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国際特許分類[G02F1/1362]の内容

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国際特許分類[G02F1/1362]に分類される特許

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【課題】搬送により発生するパーティクルが基板へ付着するのを広範囲にわたり低減させ、メンテナンス時、低減させたパーティクルの処理を容易にできる基板処理装置を提供することにある。
【解決手段】処理基板をトレイに搭載した状態で、排気可能な処理室の間を、トレイごと搬送しながら処理基板に処理室内で所定の処理を施す基板処理装置であって、トレイの搬送路の下方に、該トレイの搬送路の方向に沿って同じ磁極で向き合う磁性体を配置し、かつ、その上を非磁性材料からなる部材で覆われているパーティクル吸着体が備えられていることを特徴とする。 (もっと読む)


ディスプレイにおいて、能動マトリクス配列の断線の集積修復構造が、有効表示領域ZA周辺でハーフリングを有する導体修復要素Eを使用する。各修復要素は、ハーフリングの2本のオープンレッグと交差する配列の導線の1個のグループだけの修復に割り当てられる。断線は次いで、修復要素のハーフリングの2本のオープンレッグを用いて当該導線の2個の交差箇所の各々で接続を行うことにより修復される。ループ閉鎖は少なくとも、2本のオープンレッグを接続するセグメントにより行われる。
修復構造は、導線上の浮遊結合および帯電を最小化し、多数の導線の修復が可能でありながら安価である点が好都合である。特に、大型ディスプレイまたは高解像度ディスプレイに適している。
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【課題】活性層として用いた酸化物薄膜の安定化と高品質化を実現した薄膜トランジスタをプラスチック基板上に搭載した薄膜トランジスタ搭載基板の製造方法を提供する。
【解決手段】プラスチック基板10の上又はその上方に活性層となるアモルファス酸化物薄膜13を形成する工程と、そのアモルファス酸化物薄膜13を電磁誘導加熱する工程とを少なくとも有する。電磁誘導加熱工程は、プラスチック基板10にプラスチック基板10のガラス転移温度以上の温度を一定時間与えず、且つアモルファス酸化物薄膜13をアモルファス相のままでその抵抗率を上昇させ且つ安定化させる工程である。 (もっと読む)


【課題】本発明は、光透過率損失を減少させることを目的とする。
【解決手段】液晶表示装置は、絶縁層44上に配置された画素電極36と、絶縁層44下で画素電極36に対向する容量電極48と、絶縁層44とは反対側で画素電極36に対向する対向電極38と、画素電極36と対向電極38の間に配置された液晶20と、を有する。画素電極36は、データ信号Dが入力される主画素電極35と、主画素電極35とは分離された副画素電極37と、を含む。容量電極48は、主画素電極35に対向して共通電位Vcomに電気的に接続する主容量電極50と、副画素電極37に対向して共通電位Vcomに電気的に接続する副容量電極52と、副画素電極37に対向し、絶縁層44を貫通して主画素電極35に電気的に接続する分割容量電極54と、を含む。画素電極36、容量電極48及び分割容量電極54は、それぞれ透明導電材料からなる。 (もっと読む)


【課題】透過率が高く、表示ムラを抑制できる液晶表示パネルおよび表示品位の高い液晶表示装置を提供する。
【解決手段】画素において、第1の枝配線7d・7eが形成されている領域の面積が第2の枝配線7g・7hが形成されている領域の面積より大きく、第1の枝配線7d・7e中、第2の幹配線7fと重なる方位に伸びる第1の枝配線7d・7eの先端と第2の幹配線7fとは、5μm以上離されており、第1の枝配線7d・7e中、第2の枝配線7g・7hに最も隣接する第1の枝配線7d・7eと第2の枝配線7g・7h中、第1の枝配線7d・7eに最も隣接する第2の枝配線7g・7hとは、微細スリット14の幅より広く離されている。 (もっと読む)


