国際特許分類[H01L21/302]の内容
電気 (1,674,590) | 基本的電気素子 (808,144) | 半導体装置,他に属さない電気的固体装置 (445,984) | 半導体装置または固体装置またはそれらの部品の製造または処理に特に適用される方法または装置 (183,847) | 半導体装置またはその部品の製造または処理 (125,986) | 少なくとも一つの電位障壁または表面障壁,例.PN接合,空乏層,キャリア集中層,を有する装置 (97,574) | 不純物,例.ドーピング材料,を含むまたは含まない周期律表第IV族の元素またはA↓I↓I↓IB↓V化合物から成る半導体本体を有する装置 (83,040) | 21/20〜21/26に分類されない方法または装置を用いる半導体本体の処理 (43,387) | 表面の物理的性質または形状を変換するため,例.エッチング,ポリシング,切断 (21,268)
国際特許分類[H01L21/302]の下位に属する分類
機械的処理,例.研摩,ポリシング,切断 (11,020)
化学的または電気的処理,例.電解エッチング (9,750)
国際特許分類[H01L21/302]に分類される特許
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電子基板、電子基板の製造方法、および表示装置
【課題】層間絶縁膜を介して配線された上下の導電パターンが、これらの導電パターン形成後に接続配線によって接続された構成において、接続抵抗の上昇を防止でき、さらにこの構成を製造する際のプロセスタクトタイムの削減が図られる電子基板を提供する。
【解決手段】基板1上に設けられた第1導電パターン3と、これを覆う状態で基板1上に設けられた層間絶縁膜5と、第1導電パターン3上に一部を重ねた状態で層間絶縁膜5上に設けられた第2導電パターン9とを備えている。第2導電パターン9と第1導電パターン3とが重なる位置には、第2導電パターン9および層間絶縁膜5に開口部31が設けられている。この開口部31は第1導電パターン3を底面としており、この開口部31の内壁を覆う接続配線33により、第2導電パターン9と第1導電パターン3とが結線されている。
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フォトレジスト用化合物、フォトレジスト液、ならびにこれを用いるエッチング方法およびポジ型耐エッチングレジスト材料
【課題】フォトリソグラフィを利用した微細加工を行うために使用される新規なフォトレジスト用化合物、上記のフォトレジスト用化合物を用いたフォトレジスト液、および上記のフォトレジスト液を使用して所望の表面をエッチングするエッチング方法の提供。
【解決手段】下記一般式(A)で表される化合物。
[一般式(A)中、X1およびX2は、酸素原子、等を表し、mおよびnは0〜3の範囲の整数を表し、R1〜R3は水素原子または置換基を表し、L1およびL2は二価の連結基を表す。]
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イオン照射装置
【要 約】
【課題】大面積の処理対象物にイオンを均一に照射するための技術を提供する。
【解決手段】
イオン化室11内で生成されたイオンは、第一〜第三の電極板17〜19に形成されたイオン通過路12を通り、イオン化室11から処理室30に放出される。第一〜第三の電極板17〜19は中心が処理対象物33の回転軸線24から離間して配置され、イオン通過路12は、回転軸線を通る直線で挟まれた中央領域に配置されており、略垂直に入射するイオンは、処理対象物33のどの位置でも略等しい時間照射され、処理対象物33表面に均一にイオンが照射される。
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電子ビーム誘起エッチング方法
本発明は、物質(100,200)を電子ビーム誘起エッチングする方法に関し、本方法は、少なくとも1種類のエッチングガスを、物体(100,200)に電子ビームが衝突する位置と同じ位置において、物体(100,200)に供給する方法ステップ、および、同時に、少なくとも1種類のエッチングガスによる自発的エッチングを減速または抑制するようにした少なくとも1種類のパッシベーションガスを供給する方法ステップを含むものである。 (もっと読む)
酸化膜表面の洗浄及び保護方法および酸化膜表面の洗浄及び保護装置
【課題】基板上のITO表面を洗浄及び保護する方法を提供する。
【解決手段】プロセスチャンバPC100の内部に載置された基板上のITO表面にその表面の汚染物の分子の結合エネルギーより強いエネルギーを持つ光を光源から照射し、その照射中又は照射後、直ちに同一チャンバ内にてシランカップリングのガスを供給する。これにより、基板上のITO表面を洗浄及び保護することができる。
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化学処理及び熱処理用高スループット処理システム及びその動作方法
複数の基板を処理するための化学処理システム及び熱処理システムを有する高スループット処理システムが開示される。化学処理システムは、乾式の非プラズマ環境で複数の基板を化学処理するように構成される。熱処理システムは、化学処理システムで化学処理された複数の基板を熱処理するように構成される。
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オゾンガス利用表面処理方法とその装置
【課題】 オゾンガスと紫外線とを併用する酸化による表面処理方法において、酸化効率を向上させることのできる手段を提供する。
【解決手段】 キセノンガス等の希ガスとオゾンガスとの混合ガスを被処理物に作用させ、その混合ガスに紫外光を照射作用させる。混合ガス中の酸素分子密度を減じることでオゾンガスの分解を促進して、酸化効率を向上させ、原子状酸素を有効に基板表面に到達させる。
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シリコンウェーハ表面酸化膜のエッチング方法、酸化膜付きシリコンウェーハの金属汚染分析方法、および酸化膜付きシリコンウェーハの製造方法
【課題】シリコンウェーハ表面の金属汚染を簡便かつ高感度に分析するための手段を提供すること。
【解決手段】酸化膜付きシリコンウェーハ3を冷却しつつ、フッ化水素ガスと接触させることによりウェーハ表面に結露(但しシリコン酸化成分を含まない)を発生させることによって、シリコンウェーハ表面の酸化膜をエッチングする方法。上記方法によりシリコンウェーハ表面の酸化膜をエッチングにより除去し、酸化膜除去後のシリコンウェーハ表面に溶液を走査させた後、該溶液中の金属成分を分析することを含む酸化膜付きシリコンウェーハの金属汚染分析方法。上記金属汚染分析方法を使用する酸化膜付きシリコンウェーハの製造方法。
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半導体装置の製造方法、エッチング幅の補正方法、半導体装置およびMOS型トランジスタ
【課題】プロセス処理のばらつきを低減し、半導体基板の加工精度を向上することでばらつきの少ない半導体装置を製造できる半導体装置の製造方法およびエッチング幅の補正方法を提供する。
【解決手段】開口部が形成されたシリコン窒化膜と、このシリコン窒化膜の側面を覆う側壁保護膜とをマスクとして、シリコン酸化膜およびシリコン基板の一部をエッチングすることにより、シリコン基板に素子分離用トレンチを形成する(S108)。側壁保護膜は、シリコン窒化膜に関して開口部に隣接する隣接部の幅の計測値に基づいて膜厚調整して形成された酸化膜の一部からなる。
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発光素子の製造方法
【課題】発光層から放出された光を有効利用し、発光素子の発光効率を向上させることができる発光素子の製造方法を提供する。
【解決手段】本発明の発光素子1においては、半導体基板2の表面上にLED動作層3が積層されている。LED動作層3は、半導体基板2側から順に、第1のコンタクト層4、発光層5、第2のコンタクト層6を少なくとも積層させて有している。このLED動作層3は、複数の凹部11Aからなる2次元回折格子10Aの他に、第1のコンタクト層4において厚み方向と直交方向(LED動作層の面方向と平行方向)に延在する空間層12を有する。この空間層12は、第1のコンタクト層4の側面に流動性光吸収物質を接触させ、その反対側からレーザ光を照射してレーザエッチングを行なうことにより形成される。
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