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国際特許分類[H01L33/32]の内容

国際特許分類[H01L33/32]に分類される特許

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【課題】発光効率の高い半導体発光素子を提供する。
【解決手段】実施形態に係る半導体発光素子は、窒化物半導体を含むn形半導体層と、窒化物半導体を含むp形半導体層と、前記n形半導体層と前記p形半導体層との間に設けられた発光層と、を備える。前記発光層は、III族元素を含む障壁層と、前記n形半導体層から前記p形半導体層に向けた方向に前記障壁層と積層されIII族元素を含む井戸層と、を有する。前記障壁層を、前記n形半導体層側の第1部分と、前記p形半導体層側の第2部分と、に分けた場合、前記第2部分のIII族元素中におけるIn組成比は、前記第1部分のIII族元素中におけるIn組成比よりも低い。前記井戸層を、前記n形半導体層側の第3部分と、前記p形半導体層側の第4部分と、に分けた場合、前記第4部分のIII族元素中におけるIn組成比は、前記第3部分のIII族元素中におけるIn組成比よりも高い。 (もっと読む)


【課題】発光効率の高い半導体発光素子を提供する。
【解決手段】実施形態に係る半導体発光素子は、窒化物半導体を含むn形半導体層及びp形半導体層と、発光層と、を備える。発光層は、III族元素を含む障壁層と、n形半導体層からp形半導体層に向けた方向に障壁層と積層されIII族元素を含む井戸層と、を有する。障壁層を、n形半導体層側の第1部分と、p形半導体層側の第2部分と、に分けた場合、第2部分のIII族元素中におけるIn組成比は、第1部分のIII族元素中におけるIn組成比よりも低い。井戸層を、n形半導体層側の第3部分と、p形半導体層側の第4部分と、に分けた場合、第4部分のIII族元素中におけるIn組成比は、第3部分のIII族元素中におけるIn組成比よりも高い。障壁層及び井戸層のIn組成比は、発光層に電圧を印加した状態において井戸層及び障壁層の価電子帯のエネルギーバンド図が矩形状になるような組成比である。 (もっと読む)


【課題】窒化珪素層を形成した場合でも、窒化物半導体層の転移密度を低減することができるとともに、窒化物半導体層の表面モフォロジーを優れたものとすることができる窒化物半導体素子の製造方法を提供する。
【解決手段】斜めファセットを有する第2の窒化物半導体層を有機金属気相成長法により形成する工程において、有機金属気相成長装置の成長室に供給されるIII族元素ガスに対するV族元素ガスのモル流量比が240以下である窒化物半導体素子の製造方法である。 (もっと読む)


【課題】シリコン基板上に形成した、転位及びクラックの少ない窒化物半導体ウェーハ、窒化物半導体装置及び窒化物半導体結晶の成長方法を提供する。
【解決手段】実施形態によれば、シリコン基板と、その上に順次設けられた、下側歪緩和層、中間層、上側歪緩和層及び機能層と、を有する窒化物半導体ウェーハが提供される。中間層は、第1下側層と、第1ドープ層と、第1上側層と、を含む。第1下側層は、下側歪緩和層の上に設けられ下側歪緩和層の格子定数よりも大きい格子定数を有する。第1ドープ層は、第1下側層の上に設けられ第1下側層の格子定数以上の格子定数を有し1×1018cm−3以上1×1021cm−3未満の濃度であり第1下側層よりも高い濃度で不純物を含有する。第1上側層は、第1ドープ層の上に設けられ第1ドープ層の格子定数以上で第1下側層の格子定数よりも大きい格子定数を有する。 (もっと読む)


【課題】LEDの発生光の外部への結合効率を効率的に改善する。
【解決手段】基板112上に堆積した半導体材料の第1の層13と共にp−nダイオードを形成する前記半導体材料の第2の層14と、第1と第2の層の間にあって、光を発生する発光領域18と、第2の層に堆積した第1の電極15と、第1の層に電気的に接続された第2の電極16が含まれている。基板112の上部表面に、光を散乱または回折するための突出部118及び/または陥凹部119が設けられる。第2の層の上部表面の粗面化も用いることができる。 (もっと読む)


【課題】偏光度PDを向上させる発光素子、及びそのような発光素子の製造方法を提供する。
【解決手段】発光素子は、中心波長λ、及び偏光度Pを有する光を発光するよう構成された発光領域を含むことができ、これらの中心波長λ及び偏光度Pは、200nm≦λ≦400nm、b≦1.5に対してP>0.006λ−bの条件を満たす。 (もっと読む)


【課題】ダブルフリップ製作プロセスによって形成されたダブルフリップチップ半導体デバイスを提供する。
【解決手段】最初にn型層204を成長させ、続いてp型層206を成長させる通常の方式で、基板上にエピタキシャル層を成長させる。チップを最初にフリップして、犠牲層に取り付ける。当初の基板を除去し、n型層を露出させ、追加の層および処理をデバイスに追加する。n型層は製作中に露出されるので、光取出しを向上させるためにさまざまな方式で加工することができる。チップを再度フリップして、支持要素に取り付ける。次いで、犠牲層を除去して、追加の層および処理をデバイスに追加する。完成したデバイスは、各層が当初の基板に対して有していたのと同じ向きを、支持要素に対して維持する構成を特徴とする。 (もっと読む)


【課題】光取出し効率を改善した発光素子を提供する。
【解決手段】発光素子501は、基板としてのサファイア基板1と、この基板の表面において、互いに異なる導電型を有する2つの半導体層としてのn型半導体層2およびp型半導体層4によって厚み方向に挟まれる状態で配置された発光層3と、前記2つの半導体層のうちの前記基板から遠い側の一方の半導体層であるp型半導体層4に重なるように配置された透明電極層5と、透明電極層5の上面の少なくとも一部を覆うように、透明電極層5よりも高い屈折率を有する透明材料で設けられた平坦層8と、平坦層8の上側に配置された凹凸層9とを備える。 (もっと読む)


【課題】キャップ層表面でのひび割れの発生を抑制することが可能な、半導体発光デバイス及び半導体発光デバイスの製造方法を提供すること。
【解決手段】本発明に係る半導体発光デバイスは、所定の基板上に形成されたバッファ層と、バッファ層上に形成されたn型窒化物半導体層と、n型窒化物半導体層上の一部に形成された量子井戸層と、量子井戸層上に形成された、p−GaNからなるp型窒化物半導体層と、p型窒化物半導体層上に形成された、p−InGaNからなるキャップ層と、キャップ層上、及び、量子井戸層の形成されていないn型窒化物半導体層上にそれぞれ形成されたコンタクト電極と、を備える。本発明に係る半導体発光デバイスのキャップ層では、当該キャップ層とp型窒化物半導体層との間の界面からコンタクト電極の形成された側の面に向かうにつれて、キャップ層に含まれるInの割合が増加する。 (もっと読む)


【課題】非極性面または半極性面を主面とする大型で良質なIII族窒化物半導体結晶をより簡便に製造する方法を提供する。
【解決手段】極性面を主面とする下地基板10上に、極性面以外のファセット面11〜18を含む凸状ライン部21〜24を2500μm以上のピッチで複数本形成し、前記主面に垂直な方向にIII族窒化物半導体結晶を成長させる。 (もっと読む)


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