フィルム品質評価方法、評価装置及びプログラム
【課題】光学異方性を有する光学フィルムの光学ムラの評価を容易にかつ客観的に精度良く行うことができるフィルム品質評価方法、評価装置及びプログラムを提供する。
【解決手段】フィルムＦ上の複数の所定領域にそれぞれ光を照射して所定領域に対するレターデーションＲｅと遅相軸角度Ａｘを測定し、測定した各所定領域に対するレターデーションＲｅの平均値ＡｖｅＲｅと遅相軸角度Ａｘの平均値ＡｖｅＡｘとを求め、測定された各所定領域に対するレターデーションＲｅと遅相軸角度Ａｘ、及び各平均値ＡｖｅＲｅ、ＡｖｅＡｘから、各平均値ＡｖｅＲｅ、ＡｖｅＡｘを理想値として望小ＳＮ比ＳＮ（Ｒｅ）、ＳＮ（Ａｘ）を算出し、レターデーションＲｅと遅相軸角度Ａｘに対する各望小ＳＮ比ＳＮ（Ｒｅ）、ＳＮ（Ａｘ）の線形和Ｍを算出し、これを定量評価値とする。
【解決手段】フィルムＦ上の複数の所定領域にそれぞれ光を照射して所定領域に対するレターデーションＲｅと遅相軸角度Ａｘを測定し、測定した各所定領域に対するレターデーションＲｅの平均値ＡｖｅＲｅと遅相軸角度Ａｘの平均値ＡｖｅＡｘとを求め、測定された各所定領域に対するレターデーションＲｅと遅相軸角度Ａｘ、及び各平均値ＡｖｅＲｅ、ＡｖｅＡｘから、各平均値ＡｖｅＲｅ、ＡｖｅＡｘを理想値として望小ＳＮ比ＳＮ（Ｒｅ）、ＳＮ（Ａｘ）を算出し、レターデーションＲｅと遅相軸角度Ａｘに対する各望小ＳＮ比ＳＮ（Ｒｅ）、ＳＮ（Ａｘ）の線形和Ｍを算出し、これを定量評価値とする。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光学異方性を有するフィルムのムラを評価するフィルム品質評価方法、評価装置及びプログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
液晶ディスプレイで視認される輝度ムラの原因として、液晶セルの複屈折を光学補償するために用いられている光学異方性フィルムのムラが少なからず影響しており、光学フィルムのムラを評価する方法が求められている。
従来、光学フィルムのムラを評価するためには、クロスニコルに配置された偏光板の間に光学フィルムを配置し、人間が官能評価を行っていた。官能検査は、基準となるムラサンプルを作成し、このサンプルと検査対象となるムラとを見比べることにより判定を行うものである。ところが、人間の官能に依存する検査においては、検査員によって判定結果にばらつきが生ずることを回避することができない。
【特許文献１】特開２００４−１９８５１１号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
上記の官能評価に代わるムラ判定方法として光学フィルムの光学特性値（レターデーション、遅相軸）を計測し、各特性を２次元にマッピングし、そのマッピング画像を人間が官能評価する方法がある。しかしながら、この場合は、レターデーションのムラ画像と遅相軸のムラ画像とをどのように評価したらよいかという指標がなく、結果としてマッピング画像からムラを総合的に判断することは困難であった。
【０００４】
本発明は、上記状況に鑑みてなされたもので、光学異方性を有する光学フィルムの光学ムラの評価を容易にかつ客観的に精度良く行うことができるフィルム品質評価方法、評価装置及びプログラムを提供することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
上記目的を達成するために、本発明のフィルム品質評価方法は、フィルムの光学特性値であるレターデーションＲｅ、遅相軸角度Ａｘ、厚さ方向レターデーションＲｔｈ、光透過率、色味、ヘイズのうち、少なくとも２つ以上の特性値に関して、各特性値の平均値に対するＳＮ比をそれぞれ求め、これらＳＮ比の線形和を前記フィルムの光学ムラの定量評価値とする。
このように、レターデーションＲｅ、遅相軸角度Ａｘ、厚さ方向レターデーションＲｔｈ、光透過率、色味、ヘイズのうちの２つ以上の光学特性値からＳＮ比の線形和を算出することにより、この線形和を評価値として、フィルムの光学ムラを客観的に判定することができる。ここで、ＳＮ比を使用するので、異なる光学特性からなるパラメータによる信号の劣化を線形和として表して評価値とすることができる。
【０００６】
上記フィルム品質評価方法としては、具体的には、フィルム上の複数の所定領域にそれぞれ光を照射して該所定領域に対するレターデーションと遅相軸角度を測定するステップと、前記測定された各所定領域に対するレターデーションの平均値と遅相軸角度の平均値とを求めるステップと、前記測定された各所定領域に対するレターデーションと遅相軸角度、及び各平均値から、前記各平均値を理想値として望小ＳＮ比を算出するステップと、前記レターデーションと遅相軸角度に対する各望小ＳＮ比の線形和を算出し、これを定量評価値とするステップとを含むことが好ましい。
このように、フィルム上の複数の所定領域におけるレターデーションと遅相軸角度を求め、これらレターデーションと遅相軸角度とからＳＮ比の線形和を算出することにより、フィルムの光学ムラを客観的に評価することができる評価値を容易に求めることができる。
【０００７】
また、前記フィルムへ法線方向から垂直に光を入射して前記定量評価値を求めることが望ましい。
このように、フィルムに対して、このフィルムの面の法線方向から垂直に光を入射することにより、レターデーションと遅相軸角度を精度良く求めることができ、信頼性の高い評価値を得ることができる。
【０００８】
さらに、前記フィルムの法線方向からの傾斜角度である極角を異ならせた、複数の極角方向から前記フィルムに光を入射して前記定量評価値を求めることが好ましく、この極角は、０゜から４０゜までの角度範囲で複数角度を設定することが好ましい。
このように、極角の異なる方向からフィルムに光を入射することにより、検査員の目視による官能評価により近い評価値を得ることができる。
【０００９】
また、前記極角は、遅相軸に対して直交する方向に傾斜する角度が好ましい。
このように、極角を遅相軸に対して直交する方向に傾斜する角度とすることにより、フィルムの厚さ方向のレターデーションを求めることができる。
