光ディスク制御装置、集積回路、光ディスク装置、及び光ディスク制御方法
【課題】中点エラー信号を生成する光ディスク制御装置を小型化する。
【解決手段】中点エラー信号取得部２０６は、第１のトラッキングエラー信号取得部２０２により取得された第１のトラッキングエラー信号と、第２のトラッキングエラー信号取得部２０３により取得された第２のトラッキングエラー信号とに基づいて、中点エラー信号ＣＥを取得する。中点エラー信号補正部２０７ｂは、アクチュエータ１０６により対物レンズ１０５を移動させず、かつ光ディスク７００を回転させた状態で中点エラー信号取得部２０６により取得された中点エラー信号ＣＥの周期を測定し、測定した周期が中点制御の開ループ特性ゲイン交点周波数よりも高い所定の第１周波数に対応する所定の周期以上である場合に、シーク制御時に、中点エラー信号ＣＥから、中点制御の開ループ特性ゲイン交点周波数よりも高い所定の第２周波数を超える周波数の成分を低減させる。
【解決手段】中点エラー信号取得部２０６は、第１のトラッキングエラー信号取得部２０２により取得された第１のトラッキングエラー信号と、第２のトラッキングエラー信号取得部２０３により取得された第２のトラッキングエラー信号とに基づいて、中点エラー信号ＣＥを取得する。中点エラー信号補正部２０７ｂは、アクチュエータ１０６により対物レンズ１０５を移動させず、かつ光ディスク７００を回転させた状態で中点エラー信号取得部２０６により取得された中点エラー信号ＣＥの周期を測定し、測定した周期が中点制御の開ループ特性ゲイン交点周波数よりも高い所定の第１周波数に対応する所定の周期以上である場合に、シーク制御時に、中点エラー信号ＣＥから、中点制御の開ループ特性ゲイン交点周波数よりも高い所定の第２周波数を超える周波数の成分を低減させる。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスク装置においてトラッキング制御及び中点制御を実行する技術に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
特許文献１には、光ピックアップに内蔵された対物レンズの軸ずれを制御する中点制御を行う信号処理回路が開示されている。この信号処理回路は、中点センサのような新たなセンサを使用することなく、１スポットのビームでプッシュプル法によりトラッキングエラーを求め、この際に検出されるオフセット値を用いて中点エラー信号を生成する。詳しくは、上記信号処理回路は、トラックと垂直な方向に分割された光検出器の受光素子の出力Ａ，Ｄに基づいて、右側ウォブルの振幅信号Ｄｗと左側ウォブルの振幅信号Ａｗとを検出するとともに、ウォブルの振幅信号（Ａ−Ｄ）ｗを検出する。そして、右側ウォブル及び左側ウォブルの振幅信号の差Ａｗ−Ｄｗを上記ウォブルの振幅信号（Ａ−Ｄ）ｗで除算し、さらに係数Ｋを乗じることによりトラッキングエラーオフセット信号を求め、このトラッキングエラーオフセット信号に基づいて中点エラー信号を生成する。
【０００３】
なお、特許文献２では、トラッキングエラー信号をトップホールド方式で検出することによって、対物レンズの軸ずれが発生してもトラッキングエラー信号にＤＣオフセットが重畳しないようにしている。この特許文献２では、トップホールド係数が周波数によって可変に決定され、このトップホールド係数のゲインがローブーストフィルタによって補償される。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開平９−２５９４４７号公報
【特許文献２】特開平１０−１９８９７９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかし、上記特許文献１では、中点エラー信号を生成するために、ウォブルの振幅信号Ａｗ，Ｄｗ，（Ａ−Ｄ）ｗを検出する回路、及び振幅信号の差Ａｗ−Ｄｗを上記ウォブルの振幅信号（Ａ−Ｄ）ｗにより除算する除算回路が必要となるので、回路の大型化を招く。
【０００６】
本発明は、かかる点に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、中点エラー信号を生成する装置を小型化することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記の課題を解決するため、本発明の１態様に係る光ディスク制御処理は、装填される光ディスクの記録面に主ビーム及び副ビームを集光させる対物レンズと、該対物レンズをトラックに垂直な方向に移動させるアクチュエータとを備えた光ディスク装置において、前記主ビームの照射スポットと前記光ディスクのトラックの中心との位置ずれ量を０に近付けるように前記アクチュエータの駆動信号を導出するトラッキング制御をトラッキングエラー補正信号に基づいて実行するとともに、前記主ビーム及び副ビームのうちの少なくとも一方の照射スポットの軸ずれ量を０に近付けるように前記アクチュエータの駆動信号を導出する中点制御を中点エラー信号に基づいて実行する光ディスク制御処理であって、前記光ディスク装置は、前記光ディスクのトラックに対して垂直な方向に並んだ複数の受光領域が形成され、当該各受光領域は、前記光ディスクに照射した主ビームの反射光を受光する主受光素子と、前記光ディスクのトラックに対して垂直な方向に並んだ複数の受光領域が形成され、当該各受光領域は、前記光ディスクに照射した副ビームの反射光を受光する副受光素子とを備え、当該光ディスク制御処理は、前記主受光素子の複数の受光面における受光量に基づいて、第１のトラッキングエラー信号を取得する第１のトラッキングエラー信号取得処理と、前記副受光素子の複数の受光面における受光量に基づいて、第２のトラッキングエラー信号を取得する第２のトラッキングエラー信号取得処理と、前記第１のトラッキングエラー信号取得処理により取得された第１のトラッキングエラー信号と、前記第２のトラッキングエラー信号取得処理により取得された第２のトラッキングエラー信号とに基づいて、前記トラッキングエラー補正信号を導出するトラッキングエラー補正信号導出処理と、前記第１のトラッキングエラー信号取得処理により取得された第１のトラッキングエラー信号と、前記第２のトラッキングエラー信号取得処理により取得された第２のトラッキングエラー信号とに基づいて、前記中点エラー信号を取得する中点エラー信号取得処理を備えていることを特徴とする。
【０００８】
この態様によると、第１及び第２のトラッキングエラー信号取得処理が、トラッキングエラー補正信号の取得、及び中点エラー信号の取得のために共用され、中点エラー信号の取得のために、特許文献１のようにウォブルの振幅信号を検出する処理や除算処理等、大規模な回路を必要とする処理を別途設ける必要がない。したがって、光ディスク装置を小型化できる。
【発明の効果】
【０００９】
本発明により、中点エラー信号を生成する装置を小型化できる。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】本発明の実施形態１に係る光ディスク装置の構成を示すブロック図である。
【図２】本発明の実施形態１に係る光検出器の構成を示すブロック図である。
【図３】本発明の実施形態１に係るディスクの部分拡大斜視図である。
【図４】本発明の実施形態１に係る集積回路の構成を示すブロック図である。
【図５】本発明の実施形態１に係るマイコン部の構成を示すブロック図である。
【図６】本発明の実施形態１に係るトラック深さと第１のトラッキングエラー信号のレベルとの関係を示すグラフである。
【図７】本発明の実施形態１に係る光ディスク装置のトラッキング駆動系のモデルを示す模式図である。
【図８】本発明の実施形態１に係る光ディスク装置のトラッキング駆動系を表すブロック線図である。
【図９】（ａ）は、１次の低域通過フィルタのゲイン特性を示すグラフである。（ｂ）は、１次の低域通過フィルタの位相特性を示すグラフである。
【図１０】（ａ）は、本発明の実施形態１に係る第１のトラッキングエラー信号を示すタイミングチャートである。（ｂ）は、本発明の実施形態１に係る第２のトラッキングエラー信号を示すタイミングチャートである。（ｃ）は、本発明の実施形態１に係るトラッキング制御部により導出される駆動信号を示すタイミングチャートである。（ｄ）は、本発明の実施形態１に係るトラッキングエラー補正信号を示すタイミングチャートである。
【図１１】（ａ）は、本発明の実施形態１に係る第１のトラッキングエラー信号を示すタイミングチャートである。（ｂ）は、本発明の実施形態１に係る第２のトラッキングエラー信号を示すタイミングチャートである。（ｃ）は、本発明の実施形態１に係るトラッキング制御部により導出される駆動信号を示すタイミングチャートである。（ｄ）は、本発明の実施形態１に係る中点エラー信号を示すタイミングチャートである。
【図１２】本発明の実施形態１に係るマイコン部による切替え信号の決定処理を示すフローチャートである。
【図１３】（ａ）は、本発明の実施形態１に係る中点エラー信号を示すタイミングチャートである。（ｂ）は、本発明の実施形態１に係る２値化パルス信号を示すタイミングチャートである。（ｃ）は、本発明の実施形態１に係るエッジ検出部により出力されるタイミング信号を示すタイミングチャートである。（ｄ）は、本発明の実施形態１に係るカウンタ部により出力される間隔信号を示すタイミングチャートである。（ｅ）は、本発明の実施形態１に係る周期最大値保存部により保存されている周期最大値を示すタイミングチャートである。（ｆ）は、本発明の実施形態１に係るリセット信号を示すタイミングチャートである。
【図１４】（ａ）は、本発明の実施形態１に係るシーク制御状態及びトラッキング制御状態にマイコン部により出力される制御切替え信号を示すタイミングチャートである。（ｂ）は、本発明の実施形態１に係るシーク制御状態及びトラッキング制御状態にスレッド駆動部により出力される駆動電流を示すタイミングチャートである。（ｃ）は、本発明の実施形態１に係るシーク制御状態及びトラッキング制御状態にアクチュエータ駆動部により出力される駆動電流を示すタイミングチャートである。（ｄ）は、本発明の実施形態１に係るシーク制御状態及びトラッキング制御状態の第１のトラッキングエラー信号を示すタイミングチャートである。
【図１５】本発明の実施形態２に係る光ディスク装置の構成を示すブロック図である。
【図１６】本発明の実施形態２に係るマイコン部の構成を示すブロック図である。
【図１７】本発明の実施形態２に係るマイコン部による切替え信号の決定処理を示すフローチャートである。
【図１８】（ａ）は、本発明の実施形態２に係る（ＳＴＥＰ１４１）から（ＳＴＥＰ１４４）までの処理が実行されるときにマイコン部により出力される制御切替え信号を示すタイミングチャートである。（ｂ）は、本発明の実施形態２に係る（ＳＴＥＰ１４１）から（ＳＴＥＰ１４４）までの処理が実行されるときにアクチュエータ駆動部により出力される駆動電流を示すタイミングチャートである。（ｃ）は、本発明の実施形態２に係る（ＳＴＥＰ１４１）から（ＳＴＥＰ１４４）までの処理が実行されるときに中点エラー信号取得部により取得される中点エラー信号を示すタイミングチャートである。
【図１９】本発明の実施形態３に係る光ディスク装置の構成を示すブロック図である。
【図２０】本発明の実施形態３に係るマイコン部の構成を示すブロック図である。
【図２１】本発明の実施形態３に係るマイコン部による切替え信号の決定処理を示すフローチャートである。
【図２２】本発明の実施形態３の変形例に係るマイコン部による切替え信号の決定処理を示すフローチャートである。
【図２３】本発明の実施形態４に係る光ディスク装置の構成を示すブロック図である。
【図２４】本発明の実施形態４に係る集積回路の構成を示すブロック図である。
【図２５】本発明の実施形態５に係る光ディスク装置の構成を示すブロック図である。
【図２６】本発明の実施形態５に係る集積回路の構成を示すブロック図である。
【図２７】本発明の実施形態５に係る中点制御部の構成を示すブロック図である。
【発明を実施するための形態】
【００１１】
以下、本発明の実施形態について、図面を参照して説明する。なお、以下の各実施形態において、他の実施形態と同様の機能を有する構成要素については同一の符号を付して説明を省略する。
【００１２】
《実施形態１》
本発明の実施形態１に係る光ディスク装置は、図１に示すように、光ピックアップ１００、集積回路２００、アクチュエータ駆動部３００、スレッド駆動部４００、スレッドモータ５００、及びディスクモータ６００を備え、装填された光ディスク７００に対してデータの記録及び再生を行うようになっている。光ディスク７００は、例えばＤＶＤ−Ｒディスク、ＤＶＤ−ＲＷディスク、ＤＶＤ＋Ｒディスク、ＤＶＤ＋ＲＷディスク、ＤＶＤ−ＲＡＭディスク等、記録再生可能でトラックを有するディスクである。
【００１３】
光ピックアップ１００は、光ディスク７００にレーザ光を照射し、光ディスク７００からの反射光を受光してその受光量を出力する。集積回路２００は、光ピックアップ１００により出力される受光量に基づいてアクチュエータ駆動信号ＡＣＴを出力し、アクチュエータ駆動部３００は、このアクチュエータ駆動信号ＡＣＴに応じた駆動電流ＡＣＴＤＲＶを出力する。また、集積回路２００のマイコン部２０８（後述する）は、スレッド駆動信号ＳＬＤＲＶを出力し、スレッド駆動部４００は、このスレッド駆動信号ＳＬＤＲＶに基づいてスレッドモータ５００を駆動する駆動電流ＳＬＤＤＲＶを出力し、スレッドモータ５００はこの駆動電流ＳＬＤＤＲＶに基づいて光ピックアップ１００を光ディスク７００の径方向に移動させる。
【００１４】
ディスクモータ６００は、所定の回転速度で光ディスク７００を回転させる。
【００１５】
＜光ピックアップ＞
詳しくは、光ピックアップ１００は、半導体レーザ１０１、コリメータレンズ１０２、偏光ビームスプリッタ（ＰＢＳ：polarization beam splitter）１０３、波長板１０４、対物レンズ１０５、アクチュエータ１０６、検出レンズ１０７、及び光検出器１０８を備えている。
【００１６】
半導体レーザ１０１は、レーザ駆動部（図示せず）からの電流出力に応じて、記録・再生に必要な光強度の光ビーム、例えば波長６５０ｎｍ（ナノ・メートル）のレーザ光を出射する光源である。
【００１７】
アクチュエータ１０６は、アクチュエータ駆動部３００により出力された駆動電流ＡＣＴＤＲＶに基づいて、対物レンズ１０５をトラックに垂直な方向（径方向）に移動させる。また、アクチュエータ１０６は、対物レンズ１０５をフォーカス方向に移動させる制御や対物レンズ１０５を記録面に対して傾ける制御を行なうが、これらの制御、即ちフォーカス制御及びチルト制御に関する説明は省略する。
【００１８】
光検出器１０８は、図２に示すように、主受光素子としてのメイン光検出器１０８ａと、副受光素子としての第１サブ光検出器１０８ｂ及び第２サブ光検出器１０８ｃとを備えている。メイン光検出器１０８ａ、第１サブ光検出器１０８ｂ、及び第２サブ光検出器１０８ｃの受光面は、それぞれ、装填された光ディスク７００のトラックに対して垂直な方向、すなわち径方向（図３中、Ｒａｄｉａｌ方向と示す）に２分割されており、メイン光検出器１０８ａはトラック方向（図３中、Ｔａｎｄｅｎｔｉａｌ方向と示す）にも２分割されている。したがって、メイン光検出器１０８ａには、図２において左上から時計回りに４つの受光領域１０８ｄ〜１０８ｇが前記径方向及びトラック方向に２つずつ並ぶように形成されている。第１サブ光検出器１０８ｂの受光面には、２つの受光領域１０８ｈ，ｉが前記径方向に並ぶように形成され、第２サブ光検出器１０８ｃの受光面には、２つの受光領域１０８ｊ，ｋが前記径方向に並ぶように形成されている。光検出器１０８は、さらに、各受光領域１０８ｄ〜ｋの受光量に応じた電流を生成する光電流生成部（Ｐ−Ｉ変換部）１０８ｌと、各光電流変換部１０８ｌにより生成された電流を電圧に変換する電流電圧変換部（Ｉ−Ｖ変換部）１０８ｍとを、受光領域１０８ｄ〜ｋ毎に備えている。受光領域１０８ｄ〜ｋに対応する電流電圧変換部１０８ｍの出力は、図２に示すように、順にアナログ信号Ａａ〜Ｈａとして示される。
【００１９】
半導体レーザ１０１により出射されたレーザ光（出射光）は、コリメータレンズ１０２によって平行光にされ、ＰＢＳ１０３によって主ビーム及び２つの副ビームに分離される。主ビームの光強度は副ビームの光強度よりも強く、その比率はおよそ１：０．３５である。そして、これら主ビーム及び２つの副ビームは、それぞれ波長板１０４を通り、対物レンズ１０５によって光ディスク７００に集められる。このとき、対物レンズ１０５は、図３に示すように、データの記録又は再生に実際に使用するトラック７０１に主ビームを集光するとともに、トラック７０１から０．５トラックずれたトラック７０２、７０３に副ビームを集光する。図３中、トラック７０１における主ビームの照射スポットを７０４、トラック７０２における副ビームの照射スポットを７０５、トラック７０３における副ビームの照射スポットを７０６で示す。
【００２０】
一方、光ディスク７００からの反射光は、対物レンズ１０５及び波長板１０４を通り、ＰＢＳ１０３で出射光の光路から分離されて、検出レンズ１０７に導かれる。検出レンズ１０７は、±１次光を光検出器１０８に導く。光検出器１０８は、検出レンズ１０７により導かれた光信号を電気信号に変換して出力する。詳しくは、照射スポット７０４からの反射光、すなわち主ビームの反射光はメイン光検出器１０８ａに導かれ、照射スポット７０５からの反射光、すなわち副ビームの反射光は第１サブ光検出器１０８ｂに導かれ、照射スポット７０６からの反射光、すなわち副ビームの反射光は第２サブ光検出器１０８ｃに導かれる。
【００２１】
＜集積回路＞
図４は、集積回路２００の詳細な構成を示す。
【００２２】
集積回路２００は、図１及び図４に示すように、ＡＤ変換器２０１、第１のトラッキングエラー信号取得部２０２、第２のトラッキングエラー信号取得部２０３、トラッキングエラー補正信号導出部２０４、トラッキング制御部２０５、中点エラー信号取得部２０６、低域通過フィルタ部２０７、マイコン部２０８、中点制御部２０９、及び切替えスイッチ２１０を備えている。
【００２３】
ＡＤ変換器２０１は、光検出器１０８により出力されたアナログ信号Ａａ〜Ｈａをそれぞれ８ビットのデジタル信号Ａａ〜Ｈｄに変換する。つまり、アナログ信号Ａａ信号は、８ビットのデジタル信号Ａｄに変換され、同様にアナログ信号Ｂａ〜Ｈａもデジタル信号Ｂｄ〜Ｈｄに変換される。
【００２４】
第１のトラッキングエラー信号取得部２０２は、ＡＤ変換器２０１により出力されたデジタル信号Ａｄ〜Ｄｄに基づいて、以下の式（１）により第１のトラッキングエラー信号ＴＥ１を取得する。
【００２５】
ＴＥ１＝（Ａｄ＋Ｄｄ）−（Ｂｄ＋Ｃｄ） ・・・（１）
第２のトラッキングエラー信号取得部２０３は、ＡＤ変換器２０１により出力されたデジタル信号Ｅｄ〜Ｈｄに基づいて、以下の式（２）により第２のトラッキングエラー信号（Ｋ×ＴＥ２）を取得する。
【００２６】
Ｋ×ＴＥ２＝Ｋ×｛（Ｅｄ−Ｆｄ）＋（Ｇｄ−Ｈｄ）｝ ・・・（２）
このとき、第２のトラッキングエラー信号取得部２０３は、次の式（３）により得られるトラッキングエラー補正信号ＴＥの振幅の中心が０となるように係数Ｋを決定する。
【００２７】
ＴＥ＝ＴＥ１−Ｋ×ＴＥ２ ・・・（３）
トラッキングエラー補正信号導出部２０４は、第１のトラッキングエラー信号取得部２０２により取得された第１のトラッキングエラー信号ＴＥ１と第２のトラッキングエラー信号取得部２０３により取得された第２のトラッキングエラー信号（Ｋ×ＴＥ２）とに基づいて、上記式（３）の演算を行い、トラッキングエラー補正信号ＴＥを算出する。トラッキングエラー補正信号ＴＥは、第１のトラッキングエラー信号ＴＥ１と第２のトラッキングエラー信号（Ｋ×ＴＥ２）との差動演算結果となる。
【００２８】
トラッキング制御部２０５は、トラッキングエラー補正信号ＴＥに基づいて、主ビームの照射スポット７０４と光ディスク７００のトラック７０１の中心との位置ずれ量を０に近付けるように駆動信号ＴＲＤＲＶを導出する。具体的には、トラッキング制御部２０５は、トラッキングエラー補正信号ＴＥをほぼ０にするように駆動信号ＴＲＤＲＶを導出する。トラッキング制御状態では、照射スポット７０４，７０５，７０６が光ディスク７００のトラック上を走査する。
【００２９】
中点エラー信号取得部２０６は、第１のトラッキングエラー信号取得部２０２により取得された第１のトラッキングエラー信号ＴＥ１と、第２のトラッキングエラー信号取得部２０３により取得された第２のトラッキングエラー信号（Ｋ×ＴＥ２）とに基づいて、中点エラー信号ＣＥを以下の式（４）が成立するように取得する。中点エラー信号ＣＥは、第１のトラッキングエラー信号ＴＥ１と第２のトラッキングエラー信号（Ｋ×ＴＥ２）との加算演算結果となる。
【００３０】
ＣＥ＝ＴＥ１＋Ｋ×ＴＥ２ ・・・（４）
低域通過フィルタ部２０７は、前記中点エラー信号取得部２０６により出力された中点エラー信号ＣＥに対してフィルタ処理を施して中点エラー信号ＣＥの低周波数成分を出力する一次のＬＰＦ(Low-pass filter)２０７ａを備えている。後述する切替え信号ＬＰＦがＨ（High）レベルの場合には、低域通過フィルタ部２０７は、該ＬＰＦ２０７ａの出力である低周波数成分を中点エラー補正信号ＣＥＣとして出力する一方、後述する切替え信号ＬＰＦがＬ(Low)レベルの場合には、中点エラー信号取得部２０６により出力された中点エラー信号ＣＥをそのまま中点エラー補正信号ＣＥＣとして出力する。ＬＰＦ２０７ａのカットオフ周波数（第２周波数、所定の周波数）は５００Ｈｚに設定される。ＬＰＦ２０７ａによるフィルタ処理は、所定のカットオフ周波数を超える周波数の成分を低減させるものである。なお、このフィルタ処理は、カットオフ周波数を超える周波数の成分を完全に除去するものであってもよいし、一部を除去するものであってもよい。また、このカットオフ周波数は、５００Ｈｚに限らず、中点制御の開ループ特性ゲイン交点周波数よりも高い周波数であればよい。
【００３１】
中点制御部２０９は、トラッキングエラー補正信号ＴＥに基づいて、対物レンズ１０５の軸ずれ量を０に近付けるように駆動信号ＴＲＤＲＶを導出する。具体的には、中点制御部２０９は、低域通過フィルタ部２０７の出力、すなわち中点エラー補正信号ＣＥＣをほぼ０にするように駆動信号ＣＥＤＲＶを導出する。
【００３２】
マイコン部２０８は、中点エラー信号取得部２０６により出力された中点エラー信号ＣＥに重畳する変調成分の周期を測定し、測定した周期に基づいて、低域通過フィルタ部２０７に前記低周波数成分と中点エラー信号ＣＥとのうちのいずれを出力させるかを示す切替え信号ＬＰＦを出力する。
【００３３】
マイコン部２０８は、図５に示すように、２値化部２０８ａ、エッジ検出部２０８ｂ、カウンタ部２０８ｃ、周期最大値保存部２０８ｄ、及び遮断周波数決定部２０８ｅを備えている。２値化部２０８ａ、エッジ検出部２０８ｂ、カウンタ部２０８ｃ、及び周期最大値保存部２０８ｄにより、周期測定部２０８ｆが構成されている。
【００３４】
２値化部２０８ａは、中点エラー信号取得部２０６により出力された中点エラー信号ＣＥを０を閾値として２値化することにより２値化パルス信号を取得する。なお、２値化に用いられる閾値は、０、すなわち軸ずれ量が０のときの中点エラー信号ＣＥの値に限らず、０以外の値に設定してもよい。
【００３５】
エッジ検出部２０８ｂは、２値化部２０８ａにより取得された２値化パルス信号の立ち上がりエッジを検出し、立ち上がりのタイミングを示すタイミング信号を出力する。
【００３６】
カウンタ部２０８ｃは、エッジ検出部２０８ｂにより出力されたタイミング信号に基づいて、２値化パルス信号の立ち上がりのタイミングの間隔時間を固定クロックを用いてカウント（計測）してそのカウント値（間隔時間）を示す間隔信号を出力する。
【００３７】
周期最大値保存部２０８ｄは、カウンタ部２０８ｃの間隔信号が更新される毎に、カウンタ部２０８ｃにより出力された間隔信号により示された間隔時間と、それまでに保存していた周期最大値とを比較し、間隔時間がその周期最大値よりも大きい場合にはその周期最大値を間隔信号により示される間隔時間に更新して保存する。一方、間隔時間が既に保存している周期最大値以下である場合には、その周期最大値を更新しない。
【００３８】
そして周期最大値保存部２０８ｄは、所定の中点エラー周期測定時間を経過した後に、保存していた周期最大値を出力する。つまり、周期最大値保存部２０８ｄは、前記中点エラー周期測定時間内に計測された間隔時間の最大値を周期として取得する。
【００３９】
