本発明は、印刷機によって製造された印刷物の品質を判定するための方法であって、印刷機は複数の同一の単位印刷物を製造し、製造された単位印刷物から１単位印刷物集合が選択され、選択されたこの集合の単位印刷物は異なったエラータイプの集合に属する少なくとも１つのエラータイプ及び／又は異なったエラー特異性の集合に属する少なくとも１つのエラー特異性に関して判定され、選択された単位印刷物集合内部でこれらの単位印刷物のうちの少なくとも１単位印刷物に検出された一定のエラータイプのエラー又は一定の特異性のエラーは同一の単位印刷物又は選択されたこの集合の別の単位印刷物に検出された別のエラータイプの少なくとも１つのエラー又は別のエラー特異性の少なくとも１つのエラーとの関係で判定され、この判定によって印刷物は良好又は不良として分類され、製造された単位印刷物の選択された集合の単位印刷物につき１つの画像センサを用いて１つの共通の、画像データを生ずる撮影が行われ、相互関係で判定されるべき全てのエラーは同一撮影の画像データから検出されるように構成されている。 （もっと読む）

複合建造物上の損傷および欠陥の位置を示すための光を用いる方法は、一般に、複合建造物上の１つ以上の欠陥位置を規定する位置データに電子的にアクセスすることを含む。位置データは、材料配置機械が複合建造物を製造するために用いることができる数値制御（ＮＣ）データを含む部品構成ファイルから抽出することができる。この方法はさらに、位置データによって規定される欠陥位置を示すために、自動的に、少なくとも１つの光源に複合建造物への光の方向付けをさせることを含む。したがって、光は、手動の欠陥修理および／またはオペレータによるＦＯＤ除去などの後の行為のために欠陥位置を容易に確認することを可能にする。
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【課題】 処理速度が速く、カメラ台数を増やす際の対応が容易で、高い信頼性が得られる画像処理装置および画像処理方法を提供すること。
【解決手段】 検査対象物の欠陥を検出する画像処理装置１は、ＣＰＵ２、メインメモリ３およびＰＣＩバス４を備えたパーソナルコンピュータ５と、ＰＣＩバス４に接続された画像処理ボード６とを備える。画像処理ボード６は、大容量画像メモリ８を備え、４台のカメラ１１〜１４からの原画像データを大容量画像メモリ８に記憶させる処理、シェーディング補正処理、および原画像データを圧縮する画像圧縮処理等、原画像データの全てに関わる処理をハードウェアを使って行う。ＣＰＵ２は、画像処理ボード６からＰＣＩバス４を通じてメインメモリ３へ転送される圧縮画像データに対して、２値化処理、ラベリング処理等、欠陥検出のためのソフトウェア処理を行う。 （もっと読む）

【課題】すべての検査表面領域にわたって、同じ検査品質のレベルで検査することができる表面検査の方法を提供すること。
【解決手段】本発明は、三次元体（２）の表面検査方法に関する。少なくとも１つのカメラと少なくとも１つの照明装置は対象物の表面に対して相対運動し、表面に対するカメラの相対運動中に検査表面領域の画像が撮影され、コンピュータ（１１）に送られ、評価される。本発明は、また、関連するシステムに関する。高い検査品質を得るために、各検査表面領域の検査中のうち、少なくとも撮影時間の間は、カメラ、照明装置及び表面を、互いに少なくとも１つの規定された幾何学的関係にする。 （もっと読む）

【課題】取り扱いが容易であり、全ての検査領域を確実にカバーできる検査路設定方法、及び検査領域決定方法を提供すること。
【解決手段】本発明は、三次元対象物（３）を検査するために、少なくとも１つの光学撮像装置（４）、特にカメラの検査路（２）を設定する方法に関する。撮像装置（４）と対象物（３）は、変位装置（５、６）によって、互いに相対運動が可能である。本発明に係る方法によれば、算術演算ユニット（１０）によって、対象物（３）及び／又は対象物上の検査される領域（１２）の設計データ（８）、特にＣＡＤデータ及び／又はセンサによって決定されたデータ、及び撮像装置（４）の光学撮像特性に基づいて、光学撮像装置（４）の検査路（２）が自動的に決定される。この場合、ある規定の幾何学的関係が、撮像装置（４）と検査される表面との間に設定される。 （もっと読む）