【００１０】
また、本発明のフィルム品質評価装置は、フィルムの光学ムラの定量するフィルム品質評価装置であって、前記フィルムに単一波長光束を照射する光源と、前記フィルムを所望の方向へ移動自在に載置するステージと、前記フィルムで変調された単一波長光束を受光する受光器と、上記のフィルム品質評価方法に基づいて前記光源、ステージ、受光器を駆動して前記フィルムを移動させる制御部とを備えている。
そして、この評価装置によれば、ステージに支持されたフィルムを透過した光あるいは反射した光を検出することにより、フィルムの光学ムラの評価値を算出する際に用いる光学特性値を容易に求めることができる。
【００１１】
また、本発明のプログラムは、電子計算機において、フィルム上の複数の所定領域にそれぞれ光を照射して得られた前記所定領域に対するレターデーションと遅相軸角度の平均値とを求めるステップと、前記測定された各所定領域に対するレターデーションと遅相軸角度、及び各平均値から、前記各平均値を理想値として望小ＳＮ比を算出するステップと、前記レターデーションと遅相軸角度に対する各望小ＳＮ比の線形和を算出し、これを定量評価値とするステップとを実行させる。
このように、電子計算機によって、フィルム上の複数の所定領域におけるレターデーションと遅相軸角度を算出させ、これらレターデーションと遅相軸角度とからＳＮ比の線形和を算出させることにより、フィルムの光学ムラを客観的に評価することができる評価値を自動的に求めることができる。
【発明の効果】
【００１２】
本発明によれば、検査員の目視による官能評価を行わなくとも光学異方性を有する光学フィルムの光学ムラの評価を容易にかつ客観的に精度良く行うことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１３】
以下、本発明のフィルム品質評価方法、評価装置及びプログラムの好適な実施の形態について、図面を参照して詳細に説明する。
（第１実施形態）
まず、本発明の第１実施形態について説明する。
図１は本発明のフィルム品質評価方法に用いる評価装置の構成を示す図である。
図１に示すように、評価装置１００は、平面方向のｘ、ｙ方向へ移動可能なステージ１１を備えており、このステージ１１に、被評価物であるフィルムＦが支持されて測定部１３に配置されている。このステージ１１に支持されるフィルムＦの表裏側には、偏光板１５ａ、１５ｂが配設されており、これら偏光板１５ａ、１５ｂは、互いにクロスニコルに配置されている。測定部１３の上方には、ハロゲンランプ等からなる単一波長光束を照射する光源１７が設けられ、この光源１７からの光が測定部１３へ向かって照射される。
【００１４】
また、測定部１３の下方には、受光器１９が設けられ、この受光器１９は、測定部１３のフィルムＦを透過した光を受光する。
この評価装置１００は、制御部２１を備えており、この制御部２１には、ステージ１１、光源１７及び受光器１９が接続されている。
そして、この評価装置１００では、制御部２１がステージ１１、光源１７及び受光器１９を制御することにより、フィルムＦの上下の偏光板１５ａ、１５ｂを、そのクロスニコルを保持しながら光源１７からの光軸回りに１回転させ、そのときの受光器１９からの検出信号に基づいて、フィルムＦの光学特性値であるレターデーションＲｅ及び遅相軸角度Ａｘ等の光学パラメータを求める。
【００１５】
また、評価装置１００では、制御部２１がステージ１１を制御してフィルムＦを面方向であるｘ、ｙ方向へ２次元に移動させることにより、図２に示すように、フィルムＦを、ｘ、ｙ方向へマトリックス状に複数分割（ｘ方向へｌ分割し、ｙ方向へｍ分割）した各領域Ａにおいて、それぞれのレターデーションＲｅ及び遅相軸角度Ａｘを求めることができるようになっている。なお、本実施形態では利用しないが、光源１７と受光器１９を後述する極角θ、方位角φ方向に回転させる機構も有している。
【００１６】
そして、上記評価装置１００では、制御部２１に設けられた図示しない記憶部に、フィルムＦの光学ムラの評価値を算出するプログラムが格納されており、制御部２１は、このプログラムを実行することにより、求めたレターデーションＲｅ及び遅相軸角度ＡｘからフィルムＦの評価値を算出する。
【００１７】
次に、上記評価装置１００の制御部２１によって行われるフィルムＦの評価値の算出の仕方について、図３のフローチャートに沿って説明する。
まず、測定部１３に設置したフィルムＦの各領域ＡにおけるレターデーションＲｅ（ｘ、ｙ）及び遅相軸角度Ａｘ（ｘ、ｙ）を求める（ステップ１：Ｓ１）。
次いで、各領域ＡのレターデーションＲｅ（ｘ、ｙ）及び遅相軸角度Ａｘ（ｘ、ｙ）から、（１）、（２）式に基づいてレターデーションＲｅ及び遅相軸角度Ａｘの平均値ＡｖｅＲｅ、ＡｖｅＡｘを求める（Ｓ２）。
【００１８】
【数１】
【００１９】
その後、レターデーションＲｅ、遅相軸角度Ａｘ及びこれらの平均値ＡｖｅＲｅ、ＡｖｅＡｘから、（３）、（４）式に基づいてレターデーションＲｅ及び遅相軸角度Ａｘに関する中間値Ｓ（Ｒｅ）、Ｓ（Ａｘ）を求め、さらに、これら中間値Ｓ（Ｒｅ）、Ｓ（Ａｘ）から、（５）、（６）式に基づいてレターデーションＲｅ及び遅相軸角度Ａｘに関する望小のＳＮ比であるＳＮ（Ｒｅ）、ＳＮ（Ａｘ）を求める（Ｓ３）。
【００２０】
【数２】
【００２１】
次に、求めたレターデーションＲｅ及び遅相軸角度Ａｘに関するＳＮ比であるＳＮ（Ｒｅ）、ＳＮ（Ａｘ）から、（７）式に基づいて、フィルムＦに関する評価値である線形和Ｍを求める（Ｓ４）。
【００２２】
【数３】
【００２３】
ここで、式（７）におけるα、βは、それぞれ予め実験等によって求められた任意の係数である。そして、上記のようにして求めた線形和Ｍからなる評価値の大きさから、フィルムＦの光学ムラを客観的に評価することができる。
【００２４】