【課題】 清掃が必要なプローブを備えたプローブ組立体だけを選んで、簡単な操作で効率良くプローブのクリーニングを行うことができるプローブ清掃ユニットを提供することを課題とする。
【解決手段】 パネル検査装置のプローブユニットに対し、少なくとも前記プローブ組立体のそれぞれに対応する位置の間で移動可能に取り付けられるアーム部と;前記アーム部に取り付けられた本体部と;前記本体部に直線状に往復動可能に支持された移動ベースと;前記移動ベースを前記本体部に対して直線状に往復動させる手段と;前記移動ベースを前記本体部に対して直線状に往復動させたときに、前記移動ベースに取り付けられる第1清掃手段が前記プローブ組立体の複数のプローブの先端と接触するように、前記アーム部と前記移動ベースとの距離を調節する距離調節機構を備えているプローブ清掃ユニットを提供することによって解決する。 (もっと読む)


【課題】被剥離層に損傷を与えない剥離方法を提供し、小さな面積を有する被剥離層の剥離だけでなく、大きな面積を有する被剥離層を全面に渡って歩留まりよく剥離することを可能とすることを目的する。また、様々な基材に被剥離層を貼りつけ、軽量された半導体装置およびその作製方法を提供することを課題とする。
【解決手段】基板上に金属層11を設け、さらに前記金属層11に接して酸化物層12を設け、さらに被剥離層13を形成し、前記金属層11をレーザー光で照射することで酸化を行い、金属酸化物層16を形成させれば、物理的手段で金属酸化物層12の層内または金属酸化物層16と酸化物層12との界面において、きれいに分離することができる。 (もっと読む)


【課題】樹脂層付アクティブマトリクス基板への樹脂層形成時の不良率を低減する。
【解決手段】アクティブマトリクス基板上に、光重合開始剤、光重合性モノマー、バインダー、及び紫外線吸収剤を含む感光性樹脂層を形成する工程と、該感光性樹脂層をパターン露光する工程と、該感光性樹脂層を現像し該感光性樹脂層にコンタクト部を形成する工程とを有し、該感光性樹脂層の波長365nmでの光学濃度(OD)が0.8〜4であり、かつ該パターン露光時の露光マスクと該感光性樹脂層の距離が20〜200μmである樹脂層付アクティブマトリクス基板の製造方法である。
【数1】
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【課題】ヒロックに対して400℃程度の耐熱性を有するNd添加量2at%のAlNd層を塩素系ガスでプラズマエッチングする場合、フェンスと呼ばれる反応生成物が堆積した領域が生じる。フェンスの存在により、AlNd層をゲート電極としてTFTを形成した場合、ゲート電極脇に電気的に不安定な領域ができることから、TFTの電気的特性が不安定になる場合があるという課題がある。
【解決手段】AlNd層203を層厚0.45μm以上0.8μm以下、Ndの含有量を0.5at%以上1.0at%以下に形成した。この条件範囲であれば、塩素ガスを主としたプラズマエッチングを行ってもフェンスの発生が抑えられる。また、基板温度を500℃まで上げられることから、層間絶縁層211として信頼性が高い酸化シリコン層をAlNd層203にヒロックを発生させることなく形成することができ、信頼性が高いTFT220を提供することが可能となる。 (もっと読む)


【課題】断線部を修正できるアクティブマトリクス表示装置を提供する。
【解決手段】基板上に格子状に設けられた走査線又は補助容量線と信号線とで囲まれた領域に絵素電極を設け、前記走査線又は前記補助容量線、前記信号線、および前記絵素電極にそれぞれスイッチング素子を接続したアクティブマトリクス表示装置は、前記走査線又は前記補助容量線の少なくとも一部をバイパスできるバイパスパターンを備え、前記バイパスパターンは、前記信号線が設けられている層と同じ層に、前記信号線の材料と同じ材料で形成され、前記バイパスパターンは、前記走査線又は前記補助容量線のパターンに実質的にカバーされ、前記バイパスパターンの長さは、隣接する2つの信号線の間の距離の少なくとも半分である。 (もっと読む)


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