象物からの反射光の波長スペクトルを精度良く高速に計測することができる分光計測装置を提供する。
【解決手段】 光源ユニット、マイクロレンズアレイ、開口部材、結像光学系、回折素子、受光器、及び処理装置などを有している。受光器は、ＴＤＩ型の受光素子であり、回折素子からの回折像が、その回折方向がＸＹ面内でＸ軸方向に対して角度θ傾斜した状態で受光される。処理装置は、回折像の傾斜角θに応じて、画素データの時間情報を補正した（ステップＳ４１３）後、画素データの補間処理を行う（ステップＳ４１５）。そして、処理装置は、時間情報の補正及び補間処理がなされたデータセットに基づいて反射光波長スペクトルの推定演算を行う（ステップＳ４１７）。 （もっと読む）

【課題】基板に生じる撓みを低減して分解能を向上させた波長可変干渉フィルター、光モジュール、及び電子機器を提供する。
【解決手段】エタロン５(波長可変干渉フィルター)は、固定基板５１と、固定基板５１に対向する可動基板５２と、固定基板５１に設けられた固定反射膜５６と、可動基板５２に設けられ、固定反射膜５６とギャップを介して対向する可動反射膜５７と、固定基板５１に設けられた固定電極５４１と、可動基板５２に設けられ、固定電極５４１と対向する可動電極５４２と、を備え、可動電極５４２の固定電極５４１側の面には可動絶縁膜５４４が積層され、可動電極５４２は圧縮応力を有し、可動絶縁膜５４４は引張応力を有して構成された。 （もっと読む）

【課題】観察光源下における分光放射輝度率を測定する際に、受光器での受光量が十分に確保できない場合、測定時間が長くなってしまう。
【解決手段】まず所定の基準色の試料について、S2〜S4で観察光源下と測定光源下での分光放射輝度率、および反射分光放射輝度率を取得し、S5で各光源下で発生する蛍光量の比を示す蛍光補正係数を算出しておく。そして任意の対象色の試料について、S6、S7で測定光源下での分光放射輝度率および反射分光放射輝度率を取得し、S8で、該分光放射輝度率における蛍光増加分に対し、蛍光補正係数を乗じて反射分光放射輝度率に加算する。これにより、観察光源下での対象色の分光放射輝度率を短時間で算出することができる。 （もっと読む）

【課題】簡素な構成で電極間の導通を可能にする波長可変干渉フィルター、光モジュール、及び光分析装置を提供すること。
【解決手段】エタロン５は、固定基板５１と、固定基板５１に対向する可動基板５２とを備える。固定基板５１は、接合膜５３１，５３２を介して可動基板５２に接合される第１接合面５１５と、第１電極５６１の一部が形成される第１電極面５１６とを備える。可動基板５２は、接合膜５３１，５３２を介して第１接合面５１５に接合される第２接合面５２４と、第２電極５６２の一部が形成される第２電極面５２５とを備える。固定基板５１及び可動基板５２が接合膜５３１，５３２により接合された状態において、第１電極面５１６に形成された第１電極５６１と、第２電極面５２５に形成された第２電極５６２とが接触する （もっと読む）

【課題】表示装置の個体差を吸収し、高精度な表示強度の測定を行うことが可能な測定システム、表示装置、測定装置、補正装置及び測定方法を提供する。
【解決手段】予め表示の基準となる基準画面を測定装置にて測定した結果に基づく標準測定値、及び予め基準画面を測定装置にて測定した結果に基づく基準測定値をＬＵＴ１及びＬＵＴ２に記録しておく。そして、測定装置により測定した表示画面の表示強度を、標準測定値及び基準測定値に基づいて補正する。 （もっと読む）

【課題】対象物からの反射光の波長スペクトルを計測タイミングに応じて適切に計測することができる分光計測装置を提供する。
【解決手段】 第１結像光学系１２は、互いにレンズピッチが異なる３つのマイクロレンズアレイを含み、開口系１３は、互いに開口ピッチが異なる３つの開口部材を含み、分光系１５は、互いに格子ピッチが異なる３つの回折素子を含んでいる。駆動装置１２３によって、任意の１つのマイクロレンズアレイを反射光の光路上に配置させることができ、駆動装置１３３によって、任意の１つの開口部材を反射光の光路上に配置させることができ、駆動装置１５３によって、任意の１つの回折素子を反射光の光路上に配置させることができる。 （もっと読む）

【課題】電極間の絶縁を維持しつつ、低コストで、構造を簡素化できる波長可変干渉フィルター、光モジュール、及び光分析装置を提供すること。
【解決手段】第１基板５１に設けられた固定ミラー５４と、第２基板５２に設けられ、固定ミラー５４と所定のギャップＧを介して対向する可動ミラー５５と、第１基板５１に設けられた第１電極５６１と、第２基板５２に設けられ、第１電極５６１に対向する第２電極５６２と、を備える。第１基板５１は、第２基板５２に接合される第１接合面５１３を有し、第２基板５２は、第１接合面５１３に接合される第２接合面５２４を有する。第１基板５１には、第１接合面５１３、及び第１電極５６１の第２電極５６２に対向する面に絶縁性を有する第１接合膜５３１が形成され、第１接合面５１３及び第２接合面５２４は、第１接合膜５３１により接合された。 （もっと読む）