このように、本実施形態のフィルム品質評価方法によれば、フィルムＦ上の複数の所定領域Ａにそれぞれ光を照射して所定領域Ａに対するレターデーションＲｅと遅相軸角度Ａｘを測定し、測定した各所定領域Ａに対するレターデーションＲｅの平均値ＡｖｅＲｅと遅相軸角度Ａｘの平均値ＡｖｅＡｘとを求め、測定された各所定領域Ａに対するレターデーションＲｅと遅相軸角度Ａｘ、及び各平均値ＡｖｅＲｅ、ＡｖｅＡｘから、各平均値ＡｖｅＲｅ、ＡｖｅＡｘを理想値として望小ＳＮ比ＳＮ（Ｒｅ）、ＳＮ（Ａｘ）を算出し、レターデーションＲｅと遅相軸角度Ａｘに対する各望小ＳＮ比ＳＮ（Ｒｅ）、ＳＮ（Ａｘ）の線形和Ｍを算出し、これを定量評価値とすることにより、この評価値に基づいてフィルムＦの光学ムラを客観的に評価することができる。ここで、ＳＮ比を使用するので、異なる光学特性からなるパラメータによる信号の劣化を線形和として表して、これを評価値とすることができる。
つまり、検査員の目視による官能評価を行わなくとも光学異方性を有する光学フィルムの光学ムラの評価を容易にかつ客観的に精度良く行うことができる。
【００２５】
（第２実施形態）
次に、本発明に係るフィルム品質評価方法の第２実施形態について説明する。
上記第１実施形態のように、ＳＮ比の線形和Ｍを求めることにより、フィルムＦのムラを客観的に評価することができるが、このフィルムＦにおけるムラの評価値となる線形和Ｍは、フィルムＦの面に対して垂直な法線方向だけでなく、フィルムＦの面に対して傾斜した方向から測定した方がより検査員の目視による官能評価に近い評価となる場合がある。
【００２６】
本実施形態においては、図４に示すように、フィルムＦの法線方向Ｎに対する傾斜角である極角θ、及び、フィルムＦの面内における回転角である方位角φを設定し、その傾斜方向（回転方向）からのムラの評価値を求める。
なお、この場合、評価装置１００としては、そのステージ１１は、前述したように、支持したフィルムＦを平面方向のｘ、ｙ方向への移動が可能で、光源１７と受光器１９はフィルムＦを法線方向に対して極角θ、方位角φを設定することが可能となっている。
【００２７】
次に、上記評価装置１００の制御部２１によって行われるフィルムＦの評価方法について、図５のフローチャートに沿って説明する。
まず、ステージ１１によってフィルムＦを移動させると同時に、光源１７と受光器１９を所定の極角θ及び方位角φとなる位置に配置する（Ｓ１１）。
この状態にて、フィルムＦの各領域ＡにおけるレターデーションＲｅ（θ、φ）（ｘ、ｙ）及び遅相軸角度Ａｘ（θ、φ、ｘ、ｙ）を求める（Ｓ１２）。
次いで、各領域ＡのレターデーションＲｅ（θ、φ、ｘ、ｙ）及び遅相軸角度Ａｘ（θ、φ、ｘ、ｙ）から、（８）、（９）式に基づいてレターデーションＲｅ（θ、φ）及び遅相軸角度Ａｘ（θ、φ）の平均値ＡｖｅＲｅ（θ、φ）、ＡｖｅＡｘ（θ、φ）を求める（Ｓ１３）。
【００２８】
【数４】
【００２９】
その後、レターデーションＲｅ（θ、φ）及び遅相軸角度Ａｘ（θ、φ）の平均値ＡｖｅＲｅ（θ、φ）、ＡｖｅＡｘ（θ、φ）から、（１０）、（１１）式に基づいてレターデーションＲｅ（θ、φ）及び遅相軸角度Ａｘ（θ、φ）に関する中間値Ｓ（Ｒｅ（θ、φ））、Ｓ（Ａｘ（θ、φ））を求め、さらに、これら中間値Ｓ（Ｒｅ（θ、φ））、Ｓ（Ａｘ（θ、φ））から、（１２）、（１３）式に基づいてレターデーションＲｅ（θ、φ）及び遅相軸角度Ａｘ（θ、φ）に関する望小のＳＮ比であるＳＮ（Ｒｅ（θ、φ））、ＳＮ（Ａｘ（θ、φ））を求める（Ｓ１４）。
【００３０】
【数５】
【００３１】
その後、他の極角θ、方位角φにてＳＮ比を求める場合は、他の極角θ、方位角φにおけるレターデーションＲｅ（θ、φ）（ｘ、ｙ）及び遅相軸角度Ａｘ（θ、φ）（ｘ、ｙ）を求めてＳＮ比の算出を繰り返す（Ｓ１１〜Ｓ１４、Ｓ１５）。
【００３２】
全ての極角θ、方位角φ（例えば、θ１〜θｎ、φ１〜φｎ）にてレターデーションＲｅ（θ、φ）及び遅相軸角度Ａｘ（θ、φ）に関するＳＮ比であるＳＮ（Ｒｅ（θ、φ））、ＳＮ（Ａｘ（θ、φ））を求めたら、各ＳＮ比を、レターデーションＲｅ（θ、φ）及び遅相軸角度Ａｘ（θ、φ）毎に、（１４）、（１５）式に基づいて、ＳＮ比のレターデーション線形和ＭＲｅ及び遅相軸角度線形和ＭＡｘを算出する。
【００３３】
【数６】
【００３４】
ここで、（１４）、（１５）式におけるＫＲｅ、ＫＡｘは、それぞれ予め実験等によって求められた任意の係数である。
【００３５】
その後、求めたレターデーションＲｅ及び遅相軸角度Ａｘに関するレターデーション線形和ＭＲｅ及び遅相軸角度線形和ＭＡｘから、（１６）式に基づいて、フィルムＦに関する評価値である線形和Ｍを求める（Ｓ１６）。
【００３６】
【数７】
【００３７】
ここで、（１６）式におけるαＲｅ、βＡｘは、それぞれ予め実験等によって求められた任意の係数である。
そして、上記のようにして求めた線形和Ｍからなる評価値の大きさから、フィルムＦの光学ムラを客観的にかつ高精度に評価することができる。
【００３８】
このように、上記第２実施形態の場合も、フィルムＦ上の複数の所定領域Ａにそれぞれ光を極角θ、方位角φ方向から照射して所定領域Ａに対するレターデーションＲｅ（θ、φ）と遅相軸角度Ａｘ（θ、φ）を測定し、測定した各所定領域Ａに対するレターデーションＲｅ（θ、φ）の平均値ＡｖｅＲｅ（θ、φ）と遅相軸角度Ａｘ（θ、φ）の平均値ＡｖｅＡｘ（θ、φ）とを求める。そして、測定された各所定領域Ａに対するレターデーションＲｅ（θ、φ）と遅相軸角度Ａｘ（θ、φ）、及び各平均値ＡｖｅＲｅ（θ、φ）、ＡｖｅＡｘ（θ、φ）から、各平均値ＡｖｅＲｅ（θ、φ）、ＡｖｅＡｘ（θ、φ）を理想値として望小ＳＮ比ＳＮ（Ｒｅ（θ、φ））、ＳＮ（Ａｘ（θ、φ））を算出する。次いで、レターデーションＲｅ（θ、φ）と遅相軸角度Ａｘ（θ、φ）に対する各望小ＳＮ比ＳＮ（Ｒｅ（θ、φ））、ＳＮ（Ａｘ（θ、φ））の線形和ＭＲｅ、ＭＡｘを算出し、さらにこれらを合計して線形和Ｍを求め、これを定量評価値とする。この評価値に基づいてフィルムＦの光学ムラを評価することで、精度のよい客観的な評価が実現できる。
【００３９】
特に、フィルムＦの法線方向Ｎからの傾斜角度である極角θを異ならせてフィルムＦに光を入射させることにより、検査員の目視による官能評価に一層近い評価値を得ることができる。
【００４０】