遮断周波数決定部２０８ｅは、周期最大値保存部２０８ｄにより出力（取得）された周期最大値が予め設定された周期ＴＨ以上であるか否かを判定し、判定結果に基づいて、前記切替え信号ＬＰＦを出力する。ここで、周期ＴＨは、５００Ｈｚに相当する２ｍｓｅｃ（ミリ秒）に設定される。なお、この周期ＴＨは、中点制御の開ループ特性ゲイン交点周波数よりも高い所定の周波数（第１周波数）に対応する周期であれば、他の周期に設定してもよい。周期最大値が周期ＴＨ以上である場合には、切替え信号ＬＰＦは、Ｈレベルとなり、低域通過フィルタ部２０７にＬＰＦ２０７ａの出力である低周波数成分を出力させるものとなる。一方、周期最大値が周期ＴＨ未満である場合には、切替え信号ＬＰＦは、Ｌレベルとなり、低域通過フィルタ部２０７に中点エラー信号ＣＥをそのまま出力させるものとなる。
【００４０】
なお、マイコン部２０８は図示しないリセット（ＲＥＳＥＴ）信号発行部を内蔵し、このリセット信号発行部がリセット信号を発行すると、カウンタ部２０８ｃのカウント値と周期最大値保存部２０８ｄにより保存されている周期最大値とがリセット（ゼロクリア）される。
【００４１】
また、マイコン部２０８は、シーク時に、光ピックアップ１００を光ディスク７００の径方向に移動させるためにスレッド駆動信号ＳＬＤＲＶを出力する。
【００４２】
さらに、マイコン部２０８は、トラッキング制御時には、トラッキング制御部２０５により出力された駆動信号ＴＲＤＲＶを選択する制御切替え信号ＳＷを出力する一方、シーク制御時には、中点制御部２０９により出力される駆動信号ＣＥＤＲＶ（後述する）を選択する制御切替え信号ＳＷを出力する。具体的には、制御切替え信号ＳＷは、トラッキング制御時にはＨレベルになる一方、シーク制御時にはＬレベルとなる。なお、トラッキング制御は、光ディスク７００に情報を記録する時、光ディスク７００に記録された情報を再生する時、及びスタンバイ状態において実行される。
【００４３】
上記低域通過フィルタ部２０７とマイコン部２０８とで、中点エラー信号補正部２０７ｂが構成されている。
【００４４】
切替えスイッチ２１０は、マイコン部２０８により出力された制御切替え信号ＳＷにより選択された駆動信号ＴＲＤＲＶ，ＣＥＤＲＶを出力する。具体的には、制御切替え信号ＳＷがＨレベルであるときには、トラッキング制御部２０５により出力された駆動信号ＴＲＤＲＶを出力する一方、制御切替え信号ＳＷがＬレベルであるときには、中点制御部２０９により出力された駆動信号ＣＥＤＲＶを出力する。上述のアクチュエータ１０６は、切替えスイッチ２１０により出力された駆動信号ＴＲＤＲＶ，ＣＥＤＲＶにより示された移動量分、対物レンズ１０５をトラックに垂直な方向に移動させる。
【００４５】
上述のように構成された光検出器１０８と、集積回路２００と、アクチュエータ駆動部３００と、スレッド駆動部４００とで、光ディスク制御装置８００が構成されている。
【００４６】
＜トラッキングエラー信号ＴＥ＞
上述のように、第１のトラッキングエラー信号ＴＥ１はプッシュプル方式で検出されるので、図６に示すように、そのレベルはトラック深さによって異なる。主ビームの波長をλとすると、トラック深さがλ／４のとき、即ちトラック深さによる回折が最も有効で変調成分が最大になるときに、第１のトラッキングエラー信号が０になる。一方、トラック深さがλ／８のとき、第１のトラッキングエラー信号ＴＥ１を最も効率良く取得できる。
【００４７】
対物レンズ１０５のみを光ディスク７００のトラックを横切る方向に移動（以下、レンズシフトと記す）させた場合、光検出器１０８に入射した光ビームが光検出器１０８上で移動して、レンズシフトの距離に応じた量のＤＣオフセットが、第１のトラッキングエラー信号ＴＥ１に重畳する。また、このＤＣオフセットの量も、図６で示したように、対物レンズ１０５の移動距離が同じであっても、トラックの溝深さが異なっていれば、異なったものとなる。
【００４８】
したがって、光ディスク装置に装填される光ディスク７００の種類によって、プッシュプル信号である第１のトラッキングエラー信号ＴＥ１の変調成分、及びレンズシフトにより生じるＤＣオフセットの量が異なる。また同じ種類の光ディスク７００を用いた場合でも個体ばらつきに応じて、各光ディスク７００の変調成分とＤＣオフセットの量とが異なる。
【００４９】
さらに、第１のトラッキングエラー信号ＴＥ１、第２のトラッキングエラー信号（Ｋ×ＴＥ２）、及びトラッキングエラー信号ＴＥの変調成分の周波数は、主ビーム及び副ビームがトラックを横断する周波数によって決定される。即ち、対物レンズ１０５を停止させた状態での変調成分の周波数は、光ディスク７００の偏芯量と、ディスクモータ６００の所定時間あたりの回転数、すなわち回転速度とに依存する。
【００５０】
第１のトラッキングエラー信号ＴＥ１、第２のトラッキングエラー信号（Ｋ×ＴＥ２）、及びトラッキングエラー補正信号ＴＥの変調成分の周波数は、光ディスク７００の偏芯量の増加、及びディスクモータ６００の回転の高速化にともなって高くなる一方、光ディスク７００の偏芯量の減少、及びディスクモータ６００の回転の低速化にともなって低くなる。
【００５１】
第２のトラッキングエラー信号（Ｋ×ＴＥ２）には、第１のトラッキングエラー信号ＴＥ１に重畳した変調成分の逆位相の変調成分が重畳される。また、対物レンズ１０５の軸ずれにより第２のトラッキングエラー信号（Ｋ×ＴＥ２）に重畳するＤＣオフセットの極性は、第１のトラッキングエラー信号ＴＥ１に重畳するＤＣオフセットと等しくなる。主ビームの光強度は副ビームの光強度よりも強いので、係数Ｋを１としたときの第２のトラッキングエラー信号（Ｋ×ＴＥ２）の変調成分の振幅は第１のトラッキングエラー信号ＴＥ１の変調成分の振幅よりも小さい。
【００５２】
トラッキングエラー補正信号ＴＥの変調成分は、第１のトラッキングエラー信号ＴＥ１の変調成分から、逆位相の第２のトラッキングエラー信号（Ｋ×ＴＥ２）の変調成分を引くことによって算出されるので強調される。一方、トラッキングエラー補正信号ＴＥのＤＣオフセットは、係数Ｋがトラッキングエラー補正信号ＴＥの振幅の中心が０となるように決定されるので、０となる。
【００５３】
＜トラッキング駆動系＞
図７は、本実施形態１に係る光ディスク装置のトラッキング駆動系のモデルを示す。
【００５４】
アクチュエータ（図７には図示せず）１０６は、ばね定数Ｋｔの板バネ１０９及びダンピング係数Ｄｔのダンパー(Damper)１１０により支持されており、いわゆるレンズ並進方式アクチュエータを構成している。このトラッキング駆動系には、スレッドモータ５００とアクチュエータ１０６とを相補的に駆動して、主ビーム及び副ビームの照射スポット７０４〜７０６を所望のトラックに追従させる２段サーボ方式が採用されている。図７中、ｘｓ（t）は、スレッドモータ５００の原点に対する相対位置を示し、ｘｔ（t）は、アクチュエータ１０６の原点に対する相対位置を示す。
【００５５】
ここで、図７に示すトラッキング駆動系において、スレッドモータ系にダンパーがないと想定し、かつ光ピックアップ１００に対するスレッドモータ５００の質量比が大きいことを考慮してアクチュエータ１０６からスレッドモータ５００への反力を無視した場合、スレッドモータ５００及びアクチュエータ１０６についてのラプラス変換後の運動方程式は、以下の式（５−１）、（５−２）のようになる。
【００５６】
【数１】
【００５７】
式（５−１）、（５−２）中、Ｆｓ（ｓ）はスレッドモータ５００の駆動信号ＳＬＤＤＲＶ、Ｆｔ（ｓ）はアクチュエータ１０６の駆動電流ＡＣＴＤＲＶ、Ｘｓ（ｓ）は原点からのスレッドモータ５００の相対位置、Ｘｔ（ｓ）はスレッドモータ５００の原点からのアクチュエータ１０６の相対位置を示す。また、ｍｓはスレッドモータ５００の質量、ｍｔは光ピックアップ１００の質量、Ｄｔはダンパー１１０のダンパー係数、Ｋｔは板バネ１０９のバネ定数である。
【００５８】
このトラッキング駆動系を表すブロック線図を図８に示す。
【００５９】
上記式（５−１）、（５−２）、及び図８に示すように、レーザの照射スポット７０４、７０５、７０６の位置は、スレッドモータ５００への駆動信号ＳＬＤＤＲＶにより光ピックアップ１００全体を駆動する系と、アクチュエータ１０６の駆動電流ＡＣＴＤＲＶにより対物レンズ１０５を駆動する系とにより決定される。更に、スレッドモータ５００の駆動信号ＳＬＤＤＲＶは、対物レンズ１０５を駆動する系の出力（位置）にも影響している。
【００６０】
中点制御は、スレッドモータ５００の駆動したときの対物レンズ１０５の出力（位置）へのこのような影響を抑制することを目的とする。即ち、中点制御は、図８に示すＦｓ（ｓ）からＸｔ（ｓ）への影響を抑制することを目的とする。
【００６１】
また、上記式（５−１）、（５−２）、及び図８に示すように、シーク制御等によりスレッドモータ５００を駆動したときの対物レンズ１０５の軸ずれ量において、アクチュエータ１０６の１次共振周波数成分が支配的となる。
【００６２】
一般的に、光ディスク装置の光ピックアップ１００に搭載されるアクチュエータ１０６のトラッキング１次共振周波数は５０〜８０[Ｈｚ]程度である。したがって、上記１次共振周波数で変化する対物レンズ１０５の軸ずれを制御する中点制御の開ループ特性ゲイン交点周波数は、およそ１００[Ｈｚ]から２００[Ｈｚ]に設計されるケースが多い。
【００６３】
一方、中点エラー信号ＣＥは式（４）により求められるので、照射スポット７０４、７０５、７０６が光ディスク７００のトラックを横断することにより、その横断速度の周波数成分が変調成分となって重畳する。この横断速度は、光ディスク７００の偏芯量とディスクモータ６００の回転速度とに比例する。したがって、光ディスク７００の偏芯量が小さい場合や、ディスクモータ６００の回転速度が低い場合等、横断速度が低く、中点制御の開ループ特性ゲイン交点周波数の変調成分が中点エラー信号ＣＥに重畳する場合には、本来制御しなければならない対物レンズ１０５の軸ずれとは異なる成分も制御の対象となってしまい、制御誤差を招く。
【００６４】
一方、光ディスク７００の偏芯量が大きい場合や、ディスクモータ６００の回転速度が高い場合等、横断速度が高く、中点制御の帯域よりも高い周波数成分をもつ変調成分が中点エラー信号ＣＥに重畳する場合には、これらの変調成分が中点制御動作時に不要な消費電流となる。
【００６５】
＜低域通過フィルタ部＞
ここで、低域通過フィルタ部２０７の設計方法について説明する。なお、本実施形態で使用するアクチュエータ１０６のトラッキング１次共振周波数は６０±２０[Ｈｚ]であり、中点制御の開ループ特性ゲイン交点周波数を１００［Ｈｚ］に設定するものと仮定する。
【００６６】
図９（ａ）は、１次の低域通過フィルタのゲイン特性（周波数特性）を示し、同図中、縦軸は低域通過フィルタのゲインを示し、横軸は周波数を示す対数軸である。また、図９（ｂ）は、１次の低域通過フィルタの位相特性（周波数特性）を示し、同図中、縦軸は低域通過フィルタの位相を示し、横軸は周波数を示す対数軸である。
【００６７】
図９（ａ）に示すように、低域通過フィルタは、カットオフ周波数ｆｃにおいてゲインが−３[ｄＢ]となり、カットオフ周波数よりも高い周波数においてゲインが−２０[ｄＢ／ｄｅｃ]で単調減少する特性を有する。一方、図９（ｂ）に示すように、低域通過フィルタの位相特性は、カットオフ周波数ｆｃの５分の１に相当する周波数ｆｃ／５において位相遅れが始まり、カットオフ周波数ｆｃにおいて４５[ｄｅｇ]位相が遅れ、カットオフ周波数ｆｃの５倍相当の周波数５ｆｃにおいて９０[ｄｅｇ]弱位相が遅れ、それよりも周波数が高くなるにつれて位相遅れが９０[ｄｅｇ]に集束する。
【００６８】
ＬＰＦ２０７ａのカットオフ周波数ｆｃは、（ｆｃ／５）＝１００[Ｈｚ]となるように、５００Ｈｚに設計される。これにより、図９（ａ）及び図９（ｂ）に示すように、１００[Ｈｚ]以下の周波数において、ゲイン及び位相特性が殆ど変化しないので、中点エラー信号ＣＥの中点制御の開ループ特性ゲイン交点周波数よりも低い周波数成分、すなわち１００[Ｈｚ]に相当する周波数よりも低い周波数成分にＬＰＦ２０７ａの影響が及ばず、中点制御にＬＰＦ２０７ａの影響が及ばない。したがって、中点エラー信号ＣＥの主な周波数帯域である１００[Ｈｚ]よりも低い周波数の成分を、そのまま中点制御部２０９に出力できる。
【００６９】
一方、シーク制御時のようにスレッドモータ５００が回転して、照射スポット７０４、７０５、７０６のトラック横断速度が上昇し、その結果として中点エラー信号ＣＥに重畳する変調成分の周波数が５００[Ｈｚ]よりも高くなる場合には、５００［Ｈｚ］より高い周波数の変調成分をＬＰＦ２０７ａによって除去でき、５００[Ｈｚ]よりも高い周波数の変調成分によって中点制御時に生じる消費電流を抑制できる。
【００７０】
また、マイコン部２０８により周期最大値が周期ＴＨ未満であると判定された場合、すなわち、中点エラー信号ＣＥに重畳される変調成分の周波数が５００[Ｈｚ]以上である場合には、中点エラー信号ＣＥがそのまま中点制御部２０９に出力される。その結果、シーク制御によりスレッドモータ５００が駆動され、スレッドモータ５００の駆動により、照射スポット７０４、７０５、７０６のトラック横断速度が上昇し、中点エラー信号ＣＥに重畳する変調成分の周波数が、スレッドモータ５００の速度分の周波数だけ増加して５００[Ｈｚ]以上となる場合、中点制御の周波数特性により、中点制御時の不要な消費電流は無視できる程度になる。
【００７１】
＜トラッキングエラー補正信号及び中点エラー信号の波形＞
図１０は、本実施形態に係る光ディスク装置において、光ディスク７００が所定速度で回転し、かつフォーカス制御が行われている状態で、対物レンズ１０５が軸ずれしたときの信号波形を示す。図１０（ａ）は、第１のトラッキングエラー信号ＴＥ１の波形、図１０（ｂ）は、第２のトラッキングエラー信号（Ｋ×ＴＥ２）の波形、図１０（ｃ）は、トラッキング制御部２０５により出力される駆動信号ＴＲＫＤＲＶの波形、図１０（ｄ）は、トラッキングエラー補正信号ＴＥの波形を示す。フォーカス制御が行われている間、主ビーム及び副ビームが光ディスク７００の情報記録面に集光する。
【００７２】
また、図１１は、本実施形態に係る光ディスク装置において、光ディスク７００が所定速度で回転し、かつフォーカス制御が行われている状態で、対物レンズ１０５が軸ずれしたときの信号波形を示す。図１１（ａ）は、第１のトラッキングエラー信号ＴＥ１の波形、図１１（ｂ）は、第２のトラッキングエラー信号（Ｋ×ＴＥ２）の波形、図１１（ｃ）は、トラッキング制御部２０５により出力される駆動信号ＴＲＫＤＲＶの波形、図１１（ｄ）は、中点エラー信号ＴＥの波形を示す。
【００７３】
なお、前記所定速度は、情報の記録時又は再生時における回転速度である。しかし、前記所定速度が、記録時及び再生時における回転速度以外の速度であっても、図１０及び図１１のような波形を得られる場合がある。
【００７４】
まず、図１０（ｃ）及び図１１（ｃ）に示すように、時刻ｔ０から時刻ｔ１にかけてアクチュエータ１０６を駆動する駆動信号ＴＲＫＤＲＶを０（ゼロ）にする。これにより、アクチュエータ駆動部３００により出力される駆動電流ＡＣＴＤＲＶが、対物レンズ１０５の径方向の移動量を０とする値となり、対物レンズ１０５はトラックを横断する方向に移動しない。したがって、対物レンズ１０５の軸ずれは０となり、図１０（ａ）、図１１（ａ）、図１０（ｂ）及び図１１（ｂ）に示すように、第１のトラッキングエラー信号ＴＥ１と第２のトラッキングエラー信号（Ｋ×ＴＥ２）の振幅の中心は０となる。その結果、図１０（ｄ）に示すように、トラッキングエラー補正信号ＴＥの振幅の中心が０となるとともに、図１１（ｄ）に示すように、中点エラー信号ＣＥの振幅の中心も０となる。
【００７５】
次いで、図１０（ｃ）及び図１１（ｃ）に示すように、時刻ｔ１から時刻ｔ２にかけて駆動信号ＴＲＫＤＲＶをＤＲＶ＋とする。これにより、アクチュエータ駆動部３００は、この駆動信号ＴＲＫＤＲＶに基づいて、対物レンズ１０５を径方向に移動させる駆動電流ＡＣＴＤＲＶをアクチュエータ１０６に出力し、アクチュエータ１０６はこの駆動電流ＡＣＴＤＲＶに基づいて対物レンズ１０５をトラックを横断する方向に移動（シフト）させる。その結果、対物レンズ１０５が軸ずれした状態になり、図１０（ａ）及び図１１（ａ）に示すように、第１のトラッキングエラー信号ＴＥ１にＤＣオフセットＯＦＳ＋が重畳する。また、係数Ｋが、トラッキングエラー補正信号ＴＥの信号振幅の中心が図１０（ｄ）に示すように０となるように設定されているので、図１０（ｂ）及び図１１（ｂ）に示すように、第２のトラッキングエラー信号（Ｋ×ＴＥ２）にもＤＣオフセットＯＦＳ＋が重畳する。したがって、図１１（ｄ）に示すように、中点エラー信号ＣＥの振幅の中心は２×ＯＦＳ＋となる。
【００７６】
次いで、図１０（ｃ）及び図１１（ｃ）に示すように、時刻ｔ２から時刻ｔ３にかけて駆動信号ＴＲＫＤＲＶを０とする。これにより、アクチュエータ駆動部３００により出力される駆動電流ＡＣＴＤＲＶが、対物レンズ１０５の径方向の移動量を０とする値となり、対物レンズ１０５は径方向に移動しない。したがって、対物レンズ１０５の軸ずれは０となり、図１０（ａ）、図１１（ａ）、図１０（ｂ）及び図１１（ｂ）に示すように、第１のトラッキングエラー信号ＴＥ１と第２のトラッキングエラー信号（Ｋ×ＴＥ２）の振幅の中心は再び０となる。その結果、図１０（ｄ）に示すように、トラッキングエラー補正信号ＴＥの振幅の中心が０に維持されるとともに、図１１（ｄ）に示すように、中点エラー信号ＣＥの振幅の中心も再び０となる。
【００７７】
続いて、図１０（ｃ）及び図１１（ｃ）に示すように、時刻ｔ３から時刻ｔ４にかけて駆動信号ＴＲＫＤＲＶをＤＲＶ−とする。これにより、アクチュエータ駆動部３００は、この駆動信号ＴＲＫＤＲＶに基づいて、対物レンズ１０５を径方向に移動させる駆動電流ＡＣＴＤＲＶをアクチュエータ１０６に出力し、アクチュエータ１０６はこの駆動電流ＡＣＴＤＲＶに基づいて対物レンズ１０５をトラック方向に移動（シフト）させる。その結果、対物レンズ１０５が軸ずれした状態になり、図１０（ａ）及び図１１（ａ）に示すように、第１のトラッキングエラー信号ＴＥ１にＤＣオフセットＯＦＳ−が重畳する。また、係数Ｋが、トラッキングエラー補正信号ＴＥの信号振幅の中心が図１０（ｄ）に示すように０となるように設定されているので、図１０（ｂ）及び図１１（ｂ）に示すように、第２のトラッキングエラー信号（Ｋ×ＴＥ２）にもＤＣオフセットＯＦＳ−が重畳する。したがって、図１１（ｄ）に示すように、中点エラー信号ＣＥの振幅の中心は２×ＯＦＳ−となる。
【００７８】
最後に、図１０（ｃ）及び図１１（ｃ）に示すように、時刻ｔ４から時刻ｔ５にかけて、再び駆動信号ＴＲＫＤＲＶを０とする。これにより、アクチュエータ駆動部３００により出力される駆動電流ＡＣＴＤＲＶが、対物レンズ１０５の径方向の移動量を０とする値となり、対物レンズ１０５は径方向に移動しない。したがって、対物レンズ１０５の軸ずれは０となり、図１０（ａ）、図１１（ａ）、図１０（ｂ）及び図１１（ｂ）に示すように、第１のトラッキングエラー信号ＴＥ１と第２のトラッキングエラー信号（Ｋ×ＴＥ２）の振幅の中心は再び０となる。その結果、図１０（ｄ）に示すように、トラッキングエラー補正信号ＴＥの振幅の中心が０に維持されるとともに、図１１（ｄ）に示すように、中点エラー信号ＣＥの振幅の中心も再び０となる。
【００７９】
以上のように、対物レンズ１０５が軸ずれした状態でもトラッキングエラー補正信号ＴＥに重畳するＤＣオフセットが０になるように第２のトラッキングエラー信号取得部２０３により係数Ｋが決定されるので、トラッキング制御部２０５はトラッキングエラー補正信号ＴＥを０に制御することによって照射スポット７０４を光ディスク７００のトラックの中心に制御できる。
【００８０】
なお、時刻ｔ１から時刻ｔ２にかけて決定された係数Ｋと、時刻ｔ３から時刻ｔ４にかけて決定された係数Ｋとが一致しない場合には、両者のいずれか一方、両者の中間値、又は当該中間値以外の両者に挟まれた所定値を係数Ｋとしてもよい。
【００８１】
また、上述のように、対物レンズ１０５が軸ずれすると、中点エラー信号ＣＥはその軸ずれ量に応じた値となる。したがって、この中点エラー信号ＣＥを０に制御することによって、対物レンズ１０５の軸ずれを０に制御できる。
【００８２】
しかしながら、式（４）に示した中点エラー信号ＣＥの検出方式には課題が含まれている。
【００８３】
式（４）により取得される中点エラー信号ＣＥには、第１のトラッキングエラー信号ＴＥ１および第２のトラッキングエラー信号（Ｋ×ＴＥ２）に重畳する変調成分が残留してしまう可能性がある。
【００８４】
また、第１のトラッキングエラー信号ＴＥ１及び第２のトラッキングエラー信号（Ｋ×ＴＥ２）に重畳する変調成分の周波数は、光ディスク７００の偏芯量とディスクモータ６００の回転速度に比例するため、光ディスク装置に装填された光ディスク７００、データの再生速度、及び記録速度に応じて変化する。
【００８５】
仮に、第２のトラッキングエラー信号取得部２０３により用いられる係数Ｋを、第１のトラッキングエラー信号ＴＥ１及び第２のトラッキングエラー信号（Ｋ×ＴＥ２）に重畳する変調成分の中点エラー信号ＣＥへの影響を除去するように設定すると、対物レンズ１０５が軸ずれした場合にトラッキングエラー補正信号ＴＥにＤＣオフセットが重畳するおそれがある。
【００８６】
そこで、本実施形態１では、中点エラー信号ＣＥに重畳した変調成分を低域通過フィルタ部２０７によって除去し、変調成分を除去した信号に基づいて、対物レンズ１０５の軸ずれ量を０に近付ける中点制御を中点制御部２０９により行うようにしている。これにより、中点制御の精度が高められる。
【００８７】
＜切替え信号ＬＰＦの決定処理＞
次に、マイコン部２０８による切替え信号ＬＰＦの決定処理について、図１２のフローチャートを参照して説明する。
【００８８】
切替え信号ＬＰＦを決定する図１２の処理は、光ディスク７００がディスクモータ６００の回転により、例えば、図１の光ディスク装置が起動するとき等の所定の回転速度、あるいは再生時又は記録時の回転速度で回転し、フォーカス制御が実行され、トラッキング制御が実行されておらず、アクチュエータ駆動部３００により出力される駆動電流ＡＣＴＤＲＶがほぼ０で、かつ光ピックアップ１００が対物レンズ１０５を支持して意図的に軸ずれを生じさせてない状態（以下、「切替え信号決定状態」と呼ぶ）で実行される。上述のように、中点エラー信号ＣＥの変調成分は、光ディスク７００の偏芯量とディスクモータ６００の回転速度とに比例するので、装填される光ディスク７００、及び光ディスク７００の回転速度に応じて、低域通過フィルタ部２０７の出力が切り換えられる。
【００８９】
上記切替え信号決定状態では、第１のトラッキングエラー信号ＴＥ１、第２のトラッキングエラー信号（Ｋ×ＴＥ２）、トラッキングエラー補正信号ＴＥ、および中点エラー信号ＣＥに重畳する変調成分の周波数は、ディスクモータ６００の回転数と光ディスク７００の偏芯量とに比例する。
【００９０】
最初に（ＳＴＥＰ１００）にて、マイコン部２０８が、ディスクモータ６００により出力される回転情報を示す信号（図１には明記せず）に基づいて、ディスクモータ６００の所定時間あたりの回転数を測定する。ここで、測定された回転数と、予め定めた回転数、光ディスク７００に対する記録時の回転数、又は再生時の回転数との差が、予め設計した誤差範囲内に収まっているか否かを判定する。当該差が前記誤差範囲内に収まっていると判定された場合には、処理が（ＳＴＥＰ１０１）に進む一方、当該差が前記誤差範囲内に収まっていないと判定された場合には、処理が（ＳＴＥＰ１３５）に進む。
【００９１】
（ＳＴＥＰ１０１）では、マイコン部２０８が、光ディスク装置がフォーカス制御状態であるか否かを判定する。光ディスク装置がフォーカス制御状態でないと判定された場合には、処理が（ＳＴＥＰ１３５）に進む一方、光ディスク装置がフォーカス制御状態であると判定された場合には、処理が（ＳＴＥＰ１１０）に進む。
【００９２】
（ＳＴＥＰ１１０）では、マイコン部２０８が、中点エラー信号ＣＥの周期を測定する。ここでの中点エラー信号ＣＥの周期の測定方法の詳細については後述する。
【００９３】
（ＳＴＥＰ１２０）では、マイコン部２０８が、光ディスク装置がフォーカス制御状態であるか否かを再度判定する。この判定を行うのは中点エラー信号ＣＥの周期測定中に光ディスク装置がフォーカス制御状態でなくなる可能性があるからである。光ディスク装置がフォーカス制御状態でないと判定された場合には、処理が（ＳＴＥＰ１３５）に進む一方、光ディスク装置がフォーカス制御状態であると判定された場合には、処理が（ＳＴＥＰ１３０）に進む。
【００９４】
（ＳＴＥＰ１３０）では、マイコン部２０８が、（ＳＴＥＰ１１０）にて測定した中点エラー信号ＣＥの周期が予め設計した周期ＴＨ（２[ｍｓｅｃ（ミリ・秒）]）以上であるか否かを判定する。測定した周期が周期ＴＨ以上である場合には、処理が（ＳＴＥＰ１３１）に進む一方、測定した周期が周期ＴＨ未満である場合には、処理が（ＳＴＥＰ１３２）に進む。
【００９５】
（ＳＴＥＰ１３１）では、マイコン部２０８が、切替え信号ＬＰＦをＨレベルに決定して出力し、切替え信号ＬＰＦの決定処理を終了する。つまり、切替え信号ＬＰＦは、低域通過フィルタ部２０７にＬＰＦ２０７ａの出力である低周波数成分を出力させるものとなる。
