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国際特許分類[G01R35/00]の内容

物理学 (1,541,580) | 測定;試験 (294,940) | 電気的変量の測定;磁気的変量の測定 (31,836) | このサブクラスの他のグループに包含される装置の試験または較正 (282)

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【課題】構造の簡略化を図り、しかも高精度に各種負荷を模擬することができる三相三線式負荷模擬装置を提供する。
【解決手段】配電系統を模擬した三相三線結線の交流電源に接続され、電流指令に従って交流電源から負荷電流を引き込む電流源を備えた三相三線式負荷模擬装置に関する。交流電源200の三相のうち、b相を基準としてa相,c相との間の線間電圧をアナログ量としてそれぞれ検出する電圧検出器102,103と、前記線間電圧をディジタル量に変換するA/D変換部105と、前記線間電圧と予め設定された負荷量とに基づいてa相及びc相の負荷電流指令をディジタル量として演算するCPU106と、演算された負荷電流指令をアナログ量に変換するD/A変換部107と、各負荷電流指令に応じてa相及びc相の負荷電流を交流電源200からそれぞれ引き込む二つの電流源108,109とを備える。 (もっと読む)


【課題】相対補正法の運用上の制約を少なくすることができる、補正データ取得用試料、測定誤差補正方法及び電子部品特性測定装置を提供する。
【解決手段】基準治具に実装した状態で少なくとも3種類の第1の補正データ取得用試料を測定し、試験治具に実装した状態で、第1の補正データ取得用試料と同等の特性を有すると見なせる少なくとも3種類の第2の補正データ取得用試料を測定する。測定結果から、第1の補正データ取得用試料と第2の補正データ取得用試料とが同一試料であるとの前提で、試験治具に実装したときの測定値と基準治具に実装したときの測定値とを関連付ける数式を決定する。任意の電子部品20を試験治具12に実装した状態で測定し、決定した数式を用いて、その電子部品を基準治具に実装した状態で測定したならば得られるであろう電子部品の電気特性の推定値を算出する。 (もっと読む)


【課題】1つの基準信号を用いて複数のパラメータを補正できる方法および装置を提供する。
【解決手段】相反性を有する信号伝送路を介して接続される被測定物の特性を測定する装置において、信号伝送路の被測定物側の端を開放し、信号伝送路の測定装置側の端にパルス信号を送出し、送出パルス信号を測定装置側で観測してスペクトラム解析し、信号伝送路の被測定物側の端から反射されるパルス信号を測定装置側で観測してスペクトラム解析し、抵抗性負荷のインピーダンスに基づいて得られる係数と送出パルス信号のスペクトラムと反射パルス信号のスペクトラムとを参照して信号伝送路の周波数特性または伝搬遅延量を求める。実測定において、求めた周波数特性または伝搬遅延量を用いて、測定値から誤差の影響を取り除く。 (もっと読む)


高周波送信器(4)に接続された単一の測定方向性結合器(3)を介して測定される前進電力(6)及び反射電力(32)を調節する校正装置(1)を開示している。ak+x(単位:dB)で減衰させ、分離した前進電力(6)が基準値として用いられる。校正装置(1)は、2段スイッチ(10)として実施され、制御及び表示装置(9)に制御線(8)を介して接続される切換スイッチ(7)を備える。切換スイッチ(7)を起動させる制御信号は、制御及び表示装置(9)によって伝送され、それにより、反射電力(32)の測定から前進電力(6)の測定への切り換えが行われる。前進電力(6)及び反射電力(32)は、同じ測定方向性結合器(3)を介して、かつ、低域通過フィルタ(25)及び整流器(26)を有する同じ測定センサ(2)によって測定される。

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【課題】湿度及び温度等の環境の変化に対応して電子テスト装置を精度よく校正するための方法及びシステムを提供する。
【解決手段】システム及び方法は、環境に誘発されたそれ自体の不確定性を測定し、その測定値に基づいて自発的に調節することにより、不確定性を補正するように設計される。 一実施形態においては、挿入損失検出システムが長い伝送線と短い伝送線により構成される。RF信号源及び検出器を用いてこれら2本の伝送線の挿入損失の差が測定される。この挿入損失差と2本の伝送線の長さの差は、挿入損失検出システムと同じ基板(又は類似基板)上に形成された伝送線の単位長さあたり損失の測定値を提供する。電子テスト装置が校正される時点で単位長さあたりの損失を取得し、そしてこの装置の動作中に一定時間間隔でそれを再度取得することにより、その装置の校正の環境条件による変化を決定することが出来る。 (もっと読む)