なお、ＳＮ比の線形和Ｍを求めて光学ムラの定量評価値を算出するには、少なくとも２つ以上の光学特性値を用いれば良く、また、この算出に用いる光学特性値としては、上述したレターデーションＲｅ、遅相軸角度Ａｘに限らず、フィルムＦの厚さ方向のレターデーションＲｔｈ、光透過率、色味（例えば、ＣＩＥの表色系で、ＣＩＥＬＡＢ（Ｌ* a* b*）、ＣＩＥＬＵＶ（L* u* v*）等の色差のパラメータなど）、ヘイズ（ヘイズ値は試験片の散乱光線透過率を全光線透過率で割ったものを百分率で表したもの）などであっても良い。これらのパラメータであっても上記同様の処理により、ＳＮ比の線形和Ｍを求めることで、光学ムラを定量評価することができる。
【００４１】
ここで、厚さ方向のレターデーションＲｔｈは、極角θを遅相軸に対して直交する方向に傾斜する角度として複数回測定することにより求めることができる。具体的には、例えばフィルムＦの法線方向、フィルムＦの面内の遅相軸を傾斜軸としてフィルムＦの法線方向Ｎに対して＋４０°及び−４０°傾斜した方向から光を入射して測定した３つの方向のレターデーション値を基に算出する。
【００４２】
また、上記実施形態の評価装置１００では、フィルムＦを透過した光を測定して光学特性値を検出したが、評価装置１００としては、フィルムＦにて反射した反射光を測定して光学特性値を検出する方式でも良い。
【００４３】
また、第２実施形態において傾斜させた極角θとしては、０゜から４０゜までの角度範囲の中で複数の角度を設定するのが好ましい。これは、極角θが４０゜を超えると、光漏れが大きくムラが見えにくくなるためである。
【実施例１】
【００４４】
縦６０ｍｍ×横６０ｍｍの大きさの４枚のフィルムについて、検査員による官能検査を行うとともに、本発明の第１実施形態に係る評価方法を行い、各評価結果を比較した。
評価装置としては、透過光測定型の評価装置（ＯＰＴＩＰＲＯ（シンテック株式会社製）を用いた。本実施例では、フィルムを縦、横４ｍｍピッチとして測定する領域を区分し、評価装置１００により、フィルムの各領域に対して垂直方向から光を照射し、２次元複屈折を測定した。なお、評価値の算出では、評価値の計算式である（７）式におけるα及びβをそれぞれ１とした。
評価結果及び計算結果を表１に示す。また、官能評価による評価点と計算した評価値との対応関係を図６に示す。
【００４５】
【表１】
【００４６】
表１及び図６からわかるように、本発明により求めた４枚のフィルムの実施例１〜４では、評価値である線形和Ｍが、検査員の目視による官能評価点に良好に対応した。
【図面の簡単な説明】
【００４７】
【図１】本発明の第１実施形態に係る評価装置の構成を示す図である。
【図２】評価するフィルムを示すフィルムの平面図である。
【図３】フィルム品質評価方法を説明するフローチャート図である。
【図４】第２実施形態を説明するフィルムの対する光軸の傾きを示す斜視図である。
【図５】フィルム品質評価方法を説明するフローチャート図である。
【図６】実施例における試験結果を示すグラフ図である。
【符号の説明】
【００４８】
１１ ステージ
１７ 光源
１９ 受光器
２１ 制御部
１００ フィルム品質評価装置
Ａ 領域
Ｆ フィルム
Ｒｅ、Ｒｅ（θ、φ） レターデーション
Ａｘ、Ａｘ（θ、φ） 遅相軸角度
ＡｖｅＲｅ、ＡｖｅＲｅ（θ、φ） レターデーションの平均値
ＡｖｅＡｘ、ＡｖｅＡｘ（θ、φ） 遅相軸角度の平均値
ＳＮ（Ｒｅ）、ＳＮ（Ｒｅ（θ、φ）） レターデーションのＳＮ比
ＳＮ（Ａｘ）、ＳＮ（Ａｘ（θ、φ）） 遅相軸角度のＳＮ比
Ｍ 線形和
θ 極角
φ 方位角
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光学異方性を有するフィルムのムラを評価するフィルム品質評価方法、評価装置及びプログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
液晶ディスプレイで視認される輝度ムラの原因として、液晶セルの複屈折を光学補償するために用いられている光学異方性フィルムのムラが少なからず影響しており、光学フィルムのムラを評価する方法が求められている。
従来、光学フィルムのムラを評価するためには、クロスニコルに配置された偏光板の間に光学フィルムを配置し、人間が官能評価を行っていた。官能検査は、基準となるムラサンプルを作成し、このサンプルと検査対象となるムラとを見比べることにより判定を行うものである。ところが、人間の官能に依存する検査においては、検査員によって判定結果にばらつきが生ずることを回避することができない。
【特許文献１】特開２００４−１９８５１１号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
上記の官能評価に代わるムラ判定方法として光学フィルムの光学特性値（レターデーション、遅相軸）を計測し、各特性を２次元にマッピングし、そのマッピング画像を人間が官能評価する方法がある。しかしながら、この場合は、レターデーションのムラ画像と遅相軸のムラ画像とをどのように評価したらよいかという指標がなく、結果としてマッピング画像からムラを総合的に判断することは困難であった。
【０００４】
本発明は、上記状況に鑑みてなされたもので、光学異方性を有する光学フィルムの光学ムラの評価を容易にかつ客観的に精度良く行うことができるフィルム品質評価方法、評価装置及びプログラムを提供することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
上記目的を達成するために、本発明のフィルム品質評価方法は、フィルムの光学特性値であるレターデーションＲｅ、遅相軸角度Ａｘ、厚さ方向レターデーションＲｔｈ、光透過率、色味、ヘイズのうち、少なくとも２つ以上の特性値に関して、各特性値の平均値に対するＳＮ比をそれぞれ求め、これらＳＮ比の線形和を前記フィルムの光学ムラの定量評価値とする。