【００９６】
（ＳＴＥＰ１３２）では、マイコン部２０８が、切替え信号ＬＰＦをＬレベルに決定して出力し、切替え信号ＬＰＦの決定処理を終了する。つまり、切替え信号ＬＰＦは、低域通過フィルタ部２０７に中点エラー信号ＣＥをそのまま出力させるものとなる。
【００９７】
（ＳＴＥＰ１３５）では、マイコン部２０８は、エラーが生じた場合の設定を行い、切替え信号ＬＰＦを決定しないまま切替え信号ＬＰＦの決定処理を終了する。
【００９８】
なお、本実施形態１では、マイコン部２０８が、（ＳＴＥＰ１１０）における中点エラー信号ＣＥの周期測定処理の前後に、光ディスク装置がフォーカス制御状態であるか否かを判断する処理（（ＳＴＥＰ１０１），（ＳＴＥＰ１２０））を実行したが、これらの処理を省略してもよい。
【００９９】
次に、（ＳＴＥＰ１１０）における中点エラー信号ＣＥの周期測定処理について図１３を参照して詳述する。
【０１００】
図１３はマイコン部２０８内の信号の波形を示し、図１３（ａ）は中点エラー信号ＣＥ、図１３（ｂ）は２値化部２０８ａにより出力される２値化パルス信号、図１３（ｃ）はエッジ検出部２０８ｂにより出力されるタイミング信号、図１３（ｄ）はカウンタ部２０８ｃにより出力される間隔信号、図１３（ｅ）は周期最大値保存部２０８ｄにより保存されている周期最大値、図１３（ｆ）はリセット信号を示す。
【０１０１】
まず、時刻ｍ０において、マイコン部２０８のリセット信号発行部がリセット信号を発行する。リセット信号によって、カウンタ部２０８ｃのカウント値（間隔信号）と周期最大値保存部２０８ｄにより保存されている周期最大値とが０にリセットされて、以前の測定データがクリアされる。
【０１０２】
次に、時刻ｍ１において、図１３（ａ）に示すようにマイコン部２０８が中点エラー信号ＣＥを受信し始め、中点エラー信号ＣＥが０（ゼロ）より大きくなる。この０より大きくなった中点エラー信号ＣＥに応じて、２値化部２０８ａが２値化パルス信号としてＨレベルを出力する。エッジ検出部２０８ｂは２値化パルス信号がＬレベルからＨレベルに切り替わったので、その立ち上がりタイミングを示すタイミング信号を出力する。カウンタ部２０８ｃは、エッジ検出部２０８ｂにより出力されたタイミング信号により示される立ち上がりタイミングで内部カウント値をゼロクリアし、カウントを開始する。このとき周期最大値保存部２０８ｄは、周期最大値としてゼロを保存している。
【０１０３】
そして、時刻ｍ１から時刻ｍ２までの期間に、照射スポット７０４、７０５、７０６が光ディスク７００のトラックを１トラック分だけ横断し、この期間の中点エラー信号ＣＥの変調成分の変化が、１周期分の変化に相当する。
【０１０４】
時刻ｍ２を過ぎると中点エラー信号ＣＥは再び０より大きくなり、時刻ｍ１を過ぎたときと同様に、２値化部２０８ａにより出力される２値化パルス信号が再びＬからＨと変化し、この変化に応じて、エッジ検出部２０８ｂがその立ち上がりタイミングを示すタイミング信号をカウンタ部２０８ｃに出力する。
【０１０５】
カウンタ部２０８ｃは時刻ｍ１から時刻ｍ２までのカウント値（Ｔ１）を周期最大値保存部２０８ｄに出力した後に、エッジ検出部２０８ｂにより出力されたタイミング信号を受けて、内部カウント値をゼロクリアし、再びカウントを開始する。
【０１０６】
周期最大値保存部２０８ｄは、それまで保存していた保存値０と時刻ｍ２にてカウンタ部２０８ｃにより出力されたカウント値（Ｔ１）とを比較し、カウント値（Ｔ１）が０よりも大きいので、周期最大値としてＴ１を保存する。
【０１０７】
その後、上述のような動作が繰り返され、時刻ｍ３から時刻ｍ４までのカウント値（Ｔ２）がそれまでに保存された周期最大値（Ｔ１）よりも大きくなり、周期最大値が周期最大値保存部２０８ｄによりＴ２に更新される。
【０１０８】
さらに上述のような動作が時刻ｍ１１まで繰り返され、周期最大値保存部２０８ｄが周期最大値（Ｔ２）を中点エラー信号ＣＥの周期として出力し、遮断周波数決定部２０８ｅにより、この周期が周期ＴＨ以上であるか否かが判定され、この判定結果に基づいて、切替え信号ＬＰＦが出力される。
【０１０９】
なお、本実施形態では、エッジ検出部２０８ｂが２値化部２０８ａの立ち上がりエッジを検出したが、立ち下がりエッジを検出するようにしてもよい。
【０１１０】
また、中点エラー信号ＣＥの変調成分に不要な雑音が重畳してカウンタ部２０８ｃによる誤カウントを発生させるおそれがあるが、このような誤カウントを防止するために、２値化部２０８ａの２値化閾値にヒステリシス特性を持たせたり、各種の誤カウントマスク処理を設けてもよい。
【０１１１】
さらに、本実施形態では、マイコン部２０８が、（ＳＴＥＰ１３０）にて中点エラー信号ＣＥの周期の最大値が周期ＴＨ以上であるか否かを判断する構成としたが、予め設計した周期ＴＨと比較する値を、中点エラー信号周期の平均値としてもよいし、周期の最大値から所定の値を減算して得た最大値近傍の値としてもよい。
【０１１２】
さらに、（ＳＴＥＰ１１０）にて測定され、（ＳＴＥＰ１３０）にて周期ＴＨと比較される周期は、所定の時間内に測定した中点エラー信号ＣＥの複数の周期のうちの最大値であったが、前記複数の周期の平均値としても、前記最大値から所定の値を減算して得た最大値近傍の値としてもよい。
【０１１３】
＜光ディスク装置の動作＞
図１４は、シーク制御状態及びトラッキング制御状態における光ディスク装置内の信号波形を示す。図１４（ａ）は、マイコン部２０８により出力される制御切替え信号ＳＷ、図１４（ｂ）は、スレッド駆動部４００により出力される駆動電流ＳＬＤＤＲＶ、図１４（ｃ）は、アクチュエータ駆動部３００により出力される駆動電流ＡＣＴＤＲＶ、図１４（ｄ）は、第１のトラッキングエラー信号ＴＥ１を示す。シーク制御状態では、光ディスク７００に対する情報の再生及び記録のために照射スポット７０４，７０５，７０６が所望のトラックへ移動する。
【０１１４】
図１４では、光ディスク装置の状態を一旦トラッキング制御状態からシーク制御状態に遷移させ、その後再びトラッキング制御状態に遷移させている。
【０１１５】
時刻ａ０から時刻ａ１の区間において、光ディスク装置はトラッキング制御状態であり、図１４（ａ）に示すように、マイコン部２０８は制御切替え信号ＳＷとしてＨレベルを出力する。切替えスイッチ２１０はこのＨレベルの制御切替え信号ＳＷに応じて、トラッキング制御部２０５により出力された駆動信号ＴＲＤＲＶを選択してアクチュエータ駆動信号ＡＣＴとして出力し、アクチュエータ駆動部３００は、図１４（ｃ）に示すように、トラッキング制御部２０５により出力された駆動信号ＴＲＤＲＶ（アクチュエータ駆動信号ＡＣＴ）を駆動電流ＡＣＴＤＲＶに変換してアクチュエータ１０６に出力する。
【０１１６】
このとき、主ビーム及び副ビームは所望のトラック上を走査しており、光ピックアップ１００を光ディスク７００の径方向に駆動する必要がないので、スレッド駆動部４００により出力される駆動電流ＳＬＤＤＲＶは０である。
【０１１７】
アクチュエータ１０６は、アクチュエータ駆動部３００により出力された駆動電流ＡＣＴＤＲＶに基づいて、対物レンズ１０５を駆動する。このとき、駆動電流ＡＣＴＤＲＶは駆動信号ＴＲＤＲＶに基づいており、この駆動信号ＴＲＤＲＶは、図１４（ｄ）に示すように、第１のトラッキングエラー信号ＴＥ１が略０となるように生成されるので、照射スポット７０４、７０５、７０６は対物レンズ１０５を介して光ディスク７００上に照射されて所望のトラック上を走査する。
【０１１８】
続いて時刻ａ１になると、光ディスク装置は、照射スポット７０４、７０５、７０６を時刻ａ０から時刻ａ１までの区間において走査していたトラックとは異なるトラックへ移動させるため、シーク制御状態に状態を変化させる。
【０１１９】
まず、マイコン部２０８が、図１４（ａ）に示すように、制御切替え信号ＳＷをＨレベルからＬレベルに切り替える。切替えスイッチ２１０はこのＬレベルの制御切替え信号ＳＷに応じて、中点制御部２０９により出力された駆動信号ＣＥＤＲＶを選択してアクチュエータ駆動信号ＡＣＴとして出力する。
【０１２０】
なお、時刻ａ１から時刻ａ２にかけて、スレッド駆動部４００は、図１４（ｂ）に示すように、光ピックアップ１００を光ディスク７００の所望のトラックに移動させるようにスレッドモータ５００が加速するように、駆動電流ＳＬＤＤＲＶを出力する。
【０１２１】
スレッドモータ５００の速度は時刻ａ１のときに０であるが、時刻ａ１から時刻ａ２にかけて加速されるので、図７を用いて説明した通り、光ピックアップ１００には外力が働き、その結果として対物レンズ１０５にも外力が働き、軸ずれが発生する。しかし、切替えスイッチ２１０が、中点制御部２０９により出力された駆動信号ＣＥＤＲＶをアクチュエータ駆動部３００に出力するので、アクチュエータ駆動部３００は対物レンズ１０５が軸ずれしないように、駆動信号ＣＥＤＲＶを図１４（ｃ）に示すような駆動電流ＡＣＴＤＲＶに変換して出力する。
【０１２２】
アクチュエータ１０６はアクチュエータ駆動部３００により出力された駆動電流ＡＣＴＤＲＶに基づいて対物レンズ１０５を駆動し、これにより、対物レンズ１０５が軸ずれすることなく制御される。したがって、第１のトラッキングエラー信号ＴＥ１は、図１４（ｄ）に示すように、照射スポット７０４が光ディスク７００上のトラックを横断することに起因して変化する。
【０１２３】
ただし、上記のように対物レンズ１０５は軸ずれのない状態に制御されているので、第１のトラッキングエラー信号ＴＥ１にはＤＣオフセットが重畳されない。
【０１２４】
次に時刻ａ２になると、光ピックアップ１００を光ディスク７００の径方向に移動させるスレッドモータ５００が、図１４（ｂ）に示すように、最高速度の状態を保持しながら、略一定の速度で回転をする。
【０１２５】
マイコン部２０８は、図１４（ａ）に示すように、制御切替え信号ＳＷをＬに維持する。切替えスイッチ２１０は、このＬレベルの制御切替え信号ＳＷに応じて、中点制御部２０９により出力された駆動信号ＣＥＤＲＶを選択してアクチュエータ駆動信号ＡＣＴとして出力する。
【０１２６】
スレッドモータ５００の状態は、図１４（ｂ）に示すように、加速状態から速度一定の状態に推移し、光ピックアップ１００へ働く外力は小さくなる。更に時刻ａ１で光ピックアップ１００に働いた外力の影響は、中点制御部２０９により出力された駆動信号ＣＥＤＲＶにより抑圧されたため、アクチュエータ駆動部３００の出力も図１４（ｃ）に示すように略０となり、対物レンズ１０５の軸ずれも略０に制御される。
【０１２７】
したがって、対物レンズ１０５が軸ずれのない状態に制御されているので、図１４（ｄ）に示すように、第１のトラッキングエラー信号ＴＥ１にはＤＣオフセットが重畳されない。
【０１２８】
続いて時刻ａ３において、照射スポット７０４が所望のトラックに近づいてくると、図１４（ｂ）に示すように、スレッド駆動部４００は、スレッドモータ５００が減速するように駆動電流ＳＬＤＤＲＶを出力する。
【０１２９】
時刻ａ３においても、マイコン部２０８は、図１４（ａ）に示すように、制御切替え信号ＳＷをＬに維持する。切替えスイッチ２１０は、このＬレベルの制御切替え信号ＳＷに応じて、中点制御部２０９により出力された駆動信号ＣＥＤＲＶを選択してアクチュエータ駆動信号ＡＣＴとして出力する。
【０１３０】
時刻ａ３から時刻ａ４にかけて、スレッドモータ５００の減速に伴い、図７を用いて説明した通り、光ピックアップ１００には外力が働き、その結果として対物レンズ１０５にも外力が働き、軸ずれが発生する。しかし、このとき切替えスイッチ２１０は中点制御部２０９により出力された駆動信号ＣＥＤＲＶを選択しているため、アクチュエータ駆動部３００は対物レンズ１０５が軸ずれしないように生成された駆動信号ＣＥＤＲＶを、図１４（ｃ）に示すような駆動電流ＡＣＴＤＲＶに変換して出力する。
【０１３１】
アクチュエータ１０６は、アクチュエータ駆動部３００により出力された駆動電流ＡＣＴＤＲＶに基づいて対物レンズ１０５を駆動し、これにより、対物レンズ１０５が軸ずれすることなく制御される。
【０１３２】
したがって、上述のように対物レンズ１０５は軸ずれのない状態に制御されるので、図１４（ｄ）に示すように、第１のトラッキングエラー信号ＴＥ１にはＤＣオフセットが重畳されない。
【０１３３】
そして、時刻ａ４において、照射スポット７０４は所望のトラック近傍に到達し、図１４（ｂ）に示すようにスレッド駆動部４００により出力される駆動電流ＳＬＤＤＲＶは０となり、スレッドモータ５００が停止する。これにより、照射スポット７０４が光ディスク７００上のトラックを横断する速度も低下し、第１のトラッキングエラー信号ＴＥ１の周期が大きくなる。
【０１３４】
マイコン部２０８は、図１４（ａ）に示すように、時刻ａ３から時刻ａ４にかけて、制御切替え信号ＳＷをＬレベルに保持する。切替えスイッチ２１０は、このＬレベルの制御切替え信号ＳＷに応じて、中点制御部２０９により出力された駆動信号ＣＥＤＲＶを選択してアクチュエータ駆動信号ＡＣＴとして出力する。
【０１３５】
そして、照射スポット７０４のトラックを横断する速度が十分に低下し、第１のトラッキングエラー信号ＴＥ１の周期がトラッキング引きこみ可能な周期よりも大きくなると、マイコン部２０８は、図１４（ａ）に示すように、制御切替え信号ＳＷをＨレベルに切り換える。切替えスイッチ２１０は、このＨレベルの制御切替え信号ＳＷに応じて、トラッキング制御部２０５により出力された駆動信号ＴＲＤＲＶを選択してアクチュエータ駆動信号ＡＣＴとして出力する。アクチュエータ駆動部３００は、図１４（ｃ）に示すように、トラッキング制御ループを閉じて、照射スポット７０４を所望のトラックに位置決めするように駆動信号ＡＣＴＤＲＶを出力する。
【０１３６】
このように照射スポット７０４が所望のトラックに位置決めされたので、第１のトラッキングエラー信号ＴＥ１もまた、照射スポット７０４に光ディスク７００上のトラックを横断させるときのレベルから略０に変化する。
【０１３７】
以上のように、対物レンズ１０５の軸ずれを制御しながら、照射スポット７０４を所望のトラックに安定して移動させるシーク制御を実現することができる。
【０１３８】
《実施形態２》
本発明の実施形態２に係る光ディスク装置は、図１５に示すように、実施形態１に係る光ディスク装置の構成に加え、レンズシフト駆動部２１１を備え、実施形態１のマイコン部２０８及び切替えスイッチ２１０に代えて、マイコン部２１３及び切替えスイッチ２１２を備えている。レンズシフト駆動部２１１、マイコン部２１３及び切替えスイッチ２１２は、集積回路２００の一部を構成している。
【０１３９】
また、マイコン部２１３では、リセット信号発行部が、実施形態１のリセット信号に代えて、第１リセット信号（ＲＥＳＥＴ１）及び第２リセット信号（ＲＥＳＥＴ２）を出力する。
【０１４０】
マイコン部２１３は、図１６に示すように、実施形態１の周期測定部２０８ｆ及び遮断周波数決定部２０８ｅに代えて、平均値・振幅測定部２１３ｆ及び遮断周波数決定部２１３ｅを備えている。
【０１４１】
平均値・振幅測定部２１３ｆは、レベル測定部２１３ａ、レベル保存部２１３ｂ、振幅測定部２１３ｃ、及び振幅最大値保存部２１３ｄを備えている。
【０１４２】
レベル測定部２１３ａは、リセット信号発行部により前回第１リセット信号が出力されてから所定期間、中点エラー信号取得部２０６により出力される中点エラー信号ＣＥのレベルを測定して保存し、その所定期間分の平均値を算出する。第１リセット信号は、レベル測定部２１３ａの初期化のためのトリガ信号となり、第１リセット信号が発行される毎に保存された測定値がゼロクリア（リセット）される。
【０１４３】
レベル保存部２１３ｂには、レベル測定部２１３ａにより算出された平均値が保存される。レベル保存部２１３ｂに保存された平均値も、第１リセット信号が発行される毎にゼロクリア（リセット）される。つまり、第１リセット信号がレベル保存部２１３ｂの初期化のためのトリガ信号となっている。
【０１４４】
振幅測定部２１３ｃは、中点エラー信号取得部２０６により出力される中点エラー信号ＣＥを受信し、その振幅を測定する。詳しくは、振幅測定部２１３ｃは、リセット信号発行部により前回第２リセット信号が出力されてから所定期間経過後までに受信した中点エラー信号ＣＥの最大値及び最小値を求め、求めた最大値と最小値の差分を、中点エラー信号ＣＥの振幅として算出する。
【０１４５】
振幅最大値保存部２１３ｄには、振幅測定部２１３ｃにより算出された中点エラー信号ＣＥの振幅が書き込まれる。
【０１４６】
第２リセット信号は振幅測定部２１３ｃ及び振幅最大値保存部２１３ｄを初期化する機能を備え、第２リセット信号が発行されると振幅測定部２１３ｃ及び振幅最大値保存部２１３ｄの内部保存値が一旦ゼロクリア（リセット）される。
【０１４７】
遮断周波数決定部２１３ｅは、レベル保存部２１３ｂの保存値と振幅最大値保存部２１３ｄの保存値に基づいて、切替え信号ＬＰＦを出力する。詳しくは、レベル保存部２１３ｂの保存値に対する振幅最大値保存部２１３ｄの保存値の比が、所定の閾値Ａｍｐ以上である場合には、切替え信号ＬＰＦは、低域通過フィルタ部２０７にＬＰＦ２０７ａの出力である低周波数成分を出力させるものとなる。一方、レベル保存部２１３ｂの保存値に対する振幅最大値保存部２１３ｄの保存値の比が、所定の閾値Ａｍｐ未満である場合には、切替え信号ＬＰＦは、低域通過フィルタ部２０７に中点エラー信号ＣＥをそのまま出力させるものとなる。ここで、レベル保存部２１３ｂの保存値に対する振幅最大値保存部２１３ｄの保存値の比は、照射スポット７０４、７０５、７０６が光ディスク７００のトラックを横断することによって生じる変調成分の中点エラー信号ＣＥに対する割合を定量化したものである。
【０１４８】
また、マイコン部２１３は、レンズシフト駆動開始信号ＬＳ＿ＳＴＡＲＴ及びレンズシフト駆動停止信号ＬＳ＿ＳＴＯＰを出力する。
【０１４９】
レンズシフト駆動部２１１は、駆動信号ＬＳＤを出力する。マイコン部２１３によりレンズシフト駆動開始信号ＬＳ＿ＳＴＡＲＴが出力されている場合、この駆動信号ＬＳＤは、対物レンズ１０５がシーク制御時に軸ずれする大よその軸ずれ量に相当する駆動量、対物レンズ１０５を移動させるものとなる。具体的には、このときの駆動信号ＬＳＤは、対物レンズ１０５を２００[μｍ]だけ軸ずれさせるものとなる。一方、マイコン部２１３によりレンズシフト駆動停止信号ＬＳ＿ＳＴＯＰが出力されている場合、駆動信号ＬＳＤは、０、すなわち、対物レンズ１０５の軸ずれ量を０にするものとなる。
【０１５０】
また、切替えスイッチ２１２は、マイコン部２０８により出力された制御切替え信号ＳＷがＨ（High）レベルであるときには、トラッキング制御部２０５により出力された駆動信号ＴＲＤＲＶを出力し、制御切替え信号ＳＷがＭ（Middle）レベルであるときには、レンズシフト駆動部２１１の出力を出力し、制御切替え信号ＳＷがＬ（Low）レベルであるときには、中点制御部２０９により出力された駆動信号ＣＥＤＲＶを出力する。
【０１５１】
その他の構成は、実施形態１の光ディスク装置と同じである。
【０１５２】
＜切替え信号ＬＰＦの決定処理＞
次に、マイコン部２１３による切替え信号ＬＰＦの決定処理について、図１７のフローチャートを参照して説明する。なお、図１７において、図１２と同じ処理を行うステップについては、図１２と同じ符号を付してその説明を省略する。
【０１５３】
また、図１７の処理も、実施形態１の図１２の処理と同様に、上述した切替え信号決定状態で実行される。
【０１５４】
本実施形態２では、マイコン部２１３が、実施形態１の（ＳＴＥＰ１１０）の処理に代えて、以下に説明する（ＳＴＥＰ１４０）の処理を実行する。
【０１５５】
（ＳＴＥＰ１４０）では、まず、（ＳＴＥＰ１４１）において、マイコン部２１３が、Ｍレベルの制御切替え信号ＳＷを出力する。切替えスイッチ２１２は、マイコン部２１３からのこの制御切替え信号ＳＷに基づいて、レンズシフト駆動部２１１の出力を選択して出力する。また、マイコン部２１３は、レンズシフト駆動開始信号ＬＳ＿ＳＴＡＲＴを出力する。これにより、レンズシフト駆動部２１１は、対物レンズ１０５を一定距離だけ軸ずれさせる駆動信号ＬＳＤを出力し、処理が（ＳＴＥＰ１４２）に進む。
【０１５６】
（ＳＴＥＰ１４２）では、マイコン部２１３のリセット信号発行部が第１リセット信号を発行し、レベル測定部２１３ａおよびレベル保存部２１３ｂの内部保存値を一旦ゼロクリアする。そして、レベル測定部２１３ａが中点エラー信号ＣＥのレベルを所定時間測定し、所定時間分の中点エラー信号ＣＥの平均値を算出してレベル保存部２１３ｂに書き込み、処理が（ＳＴＥＰ１４３）に進む。
【０１５７】
その後、（ＳＴＥＰ１４３）において、マイコン部２１３が、レンズシフト駆動停止信号ＬＳ＿ＳＴＯＰを出力し、レンズシフト駆動部２１１がこのレンズシフト駆動停止信号ＬＳ＿ＳＴＯＰに基づき、その出力を０にする。また、マイコン部２１３は、Ｌレベルの制御切替え信号ＳＷを出力する。切替えスイッチ２１２は、マイコン部２１３からのこの制御切替え信号ＳＷに基づいて、中点制御部２０９の出力を選択してアクチュエータ駆動部３００に出力する。そして、処理が（ＳＴＥＰ１４４）に進む。
【０１５８】
（ＳＴＥＰ１４４）では、上記図１６を用いて説明した通り、振幅測定部２１３ｃが所定期間中の中点エラー信号ＣＥの振幅最大値を算出し、振幅最大値保存部２１３ｄに書き込む。
【０１５９】
また、マイコン部２１３は、実施形態１の（ＳＴＥＰ１３０）の処理に代えて、以下に説明する（ＳＴＥＰ１５０）の処理を実行する。
【０１６０】
（ＳＴＥＰ１５０）では、マイコン部２１３の遮断周波数決定部２１３ｅが、（ＳＴＥＰ１４２）でレベル保存部２１３ｂに書き込まれた保存値（平均値）と、（ＳＴＥＰ１４４）で振幅最大値保存部２１３ｄに書き込まれた保存値（振幅最大値）とを読み出し、レベル保存部２１３ｂの保存値に対する振幅最大値保存部２１３ｄの保存値の比が、所定の閾値Ａｍｐ以上であるか否かを判定する。当該比が、所定の閾値Ａｍｐ以上である場合には処理が（ＳＴＥＰ１３１）に進む一方、当該比が、所定の閾値Ａｍｐ未満である場合には処理が（ＳＴＥＰ１３２）に進む。
【０１６１】
＜光ディスク装置の動作＞
図１８は、ここで、上記（ＳＴＥＰ１４１）から（ＳＴＥＰ１４４）までの処理が実行されるときの光ディスク装置内の信号波形を示す。図１８（ａ）は、マイコン部２１３により出力される制御切替え信号ＳＷ、図１８（ｂ）は、アクチュエータ駆動部３００により出力される駆動電流ＡＣＴＤＲＶ、図１８（ｃ）は、中点エラー信号取得部２０６により取得される中点エラー信号ＣＥを示す。
【０１６２】
時刻ｔ１０は（ＳＴＥＰ１０１）を終了した状態を示す。
【０１６３】
時刻ｔ１１では、マイコン部２１３がＭレベルの制御切替え信号ＳＷを出力する。切替えスイッチ２１２は、この制御切替え信号ＳＷに応じて、アクチュエータ駆動部３００への出力として、レンズシフト駆動部２１１の出力を選択する。
【０１６４】
時刻ｔ１２では、マイコン部２１３がレンズシフト駆動開始信号ＬＳ＿ＳＴＡＲＴを出力し、これに応じて、レンズシフト駆動部２１１が、対物レンズ１０５を一定距離だけ軸ずれさせる駆動信号ＬＳＤを出力する。この駆動信号ＬＳＤは、アクチュエータ駆動部３００により駆動電流ＡＣＴＤＲＶに変換されてアクチュエータ１０６に入力される。アクチュエータ１０６は、駆動信号ＬＳＤに基づく駆動電流ＡＣＴＤＲＶに応じて、対物レンズ１０５を２００[μｍ]だけ軸ずれさせる。すると、中点エラー信号ＣＥは、対物レンズ１０５の軸ずれ量（２００[μｍ]）に応じたＤＣオフセットが中点エラー信号ＣＥに重畳する。
【０１６５】
マイコン部２１３内のレベル測定部２１３ａは、時間ｔ１２からｔ１３の期間の中点エラー信号ＣＥのレベルの平均値を算出する。算出された平均値は、ＤＣオフセットの大きさ（図１８（ｃ）においてＬＶＬ＿ＬＳと示す）として、閾値Ａｍｐを算出するために使用される。
【０１６６】
時間ｔ１３では、マイコン部２１３がレンズシフト駆動停止信号ＬＳ＿ＳＴＯＰを出力し、これに応じて、レンズシフト駆動部２１１が、対物レンズ１０５を軸ずれさせるための駆動量を０にする０の駆動信号を出力する。この０の駆動信号は、アクチュエータ駆動部３００により駆動電流ＡＣＴＤＲＶに変換されてアクチュエータ１０６に入力される。アクチュエータ１０６はアクチュエータ駆動部３００からの駆動電流ＡＣＴＤＲＶに応じて、対物レンズ１０５の軸ずれを略０にする。これにより、中点エラー信号ＣＥに重畳するＤＣオフセット量も略０となる。
【０１６７】
一方、マイコン部２１３は、Ｌレベルの制御切替え信号ＳＷを出力する。切替えスイッチ２１２は、この制御切替え信号ＳＷに応じて、アクチュエータ駆動部３００への出力として、中点制御部２０９の出力を選択する。
【０１６８】
このように、時刻ｔ１３において（ＳＴＥＰ１４３）までの処理が完了する。