本発明は、電子素子、特に、フリップチップを検査および回転させるための装置に関する。電子素子は、構成要素（１４）を含み、この構成要素（１４）は、被回転位置（１７）において回転式に装着され、電子素子を回転させるために使用される。第１の受容部（１９）が、構成要素（１４）の外側に固定されて、キャリヤ（１４）の単一の電子素子を受け入れ、構成要素（１４）を回転動作（１５・１６、１５ａ）中動かないようにする。第２の受容部（２０）が、回転点（１７）に対して第１の受容部（１９）と反対側の構成要素（１４）の外側の面に配置されて、構成要素（１４）が１８０°回転（１５・１６）すると、キャリヤ（１１）にそれぞれ面する。また、貫通開口部（２８）は、構成要素（１４）の、受容部（１９）と受容部（２０）との間に配置されて、この配置は、構成要素（１４）が９０°または２７０°回転（１５・１６）すると、貫通開口部（２８）がキャリヤ（１１）に面するように行われる。本発明は、電子素子、特に、フリップチップを検査し回転させる方法に関する。
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本発明は、電磁波２つの送光器及び送られる電磁波の反射を受けるため適当に方向づけられる２つの受光器を持つ周辺検出システムに関し、第１の送光器及び受光器は、第１の目標範囲に、第２の送光器及び受光器は、第２の目標範囲に向けられている。
第３の目標範囲を検出するため、少なくとも第１の送光器の前に、一時的にこの送光器が送られる電磁波の少なくとも一部を少なくとも一時的に第３の目標範囲へ転向させる光学的手段が設けられ、少なくとも第２の受光器の前に、第１の送光器から第３の目標範囲へ送られて反射される電磁波を少なくとも一時的に第２の受光器へ転向させる光学的手段が設けられている。光学的手段はなるべく永続的に設けられ、交互にそれぞれ１つの送光器のみが動作するので、それぞれ１つの受光器が、それぞれ妨げられることなく第３の目標範囲を検出する。
それにより例えば自動車において、走行方向において車両の右及び左に設けられる送−受光器対により、走行方向において正面範囲全体を検出することができる。
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ここには、タイヤにおける異常を検出するための異常検出装置１０が記載してある。この異常検出装置１０は、タイヤ表面２４に直接光２７をあて、タイヤから光を反射３２させるコヒーレント光の光源１８と、タイヤに圧力をかけることができる圧力付与装置１２と、タイヤが応力をかけられた状態、応力をかけられていない状態にあるときにタイヤ表面２４から直接反射してきた光３２を受け取る反射光受け取り装置４０と、タイヤが圧力をかけられているときおよび圧力をかけられていないときの反射光受け取り装置４０からの反射光イメージを比較し、タイヤにおける異常を確認し、比較から得た出力を生成するプロセッサ４４と、プロセッサに電子的に接続してあってプロセッサからの出力を表示できるディスプレイ装置４６とを含む。 （もっと読む）

本発明は、（Ｉ）化学的硬化性インプリント材料を使用して
（１.１）物品の損傷されない表面
（１.２）機械的作用および／または化学的作用によりおよび／または放射線および／または熱の作用により損傷された物品の表面および／または
（１.３）機械的作用および／または化学的作用によりおよび／または放射線および／または熱の作用により損傷された、物品の表面に取り付けられた試験体の表面
の少なくとも１つの位置のインプリントを取り、
（ＩＩ）インプリント材料を硬化し、損傷の画像のネガを形成し、
（ＩＩＩ）表面構造の％での面積割合および／または損傷の画像中の表面の損傷の％での面積割合をネガの光学顕微鏡写真により画像分析により決定する
ことにより表面構造を特性決定する方法に関する。本発明は更に材料を変性、開発および／または製造するための前記方法の使用に関する。 （もっと読む）

光学スキャナからのマルチチャネル欠陥データのような、それぞれが３つ以上のパラメータを関連付けられる複数のデータ点から成る母集団が３次元でプロットされ、データ点のグループが特定される。データ点のグループを画定するために、３次元空間において境界面が定義される。異なるグループは異なるデータ分類又はタイプに対応する。境界面に基づいて分類アルゴリズムが定義される。欠陥分類に適用されるとき、そのアルゴリズムは、欠陥を実行時分類するために光学スキャナにエクスポートすることができる。データ点の特定のグループを特定するためのアルゴリズムを、２つ以上の異なるｎ次元表現からの分類規則のブール演算による組み合わせとして定義することができる。ただし、ｎは表現毎に２又は３にすることができる。
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