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国際特許分類[H01L21/316]の内容

国際特許分類[H01L21/316]に分類される特許

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【課題】基板面内において均一な膜組成で薄膜を形成することができる薄膜製造方法および薄膜製造装置を提供する。
【解決手段】本発明の一実施形態に係る薄膜製造方法は、基板中央の温度(第1の温度)よりも基板周縁の温度(第2の温度)を高温に維持して成膜するようにしている。このような温度分布を形成することで、基板周縁の蒸気圧が基板中央の蒸気圧よりも高くなり、基板周縁において気相中に含有できる高蒸気圧成分の量を増加させることができる。これにより、基板周縁部上に高濃度に分布するガス種の析出を抑制でき、基板面内において均一な組成の薄膜を形成することが可能となる。 (もっと読む)


【課題】簡易なプロセスでパターン欠陥を抑制することが可能な金属パターンの製造方法を提供する。
【解決手段】アルミニウムを含む金属パターン20を製造する際に、真空雰囲気下にて、気相法により、基板上にアルミニウムを含む金属膜21を成膜する工程(1)と、金属膜21の表面に酸化処理により酸化膜22を形成する工程(2)と、酸化膜22上に金属パターンに対応したレジストパターン30を形成する工程(3)と、レジストパターン30をマスクとして、金属膜21をエッチングする工程(4)とを順次実施する。工程(1)と工程(2)との間において、少なくとも工程(2)の実施直前には、基板の雰囲気を真空雰囲気とする。 (もっと読む)


【課題】熱CVD法により薄膜付基板を好適に製造し得る方法を提供する。
【解決手段】基板10の薄膜を形成しようとする部分である成膜部10cの他主面10c2に、基板10に吸収される波長域の光を照射することにより成膜部10cを加熱した状態で、成膜部10cの一主面10c1に対向して配置したノズル30から成膜部10cの一主面10c1に向けて反応ガスを供給することにより薄膜を形成する。 (もっと読む)


【課題】耐久性に優れ、かつ光電変換効率の低下を抑制することができる光電変換素子を提供する。
【解決手段】本発明の太陽電池用薄膜の成膜方法は、第1の温度で加熱されるガラス基板の表面上にアルカリバリア膜を形成する工程と、第2の温度で加熱されるガラス基板の表面上のアルカリバリア膜上に透明導電膜を形成する工程とを備える。アルカリバリア膜を形成する工程において、ガラス基板の表面に向けて冷却された原料溶液(A)を噴霧し、アルカリバリア膜は酸化アルミニウムからなり、原料溶液(A)において、主溶媒は水であり、アルミニウムトリアセチルアセトナートを含有する。 (もっと読む)


【課題】本発明の目的は、特定の構造を有するポリシロキサン化合物を含有する高誘電率でありかつ絶縁性に優れた薄膜となる硬化性組成物に関するものである。本発明の硬化性組成物を硬化して得られる薄膜は、特に薄膜トランジスタのゲート絶縁膜やコンデンサ用材料として有用である。
【解決手段】アルケニル基を有する化合物(A)および特定の構造を有するポリシロキサン化合物(B)からなるヒドロシリル化反応性を有する硬化性組成物であり、得られる硬化物における1kHzでの比誘電率が3.5以上であることを特徴とする硬化性組成物により達成できる。 (もっと読む)


【課題】光照射時の素子特性を安定化する。
【解決手段】酸化物半導体を主体とする半導体膜を成膜する第一工程と、第一工程後に、半導体膜の面上に第一の絶縁膜を成膜する第二工程と、第二工程後に、酸化性雰囲気中で熱処理する第三工程と、第三工程後に、第一の絶縁膜の面上に第二の絶縁膜を成膜する第四工程と、を有し、第二工程と前記第三工程の際に、第一の絶縁膜の厚みをZ(nm)とし、第三工程での熱処理温度をT(℃)とし、前記第一の絶縁膜及び前記半導体膜中への酸素の拡散距離をL(nm)としたとき、0<Z<L=8×10−6×T−0.0092×T+3.6×T−468±0.1の関係式を満たすように第一の絶縁膜の厚みと熱処理温度を調整する。 (もっと読む)


【課題】フォトリソグラフィでは形成が困難な超微細な導電体パターンを形成しうる導電体パターンの形成方法を提供する。
【解決手段】 基体上に、第1の比抵抗を有する金属酸化物膜を形成し、金属酸化物膜に電極を接触又は所定の距離まで近づけ、この状態で電極と金属酸化物膜との間に第1の電圧を印加することにより、金属酸化物膜の比抵抗を局所的に変化させ、金属酸化物膜の表面側に、第1の比抵抗よりも高い第2の比抵抗を有する高抵抗領域を形成し、金属酸化物膜に電極を接触又は所定の距離まで近づけ、この状態で電極と金属酸化物膜との間に第2の電圧を印加することにより、金属酸化物膜の比抵抗を局所的に変化させ、高抵抗領域の表面側に、第2の比抵抗よりも低い第3の比抵抗を有する導電体パターンを形成する。 (もっと読む)


【課題】従来に比べて緻密な金属酸化膜を形成することができる、プラズマを用いた原子層成長方法及び原子層成長装置を提供する。
【解決手段】 有機金属のガスを原料ガスとして用いて基板に金属酸化膜を形成するとき、成膜空間内に配置された基板の上方に有機金属のガスを原料ガスとして流すことにより、基板に前記有機金属を吸着させ、前記有機金属に対して化学反応しない第1ガスを用いて前記成膜空間でプラズマを発生させ、前記第1ガスを排気した後、酸化ガスを第2ガスとして前記成膜空間に導入して酸化ガスを用いて前記成膜空間でプラズマを発生させることで、前記基板に前記有機金属の金属成分が酸化し金属酸化膜を形成する。 (もっと読む)


【課題】シリコン基板を用いた太陽電池素子の製造工程において、シリコン基板中の内部応力、基板の反りを発生させることなくp型拡散層を形成し、工程を簡略化しても充分なオーミックコンタクトが得られるp型拡散層形成組成物、p型拡散層の製造方法、及び太陽電池素子の製造方法の提供。
【解決手段】本発明のp型拡散層形成組成物は、アクセプタ元素を含むガラス粉末と、分散媒と、を含有する。このp型拡散層形成組成物を塗布し熱拡散処理を施すことで、p型拡散層、及びp型拡散層を有する太陽電池素子が製造される。 (もっと読む)


【課題】微結晶シリコン膜を活性層とするTFTの閾値ドリフトを小さくする。
【解決手段】シリコンを含む半導体装置の製造方法であって、シリコンを含む原料ガスを水素ガスで600倍以上に希釈する工程と、前記希釈した原料ガスと水素ガスの混合ガスに高周波電力を加えて放電させる工程と、前記放電により分解した原料ガス中のシリコンを基板に堆積させる工程と、前記混合ガスの圧力を600Pa以上に制御する工程とを含み、前記原料ガスの水素ガスによる希釈率がD、前記混合ガスの圧力がP(Pa)のとき、前記高周波電力の電力密度Pw(W/cm)をPw(W/cm)×D(倍)/P(Pa)の値が0.083以上、かつ0.222以下となる範囲に設定することを特徴とする半導体装置の製造方法。 (もっと読む)


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