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国際特許分類[H01L23/48]の内容

電気 (1,674,590) | 基本的電気素子 (808,144) | 半導体装置,他に属さない電気的固体装置 (445,984) | 半導体または他の固体装置の細部 (40,832) | 動作中の固体本体からまたは固体本体へ電流を導く装置,例.リードまたは端子装置 (2,507)

国際特許分類[H01L23/48]の下位に属する分類

半導体本体に分離できないように適用された引込み層からなるもの
ハンダ付け構造または結合構造からなるもの
集積回路装置用 (1,774)

国際特許分類[H01L23/48]に分類される特許

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【課題】強度及び導電率のバランスに優れ、しかも、垂下カールが抑制されたCu−Si−Co系合金条を提供する。
【解決手段】Co:0.5〜2.5質量%、Si:0.1〜0.7質量%を含有し、残部がCu及び不可避不純物からなる電子材料用銅合金条であって、圧延面を基準としたX線回折極点図測定により得られる結果で、下記の(a)を満たす銅合金条:(a){200}極点図においてα=25°におけるβ走査による回折ピーク強度のうち、β角度120°のピーク高さが標準銅粉末のそれに対して10倍以上であること。 (もっと読む)


【課題】樹脂と金属の一体構造であるLED発光素子搭載用リードフレームを成型する際、樹脂バリが発生しない、もしくは、樹脂バリが発生しても少量となるような構造を提供する。
【解決手段】少なくとも、LEDチップを搭載するための1乃至複数箇所のパッド部および、それに対面する放熱部と、LEDチップと電気的接続を行うための電気接続エリアを有するリード部はそれぞれ電気的に絶縁された状態であり、該パッド部および、リード部を取り囲むようにかつ、機能面が出来る限り大きく確保できるように設計された溝が形成されているLED発光素子搭載用リードフレームである。 (もっと読む)


【課題】小電流用配線が自身よりも大電流が流れる部位と導通することを抑制できる半導体装置を提供する。
【解決手段】大電流が流れるエミッタ用パッド12a及びコレクタ用パッド12bと、小電流が流れる小電流用配線(131,133,134)とを含む半導体チップ10と、コレクタ用パッド12bに電気的に接続された金属からなるコレクタ用端子30と、エミッタ用パッド12aに電気的に接続された金属からなる第2部材(ブロック体50及びエミッタ用端子20)とを備え、半導体チップ10、ブロック体50、エミッタ用端子20、コレクタ用端子30が一体的にモールド樹脂60にてモールドされた半導体装置100である。この第2部材(ブロック体50及びエミッタ用端子20)は、一部がモールド樹脂60の外部に露出し、小電流用配線(131,133,134)を覆っている絶縁性保護膜80に対向する位置にスリット部51が設けられている。 (もっと読む)


【課題】 GaNを用いる半導体装置の低消費電力および高速応答特性のメリットを生かすことのできるデバイス実装構造を実現する。
【解決手段】
ソースリード15とダイパッド14が一体成形されたリードフレームを用いて、当該ダイパッド上にGaNデバイス10を搭載する。そして、GaNデバイスのソース端子11を、ダイパッド14とワイヤボンディングして実装される。これにより、チップ裏面からのリーク電流を減らし、オン抵抗を低減するとともに、ゲート−ソース間のループ電流を減らし、ソース配線側の寄生インダクタンスを低減することで、ゲート−ソース間の寄生容量を介したゲート電圧の発振を抑制する。 (もっと読む)


【目的】SiC等のワイドバンドギャップ半導体を用いた半導体素子を備える、耐熱性能の高い半導体装置を提供する。
【解決手段】半導体装置は、絶縁基板と、前記絶縁基板に固着された金属ブロックと、前記金属ブロックに固着された、ワイドバンドギャップ半導体を用いた複数の半導体素子と、前記半導体素子に固着された複数のインプラントピンと、前記インプラントピンに固着され、前記半導体素子に対向して配置されたプリント基板と、前記半導体素子とプリント基板の間に少なくとも配置された、最大粒径が100μmの充填材を含んでいる封止材と、を備える。 (もっと読む)


【課題】高強度及び高ノッチ曲げ性を兼備したCu−Ni−Si系合金及びその製造方法を提供する。
【解決手段】0.8〜4.5質量%のNi及び0.2〜1.0質量%のSiを含有し、残部が銅及び不可避的不純物からなり、板厚方向の中央部において、板厚方向と平行にEBSD測定を行い、結晶方位を解析したときに、Cube方位{0 0 1}<1 0 0>の面積率が10〜80%、Brass方位{1 1 0}<1 1 2>の面積率が20%以下、Copper方位{1 1 2}<1 1 1>の面積率が20%以下であるCu−Ni−Si系合金。 (もっと読む)


【課題】生産性の向上と信頼性の向上とを図ることを可能とするとともにコストの削減をも可能とする樹脂封止型半導体装置を提供する。
【解決手段】第1面に1個の電極が形成され、第2面に2個以上の電極が形成された半導体素子111と、半導体素子111を搭載する第1ダイパッド122及び第1リード124を有する第1リードフレーム120と、第1リードフレーム120とは隔離して配置される第2ダイパッド132及び第2リードを有する第2リードフレーム130と、接続部142及び第3リード1244有する第3リードフレーム140とを備える樹脂封止型半導体装置101であって、第2面に形成された電極のうちの1個の電極は、第1ダイパッド122に直接接続され、第2面に形成された他の電極は、第2ダイパッド132に直接接続され、第1面に形成された電極は、電気接続子150を介して第3リードフレーム140の接続部142に接続されている。 (もっと読む)


【課題】劣化や特性不良を抑制し、電極とリードとを精度よく接合した電子部品を製造することができる。
【解決手段】電極を備える水晶振動子片1とリード3との対を電極と水晶振動子片1の一部とを接触させて複数配列し位置決め状態に支持するベース10と、ベース10により支持されたいずれかの対の水晶振動子片1の電極とリード3との接触部分5に向けて、その電極とリード3とを接合する高温ガスを噴射する高温噴射ノズル23と、高温噴射ノズル23から噴射された高温ガスにより高温になる接触部分5周辺の高温領域の範囲を限定する低温噴射ノズル25とを備える電子部品製造装置100を提供する。 (もっと読む)


【課題】プレーナ型チップを用いて、アノードコモン接続方式とし、さらに放熱性を向上させることができる半導体装置を提供する。

【解決手段】本発明の半導体装置は、ダイパッドと、ダイパッドの一方の主面に一方の電極が接合された半導体素子と、半導体素子の他方の電極に内部リードを介して電気的に接合されたリード端子と、少なくともダイパッドの他方の主面とリード端子の外部接続部を除き、少なくとも半導体素子と内部リードとリード端子の一部は被覆している樹脂封止体とを有する半導体装置において、ダイパッドの一方の主面に半導体素子の一方の電極が第1の金属板を介し電気的に接合され、内部リードの一方の端部に半導体素子の他方の電極が第2の金属板を介し電気的に接合されたことを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】モールド樹脂との密着性が高いLED素子用リードフレームを提供する。
【解決手段】厚さ方向における第一面に、LED素子が搭載されるパッド部11と、パッド部と離間して形成され、ワイヤーを介してパッド部に搭載されたLED素子と電気的に接続される接続エリア12とを有するLED素子用リードフレーム10は、パッド部および接続エリアと、LED素子用リードフレームの厚さ方向の第二面とを接続する接続面15A、15Bのみが、所定の粗さ以上に粗化されていることを特徴とする。 (もっと読む)


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