【０１６９】
次に、マイコン部２１３のリセット信号発行部が、第２リセット信号（ＲＥＳＥＴ２）を発行し、振幅測定部２１３ｃ及び振幅最大値保存部２１３ｄの内部保存値を一旦ゼロクリアしてから、振幅測定部２１３ｃが中点エラー信号ＣＥの振幅最大値を算出する。
【０１７０】
詳しくは、時刻ｔ１３から時刻ｔ１４までの間に入力される中点エラー信号ＣＥのサンプル値の最大値（図１８（ｃ）にＡｍｐ＋と示す）と最小値（図１８（ｃ）にＡｍｐ−と示す）を検出し、時刻ｔ１４でその最大値と最小値との差（（Ａｍｐ＋）−（Ａｍｐ−））を振幅最大値として出力する。
【０１７１】
＜閾値Ａｍｐの設計方法＞
アクチュエータ１０６のトラッキング１次共振周波数帯域の開ループ特性のゲインが２０[ｄＢ]であるとすると、シーク制御等による軸ずれ量を０．１倍まで抑圧できる。
【０１７２】
そこで、上記遮断周波数決定部２１３ｅにおいて用いられる閾値Ａｍｐは、以下の式（６）に示すように、駆動信号ＬＳＤに基づく軸ずれによって中点エラー信号ＣＥに生じるＤＣオフセット量ＬＶＬ＿ＬＳの０．１倍、すなわち２０［μｍ］に設定される。これにより、変調成分の振幅として、シーク制御時における大よその軸ずれ量の０．１倍までが許容される。
【０１７３】
Ａｍｐ＝ＬＶＬ＿ＬＳ×０．１ ・・・式（６）
以上のように、低域通過フィルタ部２０７の出力を選択することによって、光ディスク７００のトラックを横断した際の変調成分の影響を受けない中点エラー信号ＣＥを中点制御部２０９に入力でき、中点制御部２０９が本来制御するべき対物レンズ１０５の軸ずれ成分を制御できる。
【０１７４】
さらに、シーク制御時のようにスレッドモータ５００が回転して、照射スポット７０４、７０５、７０６が光ディスク７００のトラックを横断する速度が速くなり、その結果として中点エラー信号ＣＥに変調成分が重畳しても、その変調成分をＬＰＦ２０７ａによって除去することができ、中点制御時の不要な消費電流を抑制することができる。
【０１７５】
なお、本実施形態２では、マイコン部２０８が、（ＳＴＥＰ１４０）の前後に、光ディスク装置がフォーカス制御状態であるか否かを判断する処理（（ＳＴＥＰ１０１），（ＳＴＥＰ１２０））を実行したが、これらの処理を省略してもよい。
【０１７６】
なお、切替え信号ＬＰＦを決定した後の、トラッキング制御状態とシーク制御状態における本実施形態２に係る光ディスク装置の動作は、実施形態１に係る光ディスク装置について図１４を参照して説明した動作と同様になる。
【０１７７】
《実施形態３》
本発明の実施形態３に係る光ディスク装置は、図１９に示すように、実施形態２のマイコン部２１３に代えて、マイコン部２１４を備えている。
【０１７８】
このマイコン部２１４は、図２０に示すように、実施形態１の周期測定部２０８ｆと、実施形態２の平均値・振幅測定部２１３ｆと、遮断周波数決定部２１４ａとを備えている。
【０１７９】
遮断周波数決定部２１４ａは、周期最大値保存部２０８ｄにより出力された周期最大値と、レベル保存部２１３ｂの保存値と、振幅最大値保存部２１３ｄの保存値とに基づいて、切替え信号ＬＰＦを出力する。詳しくは、レベル保存部２１３ｂの保存値に対する振幅最大値保存部２１３ｄの保存値の比が、所定の閾値Ａｍｐ以上であるという条件と、周期最大値保存部２０８ｄにより出力された周期最大値が予め設計したＴＨ（２[ｍｓｅｃ]）以上であるという条件とのうちの少なくとも一方が満たされている場合には、切替え信号ＬＰＦは、低域通過フィルタ部２０７にＬＰＦ２０７ａの出力である低周波数成分を出力させるものとなる。一方、両条件が満たされていない場合には、切替え信号ＬＰＦは、低域通過フィルタ部２０７に中点エラー信号ＣＥをそのまま出力させるものとなる。
【０１８０】
その他の構成は、実施形態２の光ディスク装置と同じである。
【０１８１】
次に、マイコン部２１４による切替え信号ＬＰＦの決定処理について、図２１のフローチャートを参照して説明する。なお、図２１において、図１７と同じ処理を行うステップについては、図１７と同じ符号を付してその説明を省略する。
【０１８２】
また、図２１の処理も、実施形態２の図１７の処理と同様に、上述した切替え信号決定状態で実行される。
【０１８３】
本実施形態３では、マイコン部２１４が、実施形態２の（ＳＴＥＰ１５０）の処理に代えて、以下に説明する（ＳＴＥＰ１６０）の処理を実行する。また、（ＳＴＥＰ１４４）の処理と（ＳＴＥＰ１２０）の処理との間に実施形態１の（ＳＴＥＰ１１０）の処理を実行する。なお、（ＳＴＥＰ１４４）と（ＳＴＥＰ１１０）の実行順序は反対であってもよいし、（ＳＴＥＰ１４４）と（ＳＴＥＰ１１０）とが同時に実行されてもよい。
【０１８４】
（ＳＴＥＰ１６０）では、マイコン部２１４の遮断周波数決定部２１４ａが、（ＳＴＥＰ１４２）でレベル保存部２１３ｂに書き込まれた保存値（平均値）と、（ＳＴＥＰ１４４）で振幅最大値保存部２１３ｄに書き込まれた保存値（振幅最大値）とを読み出す。そして、遮断周波数決定部２１４ａは、レベル保存部２１３ｂの保存値に対する振幅最大値保存部２１３ｄの保存値の比が、所定の閾値Ａｍｐ以上であるという条件と、（ＳＴＥＰ１１０）にて測定した中点エラー信号ＣＥの周期が周期ＴＨ以上であるという条件とのうちの少なくとも一方が満たされているか否かを判定する。両条件の少なくとも一方が満たされている場合には、処理が（ＳＴＥＰ１３１）に進む一方、両条件が満たされていない場合には処理が（ＳＴＥＰ１３２）に進む。
【０１８５】
以上のように、低域通過フィルタ部２０７の出力を選択することによって、光ディスク７００のトラックを横断した際の変調成分の影響を受けない中点エラー信号ＣＥを中点制御部２０９に入力でき、中点制御部２０９が本来制御するべき対物レンズ１０５の軸ずれ成分を制御できる。
【０１８６】
さらに、シーク制御時のようにスレッドモータ５００が回転して、照射スポット７０４、７０５、７０６が光ディスク７００のトラックを横断する速度が速くなり、その結果として中点エラー信号ＣＥに変調成分が重畳しても、その変調成分をＬＰＦ２０７ａによって除去することができ、中点制御時の不要な消費電流を抑制することができる。
【０１８７】
なお、切替え信号ＬＰＦを決定した後の、トラッキング制御状態とシーク制御状態における本実施形態３に係る光ディスク装置の動作は、実施形態１に係る光ディスク装置について図１４を参照して説明した動作と同様になる。
【０１８８】
なお、本実施形態３では、マイコン部２１４が、（ＳＴＥＰ１４０）及び（ＳＴＥＰ１１０）の前後に、光ディスク装置がフォーカス制御状態であるか否かを判断する処理（（ＳＴＥＰ１０１），（ＳＴＥＰ１２０））を実行したが、これらの処理を省略してもよい。
【０１８９】
さらに、本実施形態３において、図２２に示すように、マイコン部２１４の遮断周波数決定部２１４ａが、（ＳＴＥＰ１６０）の処理に代えて、次の（ＳＴＥＰ１６１）の処理を実行するようにしてもよい。
【０１９０】
つまり、（ＳＴＥＰ１６１）では、遮断周波数決定部２１４ａが、レベル保存部２１３ｂの保存値に対する振幅最大値保存部２１３ｄの保存値の比が、所定の閾値Ａｍｐ以上であるという条件と、（ＳＴＥＰ１１０）にて測定した中点エラー信号ＣＥの周期が周期ＴＨ以上であるという条件との両方が満たされているか否かを判定する。両条件が満たされている場合には、処理が（ＳＴＥＰ１３１）に進む一方、両条件が満たされていない場合及び一方の条件が満たされていない場合には処理が（ＳＴＥＰ１３２）に進む。
【０１９１】
《実施形態４》
本発明の実施形態４に係る光ディスク装置は、図２３に示すように、実施形態１の低域通過フィルタ部２０７に代えて、低域通過フィルタ部２１５を備えている。
【０１９２】
低域通過フィルタ部２１５は、図２４に示すように、ＬＰＦ２０７ａを備えておらず、マイコン部２０８により出力される切替え信号ＬＰＦがＨレベルの場合に、前記中点エラー信号を所定の基準レベル（Ｌｅｖｅｌ）の固定信号に置き換えて中点エラー補正信号として出力する。切替え信号ＬＰＦがＬレベルの場合、低域通過フィルタ部２１５は、実施形態１の低域通過フィルタ部２０７と同様に、中点エラー信号取得部２０６により出力された中点エラー信号ＣＥをそのまま出力する。
【０１９３】
つまり、本実施形態３では、中点エラー信号ＣＥに予め設定された周期ＴＨ以上の不要な変調成分が重畳していると判定されている場合、中点制御部２０９への入力信号が基準レベルとされ、中点制御がホールド状態になる。
【０１９４】
その他の構成は、実施形態１の光ディスク装置と同じである。
【０１９５】
本実施形態４では、周期ＴＨに対応する周波数を、中点制御の開ループ特性ゲイン交点周波数近傍に設定することが望ましい。例えば、中点制御の開ループ特性ゲイン交点周波数が１００[Ｈｚ]以下に設定された場合、周期ＴＨに対応する周波数も１００[Ｈｚ]近傍に設定されることが望ましい。
【０１９６】
周期ＴＨに対応する周波数を、中点制御の開ループ特性ゲイン交点周波数近傍に設定することにより、周期ＴＨ、及び中点制御の開ループ特性ゲイン交点周波数に対応する周期よりも長い周期の不要な変調成分が中点エラー信号ＣＥに重畳した場合においても、中点制御による誤制御を防止することができ、シーク制御の不安定化を防止できる。
【０１９７】
なお、本実施形態４は、上記実施形態２、及び実施形態３にも適用できる。
【０１９８】
《実施形態５》
本発明の実施形態５に係る光ディスク装置は、図２５及び図２６に示すように、実施形態１の中点制御部２０９に代えて、中点制御部２１７を備えている。また、本発明の実施形態５に係る光ディスク装置には、低域通過フィルタ部２０７が設けられておらず、中点エラー信号取得部２０６により出力された中点エラー信号ＣＥが中点制御部２１７に直接入力される。
【０１９９】
中点制御部２１７は、図２７に示すように、中点制御フィルタ２１７ａと、中点制御切替え部２１７ｂとを備えている。
【０２００】
中点制御フィルタ２１７ａは、中点エラー信号ＣＥを０に近付けるように駆動信号を導出する。つまり、中点制御フィルタ２１７ａは、実施形態１の中点制御部２０９と同じ構成を有している。
【０２０１】
中点制御切替え部２１７ｂは、マイコン部２０８によりＨレベルの切替え信号ＬＰＦが出力されている場合には、所定の固定レベル（Ｌｅｖｅｌ）の固定信号を駆動信号ＣＥＤＲＶとして出力する一方、マイコン部２０８によりＬレベルの切替え信号ＬＰＦが出力されている場合には、中点制御フィルタ２１７ａにより出力された駆動信号を駆動信号ＣＥＤＲＶとして出力する。
【０２０２】
つまり、本実施形態５では、中点エラー信号ＣＥに予め設定された周期ＴＨ以上の不要な変調成分が重畳していると判定されている場合、中点制御部２１７により導出される駆動信号ＣＥＤＲＶが所定の固定信号にされ、中点制御がホールド状態になる。
【０２０３】
その他の構成は、実施形態１の光ディスク装置と同じである。
【０２０４】
本実施形態５では、周期ＴＨに対応する周波数を、中点制御の開ループ特性ゲイン交点周波数近傍に設定することが望ましい。例えば、中点制御の開ループ特性ゲイン交点周波数が１００[Ｈｚ]以下に設定された場合、周期ＴＨに対応する周波数も１００[Ｈｚ]近傍に設定されることが望ましい。
【０２０５】
周期ＴＨに対応する周波数を、中点制御の開ループ特性ゲイン交点周波数近傍に設定することにより、周期ＴＨ、及び中点制御の開ループ特性ゲイン交点周波数に対応する周期よりも長い周期の不要な変調成分が中点エラー信号ＣＥに重畳した場合においても、中点制御による誤制御を防止することができ、シーク制御の不安定化を防止できる。
【０２０６】
なお、本実施形態５は、実施形態２、及び実施形態３にも適用できる。
【０２０７】
なお、上記実施形態１〜３では、低域通過フィルタ部２０７に１つのＬＰＦ２０７ａのみを設けたが、低域通過フィルタ部２０７が、中点エラー信号ＣＥを受信するカットオフ周波数の異なる複数のＬＰＦを備え、いずれかのＬＰＦの出力を選択して出力するようにしてもよい。
【０２０８】
また、上記実施形態１〜３では、低域通過フィルタ部２０７が、複数のＬＰＦのうちのいずれか１つのＬＰＦの出力を選択するのではなく、マイコン部２０８により書き込まれた特性に応じて中点エラー信号ＣＥに対してフィルタ処理を行うようにしてもよい。
【０２０９】
さらに、上記実施形態１〜３では、一次のＬＰＦ２０７ａを用いたが、ＬＰＦ２０７ａの次数を２以上にしてもよい。
【０２１０】
また、上記実施形態２、３では、（ＳＴＥＰ１４１）〜（ＳＴＥＰ１４３）において、対物レンズ１０５を一定距離だけ軸ずれさせ、そのときの中点エラー信号ＣＥのレベルの平均値（ＬＶＬ＿ＬＳ）に基づいて式（６）により閾値Ａｍｐを決定した。しかし、（ＳＴＥＰ１４１）〜（ＳＴＥＰ１４３）を省略して、ＬＶＬ＿ＬＳを固定して閾値Ａｍｐを設定してもよい。
【０２１１】
また、上記実施形態１〜５では、光ディスク７００に対してデータの記録及び再生を行う光ディスク装置に本発明を適用したが、本発明は、データの記録及び再生のいずれか一方のみを行う光ディスク装置にも適用できる。
【産業上の利用可能性】
【０２１２】
本発明は、光ディスク装置においてトラッキング制御及び中点制御を行う技術として有用である。
【符号の説明】
【０２１３】
１０５ 対物レンズ
１０６ アクチュエータ
１０８ａ メイン光検出器（主受光素子）
１０８ｂ 第１サブ光検出器（副受光素子）
１０８ｃ 第２サブ光検出器（副受光素子）
１０８ｄ〜１０８ｋ 受光領域
２００ 集積回路
２０２ 第１のトラッキングエラー信号取得部
２０２ 中点エラー信号取得部
２０３ 第２のトラッキングエラー信号取得部
２０４ トラッキングエラー補正信号導出部
２０６ 中点エラー信号取得部
２０７ｂ 中点エラー信号補正部
２０８ マイコン部
２１１ レンジシフト駆動部
２１３ マイコン部
２１４ マイコン部
７００〜７０３ 光ディスク
７０４〜７０６ 照射スポット
８００ 光ディスク制御装置
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスク装置においてトラッキング制御及び中点制御を実行する技術に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
特許文献１には、光ピックアップに内蔵された対物レンズの軸ずれを制御する中点制御を行う信号処理回路が開示されている。この信号処理回路は、中点センサのような新たなセンサを使用することなく、１スポットのビームでプッシュプル法によりトラッキングエラーを求め、この際に検出されるオフセット値を用いて中点エラー信号を生成する。詳しくは、上記信号処理回路は、トラックと垂直な方向に分割された光検出器の受光素子の出力Ａ，Ｄに基づいて、右側ウォブルの振幅信号Ｄｗと左側ウォブルの振幅信号Ａｗとを検出するとともに、ウォブルの振幅信号（Ａ−Ｄ）ｗを検出する。そして、右側ウォブル及び左側ウォブルの振幅信号の差Ａｗ−Ｄｗを上記ウォブルの振幅信号（Ａ−Ｄ）ｗで除算し、さらに係数Ｋを乗じることによりトラッキングエラーオフセット信号を求め、このトラッキングエラーオフセット信号に基づいて中点エラー信号を生成する。
【０００３】
なお、特許文献２では、トラッキングエラー信号をトップホールド方式で検出することによって、対物レンズの軸ずれが発生してもトラッキングエラー信号にＤＣオフセットが重畳しないようにしている。この特許文献２では、トップホールド係数が周波数によって可変に決定され、このトップホールド係数のゲインがローブーストフィルタによって補償される。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開平９−２５９４４７号公報
【特許文献２】特開平１０−１９８９７９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかし、上記特許文献１では、中点エラー信号を生成するために、ウォブルの振幅信号Ａｗ，Ｄｗ，（Ａ−Ｄ）ｗを検出する回路、及び振幅信号の差Ａｗ−Ｄｗを上記ウォブルの振幅信号（Ａ−Ｄ）ｗにより除算する除算回路が必要となるので、回路の大型化を招く。
【０００６】
本発明は、かかる点に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、中点エラー信号を生成する装置を小型化することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記の課題を解決するため、本発明の１態様に係る光ディスク制御処理は、装填される光ディスクの記録面に主ビーム及び副ビームを集光させる対物レンズと、該対物レンズをトラックに垂直な方向に移動させるアクチュエータとを備えた光ディスク装置において、前記主ビームの照射スポットと前記光ディスクのトラックの中心との位置ずれ量を０に近付けるように前記アクチュエータの駆動信号を導出するトラッキング制御をトラッキングエラー補正信号に基づいて実行するとともに、前記主ビーム及び副ビームのうちの少なくとも一方の照射スポットの軸ずれ量を０に近付けるように前記アクチュエータの駆動信号を導出する中点制御を中点エラー信号に基づいて実行する光ディスク制御処理であって、前記光ディスク装置は、前記光ディスクのトラックに対して垂直な方向に並んだ複数の受光領域が形成され、当該各受光領域は、前記光ディスクに照射した主ビームの反射光を受光する主受光素子と、前記光ディスクのトラックに対して垂直な方向に並んだ複数の受光領域が形成され、当該各受光領域は、前記光ディスクに照射した副ビームの反射光を受光する副受光素子とを備え、当該光ディスク制御処理は、前記主受光素子の複数の受光面における受光量に基づいて、第１のトラッキングエラー信号を取得する第１のトラッキングエラー信号取得処理と、前記副受光素子の複数の受光面における受光量に基づいて、第２のトラッキングエラー信号を取得する第２のトラッキングエラー信号取得処理と、前記第１のトラッキングエラー信号取得処理により取得された第１のトラッキングエラー信号と、前記第２のトラッキングエラー信号取得処理により取得された第２のトラッキングエラー信号とに基づいて、前記トラッキングエラー補正信号を導出するトラッキングエラー補正信号導出処理と、前記第１のトラッキングエラー信号取得処理により取得された第１のトラッキングエラー信号と、前記第２のトラッキングエラー信号取得処理により取得された第２のトラッキングエラー信号とに基づいて、前記中点エラー信号を取得する中点エラー信号取得処理を備えていることを特徴とする。
【０００８】
この態様によると、第１及び第２のトラッキングエラー信号取得処理が、トラッキングエラー補正信号の取得、及び中点エラー信号の取得のために共用され、中点エラー信号の取得のために、特許文献１のようにウォブルの振幅信号を検出する処理や除算処理等、大規模な回路を必要とする処理を別途設ける必要がない。したがって、光ディスク装置を小型化できる。
【発明の効果】
【０００９】
本発明により、中点エラー信号を生成する装置を小型化できる。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】本発明の実施形態１に係る光ディスク装置の構成を示すブロック図である。
【図２】本発明の実施形態１に係る光検出器の構成を示すブロック図である。
【図３】本発明の実施形態１に係るディスクの部分拡大斜視図である。
【図４】本発明の実施形態１に係る集積回路の構成を示すブロック図である。
【図５】本発明の実施形態１に係るマイコン部の構成を示すブロック図である。
【図６】本発明の実施形態１に係るトラック深さと第１のトラッキングエラー信号のレベルとの関係を示すグラフである。
【図７】本発明の実施形態１に係る光ディスク装置のトラッキング駆動系のモデルを示す模式図である。
【図８】本発明の実施形態１に係る光ディスク装置のトラッキング駆動系を表すブロック線図である。
【図９】（ａ）は、１次の低域通過フィルタのゲイン特性を示すグラフである。（ｂ）は、１次の低域通過フィルタの位相特性を示すグラフである。
【図１０】（ａ）は、本発明の実施形態１に係る第１のトラッキングエラー信号を示すタイミングチャートである。（ｂ）は、本発明の実施形態１に係る第２のトラッキングエラー信号を示すタイミングチャートである。（ｃ）は、本発明の実施形態１に係るトラッキング制御部により導出される駆動信号を示すタイミングチャートである。（ｄ）は、本発明の実施形態１に係るトラッキングエラー補正信号を示すタイミングチャートである。
【図１１】（ａ）は、本発明の実施形態１に係る第１のトラッキングエラー信号を示すタイミングチャートである。（ｂ）は、本発明の実施形態１に係る第２のトラッキングエラー信号を示すタイミングチャートである。（ｃ）は、本発明の実施形態１に係るトラッキング制御部により導出される駆動信号を示すタイミングチャートである。（ｄ）は、本発明の実施形態１に係る中点エラー信号を示すタイミングチャートである。
【図１２】本発明の実施形態１に係るマイコン部による切替え信号の決定処理を示すフローチャートである。
【図１３】（ａ）は、本発明の実施形態１に係る中点エラー信号を示すタイミングチャートである。（ｂ）は、本発明の実施形態１に係る２値化パルス信号を示すタイミングチャートである。（ｃ）は、本発明の実施形態１に係るエッジ検出部により出力されるタイミング信号を示すタイミングチャートである。（ｄ）は、本発明の実施形態１に係るカウンタ部により出力される間隔信号を示すタイミングチャートである。（ｅ）は、本発明の実施形態１に係る周期最大値保存部により保存されている周期最大値を示すタイミングチャートである。（ｆ）は、本発明の実施形態１に係るリセット信号を示すタイミングチャートである。
【図１４】（ａ）は、本発明の実施形態１に係るシーク制御状態及びトラッキング制御状態にマイコン部により出力される制御切替え信号を示すタイミングチャートである。（ｂ）は、本発明の実施形態１に係るシーク制御状態及びトラッキング制御状態にスレッド駆動部により出力される駆動電流を示すタイミングチャートである。（ｃ）は、本発明の実施形態１に係るシーク制御状態及びトラッキング制御状態にアクチュエータ駆動部により出力される駆動電流を示すタイミングチャートである。（ｄ）は、本発明の実施形態１に係るシーク制御状態及びトラッキング制御状態の第１のトラッキングエラー信号を示すタイミングチャートである。
【図１５】本発明の実施形態２に係る光ディスク装置の構成を示すブロック図である。
【図１６】本発明の実施形態２に係るマイコン部の構成を示すブロック図である。
【図１７】本発明の実施形態２に係るマイコン部による切替え信号の決定処理を示すフローチャートである。
【図１８】（ａ）は、本発明の実施形態２に係る（ＳＴＥＰ１４１）から（ＳＴＥＰ１４４）までの処理が実行されるときにマイコン部により出力される制御切替え信号を示すタイミングチャートである。（ｂ）は、本発明の実施形態２に係る（ＳＴＥＰ１４１）から（ＳＴＥＰ１４４）までの処理が実行されるときにアクチュエータ駆動部により出力される駆動電流を示すタイミングチャートである。（ｃ）は、本発明の実施形態２に係る（ＳＴＥＰ１４１）から（ＳＴＥＰ１４４）までの処理が実行されるときに中点エラー信号取得部により取得される中点エラー信号を示すタイミングチャートである。
【図１９】本発明の実施形態３に係る光ディスク装置の構成を示すブロック図である。
【図２０】本発明の実施形態３に係るマイコン部の構成を示すブロック図である。
【図２１】本発明の実施形態３に係るマイコン部による切替え信号の決定処理を示すフローチャートである。
【図２２】本発明の実施形態３の変形例に係るマイコン部による切替え信号の決定処理を示すフローチャートである。
【図２３】本発明の実施形態４に係る光ディスク装置の構成を示すブロック図である。
【図２４】本発明の実施形態４に係る集積回路の構成を示すブロック図である。
【図２５】本発明の実施形態５に係る光ディスク装置の構成を示すブロック図である。
【図２６】本発明の実施形態５に係る集積回路の構成を示すブロック図である。
【図２７】本発明の実施形態５に係る中点制御部の構成を示すブロック図である。
【発明を実施するための形態】
【００１１】
以下、本発明の実施形態について、図面を参照して説明する。なお、以下の各実施形態において、他の実施形態と同様の機能を有する構成要素については同一の符号を付して説明を省略する。
【００１２】
《実施形態１》
本発明の実施形態１に係る光ディスク装置は、図１に示すように、光ピックアップ１００、集積回路２００、アクチュエータ駆動部３００、スレッド駆動部４００、スレッドモータ５００、及びディスクモータ６００を備え、装填された光ディスク７００に対してデータの記録及び再生を行うようになっている。光ディスク７００は、例えばＤＶＤ−Ｒディスク、ＤＶＤ−ＲＷディスク、ＤＶＤ＋Ｒディスク、ＤＶＤ＋ＲＷディスク、ＤＶＤ−ＲＡＭディスク等、記録再生可能でトラックを有するディスクである。
【００１３】
