【課題】 本発明は、外部供給電圧と外部信号（WBI）を利用してストレススクリーン用電圧をチップ内部で発生してウェハバーンインテストを行うことを可能にしたフーリオンチップ・ウェハレベル・バーンインテスト回路及びその方法を提供することである。
【解決手段】 本回路は、外部電源電圧（Vext）を受信しゲート酸化膜欠陥スクリーン用高電圧（Vpp）を発生させる高電圧発生器（１０）と、ウェハバーンイン信号（WBI）を検出するパッドオンチップ（２０）と、パッドオンチップ（２０）を介して検出された信号（WBI）により、セル（５０）のゲート酸化膜欠陥スクリーン用ビットラインフリーチャージ電圧（Vblp）を発生させるビットラインフリーチャージ電圧発生器（３０）と、パッドオンチップ（２０）を介して検出された信号（WBI）により、セル（５０）のキャパシタ欠陥スクリーン用セルプレート電圧（Vcp）を発生させるセルプレート電圧発生器（４０）とから構成される。 （もっと読む）

【課題】チップ内部での試験を可能とすると共に試験時間を短縮するメモリの提供。
【解決手段】メモリセルアレイと、予め格納された固定パタンを出力する手段、入力ビットパタンから任意パタンを生成する手段、ロウアドレスを順次カウントアップするカウンタ手段、固定パタン又は任意パタンを選択出力する選択手段とを含む試験回路と、メモリセルアレイの選択されたロウに試験回路からのパタンを書き込む試験データ書き込み回路と、試験回路からのパタンと前記メモリセルアレイからの読み出しデータを比較し試験終了でない場合にはロウアドレスをカウントアップするように前記カウンタ手段を制御する試験データチェック回路と、含む。 （もっと読む）

【課題】ＤＲＡＭチップの内部で自己試験機能を行い、メモリセルの試験時間を短縮し得る自己試験機能を有するＤＲＡＭを提供する。
【解決手段】外部信号の組合により進入／脱出制御部４０から自己試験進入信号が出力されると、ロー制御部５０で内部ロー制御信号が発生し、カラムアドレスストローブ信号のトグルなしに、クロック発生部４２からの内部クロック信号に同期されたカラムアドレスの遷移によりファストページモードを用いてメモリセルアレイ６２の自己試験を行なう構成とする。 （もっと読む）

【目的】 内部信号をモニタするためのテストパッドを有する半導体集積回路において、回路の高速化およびチップ面積の縮小を図ること。
【構成】 テストパッドと内部信号線の間に、ヒューズを切断しないときＯＦＦ、切断したときＯＮになるスイッチ手段を設ける。また、１つのテストパッドと複数の内部信号線をつなげ、その接続配線上のおのおのに、上記スイッチ手段を設ける。
【効果】 ヒューズを切断しない場合、テストパッドの容量が内部信号線につかないので回路の高速化が図れる。ヒューズを切断した場合、内部信号がモニタできる。また、複数の内部信号で１つのテストパッドを共有するので、モニタしたい内部信号が増えても、テストパッドの増加によるチップ面積の増大がない。 （もっと読む）

【目的】強誘電体キャパシタの絶縁膜に対してスクリーニングを行う場合に、スクリーニング時間の短縮、スクリーニングコストの低減を図り得る強誘電体メモリを提供する。
【構成】通常動作モードおよびスクリーニングモードを有する強誘電体メモリにおいて、スクリーニングモード時に通常動作モード時に選択されるメモリセルＭＣより多数のメモリセルを同時に選択し、その強誘電体キャパシタＣの絶縁膜の両端間に極性が交互に反転するパルス電圧を任意の回数印加するスクリーニング回路（２１、２２、２３）を具備することを特徴とする。 （もっと読む）

【目的】外部端子数を増加させることなく、テスト時間の短縮化を実現したダイナミックＲＡＭのテスト方法を提供する。
【構成】ロウアドレスストローブ信号の立ち下がりタイミングにおいて、カラムアドレスストローブ信号とライトイネーブル信号がロウレベルにされていることを識別して、テストモードにする。
【効果】ロウアドレスストローブ信号とカラムアドレスストローブ信号及びライトイネーブル信号のノーマルモードにない組み合わせによって、外部制御信号数を増加させること無くテストモードの起動／解除を行わせることができる。 （もっと読む）

【目的】 電気的に書き込み及び一括消去可能な不揮発性半導体記憶装置においてテスト時に自動書き込み動作／自動消去動作の最大繰り返し回数を通常時よりも小さくすることによりテスト時間を短縮する。
【構成】 制御回路７Ａ内に、情報の自動書き込み動作／自動消去動作時の繰り返し回数を所定の最大繰り返し回数まで計数可能なカウンタ７ｂと、カウンタ７ｂの計数可能な最大繰り返し回数よりも小さい最大繰り返し回数まで計数可能なカウンタ７ｂとを備え、通常モード時にはカウンタ７ａを用い、テストモード時にはカウンタ７ｂを用いて、自動書き込み動作／自動消去動作を実行する。 （もっと読む）