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国際特許分類[G02F1/136]の内容

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【課題】フォトセンサ素子の感度を向上可能する。
【解決手段】n層47nとi層47iとp層47pとのそれぞれを液晶パネル200の面の法線方向zにおいて、順次、積層することで、フォトセンサ素子32を形成する。ここでは、ポリシリコンよりも光吸収係数が高い微結晶シリコンによって、i層47iを形成する。 (もっと読む)


【課題】電気光学装置における受光素子の受光効率を向上させて、表示画像の輝度を適切に設定する。
【解決手段】電気光学装置(100)は、基板(10)と、該基板上の画素領域(10a)にマトリクス状に配列された複数の画素部(9)と、画素領域の周辺に位置する周辺領域に配置され、相互に平面的に重ならないP型半導体領域(210p)、イントリンシック領域(210i)及びN型半導体領域(210n)を含む受光素子(210)と、該受光素子の光が入射する側に積層された導電部(220)と、該導電部を覆うように積層されると共に、イントリンシック領域の少なくとも一部に対応する開口部(43a)を有する絶縁膜部(43)とを備える。基板上で平面的に見て、前記開口部内に位置する領域は、前記導電部が配置されていない部分を有する。 (もっと読む)


【課題】極性の偏りに起因するTFTの特性劣化が少なく、しかも光量に対して線形特性
を持った出力特性が得られ、光検出精度を向上させた光量検出回路を提供すること。
【解決手段】本発明の光量検出回路は、TFTのゲート電極に逆バイアス電圧が印加され
ている時に流れる電流を利用して外光の光量を検出する光検知部を備える光量検出回路に
おいて、前記光検知部は、ゲートバイアス制御手段により、前記TFTのゲート電極に印
加する電圧Gvを、外光を検知する際に印加する第1の逆バイアス電圧Gv0から、正バ
イアス電圧Gvonに変えた後、前記第1の逆バイアス電圧Gv0よりもさらに低い第2
の逆バイアス電圧Gvoffに変え、その後に前記第1の逆バイアス電圧Gv0に戻した
後に流れる電流による出力を外光の光量として出力することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】大型基板上に多結晶シリコン(ポリシリコン)TFTを形成するために、基板上に形成した非晶質シリコン(アモルファスシリコン)膜をレーザ光で結晶化するプロセスにおいて、基板全面にわたり均一で大粒径の多結晶シリコンを容易に作成する。
【解決手段】基板上に形成した非晶質シリコン膜の平均膜厚を計測(ステップ201)し、この非晶質シリコン膜にレーザ光を照射(ステップ101)し、この照射で結晶化した多結晶シリコン膜の粒径分布を計測(ステップ102)し、多結晶シリコン膜の2つの点A,Bにおける粒径の測定値(ステップ103〜105)から、適正なレーザ光照射エネルギー密度値を算出(ステップ106〜108)し、次の非晶質シリコン膜の平均膜厚を計測(ステップ110,201)し、この平均膜厚と1つ前の非晶質シリコン膜の平均膜厚とから照射するエネルギー密度値を算出(ステップ203,204)し、このエネルギー密度値をレーザ光照射系にフィードバック(ステップ109)する。 (もっと読む)


【課題】可視光及び非可視光を同時に好適に生成できる表示装置を提供する。
【解決手段】表示装置5は、表示パネル9と、表示パネル9を背面から照明するための可視光VL0を生成するバックライト11と、バックライト11の生成した可視光VL0の一部を非可視光IL1に変換して出射する変換部51と、変換部51から出射されて表示パネル9を背面側から透過し、表示パネル9の前方の被検出物により反射された非可視光IL1を検出可能な光電センサ48とを有する。 (もっと読む)