光ピックアップ１００は、光ディスク７００にレーザ光を照射し、光ディスク７００からの反射光を受光してその受光量を出力する。集積回路２００は、光ピックアップ１００により出力される受光量に基づいてアクチュエータ駆動信号ＡＣＴを出力し、アクチュエータ駆動部３００は、このアクチュエータ駆動信号ＡＣＴに応じた駆動電流ＡＣＴＤＲＶを出力する。また、集積回路２００のマイコン部２０８（後述する）は、スレッド駆動信号ＳＬＤＲＶを出力し、スレッド駆動部４００は、このスレッド駆動信号ＳＬＤＲＶに基づいてスレッドモータ５００を駆動する駆動電流ＳＬＤＤＲＶを出力し、スレッドモータ５００はこの駆動電流ＳＬＤＤＲＶに基づいて光ピックアップ１００を光ディスク７００の径方向に移動させる。
【００１４】
ディスクモータ６００は、所定の回転速度で光ディスク７００を回転させる。
【００１５】
＜光ピックアップ＞
詳しくは、光ピックアップ１００は、半導体レーザ１０１、コリメータレンズ１０２、偏光ビームスプリッタ（ＰＢＳ：polarization beam splitter）１０３、波長板１０４、対物レンズ１０５、アクチュエータ１０６、検出レンズ１０７、及び光検出器１０８を備えている。
【００１６】
半導体レーザ１０１は、レーザ駆動部（図示せず）からの電流出力に応じて、記録・再生に必要な光強度の光ビーム、例えば波長６５０ｎｍ（ナノ・メートル）のレーザ光を出射する光源である。
【００１７】
アクチュエータ１０６は、アクチュエータ駆動部３００により出力された駆動電流ＡＣＴＤＲＶに基づいて、対物レンズ１０５をトラックに垂直な方向（径方向）に移動させる。また、アクチュエータ１０６は、対物レンズ１０５をフォーカス方向に移動させる制御や対物レンズ１０５を記録面に対して傾ける制御を行なうが、これらの制御、即ちフォーカス制御及びチルト制御に関する説明は省略する。
【００１８】
光検出器１０８は、図２に示すように、主受光素子としてのメイン光検出器１０８ａと、副受光素子としての第１サブ光検出器１０８ｂ及び第２サブ光検出器１０８ｃとを備えている。メイン光検出器１０８ａ、第１サブ光検出器１０８ｂ、及び第２サブ光検出器１０８ｃの受光面は、それぞれ、装填された光ディスク７００のトラックに対して垂直な方向、すなわち径方向（図３中、Ｒａｄｉａｌ方向と示す）に２分割されており、メイン光検出器１０８ａはトラック方向（図３中、Ｔａｎｄｅｎｔｉａｌ方向と示す）にも２分割されている。したがって、メイン光検出器１０８ａには、図２において左上から時計回りに４つの受光領域１０８ｄ〜１０８ｇが前記径方向及びトラック方向に２つずつ並ぶように形成されている。第１サブ光検出器１０８ｂの受光面には、２つの受光領域１０８ｈ，ｉが前記径方向に並ぶように形成され、第２サブ光検出器１０８ｃの受光面には、２つの受光領域１０８ｊ，ｋが前記径方向に並ぶように形成されている。光検出器１０８は、さらに、各受光領域１０８ｄ〜ｋの受光量に応じた電流を生成する光電流生成部（Ｐ−Ｉ変換部）１０８ｌと、各光電流変換部１０８ｌにより生成された電流を電圧に変換する電流電圧変換部（Ｉ−Ｖ変換部）１０８ｍとを、受光領域１０８ｄ〜ｋ毎に備えている。受光領域１０８ｄ〜ｋに対応する電流電圧変換部１０８ｍの出力は、図２に示すように、順にアナログ信号Ａａ〜Ｈａとして示される。
【００１９】
半導体レーザ１０１により出射されたレーザ光（出射光）は、コリメータレンズ１０２によって平行光にされ、ＰＢＳ１０３によって主ビーム及び２つの副ビームに分離される。主ビームの光強度は副ビームの光強度よりも強く、その比率はおよそ１：０．３５である。そして、これら主ビーム及び２つの副ビームは、それぞれ波長板１０４を通り、対物レンズ１０５によって光ディスク７００に集められる。このとき、対物レンズ１０５は、図３に示すように、データの記録又は再生に実際に使用するトラック７０１に主ビームを集光するとともに、トラック７０１から０．５トラックずれたトラック７０２、７０３に副ビームを集光する。図３中、トラック７０１における主ビームの照射スポットを７０４、トラック７０２における副ビームの照射スポットを７０５、トラック７０３における副ビームの照射スポットを７０６で示す。
【００２０】
一方、光ディスク７００からの反射光は、対物レンズ１０５及び波長板１０４を通り、ＰＢＳ１０３で出射光の光路から分離されて、検出レンズ１０７に導かれる。検出レンズ１０７は、±１次光を光検出器１０８に導く。光検出器１０８は、検出レンズ１０７により導かれた光信号を電気信号に変換して出力する。詳しくは、照射スポット７０４からの反射光、すなわち主ビームの反射光はメイン光検出器１０８ａに導かれ、照射スポット７０５からの反射光、すなわち副ビームの反射光は第１サブ光検出器１０８ｂに導かれ、照射スポット７０６からの反射光、すなわち副ビームの反射光は第２サブ光検出器１０８ｃに導かれる。
【００２１】
＜集積回路＞
図４は、集積回路２００の詳細な構成を示す。
【００２２】
集積回路２００は、図１及び図４に示すように、ＡＤ変換器２０１、第１のトラッキングエラー信号取得部２０２、第２のトラッキングエラー信号取得部２０３、トラッキングエラー補正信号導出部２０４、トラッキング制御部２０５、中点エラー信号取得部２０６、低域通過フィルタ部２０７、マイコン部２０８、中点制御部２０９、及び切替えスイッチ２１０を備えている。
【００２３】
ＡＤ変換器２０１は、光検出器１０８により出力されたアナログ信号Ａａ〜Ｈａをそれぞれ８ビットのデジタル信号Ａａ〜Ｈｄに変換する。つまり、アナログ信号Ａａ信号は、８ビットのデジタル信号Ａｄに変換され、同様にアナログ信号Ｂａ〜Ｈａもデジタル信号Ｂｄ〜Ｈｄに変換される。
【００２４】
第１のトラッキングエラー信号取得部２０２は、ＡＤ変換器２０１により出力されたデジタル信号Ａｄ〜Ｄｄに基づいて、以下の式（１）により第１のトラッキングエラー信号ＴＥ１を取得する。
【００２５】
ＴＥ１＝（Ａｄ＋Ｄｄ）−（Ｂｄ＋Ｃｄ） ・・・（１）
第２のトラッキングエラー信号取得部２０３は、ＡＤ変換器２０１により出力されたデジタル信号Ｅｄ〜Ｈｄに基づいて、以下の式（２）により第２のトラッキングエラー信号（Ｋ×ＴＥ２）を取得する。
【００２６】
Ｋ×ＴＥ２＝Ｋ×｛（Ｅｄ−Ｆｄ）＋（Ｇｄ−Ｈｄ）｝ ・・・（２）
このとき、第２のトラッキングエラー信号取得部２０３は、次の式（３）により得られるトラッキングエラー補正信号ＴＥの振幅の中心が０となるように係数Ｋを決定する。
【００２７】
ＴＥ＝ＴＥ１−Ｋ×ＴＥ２ ・・・（３）
トラッキングエラー補正信号導出部２０４は、第１のトラッキングエラー信号取得部２０２により取得された第１のトラッキングエラー信号ＴＥ１と第２のトラッキングエラー信号取得部２０３により取得された第２のトラッキングエラー信号（Ｋ×ＴＥ２）とに基づいて、上記式（３）の演算を行い、トラッキングエラー補正信号ＴＥを算出する。トラッキングエラー補正信号ＴＥは、第１のトラッキングエラー信号ＴＥ１と第２のトラッキングエラー信号（Ｋ×ＴＥ２）との差動演算結果となる。
【００２８】
トラッキング制御部２０５は、トラッキングエラー補正信号ＴＥに基づいて、主ビームの照射スポット７０４と光ディスク７００のトラック７０１の中心との位置ずれ量を０に近付けるように駆動信号ＴＲＤＲＶを導出する。具体的には、トラッキング制御部２０５は、トラッキングエラー補正信号ＴＥをほぼ０にするように駆動信号ＴＲＤＲＶを導出する。トラッキング制御状態では、照射スポット７０４，７０５，７０６が光ディスク７００のトラック上を走査する。
【００２９】
中点エラー信号取得部２０６は、第１のトラッキングエラー信号取得部２０２により取得された第１のトラッキングエラー信号ＴＥ１と、第２のトラッキングエラー信号取得部２０３により取得された第２のトラッキングエラー信号（Ｋ×ＴＥ２）とに基づいて、中点エラー信号ＣＥを以下の式（４）が成立するように取得する。中点エラー信号ＣＥは、第１のトラッキングエラー信号ＴＥ１と第２のトラッキングエラー信号（Ｋ×ＴＥ２）との加算演算結果となる。
【００３０】
ＣＥ＝ＴＥ１＋Ｋ×ＴＥ２ ・・・（４）
低域通過フィルタ部２０７は、前記中点エラー信号取得部２０６により出力された中点エラー信号ＣＥに対してフィルタ処理を施して中点エラー信号ＣＥの低周波数成分を出力する一次のＬＰＦ(Low-pass filter)２０７ａを備えている。後述する切替え信号ＬＰＦがＨ（High）レベルの場合には、低域通過フィルタ部２０７は、該ＬＰＦ２０７ａの出力である低周波数成分を中点エラー補正信号ＣＥＣとして出力する一方、後述する切替え信号ＬＰＦがＬ(Low)レベルの場合には、中点エラー信号取得部２０６により出力された中点エラー信号ＣＥをそのまま中点エラー補正信号ＣＥＣとして出力する。ＬＰＦ２０７ａのカットオフ周波数（第２周波数、所定の周波数）は５００Ｈｚに設定される。ＬＰＦ２０７ａによるフィルタ処理は、所定のカットオフ周波数を超える周波数の成分を低減させるものである。なお、このフィルタ処理は、カットオフ周波数を超える周波数の成分を完全に除去するものであってもよいし、一部を除去するものであってもよい。また、このカットオフ周波数は、５００Ｈｚに限らず、中点制御の開ループ特性ゲイン交点周波数よりも高い周波数であればよい。
【００３１】
中点制御部２０９は、トラッキングエラー補正信号ＴＥに基づいて、対物レンズ１０５の軸ずれ量を０に近付けるように駆動信号ＴＲＤＲＶを導出する。具体的には、中点制御部２０９は、低域通過フィルタ部２０７の出力、すなわち中点エラー補正信号ＣＥＣをほぼ０にするように駆動信号ＣＥＤＲＶを導出する。
【００３２】
マイコン部２０８は、中点エラー信号取得部２０６により出力された中点エラー信号ＣＥに重畳する変調成分の周期を測定し、測定した周期に基づいて、低域通過フィルタ部２０７に前記低周波数成分と中点エラー信号ＣＥとのうちのいずれを出力させるかを示す切替え信号ＬＰＦを出力する。
【００３３】
マイコン部２０８は、図５に示すように、２値化部２０８ａ、エッジ検出部２０８ｂ、カウンタ部２０８ｃ、周期最大値保存部２０８ｄ、及び遮断周波数決定部２０８ｅを備えている。２値化部２０８ａ、エッジ検出部２０８ｂ、カウンタ部２０８ｃ、及び周期最大値保存部２０８ｄにより、周期測定部２０８ｆが構成されている。
【００３４】
２値化部２０８ａは、中点エラー信号取得部２０６により出力された中点エラー信号ＣＥを０を閾値として２値化することにより２値化パルス信号を取得する。なお、２値化に用いられる閾値は、０、すなわち軸ずれ量が０のときの中点エラー信号ＣＥの値に限らず、０以外の値に設定してもよい。
【００３５】
エッジ検出部２０８ｂは、２値化部２０８ａにより取得された２値化パルス信号の立ち上がりエッジを検出し、立ち上がりのタイミングを示すタイミング信号を出力する。
【００３６】
カウンタ部２０８ｃは、エッジ検出部２０８ｂにより出力されたタイミング信号に基づいて、２値化パルス信号の立ち上がりのタイミングの間隔時間を固定クロックを用いてカウント（計測）してそのカウント値（間隔時間）を示す間隔信号を出力する。
【００３７】
周期最大値保存部２０８ｄは、カウンタ部２０８ｃの間隔信号が更新される毎に、カウンタ部２０８ｃにより出力された間隔信号により示された間隔時間と、それまでに保存していた周期最大値とを比較し、間隔時間がその周期最大値よりも大きい場合にはその周期最大値を間隔信号により示される間隔時間に更新して保存する。一方、間隔時間が既に保存している周期最大値以下である場合には、その周期最大値を更新しない。
【００３８】
そして周期最大値保存部２０８ｄは、所定の中点エラー周期測定時間を経過した後に、保存していた周期最大値を出力する。つまり、周期最大値保存部２０８ｄは、前記中点エラー周期測定時間内に計測された間隔時間の最大値を周期として取得する。
【００３９】
遮断周波数決定部２０８ｅは、周期最大値保存部２０８ｄにより出力（取得）された周期最大値が予め設定された周期ＴＨ以上であるか否かを判定し、判定結果に基づいて、前記切替え信号ＬＰＦを出力する。ここで、周期ＴＨは、５００Ｈｚに相当する２ｍｓｅｃ（ミリ秒）に設定される。なお、この周期ＴＨは、中点制御の開ループ特性ゲイン交点周波数よりも高い所定の周波数（第１周波数）に対応する周期であれば、他の周期に設定してもよい。周期最大値が周期ＴＨ以上である場合には、切替え信号ＬＰＦは、Ｈレベルとなり、低域通過フィルタ部２０７にＬＰＦ２０７ａの出力である低周波数成分を出力させるものとなる。一方、周期最大値が周期ＴＨ未満である場合には、切替え信号ＬＰＦは、Ｌレベルとなり、低域通過フィルタ部２０７に中点エラー信号ＣＥをそのまま出力させるものとなる。
【００４０】
なお、マイコン部２０８は図示しないリセット（ＲＥＳＥＴ）信号発行部を内蔵し、このリセット信号発行部がリセット信号を発行すると、カウンタ部２０８ｃのカウント値と周期最大値保存部２０８ｄにより保存されている周期最大値とがリセット（ゼロクリア）される。
【００４１】
また、マイコン部２０８は、シーク時に、光ピックアップ１００を光ディスク７００の径方向に移動させるためにスレッド駆動信号ＳＬＤＲＶを出力する。
【００４２】
さらに、マイコン部２０８は、トラッキング制御時には、トラッキング制御部２０５により出力された駆動信号ＴＲＤＲＶを選択する制御切替え信号ＳＷを出力する一方、シーク制御時には、中点制御部２０９により出力される駆動信号ＣＥＤＲＶ（後述する）を選択する制御切替え信号ＳＷを出力する。具体的には、制御切替え信号ＳＷは、トラッキング制御時にはＨレベルになる一方、シーク制御時にはＬレベルとなる。なお、トラッキング制御は、光ディスク７００に情報を記録する時、光ディスク７００に記録された情報を再生する時、及びスタンバイ状態において実行される。
【００４３】
上記低域通過フィルタ部２０７とマイコン部２０８とで、中点エラー信号補正部２０７ｂが構成されている。
【００４４】
切替えスイッチ２１０は、マイコン部２０８により出力された制御切替え信号ＳＷにより選択された駆動信号ＴＲＤＲＶ，ＣＥＤＲＶを出力する。具体的には、制御切替え信号ＳＷがＨレベルであるときには、トラッキング制御部２０５により出力された駆動信号ＴＲＤＲＶを出力する一方、制御切替え信号ＳＷがＬレベルであるときには、中点制御部２０９により出力された駆動信号ＣＥＤＲＶを出力する。上述のアクチュエータ１０６は、切替えスイッチ２１０により出力された駆動信号ＴＲＤＲＶ，ＣＥＤＲＶにより示された移動量分、対物レンズ１０５をトラックに垂直な方向に移動させる。
【００４５】
上述のように構成された光検出器１０８と、集積回路２００と、アクチュエータ駆動部３００と、スレッド駆動部４００とで、光ディスク制御装置８００が構成されている。
【００４６】
＜トラッキングエラー信号ＴＥ＞
上述のように、第１のトラッキングエラー信号ＴＥ１はプッシュプル方式で検出されるので、図６に示すように、そのレベルはトラック深さによって異なる。主ビームの波長をλとすると、トラック深さがλ／４のとき、即ちトラック深さによる回折が最も有効で変調成分が最大になるときに、第１のトラッキングエラー信号が０になる。一方、トラック深さがλ／８のとき、第１のトラッキングエラー信号ＴＥ１を最も効率良く取得できる。
【００４７】
対物レンズ１０５のみを光ディスク７００のトラックを横切る方向に移動（以下、レンズシフトと記す）させた場合、光検出器１０８に入射した光ビームが光検出器１０８上で移動して、レンズシフトの距離に応じた量のＤＣオフセットが、第１のトラッキングエラー信号ＴＥ１に重畳する。また、このＤＣオフセットの量も、図６で示したように、対物レンズ１０５の移動距離が同じであっても、トラックの溝深さが異なっていれば、異なったものとなる。
【００４８】
したがって、光ディスク装置に装填される光ディスク７００の種類によって、プッシュプル信号である第１のトラッキングエラー信号ＴＥ１の変調成分、及びレンズシフトにより生じるＤＣオフセットの量が異なる。また同じ種類の光ディスク７００を用いた場合でも個体ばらつきに応じて、各光ディスク７００の変調成分とＤＣオフセットの量とが異なる。
【００４９】
さらに、第１のトラッキングエラー信号ＴＥ１、第２のトラッキングエラー信号（Ｋ×ＴＥ２）、及びトラッキングエラー信号ＴＥの変調成分の周波数は、主ビーム及び副ビームがトラックを横断する周波数によって決定される。即ち、対物レンズ１０５を停止させた状態での変調成分の周波数は、光ディスク７００の偏芯量と、ディスクモータ６００の所定時間あたりの回転数、すなわち回転速度とに依存する。
【００５０】
第１のトラッキングエラー信号ＴＥ１、第２のトラッキングエラー信号（Ｋ×ＴＥ２）、及びトラッキングエラー補正信号ＴＥの変調成分の周波数は、光ディスク７００の偏芯量の増加、及びディスクモータ６００の回転の高速化にともなって高くなる一方、光ディスク７００の偏芯量の減少、及びディスクモータ６００の回転の低速化にともなって低くなる。
【００５１】
第２のトラッキングエラー信号（Ｋ×ＴＥ２）には、第１のトラッキングエラー信号ＴＥ１に重畳した変調成分の逆位相の変調成分が重畳される。また、対物レンズ１０５の軸ずれにより第２のトラッキングエラー信号（Ｋ×ＴＥ２）に重畳するＤＣオフセットの極性は、第１のトラッキングエラー信号ＴＥ１に重畳するＤＣオフセットと等しくなる。主ビームの光強度は副ビームの光強度よりも強いので、係数Ｋを１としたときの第２のトラッキングエラー信号（Ｋ×ＴＥ２）の変調成分の振幅は第１のトラッキングエラー信号ＴＥ１の変調成分の振幅よりも小さい。
【００５２】
トラッキングエラー補正信号ＴＥの変調成分は、第１のトラッキングエラー信号ＴＥ１の変調成分から、逆位相の第２のトラッキングエラー信号（Ｋ×ＴＥ２）の変調成分を引くことによって算出されるので強調される。一方、トラッキングエラー補正信号ＴＥのＤＣオフセットは、係数Ｋがトラッキングエラー補正信号ＴＥの振幅の中心が０となるように決定されるので、０となる。
【００５３】
＜トラッキング駆動系＞
図７は、本実施形態１に係る光ディスク装置のトラッキング駆動系のモデルを示す。
【００５４】
アクチュエータ（図７には図示せず）１０６は、ばね定数Ｋｔの板バネ１０９及びダンピング係数Ｄｔのダンパー(Damper)１１０により支持されており、いわゆるレンズ並進方式アクチュエータを構成している。このトラッキング駆動系には、スレッドモータ５００とアクチュエータ１０６とを相補的に駆動して、主ビーム及び副ビームの照射スポット７０４〜７０６を所望のトラックに追従させる２段サーボ方式が採用されている。図７中、ｘｓ（t）は、スレッドモータ５００の原点に対する相対位置を示し、ｘｔ（t）は、アクチュエータ１０６の原点に対する相対位置を示す。
【００５５】
ここで、図７に示すトラッキング駆動系において、スレッドモータ系にダンパーがないと想定し、かつ光ピックアップ１００に対するスレッドモータ５００の質量比が大きいことを考慮してアクチュエータ１０６からスレッドモータ５００への反力を無視した場合、スレッドモータ５００及びアクチュエータ１０６についてのラプラス変換後の運動方程式は、以下の式（５−１）、（５−２）のようになる。
【００５６】
【数１】
【００５７】
式（５−１）、（５−２）中、Ｆｓ（ｓ）はスレッドモータ５００の駆動信号ＳＬＤＤＲＶ、Ｆｔ（ｓ）はアクチュエータ１０６の駆動電流ＡＣＴＤＲＶ、Ｘｓ（ｓ）は原点からのスレッドモータ５００の相対位置、Ｘｔ（ｓ）はスレッドモータ５００の原点からのアクチュエータ１０６の相対位置を示す。また、ｍｓはスレッドモータ５００の質量、ｍｔは光ピックアップ１００の質量、Ｄｔはダンパー１１０のダンパー係数、Ｋｔは板バネ１０９のバネ定数である。
【００５８】
このトラッキング駆動系を表すブロック線図を図８に示す。
【００５９】
上記式（５−１）、（５−２）、及び図８に示すように、レーザの照射スポット７０４、７０５、７０６の位置は、スレッドモータ５００への駆動信号ＳＬＤＤＲＶにより光ピックアップ１００全体を駆動する系と、アクチュエータ１０６の駆動電流ＡＣＴＤＲＶにより対物レンズ１０５を駆動する系とにより決定される。更に、スレッドモータ５００の駆動信号ＳＬＤＤＲＶは、対物レンズ１０５を駆動する系の出力（位置）にも影響している。
【００６０】
中点制御は、スレッドモータ５００の駆動したときの対物レンズ１０５の出力（位置）へのこのような影響を抑制することを目的とする。即ち、中点制御は、図８に示すＦｓ（ｓ）からＸｔ（ｓ）への影響を抑制することを目的とする。
【００６１】
また、上記式（５−１）、（５−２）、及び図８に示すように、シーク制御等によりスレッドモータ５００を駆動したときの対物レンズ１０５の軸ずれ量において、アクチュエータ１０６の１次共振周波数成分が支配的となる。
【００６２】
一般的に、光ディスク装置の光ピックアップ１００に搭載されるアクチュエータ１０６のトラッキング１次共振周波数は５０〜８０[Ｈｚ]程度である。したがって、上記１次共振周波数で変化する対物レンズ１０５の軸ずれを制御する中点制御の開ループ特性ゲイン交点周波数は、およそ１００[Ｈｚ]から２００[Ｈｚ]に設計されるケースが多い。
【００６３】
一方、中点エラー信号ＣＥは式（４）により求められるので、照射スポット７０４、７０５、７０６が光ディスク７００のトラックを横断することにより、その横断速度の周波数成分が変調成分となって重畳する。この横断速度は、光ディスク７００の偏芯量とディスクモータ６００の回転速度とに比例する。したがって、光ディスク７００の偏芯量が小さい場合や、ディスクモータ６００の回転速度が低い場合等、横断速度が低く、中点制御の開ループ特性ゲイン交点周波数の変調成分が中点エラー信号ＣＥに重畳する場合には、本来制御しなければならない対物レンズ１０５の軸ずれとは異なる成分も制御の対象となってしまい、制御誤差を招く。
【００６４】
一方、光ディスク７００の偏芯量が大きい場合や、ディスクモータ６００の回転速度が高い場合等、横断速度が高く、中点制御の帯域よりも高い周波数成分をもつ変調成分が中点エラー信号ＣＥに重畳する場合には、これらの変調成分が中点制御動作時に不要な消費電流となる。
【００６５】
＜低域通過フィルタ部＞
ここで、低域通過フィルタ部２０７の設計方法について説明する。なお、本実施形態で使用するアクチュエータ１０６のトラッキング１次共振周波数は６０±２０[Ｈｚ]であり、中点制御の開ループ特性ゲイン交点周波数を１００［Ｈｚ］に設定するものと仮定する。
【００６６】
図９（ａ）は、１次の低域通過フィルタのゲイン特性（周波数特性）を示し、同図中、縦軸は低域通過フィルタのゲインを示し、横軸は周波数を示す対数軸である。また、図９（ｂ）は、１次の低域通過フィルタの位相特性（周波数特性）を示し、同図中、縦軸は低域通過フィルタの位相を示し、横軸は周波数を示す対数軸である。
【００６７】
図９（ａ）に示すように、低域通過フィルタは、カットオフ周波数ｆｃにおいてゲインが−３[ｄＢ]となり、カットオフ周波数よりも高い周波数においてゲインが−２０[ｄＢ／ｄｅｃ]で単調減少する特性を有する。一方、図９（ｂ）に示すように、低域通過フィルタの位相特性は、カットオフ周波数ｆｃの５分の１に相当する周波数ｆｃ／５において位相遅れが始まり、カットオフ周波数ｆｃにおいて４５[ｄｅｇ]位相が遅れ、カットオフ周波数ｆｃの５倍相当の周波数５ｆｃにおいて９０[ｄｅｇ]弱位相が遅れ、それよりも周波数が高くなるにつれて位相遅れが９０[ｄｅｇ]に集束する。
【００６８】
ＬＰＦ２０７ａのカットオフ周波数ｆｃは、（ｆｃ／５）＝１００[Ｈｚ]となるように、５００Ｈｚに設計される。これにより、図９（ａ）及び図９（ｂ）に示すように、１００[Ｈｚ]以下の周波数において、ゲイン及び位相特性が殆ど変化しないので、中点エラー信号ＣＥの中点制御の開ループ特性ゲイン交点周波数よりも低い周波数成分、すなわち１００[Ｈｚ]に相当する周波数よりも低い周波数成分にＬＰＦ２０７ａの影響が及ばず、中点制御にＬＰＦ２０７ａの影響が及ばない。したがって、中点エラー信号ＣＥの主な周波数帯域である１００[Ｈｚ]よりも低い周波数の成分を、そのまま中点制御部２０９に出力できる。
【００６９】
一方、シーク制御時のようにスレッドモータ５００が回転して、照射スポット７０４、７０５、７０６のトラック横断速度が上昇し、その結果として中点エラー信号ＣＥに重畳する変調成分の周波数が５００[Ｈｚ]よりも高くなる場合には、５００［Ｈｚ］より高い周波数の変調成分をＬＰＦ２０７ａによって除去でき、５００[Ｈｚ]よりも高い周波数の変調成分によって中点制御時に生じる消費電流を抑制できる。
【００７０】
また、マイコン部２０８により周期最大値が周期ＴＨ未満であると判定された場合、すなわち、中点エラー信号ＣＥに重畳される変調成分の周波数が５００[Ｈｚ]以上である場合には、中点エラー信号ＣＥがそのまま中点制御部２０９に出力される。その結果、シーク制御によりスレッドモータ５００が駆動され、スレッドモータ５００の駆動により、照射スポット７０４、７０５、７０６のトラック横断速度が上昇し、中点エラー信号ＣＥに重畳する変調成分の周波数が、スレッドモータ５００の速度分の周波数だけ増加して５００[Ｈｚ]以上となる場合、中点制御の周波数特性により、中点制御時の不要な消費電流は無視できる程度になる。
