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国際特許分類[G01N21/64]の内容

国際特許分類[G01N21/64]に分類される特許

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【課題】計測標本の蛍光物質を常に高精度で定量できる定量方法を提供する。
【解決手段】蛍光顕微鏡により計測標本の蛍光画像を取得し、その取得した蛍光画像から検量線を用いて蛍光物質を定量するにあたり、少なくとも上面にフォーカス用マーカを有する既知の厚さの基準部材に対物レンズをフォーカスさせてレンズ位置情報を取得するレンズ位置情報取得ステップ(S11,S12)と、取得されたレンズ位置情報および基準部材の厚さ情報に基づいて、レンズ位置情報に対する対物レンズのフォーカス位置を示すフォーカス位置特性を算出する特性算出ステップ(S13)と、算出されたフォーカス位置特性および蛍光画像を取得した際のレンズ位置情報に基づいて計測標本の表面からの距離を測定する距離測定ステップ(S14)と、測定された距離に対応する検量線を選択して蛍光物質を定量する定量ステップ(S15,16)と、を含む蛍光物質の定量方法。 (もっと読む)


【課題】超解像成分が可視化された超解像画像を生成する標本観察装置の技術を提供する。
【解決手段】蛍光LSM10は、変調制御信号に基づいてガルバノミラー13の駆動を制御するガルバノミラー駆動装置14と、PMT検出器19から検出信号と変調制御信号から標本1の画像データを生成するPC20と、を含んでいる。PC20は、生成する画像データのナイキスト周波数がレーザ光源11から射出される励起光2の標本1上における空間強度分布のカットオフ周波数よりも大きくなるように、変調制御信号を生成してガルバノミラー駆動装置14へ送信する。また、PC20は、画像データに含まれる励起光2の標本1上における空間強度分布のカットオフ周波数を上回る高周波成分を強調処理する。 (もっと読む)


【課題】
新規な光学式分析試験装置等を提供する。
【解決手段】
本光学式分析試験装置のポリマー試料基板は、反応サイト側表面(24)を有すると共に、突起のあるマイクロ構造体(2)を備えた、反応サイト側表面の凹部にある少なくとも1つの反応サイト領域(5)を含み、選択された光学特性を有する追加層(31、31a、31b)により少なくとも部分的に覆われ、前記突起のあるマイクロ構造体および前記追加層が、前記基板の光学特性に寄与する。 (もっと読む)


【課題】高精度の測定が可能で、オンサイト分析に適した小型、堅牢な蛍光分析装置を実現する。
【解決手段】蛍光分析装置1は、測定対象に励起光を照射するための励起光源12、測定対象が発する蛍光を検出する検出器13、測定対象の励起波長を選択的に透過させる励起光フィルタ14、励起光成分を除去し、検出器13への励起光の侵入を避けるために励起光をカットする励起光カットフィルタ15、測定対象が発する蛍光波長を選択的に透過させる蛍光フィルタ16を備えており、励起光源12は励起光の光軸がカートリッジ30の表面30cに対して傾斜するように配置され、検出器13は受光面13aがカートリッジ30の励起光照射領域に対向して配置され、受光面13aが励起光照射領域よりも大きくなるように構成されている。 (もっと読む)


【課題】 共焦点顕微鏡又は多光子顕微鏡の光学系を用いて試料溶液中にて分散しランダムに運動する発光粒子からの光を検出し分析する光分析技術に於いて、背景光を低減すること。
【解決手段】 本発明の光分析技術では、予め定められた偏光成分から成る励起光を顕微鏡の光学系に於ける光検出領域に照射すると共に、光検出領域からの光に於ける励起光の偏光方向とは垂直な方向の偏光成分の強度を検出し、光検出部にて検出された励起光の偏光方向とは垂直な方向の偏光成分の強度を検出光の強度として用いて分析を実行する。励起光と検出光の偏光方向が互いに垂直であるため、検出光に於いて、光学系の部品に起因する背景光の強度が低減される。 (もっと読む)