このように、レターデーションＲｅ、遅相軸角度Ａｘ、厚さ方向レターデーションＲｔｈ、光透過率、色味、ヘイズのうちの２つ以上の光学特性値からＳＮ比の線形和を算出することにより、この線形和を評価値として、フィルムの光学ムラを客観的に判定することができる。ここで、ＳＮ比を使用するので、異なる光学特性からなるパラメータによる信号の劣化を線形和として表して評価値とすることができる。
【０００６】
上記フィルム品質評価方法としては、具体的には、フィルム上の複数の所定領域にそれぞれ光を照射して該所定領域に対するレターデーションと遅相軸角度を測定するステップと、前記測定された各所定領域に対するレターデーションの平均値と遅相軸角度の平均値とを求めるステップと、前記測定された各所定領域に対するレターデーションと遅相軸角度、及び各平均値から、前記各平均値を理想値として望小ＳＮ比を算出するステップと、前記レターデーションと遅相軸角度に対する各望小ＳＮ比の線形和を算出し、これを定量評価値とするステップとを含むことが好ましい。
このように、フィルム上の複数の所定領域におけるレターデーションと遅相軸角度を求め、これらレターデーションと遅相軸角度とからＳＮ比の線形和を算出することにより、フィルムの光学ムラを客観的に評価することができる評価値を容易に求めることができる。
【０００７】
また、前記フィルムへ法線方向から垂直に光を入射して前記定量評価値を求めることが望ましい。
このように、フィルムに対して、このフィルムの面の法線方向から垂直に光を入射することにより、レターデーションと遅相軸角度を精度良く求めることができ、信頼性の高い評価値を得ることができる。
【０００８】
さらに、前記フィルムの法線方向からの傾斜角度である極角を異ならせた、複数の極角方向から前記フィルムに光を入射して前記定量評価値を求めることが好ましく、この極角は、０゜から４０゜までの角度範囲で複数角度を設定することが好ましい。
このように、極角の異なる方向からフィルムに光を入射することにより、検査員の目視による官能評価により近い評価値を得ることができる。
【０００９】
また、前記極角は、遅相軸に対して直交する方向に傾斜する角度が好ましい。
このように、極角を遅相軸に対して直交する方向に傾斜する角度とすることにより、フィルムの厚さ方向のレターデーションを求めることができる。
【００１０】
また、本発明のフィルム品質評価装置は、フィルムの光学ムラの定量するフィルム品質評価装置であって、前記フィルムに単一波長光束を照射する光源と、前記フィルムを所望の方向へ移動自在に載置するステージと、前記フィルムで変調された単一波長光束を受光する受光器と、上記のフィルム品質評価方法に基づいて前記光源、ステージ、受光器を駆動して前記フィルムを移動させる制御部とを備えている。
そして、この評価装置によれば、ステージに支持されたフィルムを透過した光あるいは反射した光を検出することにより、フィルムの光学ムラの評価値を算出する際に用いる光学特性値を容易に求めることができる。
【００１１】
また、本発明のプログラムは、電子計算機において、フィルム上の複数の所定領域にそれぞれ光を照射して得られた前記所定領域に対するレターデーションと遅相軸角度の平均値とを求めるステップと、前記測定された各所定領域に対するレターデーションと遅相軸角度、及び各平均値から、前記各平均値を理想値として望小ＳＮ比を算出するステップと、前記レターデーションと遅相軸角度に対する各望小ＳＮ比の線形和を算出し、これを定量評価値とするステップとを実行させる。
このように、電子計算機によって、フィルム上の複数の所定領域におけるレターデーションと遅相軸角度を算出させ、これらレターデーションと遅相軸角度とからＳＮ比の線形和を算出させることにより、フィルムの光学ムラを客観的に評価することができる評価値を自動的に求めることができる。
【発明の効果】
【００１２】
本発明によれば、検査員の目視による官能評価を行わなくとも光学異方性を有する光学フィルムの光学ムラの評価を容易にかつ客観的に精度良く行うことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１３】
以下、本発明のフィルム品質評価方法、評価装置及びプログラムの好適な実施の形態について、図面を参照して詳細に説明する。
（第１実施形態）
まず、本発明の第１実施形態について説明する。
図１は本発明のフィルム品質評価方法に用いる評価装置の構成を示す図である。
図１に示すように、評価装置１００は、平面方向のｘ、ｙ方向へ移動可能なステージ１１を備えており、このステージ１１に、被評価物であるフィルムＦが支持されて測定部１３に配置されている。このステージ１１に支持されるフィルムＦの表裏側には、偏光板１５ａ、１５ｂが配設されており、これら偏光板１５ａ、１５ｂは、互いにクロスニコルに配置されている。測定部１３の上方には、ハロゲンランプ等からなる単一波長光束を照射する光源１７が設けられ、この光源１７からの光が測定部１３へ向かって照射される。
【００１４】
また、測定部１３の下方には、受光器１９が設けられ、この受光器１９は、測定部１３のフィルムＦを透過した光を受光する。
この評価装置１００は、制御部２１を備えており、この制御部２１には、ステージ１１、光源１７及び受光器１９が接続されている。
そして、この評価装置１００では、制御部２１がステージ１１、光源１７及び受光器１９を制御することにより、フィルムＦの上下の偏光板１５ａ、１５ｂを、そのクロスニコルを保持しながら光源１７からの光軸回りに１回転させ、そのときの受光器１９からの検出信号に基づいて、フィルムＦの光学特性値であるレターデーションＲｅ及び遅相軸角度Ａｘ等の光学パラメータを求める。
【００１５】
また、評価装置１００では、制御部２１がステージ１１を制御してフィルムＦを面方向であるｘ、ｙ方向へ２次元に移動させることにより、図２に示すように、フィルムＦを、ｘ、ｙ方向へマトリックス状に複数分割（ｘ方向へｌ分割し、ｙ方向へｍ分割）した各領域Ａにおいて、それぞれのレターデーションＲｅ及び遅相軸角度Ａｘを求めることができるようになっている。なお、本実施形態では利用しないが、光源１７と受光器１９を後述する極角θ、方位角φ方向に回転させる機構も有している。
【００１６】