【００７１】
＜トラッキングエラー補正信号及び中点エラー信号の波形＞
図１０は、本実施形態に係る光ディスク装置において、光ディスク７００が所定速度で回転し、かつフォーカス制御が行われている状態で、対物レンズ１０５が軸ずれしたときの信号波形を示す。図１０（ａ）は、第１のトラッキングエラー信号ＴＥ１の波形、図１０（ｂ）は、第２のトラッキングエラー信号（Ｋ×ＴＥ２）の波形、図１０（ｃ）は、トラッキング制御部２０５により出力される駆動信号ＴＲＫＤＲＶの波形、図１０（ｄ）は、トラッキングエラー補正信号ＴＥの波形を示す。フォーカス制御が行われている間、主ビーム及び副ビームが光ディスク７００の情報記録面に集光する。
【００７２】
また、図１１は、本実施形態に係る光ディスク装置において、光ディスク７００が所定速度で回転し、かつフォーカス制御が行われている状態で、対物レンズ１０５が軸ずれしたときの信号波形を示す。図１１（ａ）は、第１のトラッキングエラー信号ＴＥ１の波形、図１１（ｂ）は、第２のトラッキングエラー信号（Ｋ×ＴＥ２）の波形、図１１（ｃ）は、トラッキング制御部２０５により出力される駆動信号ＴＲＫＤＲＶの波形、図１１（ｄ）は、中点エラー信号ＴＥの波形を示す。
【００７３】
なお、前記所定速度は、情報の記録時又は再生時における回転速度である。しかし、前記所定速度が、記録時及び再生時における回転速度以外の速度であっても、図１０及び図１１のような波形を得られる場合がある。
【００７４】
まず、図１０（ｃ）及び図１１（ｃ）に示すように、時刻ｔ０から時刻ｔ１にかけてアクチュエータ１０６を駆動する駆動信号ＴＲＫＤＲＶを０（ゼロ）にする。これにより、アクチュエータ駆動部３００により出力される駆動電流ＡＣＴＤＲＶが、対物レンズ１０５の径方向の移動量を０とする値となり、対物レンズ１０５はトラックを横断する方向に移動しない。したがって、対物レンズ１０５の軸ずれは０となり、図１０（ａ）、図１１（ａ）、図１０（ｂ）及び図１１（ｂ）に示すように、第１のトラッキングエラー信号ＴＥ１と第２のトラッキングエラー信号（Ｋ×ＴＥ２）の振幅の中心は０となる。その結果、図１０（ｄ）に示すように、トラッキングエラー補正信号ＴＥの振幅の中心が０となるとともに、図１１（ｄ）に示すように、中点エラー信号ＣＥの振幅の中心も０となる。
【００７５】
次いで、図１０（ｃ）及び図１１（ｃ）に示すように、時刻ｔ１から時刻ｔ２にかけて駆動信号ＴＲＫＤＲＶをＤＲＶ＋とする。これにより、アクチュエータ駆動部３００は、この駆動信号ＴＲＫＤＲＶに基づいて、対物レンズ１０５を径方向に移動させる駆動電流ＡＣＴＤＲＶをアクチュエータ１０６に出力し、アクチュエータ１０６はこの駆動電流ＡＣＴＤＲＶに基づいて対物レンズ１０５をトラックを横断する方向に移動（シフト）させる。その結果、対物レンズ１０５が軸ずれした状態になり、図１０（ａ）及び図１１（ａ）に示すように、第１のトラッキングエラー信号ＴＥ１にＤＣオフセットＯＦＳ＋が重畳する。また、係数Ｋが、トラッキングエラー補正信号ＴＥの信号振幅の中心が図１０（ｄ）に示すように０となるように設定されているので、図１０（ｂ）及び図１１（ｂ）に示すように、第２のトラッキングエラー信号（Ｋ×ＴＥ２）にもＤＣオフセットＯＦＳ＋が重畳する。したがって、図１１（ｄ）に示すように、中点エラー信号ＣＥの振幅の中心は２×ＯＦＳ＋となる。
【００７６】
次いで、図１０（ｃ）及び図１１（ｃ）に示すように、時刻ｔ２から時刻ｔ３にかけて駆動信号ＴＲＫＤＲＶを０とする。これにより、アクチュエータ駆動部３００により出力される駆動電流ＡＣＴＤＲＶが、対物レンズ１０５の径方向の移動量を０とする値となり、対物レンズ１０５は径方向に移動しない。したがって、対物レンズ１０５の軸ずれは０となり、図１０（ａ）、図１１（ａ）、図１０（ｂ）及び図１１（ｂ）に示すように、第１のトラッキングエラー信号ＴＥ１と第２のトラッキングエラー信号（Ｋ×ＴＥ２）の振幅の中心は再び０となる。その結果、図１０（ｄ）に示すように、トラッキングエラー補正信号ＴＥの振幅の中心が０に維持されるとともに、図１１（ｄ）に示すように、中点エラー信号ＣＥの振幅の中心も再び０となる。
【００７７】
続いて、図１０（ｃ）及び図１１（ｃ）に示すように、時刻ｔ３から時刻ｔ４にかけて駆動信号ＴＲＫＤＲＶをＤＲＶ−とする。これにより、アクチュエータ駆動部３００は、この駆動信号ＴＲＫＤＲＶに基づいて、対物レンズ１０５を径方向に移動させる駆動電流ＡＣＴＤＲＶをアクチュエータ１０６に出力し、アクチュエータ１０６はこの駆動電流ＡＣＴＤＲＶに基づいて対物レンズ１０５をトラック方向に移動（シフト）させる。その結果、対物レンズ１０５が軸ずれした状態になり、図１０（ａ）及び図１１（ａ）に示すように、第１のトラッキングエラー信号ＴＥ１にＤＣオフセットＯＦＳ−が重畳する。また、係数Ｋが、トラッキングエラー補正信号ＴＥの信号振幅の中心が図１０（ｄ）に示すように０となるように設定されているので、図１０（ｂ）及び図１１（ｂ）に示すように、第２のトラッキングエラー信号（Ｋ×ＴＥ２）にもＤＣオフセットＯＦＳ−が重畳する。したがって、図１１（ｄ）に示すように、中点エラー信号ＣＥの振幅の中心は２×ＯＦＳ−となる。
【００７８】
最後に、図１０（ｃ）及び図１１（ｃ）に示すように、時刻ｔ４から時刻ｔ５にかけて、再び駆動信号ＴＲＫＤＲＶを０とする。これにより、アクチュエータ駆動部３００により出力される駆動電流ＡＣＴＤＲＶが、対物レンズ１０５の径方向の移動量を０とする値となり、対物レンズ１０５は径方向に移動しない。したがって、対物レンズ１０５の軸ずれは０となり、図１０（ａ）、図１１（ａ）、図１０（ｂ）及び図１１（ｂ）に示すように、第１のトラッキングエラー信号ＴＥ１と第２のトラッキングエラー信号（Ｋ×ＴＥ２）の振幅の中心は再び０となる。その結果、図１０（ｄ）に示すように、トラッキングエラー補正信号ＴＥの振幅の中心が０に維持されるとともに、図１１（ｄ）に示すように、中点エラー信号ＣＥの振幅の中心も再び０となる。
【００７９】
以上のように、対物レンズ１０５が軸ずれした状態でもトラッキングエラー補正信号ＴＥに重畳するＤＣオフセットが０になるように第２のトラッキングエラー信号取得部２０３により係数Ｋが決定されるので、トラッキング制御部２０５はトラッキングエラー補正信号ＴＥを０に制御することによって照射スポット７０４を光ディスク７００のトラックの中心に制御できる。
【００８０】
なお、時刻ｔ１から時刻ｔ２にかけて決定された係数Ｋと、時刻ｔ３から時刻ｔ４にかけて決定された係数Ｋとが一致しない場合には、両者のいずれか一方、両者の中間値、又は当該中間値以外の両者に挟まれた所定値を係数Ｋとしてもよい。
【００８１】
また、上述のように、対物レンズ１０５が軸ずれすると、中点エラー信号ＣＥはその軸ずれ量に応じた値となる。したがって、この中点エラー信号ＣＥを０に制御することによって、対物レンズ１０５の軸ずれを０に制御できる。
【００８２】
しかしながら、式（４）に示した中点エラー信号ＣＥの検出方式には課題が含まれている。
【００８３】
式（４）により取得される中点エラー信号ＣＥには、第１のトラッキングエラー信号ＴＥ１および第２のトラッキングエラー信号（Ｋ×ＴＥ２）に重畳する変調成分が残留してしまう可能性がある。
【００８４】
また、第１のトラッキングエラー信号ＴＥ１及び第２のトラッキングエラー信号（Ｋ×ＴＥ２）に重畳する変調成分の周波数は、光ディスク７００の偏芯量とディスクモータ６００の回転速度に比例するため、光ディスク装置に装填された光ディスク７００、データの再生速度、及び記録速度に応じて変化する。
【００８５】
仮に、第２のトラッキングエラー信号取得部２０３により用いられる係数Ｋを、第１のトラッキングエラー信号ＴＥ１及び第２のトラッキングエラー信号（Ｋ×ＴＥ２）に重畳する変調成分の中点エラー信号ＣＥへの影響を除去するように設定すると、対物レンズ１０５が軸ずれした場合にトラッキングエラー補正信号ＴＥにＤＣオフセットが重畳するおそれがある。
【００８６】
そこで、本実施形態１では、中点エラー信号ＣＥに重畳した変調成分を低域通過フィルタ部２０７によって除去し、変調成分を除去した信号に基づいて、対物レンズ１０５の軸ずれ量を０に近付ける中点制御を中点制御部２０９により行うようにしている。これにより、中点制御の精度が高められる。
【００８７】
＜切替え信号ＬＰＦの決定処理＞
次に、マイコン部２０８による切替え信号ＬＰＦの決定処理について、図１２のフローチャートを参照して説明する。
【００８８】
切替え信号ＬＰＦを決定する図１２の処理は、光ディスク７００がディスクモータ６００の回転により、例えば、図１の光ディスク装置が起動するとき等の所定の回転速度、あるいは再生時又は記録時の回転速度で回転し、フォーカス制御が実行され、トラッキング制御が実行されておらず、アクチュエータ駆動部３００により出力される駆動電流ＡＣＴＤＲＶがほぼ０で、かつ光ピックアップ１００が対物レンズ１０５を支持して意図的に軸ずれを生じさせてない状態（以下、「切替え信号決定状態」と呼ぶ）で実行される。上述のように、中点エラー信号ＣＥの変調成分は、光ディスク７００の偏芯量とディスクモータ６００の回転速度とに比例するので、装填される光ディスク７００、及び光ディスク７００の回転速度に応じて、低域通過フィルタ部２０７の出力が切り換えられる。
【００８９】
上記切替え信号決定状態では、第１のトラッキングエラー信号ＴＥ１、第２のトラッキングエラー信号（Ｋ×ＴＥ２）、トラッキングエラー補正信号ＴＥ、および中点エラー信号ＣＥに重畳する変調成分の周波数は、ディスクモータ６００の回転数と光ディスク７００の偏芯量とに比例する。
【００９０】
最初に（ＳＴＥＰ１００）にて、マイコン部２０８が、ディスクモータ６００により出力される回転情報を示す信号（図１には明記せず）に基づいて、ディスクモータ６００の所定時間あたりの回転数を測定する。ここで、測定された回転数と、予め定めた回転数、光ディスク７００に対する記録時の回転数、又は再生時の回転数との差が、予め設計した誤差範囲内に収まっているか否かを判定する。当該差が前記誤差範囲内に収まっていると判定された場合には、処理が（ＳＴＥＰ１０１）に進む一方、当該差が前記誤差範囲内に収まっていないと判定された場合には、処理が（ＳＴＥＰ１３５）に進む。
【００９１】
（ＳＴＥＰ１０１）では、マイコン部２０８が、光ディスク装置がフォーカス制御状態であるか否かを判定する。光ディスク装置がフォーカス制御状態でないと判定された場合には、処理が（ＳＴＥＰ１３５）に進む一方、光ディスク装置がフォーカス制御状態であると判定された場合には、処理が（ＳＴＥＰ１１０）に進む。
【００９２】
（ＳＴＥＰ１１０）では、マイコン部２０８が、中点エラー信号ＣＥの周期を測定する。ここでの中点エラー信号ＣＥの周期の測定方法の詳細については後述する。
【００９３】
（ＳＴＥＰ１２０）では、マイコン部２０８が、光ディスク装置がフォーカス制御状態であるか否かを再度判定する。この判定を行うのは中点エラー信号ＣＥの周期測定中に光ディスク装置がフォーカス制御状態でなくなる可能性があるからである。光ディスク装置がフォーカス制御状態でないと判定された場合には、処理が（ＳＴＥＰ１３５）に進む一方、光ディスク装置がフォーカス制御状態であると判定された場合には、処理が（ＳＴＥＰ１３０）に進む。
【００９４】
（ＳＴＥＰ１３０）では、マイコン部２０８が、（ＳＴＥＰ１１０）にて測定した中点エラー信号ＣＥの周期が予め設計した周期ＴＨ（２[ｍｓｅｃ（ミリ・秒）]）以上であるか否かを判定する。測定した周期が周期ＴＨ以上である場合には、処理が（ＳＴＥＰ１３１）に進む一方、測定した周期が周期ＴＨ未満である場合には、処理が（ＳＴＥＰ１３２）に進む。
【００９５】
（ＳＴＥＰ１３１）では、マイコン部２０８が、切替え信号ＬＰＦをＨレベルに決定して出力し、切替え信号ＬＰＦの決定処理を終了する。つまり、切替え信号ＬＰＦは、低域通過フィルタ部２０７にＬＰＦ２０７ａの出力である低周波数成分を出力させるものとなる。
【００９６】
（ＳＴＥＰ１３２）では、マイコン部２０８が、切替え信号ＬＰＦをＬレベルに決定して出力し、切替え信号ＬＰＦの決定処理を終了する。つまり、切替え信号ＬＰＦは、低域通過フィルタ部２０７に中点エラー信号ＣＥをそのまま出力させるものとなる。
【００９７】
（ＳＴＥＰ１３５）では、マイコン部２０８は、エラーが生じた場合の設定を行い、切替え信号ＬＰＦを決定しないまま切替え信号ＬＰＦの決定処理を終了する。
【００９８】
なお、本実施形態１では、マイコン部２０８が、（ＳＴＥＰ１１０）における中点エラー信号ＣＥの周期測定処理の前後に、光ディスク装置がフォーカス制御状態であるか否かを判断する処理（（ＳＴＥＰ１０１），（ＳＴＥＰ１２０））を実行したが、これらの処理を省略してもよい。
【００９９】
次に、（ＳＴＥＰ１１０）における中点エラー信号ＣＥの周期測定処理について図１３を参照して詳述する。
【０１００】
図１３はマイコン部２０８内の信号の波形を示し、図１３（ａ）は中点エラー信号ＣＥ、図１３（ｂ）は２値化部２０８ａにより出力される２値化パルス信号、図１３（ｃ）はエッジ検出部２０８ｂにより出力されるタイミング信号、図１３（ｄ）はカウンタ部２０８ｃにより出力される間隔信号、図１３（ｅ）は周期最大値保存部２０８ｄにより保存されている周期最大値、図１３（ｆ）はリセット信号を示す。
【０１０１】
まず、時刻ｍ０において、マイコン部２０８のリセット信号発行部がリセット信号を発行する。リセット信号によって、カウンタ部２０８ｃのカウント値（間隔信号）と周期最大値保存部２０８ｄにより保存されている周期最大値とが０にリセットされて、以前の測定データがクリアされる。
【０１０２】
次に、時刻ｍ１において、図１３（ａ）に示すようにマイコン部２０８が中点エラー信号ＣＥを受信し始め、中点エラー信号ＣＥが０（ゼロ）より大きくなる。この０より大きくなった中点エラー信号ＣＥに応じて、２値化部２０８ａが２値化パルス信号としてＨレベルを出力する。エッジ検出部２０８ｂは２値化パルス信号がＬレベルからＨレベルに切り替わったので、その立ち上がりタイミングを示すタイミング信号を出力する。カウンタ部２０８ｃは、エッジ検出部２０８ｂにより出力されたタイミング信号により示される立ち上がりタイミングで内部カウント値をゼロクリアし、カウントを開始する。このとき周期最大値保存部２０８ｄは、周期最大値としてゼロを保存している。
【０１０３】
そして、時刻ｍ１から時刻ｍ２までの期間に、照射スポット７０４、７０５、７０６が光ディスク７００のトラックを１トラック分だけ横断し、この期間の中点エラー信号ＣＥの変調成分の変化が、１周期分の変化に相当する。
【０１０４】
時刻ｍ２を過ぎると中点エラー信号ＣＥは再び０より大きくなり、時刻ｍ１を過ぎたときと同様に、２値化部２０８ａにより出力される２値化パルス信号が再びＬからＨと変化し、この変化に応じて、エッジ検出部２０８ｂがその立ち上がりタイミングを示すタイミング信号をカウンタ部２０８ｃに出力する。
【０１０５】
カウンタ部２０８ｃは時刻ｍ１から時刻ｍ２までのカウント値（Ｔ１）を周期最大値保存部２０８ｄに出力した後に、エッジ検出部２０８ｂにより出力されたタイミング信号を受けて、内部カウント値をゼロクリアし、再びカウントを開始する。
【０１０６】
周期最大値保存部２０８ｄは、それまで保存していた保存値０と時刻ｍ２にてカウンタ部２０８ｃにより出力されたカウント値（Ｔ１）とを比較し、カウント値（Ｔ１）が０よりも大きいので、周期最大値としてＴ１を保存する。
【０１０７】
その後、上述のような動作が繰り返され、時刻ｍ３から時刻ｍ４までのカウント値（Ｔ２）がそれまでに保存された周期最大値（Ｔ１）よりも大きくなり、周期最大値が周期最大値保存部２０８ｄによりＴ２に更新される。
【０１０８】
さらに上述のような動作が時刻ｍ１１まで繰り返され、周期最大値保存部２０８ｄが周期最大値（Ｔ２）を中点エラー信号ＣＥの周期として出力し、遮断周波数決定部２０８ｅにより、この周期が周期ＴＨ以上であるか否かが判定され、この判定結果に基づいて、切替え信号ＬＰＦが出力される。
【０１０９】
なお、本実施形態では、エッジ検出部２０８ｂが２値化部２０８ａの立ち上がりエッジを検出したが、立ち下がりエッジを検出するようにしてもよい。
【０１１０】
また、中点エラー信号ＣＥの変調成分に不要な雑音が重畳してカウンタ部２０８ｃによる誤カウントを発生させるおそれがあるが、このような誤カウントを防止するために、２値化部２０８ａの２値化閾値にヒステリシス特性を持たせたり、各種の誤カウントマスク処理を設けてもよい。
【０１１１】
さらに、本実施形態では、マイコン部２０８が、（ＳＴＥＰ１３０）にて中点エラー信号ＣＥの周期の最大値が周期ＴＨ以上であるか否かを判断する構成としたが、予め設計した周期ＴＨと比較する値を、中点エラー信号周期の平均値としてもよいし、周期の最大値から所定の値を減算して得た最大値近傍の値としてもよい。
【０１１２】
さらに、（ＳＴＥＰ１１０）にて測定され、（ＳＴＥＰ１３０）にて周期ＴＨと比較される周期は、所定の時間内に測定した中点エラー信号ＣＥの複数の周期のうちの最大値であったが、前記複数の周期の平均値としても、前記最大値から所定の値を減算して得た最大値近傍の値としてもよい。
【０１１３】
＜光ディスク装置の動作＞
図１４は、シーク制御状態及びトラッキング制御状態における光ディスク装置内の信号波形を示す。図１４（ａ）は、マイコン部２０８により出力される制御切替え信号ＳＷ、図１４（ｂ）は、スレッド駆動部４００により出力される駆動電流ＳＬＤＤＲＶ、図１４（ｃ）は、アクチュエータ駆動部３００により出力される駆動電流ＡＣＴＤＲＶ、図１４（ｄ）は、第１のトラッキングエラー信号ＴＥ１を示す。シーク制御状態では、光ディスク７００に対する情報の再生及び記録のために照射スポット７０４，７０５，７０６が所望のトラックへ移動する。
【０１１４】
図１４では、光ディスク装置の状態を一旦トラッキング制御状態からシーク制御状態に遷移させ、その後再びトラッキング制御状態に遷移させている。
【０１１５】
時刻ａ０から時刻ａ１の区間において、光ディスク装置はトラッキング制御状態であり、図１４（ａ）に示すように、マイコン部２０８は制御切替え信号ＳＷとしてＨレベルを出力する。切替えスイッチ２１０はこのＨレベルの制御切替え信号ＳＷに応じて、トラッキング制御部２０５により出力された駆動信号ＴＲＤＲＶを選択してアクチュエータ駆動信号ＡＣＴとして出力し、アクチュエータ駆動部３００は、図１４（ｃ）に示すように、トラッキング制御部２０５により出力された駆動信号ＴＲＤＲＶ（アクチュエータ駆動信号ＡＣＴ）を駆動電流ＡＣＴＤＲＶに変換してアクチュエータ１０６に出力する。
【０１１６】
このとき、主ビーム及び副ビームは所望のトラック上を走査しており、光ピックアップ１００を光ディスク７００の径方向に駆動する必要がないので、スレッド駆動部４００により出力される駆動電流ＳＬＤＤＲＶは０である。
【０１１７】
アクチュエータ１０６は、アクチュエータ駆動部３００により出力された駆動電流ＡＣＴＤＲＶに基づいて、対物レンズ１０５を駆動する。このとき、駆動電流ＡＣＴＤＲＶは駆動信号ＴＲＤＲＶに基づいており、この駆動信号ＴＲＤＲＶは、図１４（ｄ）に示すように、第１のトラッキングエラー信号ＴＥ１が略０となるように生成されるので、照射スポット７０４、７０５、７０６は対物レンズ１０５を介して光ディスク７００上に照射されて所望のトラック上を走査する。
【０１１８】
続いて時刻ａ１になると、光ディスク装置は、照射スポット７０４、７０５、７０６を時刻ａ０から時刻ａ１までの区間において走査していたトラックとは異なるトラックへ移動させるため、シーク制御状態に状態を変化させる。
【０１１９】
まず、マイコン部２０８が、図１４（ａ）に示すように、制御切替え信号ＳＷをＨレベルからＬレベルに切り替える。切替えスイッチ２１０はこのＬレベルの制御切替え信号ＳＷに応じて、中点制御部２０９により出力された駆動信号ＣＥＤＲＶを選択してアクチュエータ駆動信号ＡＣＴとして出力する。
【０１２０】
なお、時刻ａ１から時刻ａ２にかけて、スレッド駆動部４００は、図１４（ｂ）に示すように、光ピックアップ１００を光ディスク７００の所望のトラックに移動させるようにスレッドモータ５００が加速するように、駆動電流ＳＬＤＤＲＶを出力する。
【０１２１】
スレッドモータ５００の速度は時刻ａ１のときに０であるが、時刻ａ１から時刻ａ２にかけて加速されるので、図７を用いて説明した通り、光ピックアップ１００には外力が働き、その結果として対物レンズ１０５にも外力が働き、軸ずれが発生する。しかし、切替えスイッチ２１０が、中点制御部２０９により出力された駆動信号ＣＥＤＲＶをアクチュエータ駆動部３００に出力するので、アクチュエータ駆動部３００は対物レンズ１０５が軸ずれしないように、駆動信号ＣＥＤＲＶを図１４（ｃ）に示すような駆動電流ＡＣＴＤＲＶに変換して出力する。
【０１２２】
アクチュエータ１０６はアクチュエータ駆動部３００により出力された駆動電流ＡＣＴＤＲＶに基づいて対物レンズ１０５を駆動し、これにより、対物レンズ１０５が軸ずれすることなく制御される。したがって、第１のトラッキングエラー信号ＴＥ１は、図１４（ｄ）に示すように、照射スポット７０４が光ディスク７００上のトラックを横断することに起因して変化する。
【０１２３】
ただし、上記のように対物レンズ１０５は軸ずれのない状態に制御されているので、第１のトラッキングエラー信号ＴＥ１にはＤＣオフセットが重畳されない。
【０１２４】
次に時刻ａ２になると、光ピックアップ１００を光ディスク７００の径方向に移動させるスレッドモータ５００が、図１４（ｂ）に示すように、最高速度の状態を保持しながら、略一定の速度で回転をする。
【０１２５】
マイコン部２０８は、図１４（ａ）に示すように、制御切替え信号ＳＷをＬに維持する。切替えスイッチ２１０は、このＬレベルの制御切替え信号ＳＷに応じて、中点制御部２０９により出力された駆動信号ＣＥＤＲＶを選択してアクチュエータ駆動信号ＡＣＴとして出力する。
【０１２６】
スレッドモータ５００の状態は、図１４（ｂ）に示すように、加速状態から速度一定の状態に推移し、光ピックアップ１００へ働く外力は小さくなる。更に時刻ａ１で光ピックアップ１００に働いた外力の影響は、中点制御部２０９により出力された駆動信号ＣＥＤＲＶにより抑圧されたため、アクチュエータ駆動部３００の出力も図１４（ｃ）に示すように略０となり、対物レンズ１０５の軸ずれも略０に制御される。
【０１２７】
したがって、対物レンズ１０５が軸ずれのない状態に制御されているので、図１４（ｄ）に示すように、第１のトラッキングエラー信号ＴＥ１にはＤＣオフセットが重畳されない。
【０１２８】
続いて時刻ａ３において、照射スポット７０４が所望のトラックに近づいてくると、図１４（ｂ）に示すように、スレッド駆動部４００は、スレッドモータ５００が減速するように駆動電流ＳＬＤＤＲＶを出力する。
【０１２９】
時刻ａ３においても、マイコン部２０８は、図１４（ａ）に示すように、制御切替え信号ＳＷをＬに維持する。切替えスイッチ２１０は、このＬレベルの制御切替え信号ＳＷに応じて、中点制御部２０９により出力された駆動信号ＣＥＤＲＶを選択してアクチュエータ駆動信号ＡＣＴとして出力する。
【０１３０】
時刻ａ３から時刻ａ４にかけて、スレッドモータ５００の減速に伴い、図７を用いて説明した通り、光ピックアップ１００には外力が働き、その結果として対物レンズ１０５にも外力が働き、軸ずれが発生する。しかし、このとき切替えスイッチ２１０は中点制御部２０９により出力された駆動信号ＣＥＤＲＶを選択しているため、アクチュエータ駆動部３００は対物レンズ１０５が軸ずれしないように生成された駆動信号ＣＥＤＲＶを、図１４（ｃ）に示すような駆動電流ＡＣＴＤＲＶに変換して出力する。
【０１３１】
アクチュエータ１０６は、アクチュエータ駆動部３００により出力された駆動電流ＡＣＴＤＲＶに基づいて対物レンズ１０５を駆動し、これにより、対物レンズ１０５が軸ずれすることなく制御される。
【０１３２】
したがって、上述のように対物レンズ１０５は軸ずれのない状態に制御されるので、図１４（ｄ）に示すように、第１のトラッキングエラー信号ＴＥ１にはＤＣオフセットが重畳されない。
【０１３３】
そして、時刻ａ４において、照射スポット７０４は所望のトラック近傍に到達し、図１４（ｂ）に示すようにスレッド駆動部４００により出力される駆動電流ＳＬＤＤＲＶは０となり、スレッドモータ５００が停止する。これにより、照射スポット７０４が光ディスク７００上のトラックを横断する速度も低下し、第１のトラッキングエラー信号ＴＥ１の周期が大きくなる。
【０１３４】