【課題】操作者の手間を必要とすることなく蛍光領域に対して露出が最適に調節された鮮明な蛍光画像を取得する。
【解決手段】静止した被写体Aに励起光を照射する光源部2と、励起光の照射による被写体Aからの蛍光を撮像する撮像部20と、該撮像部20によって撮像された蛍光画像から蛍光領域を抽出する蛍光領域抽出部33と、該蛍光領域抽出部33によって抽出された蛍光領域の輝度に基づいて撮像部20の露出時間を決定する露出時間決定部34と、撮像部20の露出時間および撮像動作を制御する制御部35とを備え、該制御部35は、撮像部20を、同一の露出時間で同一の視野を複数回予備撮像した後に露出時間決定部34によって決定された露出時間で本撮像するように制御し、蛍光領域抽出部33は、撮像部20によって予備撮像された複数の蛍光画像間において輝度が経時的に低下している領域を蛍光領域として抽出する蛍光顕微鏡装置100を提供する。 (もっと読む)


【課題】スリット絞りに付随する深さ解像度の低下なしに、速い撮像を可能にする。
【解決手段】査型レーザ顕微鏡が提供され、この顕微鏡は、照明用放射線源(105)から放出された照明用放射線経路(B)内の照明用放射を試料(103)に向けるビーム・スプリッタ(113)を備えており、ビーム・スプリッタ(113)は、試料(103)で鏡面反射された照明用放射を検出器機構(104)へは通過させず、そのために照明用放射線経路(B)の瞳内に配置されており、かつビーム・スプリッタ面上の、光軸(OA)の突破点を中心とする円上にある少なくとも3つの点で照明用放射のためにミラー・コーティングされたビーム・スプリッタ面(122)を有することによって、部分的にミラー・コーティングされており、これにより、試料(103)一面に周期的に分布する照明スポットの形の干渉パターンが試料(103)内に生じる。 (もっと読む)


【課題】流体を浄化、または流体の浄化度を測定する。
【解決手段】空気または水のような流体、媒体における生物的粒子を、同時に光学的に殺菌、検知するシステムと方法が開示されている。媒体に入射する光源は、可視レーザ光ビームおよび紫外線レーザ光ビームを同時に照射する2波長レーザである。特に、半導体レーザは第1可視レーザ光ビームを生成し、第2紫外線レーザ光ビームは、第1可視レーザ光ビームが周波数倍増クリスタルを通過することにより生成される。光検知部は、リアルタイムに生物的粒子の存在を測定するために、空気または水を通過したレーザ光ビームの散乱、蛍光、および/または通過を測定する。 (もっと読む)


【課題】広視野の超解像画像が得られる顕微鏡装置を提供する。
【解決手段】本発明の顕微鏡装置は、活性化光及び励起光の照射、又は励起光の照射により蛍光を発する蛍光物質を含む試料に、活性化光及び励起光、又は励起光を照射する照明光学系と、試料の観察領域の蛍光画像を撮像する撮像装置と、試料に励起光を繰り返し照射することにより取得された複数の蛍光画像の各々において蛍光輝点の位置を解析し、分子リストとして構築する画像解析装置と、複数の観察領域において取得された複数の分子リストを、分子リスト同士が重なり合う領域における分子リスト間の蛍光輝点同士の距離に基づいて算出した位置補正情報を用いて連結する画像連結装置と、を備えたことを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】不透明層に隣接する部材が剥離することなく、簡便に製造することができ、なおかつ標的物質を高感度に検出可能な標的物質検出装置及び標的物質検出方法を提供すること。
【解決手段】本発明の標的物質検出装置は、ガラス基板上に、シリコン層と、酸化シリコン層とがこの順で配され、前記酸化シリコン層側の面を標的物質の検出面とする検出板と、前記ガラス基板の前記シリコン層が配される面と反対側の面上に配される光学素子と、前記光学素子を介して前記検出板に光を照射する光照射手段と、前記光の照射に基づき、前記標的物質又は前記標的物質を標識化する蛍光物質から発せられる蛍光を検出する光検出手段と、を有することを特徴とする。 (もっと読む)


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