【構成】 被覆管被覆融着部に紫外線を照射し、発生する蛍光を高感度ＴＶカメラで検知して、信号処理手段により処理された信号に基づいて融着不良部の位置および大きさを表示装置に表示する。
【効果】 被覆管被覆の融着不良を自動的に行うことができ、被覆管製造の能率向上が期待される。 （もっと読む）

【目的】 自動で欠陥を検出してその形状や種類等を高精度に判別できるようにこの欠陥を含む領域を抽出する。
【構成】 微分画像に基づいて欠陥のアドレスを求め、微分画像の全体の濃度分布から決まる第１の閾値（ＴＨ１）と注目画素の近傍領域の濃度平均値から得られる第２の閾値（ＴＨ２）とを用いて各注目画素ごとに得られる第３の閾値（ＴＨ３）を用いて各注目画素を２値化し、この２値化処理で得られた領域のうち欠陥のアドレスを含む領域の画素を全て欠陥を示す値に塗り潰す。第３の閾値ＴＨ３は、例えばＴＨ３＝ＴＨ１−ｋ（ＴＨ１−ＴＨ２）により求める。２値化処理の直後に収縮処理、膨張処理、穴埋め処理、収縮処理などの形状補正を行ってもよい。 （もっと読む）

【目的】Ｘ−Ｙステージ６の移動量を減らし、検査時間の短縮を図る。
【構成】集積回路が形成される隣接する複数のチップの同一領域Ａ１，Ａ２及びＡ３を拡大結像する光ファイバー１１で構成する光学鏡筒を複数本設け、これら光学鏡筒に結合されるＣＣＤカメラ１をそれぞれ備え、複数のチップの同一領域を同時に撮像して検査する。この複数のチップの撮像を同時に行うことによって、他のチップを光学鏡筒の視野内に移動する回数を減らしている。 （もっと読む）

【目的】本発明は、多面付の印刷物の印刷欠陥を検出し、欠陥の発生した頁を明確に適切に表示する印刷物検査装置に関する。
【構成】画像読取り装置１１で読み取られた印刷物１０の絵柄情報がＡ／Ｄ変換器１２を介して現在値メモリ１４に逐次格納される。正常な印刷物が得られているときに現在値メモリ１４の絵柄情報が基準値メモリ１５に転送される。以後、現在値メモリ１４、基準値メモリ１５のデータが比較器１６で比較され、比較結果がＣＰＵ１７に供給される。ＣＰＵ１７は比較結果に応じて印刷欠陥の発生を検出し、印刷欠陥の発生位置を、リボン位置、およびカット位置の単位、または頁割付の単位で表示装置２０上に表示する。 （もっと読む）

［目的］ 装置を大きくせず占有面積が小さく、かつ記憶容量として大きなメモリーを必要としないプリント基板の検査装置を提供すること、およびプリント基板の製造の際の伸縮問題に対し、そのずれ量を適切に補正しながらパターンの比較ができるプリント基板の検査装置を提供すること。
［構成］ 検査対象であるプリント基板２と前記原画フィルム５の間に、可視光に対してフィルター効果を有する薄膜３をその片面に設けられた透明板４を配してこれらを重ね、異なる光源と光学系を用いてパターン１とパターン６を検出し、これら検出結果を比較することによってプリント基板２の欠陥を検査するようにした装置であって、前記原画フィルムの四隅の長方形をなす位置に基準位置マークＰ₁〜Ｐ₄を配設し、この四個の基準位置マークの原画フィルム上の位置とプリント基板上の位置のずれ量を測定し、欠陥判定の際に各パターン位置に対してずれ量を補正しながら比較するようにしたことを特徴とするプリント基板検査装置。 （もっと読む）

【目的】簡単且つコンパクトな構成であり、検査に移るまでの時間が短縮できると共に、安全且つ確実に基板の検査が可能な基板外観検査装置を提供する。
【構成】本発明は、基板３６を回動させて、基板３６の外観を検査する検査装置４０を有する基板外観検査装置である。検査装置４０は、キャリア４２に収納された基板３６を保持可能な吸着保持アーム５８と、この吸着保持アーム５８を回動可能に支持する回動機構６０と、この回動機構６０をキャリア４２に接近あるいは離間する方向に移動可能に支持して、吸着保持アーム５８をキャリア４２に対して挿入あるいは離脱させる案内機構６２と、を備えている。 （もっと読む）

【目的】 空間フィルタを用いて散乱光の一部を遮光しても信号レベルをあまり低下させることなく、S/N 比のよい異物検査装置を提供することを目的とする。
【構成】 例えば、フーリェ変換面に設けられたＴＶカメラ５２により、あらかじめサンプルとして取り出されたあるウエハ１の各チップにおけるフーリェ変換パターンが受像され、情報処理装置の処理により各フーリェ変換パターンの共通パターン（または論理和パターン）が抽出され、この抽出されたパターンに対応する遮光パターンが描かれた空間フィルタをフーリェ変換面に設けることにより光センサの受光信号においてウエハ１からの規則的パターンの回折光が除去され、ガラス板や写真フィルムのような赤外線透過率が高い透明板を用いているので、遮光パターンにより除去された光量低下分を補足することができ、その結果、パターン上に付着した異物の散乱光のＳ／Ｎ比が向上し、異物を良好に検出できる。 （もっと読む）

【目的】プリント基板のはんだのみの２値画像を得ることにより、高精度かつ迅速にはんだの外観を検査する検査方法および装置の提供する。
【構成】プリント基板上のはんだを外観検査する方法において、プリント基板を波長の異なる複数の照明で照射し、撮影装置で撮影し、得られる複数のプリント基板画像を、画像間演算し、プリント基板のはんだのみの２値画像を得ることにより、はんだの外観を検査することを特徴とするプリント基板はんだ付け検査方法。 （もっと読む）