マイコン部２０８は、図１４（ａ）に示すように、時刻ａ３から時刻ａ４にかけて、制御切替え信号ＳＷをＬレベルに保持する。切替えスイッチ２１０は、このＬレベルの制御切替え信号ＳＷに応じて、中点制御部２０９により出力された駆動信号ＣＥＤＲＶを選択してアクチュエータ駆動信号ＡＣＴとして出力する。
【０１３５】
そして、照射スポット７０４のトラックを横断する速度が十分に低下し、第１のトラッキングエラー信号ＴＥ１の周期がトラッキング引きこみ可能な周期よりも大きくなると、マイコン部２０８は、図１４（ａ）に示すように、制御切替え信号ＳＷをＨレベルに切り換える。切替えスイッチ２１０は、このＨレベルの制御切替え信号ＳＷに応じて、トラッキング制御部２０５により出力された駆動信号ＴＲＤＲＶを選択してアクチュエータ駆動信号ＡＣＴとして出力する。アクチュエータ駆動部３００は、図１４（ｃ）に示すように、トラッキング制御ループを閉じて、照射スポット７０４を所望のトラックに位置決めするように駆動信号ＡＣＴＤＲＶを出力する。
【０１３６】
このように照射スポット７０４が所望のトラックに位置決めされたので、第１のトラッキングエラー信号ＴＥ１もまた、照射スポット７０４に光ディスク７００上のトラックを横断させるときのレベルから略０に変化する。
【０１３７】
以上のように、対物レンズ１０５の軸ずれを制御しながら、照射スポット７０４を所望のトラックに安定して移動させるシーク制御を実現することができる。
【０１３８】
《実施形態２》
本発明の実施形態２に係る光ディスク装置は、図１５に示すように、実施形態１に係る光ディスク装置の構成に加え、レンズシフト駆動部２１１を備え、実施形態１のマイコン部２０８及び切替えスイッチ２１０に代えて、マイコン部２１３及び切替えスイッチ２１２を備えている。レンズシフト駆動部２１１、マイコン部２１３及び切替えスイッチ２１２は、集積回路２００の一部を構成している。
【０１３９】
また、マイコン部２１３では、リセット信号発行部が、実施形態１のリセット信号に代えて、第１リセット信号（ＲＥＳＥＴ１）及び第２リセット信号（ＲＥＳＥＴ２）を出力する。
【０１４０】
マイコン部２１３は、図１６に示すように、実施形態１の周期測定部２０８ｆ及び遮断周波数決定部２０８ｅに代えて、平均値・振幅測定部２１３ｆ及び遮断周波数決定部２１３ｅを備えている。
【０１４１】
平均値・振幅測定部２１３ｆは、レベル測定部２１３ａ、レベル保存部２１３ｂ、振幅測定部２１３ｃ、及び振幅最大値保存部２１３ｄを備えている。
【０１４２】
レベル測定部２１３ａは、リセット信号発行部により前回第１リセット信号が出力されてから所定期間、中点エラー信号取得部２０６により出力される中点エラー信号ＣＥのレベルを測定して保存し、その所定期間分の平均値を算出する。第１リセット信号は、レベル測定部２１３ａの初期化のためのトリガ信号となり、第１リセット信号が発行される毎に保存された測定値がゼロクリア（リセット）される。
【０１４３】
レベル保存部２１３ｂには、レベル測定部２１３ａにより算出された平均値が保存される。レベル保存部２１３ｂに保存された平均値も、第１リセット信号が発行される毎にゼロクリア（リセット）される。つまり、第１リセット信号がレベル保存部２１３ｂの初期化のためのトリガ信号となっている。
【０１４４】
振幅測定部２１３ｃは、中点エラー信号取得部２０６により出力される中点エラー信号ＣＥを受信し、その振幅を測定する。詳しくは、振幅測定部２１３ｃは、リセット信号発行部により前回第２リセット信号が出力されてから所定期間経過後までに受信した中点エラー信号ＣＥの最大値及び最小値を求め、求めた最大値と最小値の差分を、中点エラー信号ＣＥの振幅として算出する。
【０１４５】
振幅最大値保存部２１３ｄには、振幅測定部２１３ｃにより算出された中点エラー信号ＣＥの振幅が書き込まれる。
【０１４６】
第２リセット信号は振幅測定部２１３ｃ及び振幅最大値保存部２１３ｄを初期化する機能を備え、第２リセット信号が発行されると振幅測定部２１３ｃ及び振幅最大値保存部２１３ｄの内部保存値が一旦ゼロクリア（リセット）される。
【０１４７】
遮断周波数決定部２１３ｅは、レベル保存部２１３ｂの保存値と振幅最大値保存部２１３ｄの保存値に基づいて、切替え信号ＬＰＦを出力する。詳しくは、レベル保存部２１３ｂの保存値に対する振幅最大値保存部２１３ｄの保存値の比が、所定の閾値Ａｍｐ以上である場合には、切替え信号ＬＰＦは、低域通過フィルタ部２０７にＬＰＦ２０７ａの出力である低周波数成分を出力させるものとなる。一方、レベル保存部２１３ｂの保存値に対する振幅最大値保存部２１３ｄの保存値の比が、所定の閾値Ａｍｐ未満である場合には、切替え信号ＬＰＦは、低域通過フィルタ部２０７に中点エラー信号ＣＥをそのまま出力させるものとなる。ここで、レベル保存部２１３ｂの保存値に対する振幅最大値保存部２１３ｄの保存値の比は、照射スポット７０４、７０５、７０６が光ディスク７００のトラックを横断することによって生じる変調成分の中点エラー信号ＣＥに対する割合を定量化したものである。
【０１４８】
また、マイコン部２１３は、レンズシフト駆動開始信号ＬＳ＿ＳＴＡＲＴ及びレンズシフト駆動停止信号ＬＳ＿ＳＴＯＰを出力する。
【０１４９】
レンズシフト駆動部２１１は、駆動信号ＬＳＤを出力する。マイコン部２１３によりレンズシフト駆動開始信号ＬＳ＿ＳＴＡＲＴが出力されている場合、この駆動信号ＬＳＤは、対物レンズ１０５がシーク制御時に軸ずれする大よその軸ずれ量に相当する駆動量、対物レンズ１０５を移動させるものとなる。具体的には、このときの駆動信号ＬＳＤは、対物レンズ１０５を２００[μｍ]だけ軸ずれさせるものとなる。一方、マイコン部２１３によりレンズシフト駆動停止信号ＬＳ＿ＳＴＯＰが出力されている場合、駆動信号ＬＳＤは、０、すなわち、対物レンズ１０５の軸ずれ量を０にするものとなる。
【０１５０】
また、切替えスイッチ２１２は、マイコン部２０８により出力された制御切替え信号ＳＷがＨ（High）レベルであるときには、トラッキング制御部２０５により出力された駆動信号ＴＲＤＲＶを出力し、制御切替え信号ＳＷがＭ（Middle）レベルであるときには、レンズシフト駆動部２１１の出力を出力し、制御切替え信号ＳＷがＬ（Low）レベルであるときには、中点制御部２０９により出力された駆動信号ＣＥＤＲＶを出力する。
【０１５１】
その他の構成は、実施形態１の光ディスク装置と同じである。
【０１５２】
＜切替え信号ＬＰＦの決定処理＞
次に、マイコン部２１３による切替え信号ＬＰＦの決定処理について、図１７のフローチャートを参照して説明する。なお、図１７において、図１２と同じ処理を行うステップについては、図１２と同じ符号を付してその説明を省略する。
【０１５３】
また、図１７の処理も、実施形態１の図１２の処理と同様に、上述した切替え信号決定状態で実行される。
【０１５４】
本実施形態２では、マイコン部２１３が、実施形態１の（ＳＴＥＰ１１０）の処理に代えて、以下に説明する（ＳＴＥＰ１４０）の処理を実行する。
【０１５５】
（ＳＴＥＰ１４０）では、まず、（ＳＴＥＰ１４１）において、マイコン部２１３が、Ｍレベルの制御切替え信号ＳＷを出力する。切替えスイッチ２１２は、マイコン部２１３からのこの制御切替え信号ＳＷに基づいて、レンズシフト駆動部２１１の出力を選択して出力する。また、マイコン部２１３は、レンズシフト駆動開始信号ＬＳ＿ＳＴＡＲＴを出力する。これにより、レンズシフト駆動部２１１は、対物レンズ１０５を一定距離だけ軸ずれさせる駆動信号ＬＳＤを出力し、処理が（ＳＴＥＰ１４２）に進む。
【０１５６】
（ＳＴＥＰ１４２）では、マイコン部２１３のリセット信号発行部が第１リセット信号を発行し、レベル測定部２１３ａおよびレベル保存部２１３ｂの内部保存値を一旦ゼロクリアする。そして、レベル測定部２１３ａが中点エラー信号ＣＥのレベルを所定時間測定し、所定時間分の中点エラー信号ＣＥの平均値を算出してレベル保存部２１３ｂに書き込み、処理が（ＳＴＥＰ１４３）に進む。
【０１５７】
その後、（ＳＴＥＰ１４３）において、マイコン部２１３が、レンズシフト駆動停止信号ＬＳ＿ＳＴＯＰを出力し、レンズシフト駆動部２１１がこのレンズシフト駆動停止信号ＬＳ＿ＳＴＯＰに基づき、その出力を０にする。また、マイコン部２１３は、Ｌレベルの制御切替え信号ＳＷを出力する。切替えスイッチ２１２は、マイコン部２１３からのこの制御切替え信号ＳＷに基づいて、中点制御部２０９の出力を選択してアクチュエータ駆動部３００に出力する。そして、処理が（ＳＴＥＰ１４４）に進む。
【０１５８】
（ＳＴＥＰ１４４）では、上記図１６を用いて説明した通り、振幅測定部２１３ｃが所定期間中の中点エラー信号ＣＥの振幅最大値を算出し、振幅最大値保存部２１３ｄに書き込む。
【０１５９】
また、マイコン部２１３は、実施形態１の（ＳＴＥＰ１３０）の処理に代えて、以下に説明する（ＳＴＥＰ１５０）の処理を実行する。
【０１６０】
（ＳＴＥＰ１５０）では、マイコン部２１３の遮断周波数決定部２１３ｅが、（ＳＴＥＰ１４２）でレベル保存部２１３ｂに書き込まれた保存値（平均値）と、（ＳＴＥＰ１４４）で振幅最大値保存部２１３ｄに書き込まれた保存値（振幅最大値）とを読み出し、レベル保存部２１３ｂの保存値に対する振幅最大値保存部２１３ｄの保存値の比が、所定の閾値Ａｍｐ以上であるか否かを判定する。当該比が、所定の閾値Ａｍｐ以上である場合には処理が（ＳＴＥＰ１３１）に進む一方、当該比が、所定の閾値Ａｍｐ未満である場合には処理が（ＳＴＥＰ１３２）に進む。
【０１６１】
＜光ディスク装置の動作＞
図１８は、ここで、上記（ＳＴＥＰ１４１）から（ＳＴＥＰ１４４）までの処理が実行されるときの光ディスク装置内の信号波形を示す。図１８（ａ）は、マイコン部２１３により出力される制御切替え信号ＳＷ、図１８（ｂ）は、アクチュエータ駆動部３００により出力される駆動電流ＡＣＴＤＲＶ、図１８（ｃ）は、中点エラー信号取得部２０６により取得される中点エラー信号ＣＥを示す。
【０１６２】
時刻ｔ１０は（ＳＴＥＰ１０１）を終了した状態を示す。
【０１６３】
時刻ｔ１１では、マイコン部２１３がＭレベルの制御切替え信号ＳＷを出力する。切替えスイッチ２１２は、この制御切替え信号ＳＷに応じて、アクチュエータ駆動部３００への出力として、レンズシフト駆動部２１１の出力を選択する。
【０１６４】
時刻ｔ１２では、マイコン部２１３がレンズシフト駆動開始信号ＬＳ＿ＳＴＡＲＴを出力し、これに応じて、レンズシフト駆動部２１１が、対物レンズ１０５を一定距離だけ軸ずれさせる駆動信号ＬＳＤを出力する。この駆動信号ＬＳＤは、アクチュエータ駆動部３００により駆動電流ＡＣＴＤＲＶに変換されてアクチュエータ１０６に入力される。アクチュエータ１０６は、駆動信号ＬＳＤに基づく駆動電流ＡＣＴＤＲＶに応じて、対物レンズ１０５を２００[μｍ]だけ軸ずれさせる。すると、中点エラー信号ＣＥは、対物レンズ１０５の軸ずれ量（２００[μｍ]）に応じたＤＣオフセットが中点エラー信号ＣＥに重畳する。
【０１６５】
マイコン部２１３内のレベル測定部２１３ａは、時間ｔ１２からｔ１３の期間の中点エラー信号ＣＥのレベルの平均値を算出する。算出された平均値は、ＤＣオフセットの大きさ（図１８（ｃ）においてＬＶＬ＿ＬＳと示す）として、閾値Ａｍｐを算出するために使用される。
【０１６６】
時間ｔ１３では、マイコン部２１３がレンズシフト駆動停止信号ＬＳ＿ＳＴＯＰを出力し、これに応じて、レンズシフト駆動部２１１が、対物レンズ１０５を軸ずれさせるための駆動量を０にする０の駆動信号を出力する。この０の駆動信号は、アクチュエータ駆動部３００により駆動電流ＡＣＴＤＲＶに変換されてアクチュエータ１０６に入力される。アクチュエータ１０６はアクチュエータ駆動部３００からの駆動電流ＡＣＴＤＲＶに応じて、対物レンズ１０５の軸ずれを略０にする。これにより、中点エラー信号ＣＥに重畳するＤＣオフセット量も略０となる。
【０１６７】
一方、マイコン部２１３は、Ｌレベルの制御切替え信号ＳＷを出力する。切替えスイッチ２１２は、この制御切替え信号ＳＷに応じて、アクチュエータ駆動部３００への出力として、中点制御部２０９の出力を選択する。
【０１６８】
このように、時刻ｔ１３において（ＳＴＥＰ１４３）までの処理が完了する。
【０１６９】
次に、マイコン部２１３のリセット信号発行部が、第２リセット信号（ＲＥＳＥＴ２）を発行し、振幅測定部２１３ｃ及び振幅最大値保存部２１３ｄの内部保存値を一旦ゼロクリアしてから、振幅測定部２１３ｃが中点エラー信号ＣＥの振幅最大値を算出する。
【０１７０】
詳しくは、時刻ｔ１３から時刻ｔ１４までの間に入力される中点エラー信号ＣＥのサンプル値の最大値（図１８（ｃ）にＡｍｐ＋と示す）と最小値（図１８（ｃ）にＡｍｐ−と示す）を検出し、時刻ｔ１４でその最大値と最小値との差（（Ａｍｐ＋）−（Ａｍｐ−））を振幅最大値として出力する。
【０１７１】
＜閾値Ａｍｐの設計方法＞
アクチュエータ１０６のトラッキング１次共振周波数帯域の開ループ特性のゲインが２０[ｄＢ]であるとすると、シーク制御等による軸ずれ量を０．１倍まで抑圧できる。
【０１７２】
そこで、上記遮断周波数決定部２１３ｅにおいて用いられる閾値Ａｍｐは、以下の式（６）に示すように、駆動信号ＬＳＤに基づく軸ずれによって中点エラー信号ＣＥに生じるＤＣオフセット量ＬＶＬ＿ＬＳの０．１倍、すなわち２０［μｍ］に設定される。これにより、変調成分の振幅として、シーク制御時における大よその軸ずれ量の０．１倍までが許容される。
【０１７３】
Ａｍｐ＝ＬＶＬ＿ＬＳ×０．１ ・・・式（６）
以上のように、低域通過フィルタ部２０７の出力を選択することによって、光ディスク７００のトラックを横断した際の変調成分の影響を受けない中点エラー信号ＣＥを中点制御部２０９に入力でき、中点制御部２０９が本来制御するべき対物レンズ１０５の軸ずれ成分を制御できる。
【０１７４】
さらに、シーク制御時のようにスレッドモータ５００が回転して、照射スポット７０４、７０５、７０６が光ディスク７００のトラックを横断する速度が速くなり、その結果として中点エラー信号ＣＥに変調成分が重畳しても、その変調成分をＬＰＦ２０７ａによって除去することができ、中点制御時の不要な消費電流を抑制することができる。
【０１７５】
なお、本実施形態２では、マイコン部２０８が、（ＳＴＥＰ１４０）の前後に、光ディスク装置がフォーカス制御状態であるか否かを判断する処理（（ＳＴＥＰ１０１），（ＳＴＥＰ１２０））を実行したが、これらの処理を省略してもよい。
【０１７６】
なお、切替え信号ＬＰＦを決定した後の、トラッキング制御状態とシーク制御状態における本実施形態２に係る光ディスク装置の動作は、実施形態１に係る光ディスク装置について図１４を参照して説明した動作と同様になる。
【０１７７】
《実施形態３》
本発明の実施形態３に係る光ディスク装置は、図１９に示すように、実施形態２のマイコン部２１３に代えて、マイコン部２１４を備えている。
【０１７８】
このマイコン部２１４は、図２０に示すように、実施形態１の周期測定部２０８ｆと、実施形態２の平均値・振幅測定部２１３ｆと、遮断周波数決定部２１４ａとを備えている。
【０１７９】
遮断周波数決定部２１４ａは、周期最大値保存部２０８ｄにより出力された周期最大値と、レベル保存部２１３ｂの保存値と、振幅最大値保存部２１３ｄの保存値とに基づいて、切替え信号ＬＰＦを出力する。詳しくは、レベル保存部２１３ｂの保存値に対する振幅最大値保存部２１３ｄの保存値の比が、所定の閾値Ａｍｐ以上であるという条件と、周期最大値保存部２０８ｄにより出力された周期最大値が予め設計したＴＨ（２[ｍｓｅｃ]）以上であるという条件とのうちの少なくとも一方が満たされている場合には、切替え信号ＬＰＦは、低域通過フィルタ部２０７にＬＰＦ２０７ａの出力である低周波数成分を出力させるものとなる。一方、両条件が満たされていない場合には、切替え信号ＬＰＦは、低域通過フィルタ部２０７に中点エラー信号ＣＥをそのまま出力させるものとなる。
【０１８０】
その他の構成は、実施形態２の光ディスク装置と同じである。
【０１８１】
次に、マイコン部２１４による切替え信号ＬＰＦの決定処理について、図２１のフローチャートを参照して説明する。なお、図２１において、図１７と同じ処理を行うステップについては、図１７と同じ符号を付してその説明を省略する。
【０１８２】
また、図２１の処理も、実施形態２の図１７の処理と同様に、上述した切替え信号決定状態で実行される。
【０１８３】
本実施形態３では、マイコン部２１４が、実施形態２の（ＳＴＥＰ１５０）の処理に代えて、以下に説明する（ＳＴＥＰ１６０）の処理を実行する。また、（ＳＴＥＰ１４４）の処理と（ＳＴＥＰ１２０）の処理との間に実施形態１の（ＳＴＥＰ１１０）の処理を実行する。なお、（ＳＴＥＰ１４４）と（ＳＴＥＰ１１０）の実行順序は反対であってもよいし、（ＳＴＥＰ１４４）と（ＳＴＥＰ１１０）とが同時に実行されてもよい。
【０１８４】
（ＳＴＥＰ１６０）では、マイコン部２１４の遮断周波数決定部２１４ａが、（ＳＴＥＰ１４２）でレベル保存部２１３ｂに書き込まれた保存値（平均値）と、（ＳＴＥＰ１４４）で振幅最大値保存部２１３ｄに書き込まれた保存値（振幅最大値）とを読み出す。そして、遮断周波数決定部２１４ａは、レベル保存部２１３ｂの保存値に対する振幅最大値保存部２１３ｄの保存値の比が、所定の閾値Ａｍｐ以上であるという条件と、（ＳＴＥＰ１１０）にて測定した中点エラー信号ＣＥの周期が周期ＴＨ以上であるという条件とのうちの少なくとも一方が満たされているか否かを判定する。両条件の少なくとも一方が満たされている場合には、処理が（ＳＴＥＰ１３１）に進む一方、両条件が満たされていない場合には処理が（ＳＴＥＰ１３２）に進む。
【０１８５】
以上のように、低域通過フィルタ部２０７の出力を選択することによって、光ディスク７００のトラックを横断した際の変調成分の影響を受けない中点エラー信号ＣＥを中点制御部２０９に入力でき、中点制御部２０９が本来制御するべき対物レンズ１０５の軸ずれ成分を制御できる。
【０１８６】
さらに、シーク制御時のようにスレッドモータ５００が回転して、照射スポット７０４、７０５、７０６が光ディスク７００のトラックを横断する速度が速くなり、その結果として中点エラー信号ＣＥに変調成分が重畳しても、その変調成分をＬＰＦ２０７ａによって除去することができ、中点制御時の不要な消費電流を抑制することができる。
【０１８７】
なお、切替え信号ＬＰＦを決定した後の、トラッキング制御状態とシーク制御状態における本実施形態３に係る光ディスク装置の動作は、実施形態１に係る光ディスク装置について図１４を参照して説明した動作と同様になる。
【０１８８】
なお、本実施形態３では、マイコン部２１４が、（ＳＴＥＰ１４０）及び（ＳＴＥＰ１１０）の前後に、光ディスク装置がフォーカス制御状態であるか否かを判断する処理（（ＳＴＥＰ１０１），（ＳＴＥＰ１２０））を実行したが、これらの処理を省略してもよい。
【０１８９】
さらに、本実施形態３において、図２２に示すように、マイコン部２１４の遮断周波数決定部２１４ａが、（ＳＴＥＰ１６０）の処理に代えて、次の（ＳＴＥＰ１６１）の処理を実行するようにしてもよい。
【０１９０】
つまり、（ＳＴＥＰ１６１）では、遮断周波数決定部２１４ａが、レベル保存部２１３ｂの保存値に対する振幅最大値保存部２１３ｄの保存値の比が、所定の閾値Ａｍｐ以上であるという条件と、（ＳＴＥＰ１１０）にて測定した中点エラー信号ＣＥの周期が周期ＴＨ以上であるという条件との両方が満たされているか否かを判定する。両条件が満たされている場合には、処理が（ＳＴＥＰ１３１）に進む一方、両条件が満たされていない場合及び一方の条件が満たされていない場合には処理が（ＳＴＥＰ１３２）に進む。
【０１９１】
《実施形態４》
本発明の実施形態４に係る光ディスク装置は、図２３に示すように、実施形態１の低域通過フィルタ部２０７に代えて、低域通過フィルタ部２１５を備えている。
【０１９２】
低域通過フィルタ部２１５は、図２４に示すように、ＬＰＦ２０７ａを備えておらず、マイコン部２０８により出力される切替え信号ＬＰＦがＨレベルの場合に、前記中点エラー信号を所定の基準レベル（Ｌｅｖｅｌ）の固定信号に置き換えて中点エラー補正信号として出力する。切替え信号ＬＰＦがＬレベルの場合、低域通過フィルタ部２１５は、実施形態１の低域通過フィルタ部２０７と同様に、中点エラー信号取得部２０６により出力された中点エラー信号ＣＥをそのまま出力する。
【０１９３】
つまり、本実施形態３では、中点エラー信号ＣＥに予め設定された周期ＴＨ以上の不要な変調成分が重畳していると判定されている場合、中点制御部２０９への入力信号が基準レベルとされ、中点制御がホールド状態になる。
【０１９４】
その他の構成は、実施形態１の光ディスク装置と同じである。
【０１９５】
本実施形態４では、周期ＴＨに対応する周波数を、中点制御の開ループ特性ゲイン交点周波数近傍に設定することが望ましい。例えば、中点制御の開ループ特性ゲイン交点周波数が１００[Ｈｚ]以下に設定された場合、周期ＴＨに対応する周波数も１００[Ｈｚ]近傍に設定されることが望ましい。
【０１９６】
周期ＴＨに対応する周波数を、中点制御の開ループ特性ゲイン交点周波数近傍に設定することにより、周期ＴＨ、及び中点制御の開ループ特性ゲイン交点周波数に対応する周期よりも長い周期の不要な変調成分が中点エラー信号ＣＥに重畳した場合においても、中点制御による誤制御を防止することができ、シーク制御の不安定化を防止できる。
【０１９７】
なお、本実施形態４は、上記実施形態２、及び実施形態３にも適用できる。
【０１９８】
《実施形態５》
本発明の実施形態５に係る光ディスク装置は、図２５及び図２６に示すように、実施形態１の中点制御部２０９に代えて、中点制御部２１７を備えている。また、本発明の実施形態５に係る光ディスク装置には、低域通過フィルタ部２０７が設けられておらず、中点エラー信号取得部２０６により出力された中点エラー信号ＣＥが中点制御部２１７に直接入力される。
【０１９９】
中点制御部２１７は、図２７に示すように、中点制御フィルタ２１７ａと、中点制御切替え部２１７ｂとを備えている。
【０２００】
中点制御フィルタ２１７ａは、中点エラー信号ＣＥを０に近付けるように駆動信号を導出する。つまり、中点制御フィルタ２１７ａは、実施形態１の中点制御部２０９と同じ構成を有している。
【０２０１】
中点制御切替え部２１７ｂは、マイコン部２０８によりＨレベルの切替え信号ＬＰＦが出力されている場合には、所定の固定レベル（Ｌｅｖｅｌ）の固定信号を駆動信号ＣＥＤＲＶとして出力する一方、マイコン部２０８によりＬレベルの切替え信号ＬＰＦが出力されている場合には、中点制御フィルタ２１７ａにより出力された駆動信号を駆動信号ＣＥＤＲＶとして出力する。
【０２０２】
つまり、本実施形態５では、中点エラー信号ＣＥに予め設定された周期ＴＨ以上の不要な変調成分が重畳していると判定されている場合、中点制御部２１７により導出される駆動信号ＣＥＤＲＶが所定の固定信号にされ、中点制御がホールド状態になる。
【０２０３】
その他の構成は、実施形態１の光ディスク装置と同じである。
【０２０４】
本実施形態５では、周期ＴＨに対応する周波数を、中点制御の開ループ特性ゲイン交点周波数近傍に設定することが望ましい。例えば、中点制御の開ループ特性ゲイン交点周波数が１００[Ｈｚ]以下に設定された場合、周期ＴＨに対応する周波数も１００[Ｈｚ]近傍に設定されることが望ましい。
【０２０５】
周期ＴＨに対応する周波数を、中点制御の開ループ特性ゲイン交点周波数近傍に設定することにより、周期ＴＨ、及び中点制御の開ループ特性ゲイン交点周波数に対応する周期よりも長い周期の不要な変調成分が中点エラー信号ＣＥに重畳した場合においても、中点制御による誤制御を防止することができ、シーク制御の不安定化を防止できる。
【０２０６】
なお、本実施形態５は、実施形態２、及び実施形態３にも適用できる。
【０２０７】
なお、上記実施形態１〜３では、低域通過フィルタ部２０７に１つのＬＰＦ２０７ａのみを設けたが、低域通過フィルタ部２０７が、中点エラー信号ＣＥを受信するカットオフ周波数の異なる複数のＬＰＦを備え、いずれかのＬＰＦの出力を選択して出力するようにしてもよい。
【０２０８】
また、上記実施形態１〜３では、低域通過フィルタ部２０７が、複数のＬＰＦのうちのいずれか１つのＬＰＦの出力を選択するのではなく、マイコン部２０８により書き込まれた特性に応じて中点エラー信号ＣＥに対してフィルタ処理を行うようにしてもよい。
【０２０９】
さらに、上記実施形態１〜３では、一次のＬＰＦ２０７ａを用いたが、ＬＰＦ２０７ａの次数を２以上にしてもよい。
【０２１０】
また、上記実施形態２、３では、（ＳＴＥＰ１４１）〜（ＳＴＥＰ１４３）において、対物レンズ１０５を一定距離だけ軸ずれさせ、そのときの中点エラー信号ＣＥのレベルの平均値（ＬＶＬ＿ＬＳ）に基づいて式（６）により閾値Ａｍｐを決定した。しかし、（ＳＴＥＰ１４１）〜（ＳＴＥＰ１４３）を省略して、ＬＶＬ＿ＬＳを固定して閾値Ａｍｐを設定してもよい。
【０２１１】