そして、上記評価装置１００では、制御部２１に設けられた図示しない記憶部に、フィルムＦの光学ムラの評価値を算出するプログラムが格納されており、制御部２１は、このプログラムを実行することにより、求めたレターデーションＲｅ及び遅相軸角度ＡｘからフィルムＦの評価値を算出する。
【００１７】
次に、上記評価装置１００の制御部２１によって行われるフィルムＦの評価値の算出の仕方について、図３のフローチャートに沿って説明する。
まず、測定部１３に設置したフィルムＦの各領域ＡにおけるレターデーションＲｅ（ｘ、ｙ）及び遅相軸角度Ａｘ（ｘ、ｙ）を求める（ステップ１：Ｓ１）。
次いで、各領域ＡのレターデーションＲｅ（ｘ、ｙ）及び遅相軸角度Ａｘ（ｘ、ｙ）から、（１）、（２）式に基づいてレターデーションＲｅ及び遅相軸角度Ａｘの平均値ＡｖｅＲｅ、ＡｖｅＡｘを求める（Ｓ２）。
【００１８】
【数１】
【００１９】
その後、レターデーションＲｅ、遅相軸角度Ａｘ及びこれらの平均値ＡｖｅＲｅ、ＡｖｅＡｘから、（３）、（４）式に基づいてレターデーションＲｅ及び遅相軸角度Ａｘに関する中間値Ｓ（Ｒｅ）、Ｓ（Ａｘ）を求め、さらに、これら中間値Ｓ（Ｒｅ）、Ｓ（Ａｘ）から、（５）、（６）式に基づいてレターデーションＲｅ及び遅相軸角度Ａｘに関する望小のＳＮ比であるＳＮ（Ｒｅ）、ＳＮ（Ａｘ）を求める（Ｓ３）。
【００２０】
【数２】
【００２１】
次に、求めたレターデーションＲｅ及び遅相軸角度Ａｘに関するＳＮ比であるＳＮ（Ｒｅ）、ＳＮ（Ａｘ）から、（７）式に基づいて、フィルムＦに関する評価値である線形和Ｍを求める（Ｓ４）。
【００２２】
【数３】
【００２３】
ここで、式（７）におけるα、βは、それぞれ予め実験等によって求められた任意の係数である。そして、上記のようにして求めた線形和Ｍからなる評価値の大きさから、フィルムＦの光学ムラを客観的に評価することができる。
【００２４】
このように、本実施形態のフィルム品質評価方法によれば、フィルムＦ上の複数の所定領域Ａにそれぞれ光を照射して所定領域Ａに対するレターデーションＲｅと遅相軸角度Ａｘを測定し、測定した各所定領域Ａに対するレターデーションＲｅの平均値ＡｖｅＲｅと遅相軸角度Ａｘの平均値ＡｖｅＡｘとを求め、測定された各所定領域Ａに対するレターデーションＲｅと遅相軸角度Ａｘ、及び各平均値ＡｖｅＲｅ、ＡｖｅＡｘから、各平均値ＡｖｅＲｅ、ＡｖｅＡｘを理想値として望小ＳＮ比ＳＮ（Ｒｅ）、ＳＮ（Ａｘ）を算出し、レターデーションＲｅと遅相軸角度Ａｘに対する各望小ＳＮ比ＳＮ（Ｒｅ）、ＳＮ（Ａｘ）の線形和Ｍを算出し、これを定量評価値とすることにより、この評価値に基づいてフィルムＦの光学ムラを客観的に評価することができる。ここで、ＳＮ比を使用するので、異なる光学特性からなるパラメータによる信号の劣化を線形和として表して、これを評価値とすることができる。
つまり、検査員の目視による官能評価を行わなくとも光学異方性を有する光学フィルムの光学ムラの評価を容易にかつ客観的に精度良く行うことができる。
【００２５】
（第２実施形態）
次に、本発明に係るフィルム品質評価方法の第２実施形態について説明する。
上記第１実施形態のように、ＳＮ比の線形和Ｍを求めることにより、フィルムＦのムラを客観的に評価することができるが、このフィルムＦにおけるムラの評価値となる線形和Ｍは、フィルムＦの面に対して垂直な法線方向だけでなく、フィルムＦの面に対して傾斜した方向から測定した方がより検査員の目視による官能評価に近い評価となる場合がある。
【００２６】
本実施形態においては、図４に示すように、フィルムＦの法線方向Ｎに対する傾斜角である極角θ、及び、フィルムＦの面内における回転角である方位角φを設定し、その傾斜方向（回転方向）からのムラの評価値を求める。
なお、この場合、評価装置１００としては、そのステージ１１は、前述したように、支持したフィルムＦを平面方向のｘ、ｙ方向への移動が可能で、光源１７と受光器１９はフィルムＦを法線方向に対して極角θ、方位角φを設定することが可能となっている。
【００２７】
次に、上記評価装置１００の制御部２１によって行われるフィルムＦの評価方法について、図５のフローチャートに沿って説明する。
まず、ステージ１１によってフィルムＦを移動させると同時に、光源１７と受光器１９を所定の極角θ及び方位角φとなる位置に配置する（Ｓ１１）。
この状態にて、フィルムＦの各領域ＡにおけるレターデーションＲｅ（θ、φ）（ｘ、ｙ）及び遅相軸角度Ａｘ（θ、φ、ｘ、ｙ）を求める（Ｓ１２）。
次いで、各領域ＡのレターデーションＲｅ（θ、φ、ｘ、ｙ）及び遅相軸角度Ａｘ（θ、φ、ｘ、ｙ）から、（８）、（９）式に基づいてレターデーションＲｅ（θ、φ）及び遅相軸角度Ａｘ（θ、φ）の平均値ＡｖｅＲｅ（θ、φ）、ＡｖｅＡｘ（θ、φ）を求める（Ｓ１３）。
【００２８】
【数４】
【００２９】
その後、レターデーションＲｅ（θ、φ）及び遅相軸角度Ａｘ（θ、φ）の平均値ＡｖｅＲｅ（θ、φ）、ＡｖｅＡｘ（θ、φ）から、（１０）、（１１）式に基づいてレターデーションＲｅ（θ、φ）及び遅相軸角度Ａｘ（θ、φ）に関する中間値Ｓ（Ｒｅ（θ、φ））、Ｓ（Ａｘ（θ、φ））を求め、さらに、これら中間値Ｓ（Ｒｅ（θ、φ））、Ｓ（Ａｘ（θ、φ））から、（１２）、（１３）式に基づいてレターデーションＲｅ（θ、φ）及び遅相軸角度Ａｘ（θ、φ）に関する望小のＳＮ比であるＳＮ（Ｒｅ（θ、φ））、ＳＮ（Ａｘ（θ、φ））を求める（Ｓ１４）。
【００３０】
【数５】
【００３１】
その後、他の極角θ、方位角φにてＳＮ比を求める場合は、他の極角θ、方位角φにおけるレターデーションＲｅ（θ、φ）（ｘ、ｙ）及び遅相軸角度Ａｘ（θ、φ）（ｘ、ｙ）を求めてＳＮ比の算出を繰り返す（Ｓ１１〜Ｓ１４、Ｓ１５）。
【００３２】
全ての極角θ、方位角φ（例えば、θ１〜θｎ、φ１〜φｎ）にてレターデーションＲｅ（θ、φ）及び遅相軸角度Ａｘ（θ、φ）に関するＳＮ比であるＳＮ（Ｒｅ（θ、φ））、ＳＮ（Ａｘ（θ、φ））を求めたら、各ＳＮ比を、レターデーションＲｅ（θ、φ）及び遅相軸角度Ａｘ（θ、φ）毎に、（１４）、（１５）式に基づいて、ＳＮ比のレターデーション線形和ＭＲｅ及び遅相軸角度線形和ＭＡｘを算出する。
【００３３】
【数６】
