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国際特許分類[H03B5/30]の内容

国際特許分類[H03B5/30]の下位に属する分類

圧電気振動子であるもの (2,069)
磁わい振動子であるもの (1)
周波数決定素子がブリッジ回路を経て,信号が伝送される閉リングに結合されているもの

国際特許分類[H03B5/30]に分類される特許

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【課題】設計段階で所望の微小な差周波を得られるようにすることと、2つの弾性表面波素子の共振周波数を同程度に近づけることとの両立を図る。
【解決手段】第1、第2SAW共振子2、4の両者における櫛歯電極12、13および反射器14、15を構成する各電極のピッチp1、p2を同一としつつ、両者における各電極の交差指幅L1、L2を異ならせる。第1、第2SAW共振子2、4をこのような構造とすることで、第1SAW共振子2を有する第1発振回路の発振周波数と、第2SAW共振子4を有する第2発振回路の発振周波数とを異ならせることができ、両方の発振周波数の差である差周波を微小な周波数に設定することが可能となる。 (もっと読む)


【課題】圧電デバイスの製造を容易なものとしつつ、小型化を図ることができる圧電デバイスおよび電子機器を提供すること。
【解決手段】内部端子対55が設けられたベース基板51と、ベース基板51に対して固定された圧電体基板21と、圧電体基板21上に設けられたIDT22と、圧電体基板21上に設けられ、IDT22に電気的に接続された引出電極対24とを備える弾性表面波素子片2と、内部端子対55の一方の端子と引出電極対24の一方の端子とに跨るように接合された第1の受動部品31と、内部端子対55の他方の端子と引出電極対24の他方の端子とに跨るように接合された第2の受動部品32とを有する。 (もっと読む)


【課題】実装面積やコストを抑え、起動時間を短縮し、周波数精度の高いクロックも出力できるMEMSデバイス等を提供する。
【解決手段】 第1のクロック信号400と第2のクロック信号402の少なくとも一方を出力するMEMSデバイス100であって、同一の基板上に設けられた第1のMEMS共振子302を有する第1のMEMS発振器300と第2のMEMS共振子322を有する第2のMEMS発振器320とを含み、第1のMEMS発振器の共振周波数である第1の共振周波数と、第2のMEMS発振器の共振周波数である第2の共振周波数とは略一致し、第1のMEMS共振子のQ値と第2のMEMS共振子のQ値とは異なり、第1のMEMS発振器は、第1の共振周波数を周波数とする第1のクロック信号を出力し、第2のMEMS発振器は、第2の共振周波数を周波数とする第2のクロック信号を出力する。 (もっと読む)


【課題】出力特性の変化を抑制でき、構成を簡略化できる発振回路、アクティブタグ及び発振出力制御方法を提供すること。
【解決手段】交流電流を出力する発振回路3であって、電源部と、エミッタQ3、ベースQ2及びコレクタQ1を有し、コレクタQ1に電源部からの直流電圧が印加されるトランジスターQと、コレクタQ1に接続され、前記交流電流が出力される出力端子Tと、エミッタQ3から出力されるエミッタ電圧を測定する電圧測定手段(A/Dコンバーター)53と、電圧測定手段53によるエミッタ電圧の測定結果に基づいて、エミッタ電圧が一定となるように、ベースQ2に印加されるベース電圧を制御する電圧制御手段(CPU)6とを有する。 (もっと読む)


【課題】小型化が可能なMEMS素子を提供する。
【解決手段】本発明に係るMEMS素子100は、基板10と、基板10の上方に形成された空洞部32と、空洞部32に収容された第1振動子20aと、空洞部32に収容された第2振動子20bと、を含む。 (もっと読む)


【課題】特性が良く、信頼性の高い電子装置を提供する。
【解決手段】電子装置100は、基板10と、基板10の上方に形成され、空洞部32を有する層間絶縁層30a,30b,30cと、空洞部32に収容された機能素子20と、空洞部32の上方に形成された第1被覆層40と、空洞部32の上方を避けて層間絶縁層30a,30b,30cの上方に形成された樹脂層50と、第1被覆層40の上方に形成された第2被覆層60と、第2被覆層60の上方に形成された金属層70と、を含む。 (もっと読む)


【課題】小型化,薄型化及び高機能化を実現することが可能な半導体装置、半導体装置の製造方法、電子部品、回路基板及び電子機器を提供すること。
【解決手段】半導体基板10と、半導体基板10の第1の面10aに設けられた外部接続端子37と、半導体基板10の第1の面10aに設けられるとともに、外部接続端子37と電気的に接続された第1電極22と、半導体基板10の第1の面10aと対向する第2の面10bに設けられる電子素子と電気的に接続される第2電極23と、半導体基板10の第2の面10bに設けられるとともに、第2電極23に至る溝11と、該溝11の内部に設けられるとともに、第2電極23の裏面23aと電気的に接続された導電部12とを備えることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】ラム波デバイスの高周波特性を量産においても高い歩留まりで実現するために、製造ばらつきの影響を最小にする設計・製造の最適化を提供する。
【解決手段】圧電基板の一方の主面に設けられる複数の電極指を間挿してなるIDT電極20と、前記IDT電極20のラム波の伝播方向両側に配設される一対の反射器25,26と、を備えるラム波型共振子1であって、前記圧電基板の厚さtが、励振させる前記ラム波の波長をλとすると、0<t/λ≦3で表される範囲にあり、前記IDT電極の前記電極指の幅をWとしたときの、W/(λ/2)=ηで表されるメタライゼーションレシオηの基準値η0と、前記IDT電極の電極膜厚Hを前記波長λにより規格化したH/λの関係が以下を満たす。η0=−691.6667(H/λ)3+1.3929(H/λ)2+1.5331(H/λ)+0.2081 (もっと読む)


【課題】ラム波デバイスの高周波特性を量産においても高い歩留まりで実現するために、製造ばらつきの影響を最小にする設計・製造の最適化を提供する。
【解決手段】圧電基板の一方の主面に設けられる複数の電極指を間挿してなるIDT電極20と、前記IDT電極20のラム波の伝播方向両側に配設される一対の反射器25,26と、を備えるラム波型共振子1であって、前記圧電基板の厚さtが、励振させる前記ラム波の波長をλとすると、0<t/λ≦3であらわされる範囲にあり、前記IDT電極の前記電極指の幅をWとしたときの、W/(λ/2)=ηで表されるメタライゼーションレシオηの基準値η0と、前記IDT電極の電極膜厚Hを前記波長λにより規格化したH/λの関係が以下を満たす。η0=−60416.6667(H/λ)4+8208.3333(H/λ)3−413.9583(H/λ)2+9.7292(H/λ)+0.4900 (もっと読む)


【課題】良好な温度特性及び十分な電気機械結合係数を有する弾性表面波デバイスを実現する。
【解決手段】弾性表面波デバイス1は、C面を主面11とするサファイア基板10と、サファイア基板10の主面11に接するように形成される櫛歯電極21,22と、櫛歯電極21,22を覆う窒化アルミニウム膜30と、窒化アルミニウム膜30の表面に形成される二酸化シリコン膜40と、を有する。窒化アルミニウム膜30の規格化膜厚KH−AlNと、二酸化シリコン膜40の規格化膜厚KH−SiO2と、の関係を適切な範囲に設定することにより、良好な温度特性、励振に必要な十分な電気機械結合係数、高い音速を有する弾性表面波デバイス1を実現する。 (もっと読む)


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