また、上記実施形態１〜５では、光ディスク７００に対してデータの記録及び再生を行う光ディスク装置に本発明を適用したが、本発明は、データの記録及び再生のいずれか一方のみを行う光ディスク装置にも適用できる。
【産業上の利用可能性】
【０２１２】
本発明は、光ディスク装置においてトラッキング制御及び中点制御を行う技術として有用である。
【符号の説明】
【０２１３】
１０５ 対物レンズ
１０６ アクチュエータ
１０８ａ メイン光検出器（主受光素子）
１０８ｂ 第１サブ光検出器（副受光素子）
１０８ｃ 第２サブ光検出器（副受光素子）
１０８ｄ〜１０８ｋ 受光領域
２００ 集積回路
２０２ 第１のトラッキングエラー信号取得部
２０２ 中点エラー信号取得部
２０３ 第２のトラッキングエラー信号取得部
２０４ トラッキングエラー補正信号導出部
２０６ 中点エラー信号取得部
２０７ｂ 中点エラー信号補正部
２０８ マイコン部
２１１ レンジシフト駆動部
２１３ マイコン部
２１４ マイコン部
７００〜７０３ 光ディスク
７０４〜７０６ 照射スポット
８００ 光ディスク制御装置
【特許請求の範囲】
【請求項１】
装填される光ディスクの記録面に主ビーム及び副ビームを集光させる対物レンズと、該対物レンズをトラックに垂直な方向に移動させるアクチュエータとを備えた光ディスク装置に設けられ、前記主ビームの照射スポットと前記光ディスクのトラックの中心との位置ずれ量を０に近付けるように前記アクチュエータの駆動信号を導出するトラッキング制御をトラッキングエラー補正信号に基づいて実行するとともに、対物レンズ１０５の軸ずれ量を０に近付けるように前記アクチュエータの駆動信号を導出する中点制御を中点エラー信号に基づいて実行する光ディスク制御装置であって、
前記光ディスクのトラックに対して垂直な方向に並んだ複数の受光領域が形成され、当該各受光領域は、前記光ディスクに照射した主ビームの反射光を受光する主受光素子と、
前記光ディスクのトラックに対して垂直な方向に並んだ複数の受光領域が形成され、当該各受光領域は、前記光ディスクに照射した副ビームの反射光を受光する副受光素子と、
前記主受光素子の複数の受光面における受光量に基づいて、第１のトラッキングエラー信号を取得する第１のトラッキングエラー信号取得部と、
前記副受光素子の複数の受光面における受光量に基づいて、第２のトラッキングエラー信号を取得する第２のトラッキングエラー信号取得部と、
前記第１のトラッキングエラー信号取得部により取得された第１のトラッキングエラー信号と、前記第２のトラッキングエラー信号取得部により取得された第２のトラッキングエラー信号とに基づいて、前記トラッキングエラー補正信号を導出するトラッキングエラー補正信号導出部と、
前記第１のトラッキングエラー信号取得部により取得された第１のトラッキングエラー信号と、前記第２のトラッキングエラー信号取得部により取得された第２のトラッキングエラー信号とに基づいて、前記中点エラー信号を取得する中点エラー信号取得部とを備えていることを特徴とする光ディスク制御装置。
【請求項２】
請求項１に記載の光ディスク制御装置において、
前記アクチュエータにより前記対物レンズを移動させず、かつ前記光ディスクを回転させた状態で前記中点エラー信号取得部により取得された中点エラー信号の周期を測定し、測定した周期が前記中点制御の開ループ特性ゲイン交点周波数よりも高い所定の第１周波数に対応する周期以上である場合に、シーク制御時に、前記中点エラー信号から、前記開ループ特性ゲイン交点周波数よりも高い所定の第２周波数を超える周波数の成分を低減させる中点エラー信号補正部をさらに備えていることを特徴とする光ディスク制御装置。
【請求項３】
請求項２に記載の光ディスク制御装置において、
前記中点エラー信号補正部による周期の測定は、
前記中点エラー信号取得部により取得された中点エラー信号に対して２値化を行うことにより２値化パルス信号を取得する２値化処理と、
前記２値化処理により取得された２値化パルス信号の立ち上がり又は立ち下がりの間隔時間を計測する間隔時間計測処理と、
所定の中点エラー周期測定時間内に前記間隔時間計測処理により計測された間隔時間の最大値を前記周期として取得する周期取得処理とを実行するものであることを特徴とする光ディスク制御装置。
【請求項４】
請求項１に記載の光ディスク制御装置において、
前記アクチュエータにより前記対物レンズを移動させず、かつ前記光ディスクを回転させた状態で前記中点エラー信号取得部により取得された中点エラー信号の周期を測定するマイコン部を備え、
前記マイコン部により測定された周期が前記中点制御の開ループ特性ゲイン交点周波数よりも高い所定の周波数に対応する周期以上である場合に、前記中点制御により導出されるアクチュエータの駆動信号が所定の固定信号にされることを特徴とする光ディスク制御装置。
【請求項５】
請求項１に記載の光ディスク制御装置において、
前記アクチュエータにより前記対物レンズを一定の距離だけ軸ずれさせ、かつ前記光ディスクを回転させた状態で、前記中点エラー信号取得部により取得された所定時間分の中点エラー信号の平均値と、前記アクチュエータにより前記対物レンズを移動させず、かつ前記光ディスクを回転させた状態で、前記中点エラー信号取得部により取得された中点エラー信号の振幅とを測定し、前記中点エラー信号の前記平均値に対する前記振幅の比が所定閾値以上である場合に、シーク制御時に、前記中点エラー信号から、前記中点制御の開ループ特性ゲイン交点周波数よりも高い所定の周波数を超える周波数の成分を低減させる中点エラー信号補正部をさらに備えていることを特徴とする光ディスク制御装置。
【請求項６】
請求項１に記載の光ディスク制御装置において、
前記中点エラー信号補正部が前記中点エラー信号から、前記所定の周波数を超える周波数の成分を低減させる場合に、前記中点制御により導出されるアクチュエータの駆動信号が所定の固定信号にされることを特徴とする光ディスク制御装置。
【請求項７】
請求項１に記載の光ディスク制御装置において、
前記アクチュエータにより前記対物レンズを移動させず、かつ前記光ディスクを回転させた状態で前記中点エラー信号取得部により取得された中点エラー信号の周期を測定し、測定した周期が前記中点制御の開ループ特性ゲイン交点周波数近傍の所定の周波数に対応する周期以上である場合に、シーク制御時に、前記中点エラー信号を所定の固定信号に置き換える中点エラー信号補正部をさらに備えていることを特徴とする光ディスク制御装置。
【請求項８】
請求項１に記載の光ディスク制御装置において、
前記アクチュエータにより前記対物レンズを一定の距離だけ軸ずれさせ、かつ前記光ディスクを回転させた状態で、前記中点エラー信号取得部により取得された所定時間分の中点エラー信号の平均値と、前記アクチュエータにより前記対物レンズを移動させず、かつ前記光ディスクを回転させた状態で、前記中点エラー信号取得部により取得された中点エラー信号の振幅とを測定し、前記中点エラー信号の前記平均値に対する前記振幅の比が所定閾値以上である場合に、シーク制御時に、前記中点エラー信号を所定の固定信号に置き換える中点エラー信号補正部をさらに備えていることを特徴とする光ディスク制御装置。
【請求項９】
請求項１に記載の第１のトラッキングエラー信号取得部と、第２のトラッキングエラー信号取得部と、トラッキングエラー補正信号導出部と、中点エラー信号取得部とを備えた集積回路。
【請求項１０】
請求項９に記載の集積回路と、請求項１に記載の対物レンズ、アクチュエータ、主受光素子、及び副受光素子とを備えた光ディスク装置。
【請求項１１】
装填される光ディスクの記録面に主ビーム及び副ビームを集光させる対物レンズと、該対物レンズをトラックに垂直な方向に移動させるアクチュエータとを備えた光ディスク装置において、前記主ビームの照射スポットと前記光ディスクのトラックの中心との位置ずれ量を０に近付けるように前記アクチュエータの駆動信号を導出するトラッキング制御をトラッキングエラー補正信号に基づいて実行するとともに、対物レンズ１０５の軸ずれ量を０に近付けるように前記アクチュエータの駆動信号を導出する中点制御を中点エラー信号に基づいて実行する光ディスク制御方法であって、
前記光ディスク装置は、
前記光ディスクのトラックに対して垂直な方向に並んだ複数の受光領域が形成され、当該各受光領域は、前記光ディスクに照射した主ビームの反射光を受光する主受光素子と、
前記光ディスクのトラックに対して垂直な方向に並んだ複数の受光領域が形成され、当該各受光領域は、前記光ディスクに照射した副ビームの反射光を受光する副受光素子とを備え、
当該光ディスク制御方法は、
前記主受光素子の複数の受光面における受光量に基づいて、第１のトラッキングエラー信号を取得する第１のトラッキングエラー信号取得ステップと、
前記副受光素子の複数の受光面における受光量に基づいて、第２のトラッキングエラー信号を取得する第２のトラッキングエラー信号取得ステップと、
前記第１のトラッキングエラー信号取得ステップにより取得された第１のトラッキングエラー信号と、前記第２のトラッキングエラー信号取得ステップにより取得された第２のトラッキングエラー信号とに基づいて、前記トラッキングエラー補正信号を導出するトラッキングエラー補正信号導出ステップと、
前記第１のトラッキングエラー信号取得ステップにより取得された第１のトラッキングエラー信号と、前記第２のトラッキングエラー信号取得ステップにより取得された第２のトラッキングエラー信号とに基づいて、前記中点エラー信号を取得する中点エラー信号取得ステップとを備えていることを特徴とする光ディスク制御方法。
【請求項１２】
請求項１１に記載の光ディスク制御方法において、
前記アクチュエータにより前記対物レンズを移動させず、かつ前記光ディスクを回転させた状態で前記中点エラー信号取得ステップにより取得された中点エラー信号の周期を測定し、測定した周期が前記中点制御の開ループ特性ゲイン交点周波数よりも高い所定の第１周波数に対応する周期以上である場合に、シーク制御時に、前記中点エラー信号から、前記開ループ特性ゲイン交点周波数よりも高い所定の第２周波数を超える周波数の成分を低減させる中点エラー信号補正ステップをさらに備えていることを特徴とする光ディスク制御方法。
【請求項１３】
請求項１１に記載の光ディスク制御方法において、
前記アクチュエータにより前記対物レンズを一定の距離だけ軸ずれさせ、かつ前記光ディスクを回転させた状態で、前記中点エラー信号取得ステップにより取得された所定時間分の中点エラー信号の平均値と、前記アクチュエータにより前記対物レンズを移動させず、かつ前記光ディスクを回転させた状態で、前記中点エラー信号取得ステップにより取得された中点エラー信号の振幅とを測定し、前記中点エラー信号の前記平均値に対する前記振幅の比が所定閾値以上である場合に、シーク制御時に、前記中点エラー信号から、前記中点制御の開ループ特性ゲイン交点周波数よりも高い所定の周波数を超える周波数の成分を低減させる中点エラー信号補正ステップをさらに備えていることを特徴とする光ディスク制御方法。
【請求項１４】
請求項１１に記載の光ディスク制御方法において、
前記アクチュエータにより前記対物レンズを移動させず、かつ前記光ディスクを回転させた状態で前記中点エラー信号取得ステップにより取得された中点エラー信号の周期を測定し、測定した周期が前記中点制御の開ループ特性ゲイン交点周波数近傍の所定の周波数に対応する周期以上である場合に、シーク制御時に、前記中点エラー信号を所定の固定信号に置き換える中点エラー信号補正ステップをさらに備えていることを特徴とする光ディスク制御方法。
【請求項１５】
請求項１１に記載の光ディスク制御方法において、
前記アクチュエータにより前記対物レンズを一定の距離だけ軸ずれさせ、かつ前記光ディスクを回転させた状態で、前記中点エラー信号取得ステップにより取得された所定時間分の中点エラー信号の平均値と、前記アクチュエータにより前記対物レンズを移動させず、かつ前記光ディスクを回転させた状態で、前記中点エラー信号取得ステップにより取得された中点エラー信号の振幅とを測定し、前記中点エラー信号の前記平均値に対する前記振幅の比が所定閾値以上である場合に、シーク制御時に、前記中点エラー信号を所定の固定信号に置き換える中点エラー信号補正ステップをさらに備えていることを特徴とする光ディスク制御方法。
【請求項１】
装填される光ディスクの記録面に主ビーム及び副ビームを集光させる対物レンズと、該対物レンズをトラックに垂直な方向に移動させるアクチュエータとを備えた光ディスク装置に設けられ、前記主ビームの照射スポットと前記光ディスクのトラックの中心との位置ずれ量を０に近付けるように前記アクチュエータの駆動信号を導出するトラッキング制御をトラッキングエラー補正信号に基づいて実行するとともに、対物レンズ１０５の軸ずれ量を０に近付けるように前記アクチュエータの駆動信号を導出する中点制御を中点エラー信号に基づいて実行する光ディスク制御装置であって、
前記光ディスクのトラックに対して垂直な方向に並んだ複数の受光領域が形成され、当該各受光領域は、前記光ディスクに照射した主ビームの反射光を受光する主受光素子と、
前記光ディスクのトラックに対して垂直な方向に並んだ複数の受光領域が形成され、当該各受光領域は、前記光ディスクに照射した副ビームの反射光を受光する副受光素子と、
前記主受光素子の複数の受光面における受光量に基づいて、第１のトラッキングエラー信号を取得する第１のトラッキングエラー信号取得部と、
前記副受光素子の複数の受光面における受光量に基づいて、第２のトラッキングエラー信号を取得する第２のトラッキングエラー信号取得部と、
前記第１のトラッキングエラー信号取得部により取得された第１のトラッキングエラー信号と、前記第２のトラッキングエラー信号取得部により取得された第２のトラッキングエラー信号とに基づいて、前記トラッキングエラー補正信号を導出するトラッキングエラー補正信号導出部と、
前記第１のトラッキングエラー信号取得部により取得された第１のトラッキングエラー信号と、前記第２のトラッキングエラー信号取得部により取得された第２のトラッキングエラー信号とに基づいて、前記中点エラー信号を取得する中点エラー信号取得部とを備えていることを特徴とする光ディスク制御装置。
【請求項２】
請求項１に記載の光ディスク制御装置において、
前記アクチュエータにより前記対物レンズを移動させず、かつ前記光ディスクを回転させた状態で前記中点エラー信号取得部により取得された中点エラー信号の周期を測定し、測定した周期が前記中点制御の開ループ特性ゲイン交点周波数よりも高い所定の第１周波数に対応する周期以上である場合に、シーク制御時に、前記中点エラー信号から、前記開ループ特性ゲイン交点周波数よりも高い所定の第２周波数を超える周波数の成分を低減させる中点エラー信号補正部をさらに備えていることを特徴とする光ディスク制御装置。
【請求項３】
請求項２に記載の光ディスク制御装置において、
前記中点エラー信号補正部による周期の測定は、
前記中点エラー信号取得部により取得された中点エラー信号に対して２値化を行うことにより２値化パルス信号を取得する２値化処理と、
前記２値化処理により取得された２値化パルス信号の立ち上がり又は立ち下がりの間隔時間を計測する間隔時間計測処理と、
所定の中点エラー周期測定時間内に前記間隔時間計測処理により計測された間隔時間の最大値を前記周期として取得する周期取得処理とを実行するものであることを特徴とする光ディスク制御装置。
【請求項４】
請求項１に記載の光ディスク制御装置において、
前記アクチュエータにより前記対物レンズを移動させず、かつ前記光ディスクを回転させた状態で前記中点エラー信号取得部により取得された中点エラー信号の周期を測定するマイコン部を備え、
前記マイコン部により測定された周期が前記中点制御の開ループ特性ゲイン交点周波数よりも高い所定の周波数に対応する周期以上である場合に、前記中点制御により導出されるアクチュエータの駆動信号が所定の固定信号にされることを特徴とする光ディスク制御装置。
【請求項５】
請求項１に記載の光ディスク制御装置において、
前記アクチュエータにより前記対物レンズを一定の距離だけ軸ずれさせ、かつ前記光ディスクを回転させた状態で、前記中点エラー信号取得部により取得された所定時間分の中点エラー信号の平均値と、前記アクチュエータにより前記対物レンズを移動させず、かつ前記光ディスクを回転させた状態で、前記中点エラー信号取得部により取得された中点エラー信号の振幅とを測定し、前記中点エラー信号の前記平均値に対する前記振幅の比が所定閾値以上である場合に、シーク制御時に、前記中点エラー信号から、前記中点制御の開ループ特性ゲイン交点周波数よりも高い所定の周波数を超える周波数の成分を低減させる中点エラー信号補正部をさらに備えていることを特徴とする光ディスク制御装置。
【請求項６】
請求項１に記載の光ディスク制御装置において、
前記中点エラー信号補正部が前記中点エラー信号から、前記所定の周波数を超える周波数の成分を低減させる場合に、前記中点制御により導出されるアクチュエータの駆動信号が所定の固定信号にされることを特徴とする光ディスク制御装置。
【請求項７】
請求項１に記載の光ディスク制御装置において、
前記アクチュエータにより前記対物レンズを移動させず、かつ前記光ディスクを回転させた状態で前記中点エラー信号取得部により取得された中点エラー信号の周期を測定し、測定した周期が前記中点制御の開ループ特性ゲイン交点周波数近傍の所定の周波数に対応する周期以上である場合に、シーク制御時に、前記中点エラー信号を所定の固定信号に置き換える中点エラー信号補正部をさらに備えていることを特徴とする光ディスク制御装置。
【請求項８】
請求項１に記載の光ディスク制御装置において、
前記アクチュエータにより前記対物レンズを一定の距離だけ軸ずれさせ、かつ前記光ディスクを回転させた状態で、前記中点エラー信号取得部により取得された所定時間分の中点エラー信号の平均値と、前記アクチュエータにより前記対物レンズを移動させず、かつ前記光ディスクを回転させた状態で、前記中点エラー信号取得部により取得された中点エラー信号の振幅とを測定し、前記中点エラー信号の前記平均値に対する前記振幅の比が所定閾値以上である場合に、シーク制御時に、前記中点エラー信号を所定の固定信号に置き換える中点エラー信号補正部をさらに備えていることを特徴とする光ディスク制御装置。
【請求項９】
請求項１に記載の第１のトラッキングエラー信号取得部と、第２のトラッキングエラー信号取得部と、トラッキングエラー補正信号導出部と、中点エラー信号取得部とを備えた集積回路。
【請求項１０】
請求項９に記載の集積回路と、請求項１に記載の対物レンズ、アクチュエータ、主受光素子、及び副受光素子とを備えた光ディスク装置。
【請求項１１】
装填される光ディスクの記録面に主ビーム及び副ビームを集光させる対物レンズと、該対物レンズをトラックに垂直な方向に移動させるアクチュエータとを備えた光ディスク装置において、前記主ビームの照射スポットと前記光ディスクのトラックの中心との位置ずれ量を０に近付けるように前記アクチュエータの駆動信号を導出するトラッキング制御をトラッキングエラー補正信号に基づいて実行するとともに、対物レンズ１０５の軸ずれ量を０に近付けるように前記アクチュエータの駆動信号を導出する中点制御を中点エラー信号に基づいて実行する光ディスク制御方法であって、
前記光ディスク装置は、
前記光ディスクのトラックに対して垂直な方向に並んだ複数の受光領域が形成され、当該各受光領域は、前記光ディスクに照射した主ビームの反射光を受光する主受光素子と、
前記光ディスクのトラックに対して垂直な方向に並んだ複数の受光領域が形成され、当該各受光領域は、前記光ディスクに照射した副ビームの反射光を受光する副受光素子とを備え、
当該光ディスク制御方法は、
前記主受光素子の複数の受光面における受光量に基づいて、第１のトラッキングエラー信号を取得する第１のトラッキングエラー信号取得ステップと、
前記副受光素子の複数の受光面における受光量に基づいて、第２のトラッキングエラー信号を取得する第２のトラッキングエラー信号取得ステップと、
前記第１のトラッキングエラー信号取得ステップにより取得された第１のトラッキングエラー信号と、前記第２のトラッキングエラー信号取得ステップにより取得された第２のトラッキングエラー信号とに基づいて、前記トラッキングエラー補正信号を導出するトラッキングエラー補正信号導出ステップと、
前記第１のトラッキングエラー信号取得ステップにより取得された第１のトラッキングエラー信号と、前記第２のトラッキングエラー信号取得ステップにより取得された第２のトラッキングエラー信号とに基づいて、前記中点エラー信号を取得する中点エラー信号取得ステップとを備えていることを特徴とする光ディスク制御方法。
【請求項１２】
請求項１１に記載の光ディスク制御方法において、
前記アクチュエータにより前記対物レンズを移動させず、かつ前記光ディスクを回転させた状態で前記中点エラー信号取得ステップにより取得された中点エラー信号の周期を測定し、測定した周期が前記中点制御の開ループ特性ゲイン交点周波数よりも高い所定の第１周波数に対応する周期以上である場合に、シーク制御時に、前記中点エラー信号から、前記開ループ特性ゲイン交点周波数よりも高い所定の第２周波数を超える周波数の成分を低減させる中点エラー信号補正ステップをさらに備えていることを特徴とする光ディスク制御方法。
【請求項１３】
請求項１１に記載の光ディスク制御方法において、
前記アクチュエータにより前記対物レンズを一定の距離だけ軸ずれさせ、かつ前記光ディスクを回転させた状態で、前記中点エラー信号取得ステップにより取得された所定時間分の中点エラー信号の平均値と、前記アクチュエータにより前記対物レンズを移動させず、かつ前記光ディスクを回転させた状態で、前記中点エラー信号取得ステップにより取得された中点エラー信号の振幅とを測定し、前記中点エラー信号の前記平均値に対する前記振幅の比が所定閾値以上である場合に、シーク制御時に、前記中点エラー信号から、前記中点制御の開ループ特性ゲイン交点周波数よりも高い所定の周波数を超える周波数の成分を低減させる中点エラー信号補正ステップをさらに備えていることを特徴とする光ディスク制御方法。
【請求項１４】
請求項１１に記載の光ディスク制御方法において、
前記アクチュエータにより前記対物レンズを移動させず、かつ前記光ディスクを回転させた状態で前記中点エラー信号取得ステップにより取得された中点エラー信号の周期を測定し、測定した周期が前記中点制御の開ループ特性ゲイン交点周波数近傍の所定の周波数に対応する周期以上である場合に、シーク制御時に、前記中点エラー信号を所定の固定信号に置き換える中点エラー信号補正ステップをさらに備えていることを特徴とする光ディスク制御方法。
【請求項１５】
請求項１１に記載の光ディスク制御方法において、
前記アクチュエータにより前記対物レンズを一定の距離だけ軸ずれさせ、かつ前記光ディスクを回転させた状態で、前記中点エラー信号取得ステップにより取得された所定時間分の中点エラー信号の平均値と、前記アクチュエータにより前記対物レンズを移動させず、かつ前記光ディスクを回転させた状態で、前記中点エラー信号取得ステップにより取得された中点エラー信号の振幅とを測定し、前記中点エラー信号の前記平均値に対する前記振幅の比が所定閾値以上である場合に、シーク制御時に、前記中点エラー信号を所定の固定信号に置き換える中点エラー信号補正ステップをさらに備えていることを特徴とする光ディスク制御方法。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【図１３】
【図１４】
【図１５】
【図１６】
【図１７】
【図１８】
【図１９】
【図２０】
【図２１】
【図２２】
【図２３】
【図２４】
【図２５】
【図２６】
【図２７】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【図１３】
【図１４】
【図１５】
【図１６】
【図１７】
【図１８】
【図１９】
【図２０】
【図２１】
【図２２】
【図２３】
【図２４】
【図２５】
【図２６】
【図２７】
【公開番号】特開２０１２−２３８３６８（Ｐ２０１２−２３８３６８Ａ）
【公開日】平成２４年１２月６日（２０１２．１２．６）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２０１１−１０８５５６（Ｐ２０１１−１０８５５６）
【出願日】平成２３年５月１３日（２０１１．５．１３）
【出願人】（０００００５８２１）パナソニック株式会社 (73,050)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２４年１２月６日（２０１２．１２．６）
【国際特許分類】
【出願日】平成２３年５月１３日（２０１１．５．１３）
【出願人】（０００００５８２１）パナソニック株式会社 (73,050)
【Ｆターム（参考）】
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