【００３４】
ここで、（１４）、（１５）式におけるＫＲｅ、ＫＡｘは、それぞれ予め実験等によって求められた任意の係数である。
【００３５】
その後、求めたレターデーションＲｅ及び遅相軸角度Ａｘに関するレターデーション線形和ＭＲｅ及び遅相軸角度線形和ＭＡｘから、（１６）式に基づいて、フィルムＦに関する評価値である線形和Ｍを求める（Ｓ１６）。
【００３６】
【数７】
【００３７】
ここで、（１６）式におけるαＲｅ、βＡｘは、それぞれ予め実験等によって求められた任意の係数である。
そして、上記のようにして求めた線形和Ｍからなる評価値の大きさから、フィルムＦの光学ムラを客観的にかつ高精度に評価することができる。
【００３８】
このように、上記第２実施形態の場合も、フィルムＦ上の複数の所定領域Ａにそれぞれ光を極角θ、方位角φ方向から照射して所定領域Ａに対するレターデーションＲｅ（θ、φ）と遅相軸角度Ａｘ（θ、φ）を測定し、測定した各所定領域Ａに対するレターデーションＲｅ（θ、φ）の平均値ＡｖｅＲｅ（θ、φ）と遅相軸角度Ａｘ（θ、φ）の平均値ＡｖｅＡｘ（θ、φ）とを求める。そして、測定された各所定領域Ａに対するレターデーションＲｅ（θ、φ）と遅相軸角度Ａｘ（θ、φ）、及び各平均値ＡｖｅＲｅ（θ、φ）、ＡｖｅＡｘ（θ、φ）から、各平均値ＡｖｅＲｅ（θ、φ）、ＡｖｅＡｘ（θ、φ）を理想値として望小ＳＮ比ＳＮ（Ｒｅ（θ、φ））、ＳＮ（Ａｘ（θ、φ））を算出する。次いで、レターデーションＲｅ（θ、φ）と遅相軸角度Ａｘ（θ、φ）に対する各望小ＳＮ比ＳＮ（Ｒｅ（θ、φ））、ＳＮ（Ａｘ（θ、φ））の線形和ＭＲｅ、ＭＡｘを算出し、さらにこれらを合計して線形和Ｍを求め、これを定量評価値とする。この評価値に基づいてフィルムＦの光学ムラを評価することで、精度のよい客観的な評価が実現できる。
【００３９】
特に、フィルムＦの法線方向Ｎからの傾斜角度である極角θを異ならせてフィルムＦに光を入射させることにより、検査員の目視による官能評価に一層近い評価値を得ることができる。
【００４０】
なお、ＳＮ比の線形和Ｍを求めて光学ムラの定量評価値を算出するには、少なくとも２つ以上の光学特性値を用いれば良く、また、この算出に用いる光学特性値としては、上述したレターデーションＲｅ、遅相軸角度Ａｘに限らず、フィルムＦの厚さ方向のレターデーションＲｔｈ、光透過率、色味（例えば、ＣＩＥの表色系で、ＣＩＥＬＡＢ（Ｌ* a* b*）、ＣＩＥＬＵＶ（L* u* v*）等の色差のパラメータなど）、ヘイズ（ヘイズ値は試験片の散乱光線透過率を全光線透過率で割ったものを百分率で表したもの）などであっても良い。これらのパラメータであっても上記同様の処理により、ＳＮ比の線形和Ｍを求めることで、光学ムラを定量評価することができる。
【００４１】
ここで、厚さ方向のレターデーションＲｔｈは、極角θを遅相軸に対して直交する方向に傾斜する角度として複数回測定することにより求めることができる。具体的には、例えばフィルムＦの法線方向、フィルムＦの面内の遅相軸を傾斜軸としてフィルムＦの法線方向Ｎに対して＋４０°及び−４０°傾斜した方向から光を入射して測定した３つの方向のレターデーション値を基に算出する。
【００４２】
また、上記実施形態の評価装置１００では、フィルムＦを透過した光を測定して光学特性値を検出したが、評価装置１００としては、フィルムＦにて反射した反射光を測定して光学特性値を検出する方式でも良い。
【００４３】
また、第２実施形態において傾斜させた極角θとしては、０゜から４０゜までの角度範囲の中で複数の角度を設定するのが好ましい。これは、極角θが４０゜を超えると、光漏れが大きくムラが見えにくくなるためである。
【実施例１】
【００４４】
縦６０ｍｍ×横６０ｍｍの大きさの４枚のフィルムについて、検査員による官能検査を行うとともに、本発明の第１実施形態に係る評価方法を行い、各評価結果を比較した。
評価装置としては、透過光測定型の評価装置（ＯＰＴＩＰＲＯ（シンテック株式会社製）を用いた。本実施例では、フィルムを縦、横４ｍｍピッチとして測定する領域を区分し、評価装置１００により、フィルムの各領域に対して垂直方向から光を照射し、２次元複屈折を測定した。なお、評価値の算出では、評価値の計算式である（７）式におけるα及びβをそれぞれ１とした。
評価結果及び計算結果を表１に示す。また、官能評価による評価点と計算した評価値との対応関係を図６に示す。
【００４５】
【表１】
【００４６】
表１及び図６からわかるように、本発明により求めた４枚のフィルムの実施例１〜４では、評価値である線形和Ｍが、検査員の目視による官能評価点に良好に対応した。
【図面の簡単な説明】
【００４７】
【図１】本発明の第１実施形態に係る評価装置の構成を示す図である。
【図２】評価するフィルムを示すフィルムの平面図である。
【図３】フィルム品質評価方法を説明するフローチャート図である。
【図４】第２実施形態を説明するフィルムの対する光軸の傾きを示す斜視図である。
【図５】フィルム品質評価方法を説明するフローチャート図である。
【図６】実施例における試験結果を示すグラフ図である。
【符号の説明】
【００４８】
１１ ステージ
１７ 光源
１９ 受光器
２１ 制御部
１００ フィルム品質評価装置
Ａ 領域
Ｆ フィルム
Ｒｅ、Ｒｅ（θ、φ） レターデーション
Ａｘ、Ａｘ（θ、φ） 遅相軸角度
ＡｖｅＲｅ、ＡｖｅＲｅ（θ、φ） レターデーションの平均値
ＡｖｅＡｘ、ＡｖｅＡｘ（θ、φ） 遅相軸角度の平均値
ＳＮ（Ｒｅ）、ＳＮ（Ｒｅ（θ、φ）） レターデーションのＳＮ比
ＳＮ（Ａｘ）、ＳＮ（Ａｘ（θ、φ）） 遅相軸角度のＳＮ比
Ｍ 線形和
θ 極角
φ 方位角
【特許請求の範囲】
【請求項１】
フィルムの光学特性値であるレターデーションＲｅ、遅相軸角度Ａｘ、厚さ方向レターデーションＲｔｈ、光透過率、色味、ヘイズのうち、少なくとも２つ以上の特性値に関して、各特性値の平均値に対するＳＮ比をそれぞれ求め、これらＳＮ比の線形和を前記フィルムの光学ムラの定量評価値とするフィルム品質評価方法。
【請求項２】
請求項１記載のフィルム品質評価方法であって、
