タイミングクロックを校正するタイミングクロック校正方法であって、シフトクロックのエッジのシフト量を変化させながら、タイミングクロックのエッジを複数回検出することにより、タイミングクロックの周期を基準として、シフトクロックのエッジのシフト量を校正する段階と、校正されたシフトクロック発生部がシフトクロックのエッジを所定のシフト量をシフトさせて発生する段階と、タイミングクロックの遅延量を変化させながら、所定のシフト量をシフトされたシフトクロックのエッジを検出することにより、タイミングクロックを所定のシフト量分だけ遅延させるために必要な遅延量を校正する段階とを備える。 （もっと読む）

磁場の少なくとも１つの成分を測定する装置（１６）が、磁気抵抗センサ（１０２）と測定装置（２８）を有する。同装置の１つの入力は磁気抵抗センサ（１０２）と接続している。同装置は、同センサの配置領域の磁場を表す情報を与える出力する。同測定装置（２８）は単一の所定周波数（ＦＩ）をセンサからの磁場を表す信号周波数成分から分離するための手段（１３８）を有する。 （もっと読む）

本発明は、放電灯を動作させるための回路構成における電流センサのゼロポイントＶ０を決定する方法に関する。本発明は、以下のプロセスステップである、第一の半波１３の間の短い期間についてセンサを流れる電流１１はオフにされ、第一のテスト値Ｖ６が決定され、異なる極性を有する第二の半波１４の間の短い期間についてセンサを流れる電流１１はオフにされ、第二のテスト値−Ｖ７が決定され、これに応じて、２つのテスト値Ｖ６，−Ｖ７からなる平均値が形成され、かかる平均値によりゼロポイントＶ_X、Ｖ０が決定される。これにより、たとえば加熱によりランプ動作の間のゼロポイントがドリフトすること、ランプ電流１１の正及び負の半波１３，１４の振幅が異なって形成されるのが防止される。ランプ寿命及び表示される投影画像における目に見えるアーチファクトの減損が防止される。
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被試験デバイスを試験する試験装置であって、試験信号を印加するタイミングを示すタイミング信号を発生するタイミング発生部と、タイミング信号を遅延させる複数のタイミング遅延部と、試験信号を印加する複数のドライバと、試験信号をサンプリングし、サンプリング電圧を出力するサンプラと、サンプリング電圧が基準電圧より高いか否かを示す比較結果を出力するコンパレータと、サンプリング電圧が基準電圧に一致しているか否かを判定する判定部と、試験信号が被試験デバイスに印加されるタイミングを一致させるべく、複数のタイミング遅延部によるタイミング信号の遅延時間を校正するタイミング校正部とを備える試験装置を提供する。 （もっと読む）

【課題】異なるテストフイクスチャを用いた場合に同一または近似の測定値を得る方法の提供
【解決手段】テストシステムによって作成された被測定物の測定値を変換する方法であって、基準テストフィクスチャと生産テストフィクスチャとの間の差であって、前記テストフィクスチャの対応するテストポートにおける差を表すポート固有の差分アレイを決定する段階と、前記テストシステムを使用して、前記生産テストフィクスチャ内に取り付けられている前記被測定物の性能を測定する段階と、前記ポート固有の差分アレイを適用して、前記測定された被測定物の性能が、前記基準テストフィクスチャ内に取り付けられ前記テストシステムによって測定された前記被測定物の仮定的な被測定物の性能に近づくよう
にする段階を有する。 （もっと読む）

【課題】 短時間で、適切な診断ができるＩＣテスタ診断装置及びＩＣテスタ診断方法を実現することを目的にする。
【解決手段】 本発明は、被試験対象を試験するＩＣテスタの診断を行うＩＣテスタ診断装置に改良を加えたものである。本装置は、ＩＣテスタの構成部品の性質と故障発生頻度とによる区分と故障内容の詳細度による区分とにより分けられ、ＩＣテスタの診断を行う複数の診断手段を設けたことを特徴とする装置である。 （もっと読む）

【課題】 基準周波数を作るクロック装置の発振周波数が中心値からずれた場合でも精度の良い周期計測を行う。
【解決手段】 信号変換回路６は計測対象の入力信号の周期に応じたパルス幅のパルス信号に変換し、このパルス幅を第１のタイマ５０ａはクロック装置７で発生した基準周波数に基づいて生成したタイマ周期を用いてカウントし、マイコン５０はこのカウント値を用いて入力信号の周期を算出する。一方、基準信号変換回路１１は商用電源１の周期に応じたパルス幅のパルス信号に変換し、このパルス幅を第２のタイマ５０ｂはタイマ周期を用いてカウントし、マイコン５０はこのカウント値から商用電源周波数が５０Ｈｚか６０Ｈｚか判定し、判定周波数に基づいて上記算出した入力信号の周期を補正する。それ故、より正しい周期が計測できる。 （もっと読む）

【課題】 従来の高周波測定の校正法であるＴＲＬ測定法では、ミリ波帯等の高周波においては遅延線路の遅延部の物理長が短くなるために正確な校正や高精度な伝送損失の抽出を行なうことが困難であった。
【解決手段】 ＴＲＬ校正法に用いる、誘電体基板上に線路導体が形成されて成り、その遅延部の電気長が被測定周波数の真空波長の半分よりも長い遅延線路を含む高周波測定の校正標準器であり、これを用いて行なう高周波測定の校正法ならびに高周波用伝送線路の伝送損失の測定方法である。ミリ波帯等の高周波に対しても精度の低下が小さく正確な遅延を得ることができ、高精度かつ高確度の校正を行なうことができる。また、伝搬定数を高精度で正確に抽出することができ、伝送損失を正確に抽出することができる。 （もっと読む）