【課題】部品の組立及び取り外しの簡便性に優れたものとすることができ、量産性を向上させるプラズマ処理装置を提供する。
【解決手段】電極はセラミック層により包囲され、ベース部の下層に設けられた第1と第2の導電性部材によって、突き上げ機構の基板を昇降させる突き上げピンの昇降空間と、伝熱ガスを基板保持台に設けられた複数の穴に供給するガス溜まり空間とを包囲し、かつ、第1と第2の導電性部材を接地することで解決できる。 (もっと読む)


【課題】感度補正機能を備え、かつ簡便な工程で製造することができる光量検出装置を有する表示装置を提供すること。
【解決手段】基板上に、表示領域と、第1、第2の光検出部10a,10bで検出した光量を光量信号Sとして出力する表示装置であって、第1の光検出部10aは、第1の出力信号Saを光センサ読み取り部20に出力する第1の光検出回路LS1と、減光手段を備え、第2の光検出部10bは、第2の出力信号Sbを光センサ読み取り部20に出力する第2の光検出回路LS2とを有し、光センサ読み取り部20は、光劣化補正係数Kを演算する劣化係数演算部21と、光劣化補正係数Kに基づいて、光劣化率Dを導出する光劣化率演算部22と、光劣化率Dに基づいて光量信号Sを出力する光信号出力部24と、を備えていることを特徴とする表示装置とした。 (もっと読む)


【課題】半導体装置を基板上に実装することを利用して、半導体装置に電気的に接続され
る基板上の配線状態を簡略化あるいは多様化できる半導体装置を提供する。
【解決手段】半導体装置としてのICチップ41は、内部回路を含んだ基材2と、基材2
の能動面3側に突出して設けられた樹脂突部7a,7bと、樹脂突部7a,7b上に設け
られた島状の導電膜8a,8bを含んでなる複数の端子6a,6bとを有する。複数の端
子6a,6bは、内部回路と導通した端子を含み、複数の端子6aのうちの少なくとも2
つの端子を接続する再配線11が能動面3側に形成されている。ICチップ41は第1基
板42に実装され、第2基板43が第1基板42に接続される。第2基板43上にはクロ
ス配線又は飛び越し配線は無いが、ICチップ41の再配線11とこれに繋がる端子6a
とにより、2番の配線46と4番の配線46とが電気的に接続された状態となっている。 (もっと読む)


【課題】デジタルアナログ変換回路を備える液晶表示装置において、基板サイズの増大を抑え、基板温度の不均一性を抑えるとともに、有効表示領域の周囲の良好な黒表示を実現すること。
【解決手段】液晶表示装置は、液晶を含む画素10が複数配置された表示領域27、28と、入力されたデジタル信号を画素10を駆動するためのアナログ信号に変換する複数のデジタルアナログ変換回路16と、を有するアクティブマトリクス基板22と、開口部を有する遮光板26と、を備える。表示領域27、28は、有効表示領域27と、有効表示領域17の周囲に配置された黒表示領域28と、を有する。前記開口部の外縁は、黒表示領域18に位置している。複数のデジタルアナログ変換回路16は、前記開口部の外側に位置する黒表示領域18の画素10に重なる位置であって、有効表示領域17を挟んで対向する位置にそれぞれ配置されている。 (もっと読む)


【課題】シリコン薄膜を受光部とした構成の光センサーを用いた場合であっても、外部環境や表示画像の状態に影響されることなく常に感度良好な光検知によって表示面側の対象物を検出することが可能なタッチパネル機能付きの表示装置を提供する。
【解決手段】画素駆動用の薄膜トランジスタTrと共に光センサーSが設けられた第1基板21と、第1基板21に対向配置された第2基板41と、第1基板21と第2基板41との間に狭持された液晶層LCと、第1基板21の外側に設けられたバックライト5とを有し、バックライト5からの光を第2基板41側に接近して配置された物体に反射させて光センサーSで検出する機能を備えた表示装置1aにおいて、バックライト5は、可視光と共に紫外光を射出することを特徴としている。 (もっと読む)


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