【課題】オシロスコープのフロント・エンド(アナログ・コンポーネント)を考慮して、オシロスコープを正確に校正する。
【解決手段】 各チャネル110は、アナログ・コンポーネント112と、デジタル・コンポーネント118〜124を含んでおり、強調フィルタ120が各チャネルの応答を強調する。校正信号を各チャネルに供給して得られるステップ応答と、オシロスコープの所望ステップ応答とから、強調フィルタのフィルタ係数を求めて、強調フィルタの特性を設定する。 (もっと読む)


自動試験装置(ATE)を較正することは、基準タイミング・イベントとATEの通信チャネルと関連するチャネル・イベントとの間のオフセットを決定し、オフセットに基づいて通信チャネル上で信号伝送を調整することを含む。オフセットの決定は、基準タイミング信号が基準タイミング・ソースと関連するデバイスにおいて受信される第1の時間を取得し、基準タイミング信号が通信チャネルと関連するデバイスにおいて受信される第2の時間を取得し、チャネル信号が通信チャネルと関連するデバイスにおいて受信される第3の時間を取得し、チャネル信号が基準タイミング・ソースと関連するデバイスにおいて受信される第4の時間を取得し、第1の時間、第2の時間、第3の時間、第4の時間を用いてオフセットを計算することを含む。
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【課題】 磁気センサの小型化及び低コストを図りつつ磁気センサの検出精度を高めることができる磁気センサ補正装置を提供する。
【解決手段】 検出コイルと基準コイルと出力コイルとを備える差動トランスT1と、検出コイルの近傍に配設されたキャリブレーションコイルL4とを備える磁気センサ部1と、キャリブレーションコイルL4に所定の交流電流を流した際に検出コイルにより検出される磁束である標準磁束の目標値に対するずれを補正値として算出すると共に、補正値を基に、前記差動トランスにより検出された磁束を補正する制御部2とを備える。 (もっと読む)


【課題】試験装置に搭載する試験モジュールによらず適切な診断処理を行う。
【解決手段】試験装置の制御装置により試験モジュールを診断させる診断プログラムであって、診断対象試験モジュールを診断させる対象診断ソフトウェアモジュールと、診断対象試験モジュールに対して診断用信号を出力させるべく非診断対象試験モジュールを制御させる診断用信号入出力ソフトウェアモジュールと、対象診断ソフトウェアモジュールからの呼び出しを受けたことに応じて、非診断対象試験モジュールの種類に応じた診断用信号入出力ソフトウェアモジュールを特定させる種類特定ソフトウェアモジュールと、特定された診断用信号入出力ソフトウェアモジュールを呼び出し、非診断対象試験モジュールから診断対象試験モジュールに対して診断用信号を出力させる呼出先切替ソフトウェアモジュールとを備える診断プログラムを提供する。 (もっと読む)


【課題】磁歪と磁化とを、試料の同領域で観測する。
【解決手段】X線回折法による磁歪計測の手法とX線磁気回折法とを新たに組み合わせることで、磁歪と磁化とを試料の同領域について同時に観測できる便利な手法を開発した。この手法は、試料の同領域についての磁場内での回折光強度の相対変化δを磁場上昇時および磁場下降時のそれぞれで計測して、それらから磁場Hに対し反対称な成分δと対称な成分δとを求め、対称な成分δに基づき試料の前記領域の磁歪係数λ100を求めるとともに、反対称な成分δと対称な成分δとを再合成して得られる量R’に基づき試料の前記領域の相対磁化M/Mを求めるものである。内部モードの磁歪係数値が外部モードの磁歪係数値に一致する条件を使えば、機器の較正等に都合のよい方法である。 (もっと読む)


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