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国際特許分類[G01N21/894]の内容

国際特許分類[G01N21/894]に分類される特許

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【課題】ピンホールを正確に検出することが可能なピンホール検出装置を提供する。
【解決手段】光ファイバ束3は、光ファイバ3a〜3fを含むファイバ群31、光ファイバ3g〜3mを含むファイバ群32、および光ファイバ3n〜3sを含むファイバ群33からなる。これらのファイバ群31,32,33の一端面側が直線状に配列されて受光部材2に取り付けられる。ファイバ群31,32,33の他端面側は、これらが収束された状態が円34となるように束ねられる。ファイバ群31,32,33の他端面側、すなわちフレネルレンズの取り付け側において、各ファイバ群31,32,33に含まれる複数の光ファイバの位置が、円34内で集中的に偏らずに分散されて配置されるよう複数の光ファイバが規則的に束ねられる。 (もっと読む)


【課題】上工程における疵検出について、適切な学習データを用いて、完成品で最終的に有害となる疵を高精度に検出する疵検出装置及び疵検出方法を提供することを目的とする。
【解決手段】判定精度の高い下工程における疵検査で撮像された疵画像データと、上工程における疵検査で撮像された疵画像データとを対比させて、最終的に有害疵となる疵画像データに対応する上工程における有害な疵画像データを、上工程の疵検出装置に学習データとして蓄積するようにすることにより、上工程における疵検査の精度を格段に向上させることができるようにして、上工程において有害となる疵が検出された場合は、不良品を下工程に流さないようにしたり、生産計画を変更したりするなど早期に対応することができるようにする。 (もっと読む)


【課題】銅及び銅合金上のニッケル又はニッケル合金の金属層の欠陥を感度良く定量的に検出する方法及び使用する電解溶液を提供すること。
【解決手段】電解溶液として、塩素化合物水溶液にアルコール類を加えた水溶液とし、ニッケル又はニッケル合金の金属層が形成された検査対象物を電解処理する。欠陥部の検出を行なおうとする試料を陽極とし電解処理を行なうことを特徴としている。ここで、試料を陽極として電解処理する場合、定電圧でも定電流でも可能である。但し、電圧、電流条件は任意に設定可能である。 (もっと読む)


【課題】 従来の方法に比べてより簡便に、かつ高精度で無機硬質膜中に存在するピンホールの有無や大きさ、分布などを検出することのできる無機硬質膜のピンホール評価方法及びそれに用いるピンホール検出器を提供すること。
【解決手段】 無機硬質膜の一方の表面に、該無機硬質膜の材料に対する透過率が低い波長域の光を検査光として照射し、膜を挟んで検査光源と対向する位置に設置した受光器で無機硬質膜のピンホールを通過した光を計測することによって、前記無機硬質膜のピンホールを評価することを特徴とする無機硬質膜のピンホール評価方法、及びそのためのピンホール検出器。 (もっと読む)


【解決手段】被検査体T1〜T3の接合部分t1、t2のピンホールを検出するためのピンホール検出装置Pを、被検査体の内部或いは外部に配置される光センサー部材P1と、該光センサー部材P1に対向して配置される光源部材P2とにより構成したものである。
【効果】被検査体の接合部分のピンホールを検出するためのピンホール検出装置を、被検査体の内部或いは外部に配置される光センサー部材と、該光センサー部材に対向して配置される光源部材とにより構成したので、被検査体を、水や特殊なガスに晒すことにより、ピンホールを検出するようにした従来のピンホール検出装置のように、被検査体が腐食されたり、変質するようなことを、防止することができる。 (もっと読む)


垂直フレーム100から形成される種類の連続的に巻き取る材料ストリップ(矢印B)における穴を検出する装置であって、垂直フレームは、上部本体100aおよび下部本体100bの2つにフレーム100を区切る水平スロット110を通る材料ストリップの経路内に配置され、各本体は、相互に対向して開いた窓を介して前記スロット110上で開いている。上部本体100aは、下を通過する前記ストリップの方向の光源のために放射する第1の光サブアセンブリ200を支持し、下部本体100bは、第1の光サブアセンブリ200により放射された前記光を受光する第2の光サブアセンブリ300を支持し、上を通過する材料ストリップにおける穴を介してフィルタリングすることができる。前記光放射サブアセンブリ200は、いわゆるレーザ放射、すなわち誘導放出光を含み、前記光受容サブアセンブリ300は、レーザ放射により放出された小さな光束を検知するフォトオード310aおよび310bにより構成される。
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【課題】容器の傷や破れなどや、容器に装着されたシュリンクフィルムの穴や破れや漏れを簡便で安価な装置により高速で検査できる方法及びその装置を開発する。
【解決手段】以下のような装置、またはその方法を用いて課題を解決する。シュリンクフィルムを例に説明する。ラインの搬送の途中で、容器に装着されたシュリンクフィルムの検査を行う箇所を設置し、その場所においてシュリンクフィルムの接合部に高周波蛍光照明の光を当て、その反射光をカメラで撮影して、その光の明暗を解析することにより、光の当たった部分がシュリンクフィルムからの反射光であるか、容器表面からの反射光であるかを判断して、シュリンクフィルムの装着不良を検査する一連の装置及びその方法。 (もっと読む)


【課題】
被検査物の表面が複雑であっても、その被検査体に発生したピンホールを光透過検査で確実に発見する。
【解決手段】
本発明の光透過検査装置は、蓋体12と本体10により暗箱を形成することができ、被検査体である伝熱プレート2をその暗箱内のガラスプレート11上に遮光体9,9とともに設置し、蓋体12を本体10に被せて内部を暗部とし、前記伝熱プレート表面に蓋体
12の内側に設けた光源からの光を直接或いは暗箱内壁面の鏡面で反射させて多角的に照射し、欠陥部(ピンホール)からの透過光を伝熱プレート2を挟んで反対側の光センサ
17によって受光し、電気信号へと変換した後に暗箱外部の電流計18へと出力することにより、前記伝熱プレートに存在する肉眼では検出しにくい欠陥部(ピンホール)の存在を、瞬時かつ正確に検知する。 (もっと読む)


【課題】印刷により透明板状体の周辺部の表面に塗膜が形成される印刷部と、塗膜が形成されていない非印刷部とを、検査の対象にして、印刷部のピンホールやかすれなどの印刷欠陥と、非印刷部分の印刷汚れを検出する方法を提供する
【解決手段】散乱光を用いて印刷物を照明し、印刷物の複数の画像を散乱光が透過する側からCCDカメラで撮像し、該画像を合成して検査用画像とし、該検査用画像を暗部と明部とに2値化処理し、明部を面積の大きい順に順序づけし、面積の大きさが(m+1)番目以下(mは非印刷部の個数)となる明部を印刷欠陥とする。また、暗部を面積の大きい順に順序づけし、面積の大きさが(n+1)番目以下(nは印刷部の個数)となる暗部を印刷汚れとする。 (もっと読む)


【課題】 車両用内装品の表皮に形成されるピンホールを精度よく検査することができ、しかも製造費が安価である表皮の検査装置を提供する。
【解決手段】 表皮の検査装置を装着部材20と光源30とによって構成する。装着部材20は、検査対象たる表皮を有する車両用内装品の芯材2を利用して構成する。つまり、芯材2の両端部を切り落としたものを装着部材20とする。光源30は、芯材2の切り落とされた端部と対向するようにして装着部材20の背面側に配置する。 (もっと読む)


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