（１）フィルム上の複数の所定領域にそれぞれ光を照射して該所定領域に対するレターデーションと遅相軸角度を測定するステップと、
（２）前記測定された各所定領域に対するレターデーションの平均値と遅相軸角度の平均値とを求めるステップと、
（３）前記測定された各所定領域に対するレターデーションと遅相軸角度、及び各平均値から、前記各平均値を理想値として望小ＳＮ比を算出するステップと、
（４）前記レターデーションと遅相軸角度に対する各望小ＳＮ比の線形和を算出し、これを定量評価値とするステップと、
を含むフィルム品質評価方法。
【請求項３】
請求項２記載のフィルム品質評価方法であって、
前記フィルムへ法線方向から垂直に光を入射して前記定量評価値を求めるフィルム品質評価方法。
【請求項４】
請求項２記載のフィルム品質評価方法であって、
前記フィルムの法線方向からの傾斜角度である極角を異ならせた、複数の極角方向から前記フィルムに光を入射して前記定量評価値を求めるフィルム品質評価方法。
【請求項５】
請求項４記載のフィルム品質評価方法であって、
前記極角は、０゜から４０゜までの角度範囲で複数角度を設定するフィルム品質評価方法。
【請求項６】
請求項４又は請求項５記載のフィルム品質評価方法であって、
前記極角は、フィルムの遅相軸に対して直交する方向に傾斜する角度であるフィルム品質評価方法。
【請求項７】
フィルムの光学ムラを定量するフィルム品質評価装置であって、
前記フィルムに単一波長光束を照射する光源と、
前記フィルムを所望の方向へ移動自在に載置するステージと、
前記フィルムで変調された単一波長光束を受光する受光器と、
請求項１〜請求項６のいずれか１項記載のフィルム品質評価方法に基づいて前記光源、ステージ、受光器を駆動して前記フィルムを移動させる制御部と、
を備えたフィルム品質評価装置。
【請求項８】
電子計算機において、
フィルム上の複数の所定領域にそれぞれ光を照射して得られた前記所定領域に対するレターデーションと遅相軸角度の平均値とを求めるステップと、
前記測定された各所定領域に対するレターデーションと遅相軸角度、及び各平均値から、前記各平均値を理想値として望小ＳＮ比を算出するステップと、
前記レターデーションと遅相軸角度に対する各望小ＳＮ比の線形和を算出し、これを定量評価値とするステップと、
を実行させるプログラム。
【請求項１】
フィルムの光学特性値であるレターデーションＲｅ、遅相軸角度Ａｘ、厚さ方向レターデーションＲｔｈ、光透過率、色味、ヘイズのうち、少なくとも２つ以上の特性値に関して、各特性値の平均値に対するＳＮ比をそれぞれ求め、これらＳＮ比の線形和を前記フィルムの光学ムラの定量評価値とするフィルム品質評価方法。
【請求項２】
請求項１記載のフィルム品質評価方法であって、
（１）フィルム上の複数の所定領域にそれぞれ光を照射して該所定領域に対するレターデーションと遅相軸角度を測定するステップと、
（２）前記測定された各所定領域に対するレターデーションの平均値と遅相軸角度の平均値とを求めるステップと、
（３）前記測定された各所定領域に対するレターデーションと遅相軸角度、及び各平均値から、前記各平均値を理想値として望小ＳＮ比を算出するステップと、
（４）前記レターデーションと遅相軸角度に対する各望小ＳＮ比の線形和を算出し、これを定量評価値とするステップと、
を含むフィルム品質評価方法。
【請求項３】
請求項２記載のフィルム品質評価方法であって、
前記フィルムへ法線方向から垂直に光を入射して前記定量評価値を求めるフィルム品質評価方法。
【請求項４】
請求項２記載のフィルム品質評価方法であって、
前記フィルムの法線方向からの傾斜角度である極角を異ならせた、複数の極角方向から前記フィルムに光を入射して前記定量評価値を求めるフィルム品質評価方法。
【請求項５】
請求項４記載のフィルム品質評価方法であって、
前記極角は、０゜から４０゜までの角度範囲で複数角度を設定するフィルム品質評価方法。
【請求項６】
請求項４又は請求項５記載のフィルム品質評価方法であって、
前記極角は、フィルムの遅相軸に対して直交する方向に傾斜する角度であるフィルム品質評価方法。
【請求項７】
フィルムの光学ムラを定量するフィルム品質評価装置であって、
前記フィルムに単一波長光束を照射する光源と、
前記フィルムを所望の方向へ移動自在に載置するステージと、
前記フィルムで変調された単一波長光束を受光する受光器と、
請求項１〜請求項６のいずれか１項記載のフィルム品質評価方法に基づいて前記光源、ステージ、受光器を駆動して前記フィルムを移動させる制御部と、
を備えたフィルム品質評価装置。
【請求項８】
電子計算機において、
フィルム上の複数の所定領域にそれぞれ光を照射して得られた前記所定領域に対するレターデーションと遅相軸角度の平均値とを求めるステップと、
前記測定された各所定領域に対するレターデーションと遅相軸角度、及び各平均値から、前記各平均値を理想値として望小ＳＮ比を算出するステップと、
前記レターデーションと遅相軸角度に対する各望小ＳＮ比の線形和を算出し、これを定量評価値とするステップと、
を実行させるプログラム。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【公開番号】特開２００７−２４０２１０（Ｐ２００７−２４０２１０Ａ）
【公開日】平成１９年９月２０日（２００７．９．２０）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２００６−６００００（Ｐ２００６−６００００）
【出願日】平成１８年３月６日（２００６．３．６）
【出願人】（３０６０３７３１１）富士フイルム株式会社 (25,513)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成１９年９月２０日（２００７．９．２０）
【国際特許分類】
【出願日】平成１８年３月６日（２００６．３．６）
【出願人】（３０６０３７３１１）富士フイルム株式会社 (25,513)
【Ｆターム（参考）】
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