分析装置および分析処理方法
【課題】 分析結果の良否を簡単に判定して、否となる問題点を簡単に見つけることができる分析装置および分析処理方法を提供することを目的とする。
【解決手段】 分析結果判定部４４は、第１情報記憶部４３に記憶された分析の基となる測定データの良否を判断するための判断基準に基づいて今回の分析結果の良否を判定し、解決方法提示部４６は、第２情報記憶部４５に記憶された互いに関連付けられた過去の問題点および解決方法の情報に基づいて今回の分析結果の問題点に対する解決方法を提示する。したがって、分析結果の良否を簡単に判定して、否となる問題点を簡単に見つけることができる。
【解決手段】 分析結果判定部４４は、第１情報記憶部４３に記憶された分析の基となる測定データの良否を判断するための判断基準に基づいて今回の分析結果の良否を判定し、解決方法提示部４６は、第２情報記憶部４５に記憶された互いに関連付けられた過去の問題点および解決方法の情報に基づいて今回の分析結果の問題点に対する解決方法を提示する。したがって、分析結果の良否を簡単に判定して、否となる問題点を簡単に見つけることができる。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、所定の分析を行う分析装置および分析処理方法に係り、特に、分析条件に基づいてその所定の分析を行う技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
分析装置として、高周波プラズマ発光分析装置を例に採って説明する。高周波プラズマ発光分析装置は、プラズマ中の試料から発光された光を分光し、その分光によって得られたスペクトル線を用いて定量分析を行う。例えば、シーケンシャル型の高周波プラズマ発光分析装置は、回折格子などに代表される光学系を動かしながら定量分析を行う。一方、同時分析型の高周波プラズマ発光分析装置は、多チャンネル型の検出器を備え、装置の測定波長範囲内にある分析元素・波長全てについてスペクトル線などに代表される測定データを一括して同時に取得することができる。
【０００３】
そして、分析条件（すなわち分析パラメータ）を設定して、取得された測定データと分析条件とに基づいて分析を行う。より具体的には、例えば分析条件として分析対象となる元素や波長を設定して、その元素・波長についての検量線やプロファイルといった情報を取得し、その情報から計算された試料中元素濃度を出力する。そして、これらを分析者が参照し、分析結果の良否を判定している。
【０００４】
分析結果に問題点を見つけた場合、すなわち分析結果が否だと判定した場合には、分析者がその問題点の原因を特定する。そして、（α）分析パラメータを新たに設定して、測定データを新たに取得することなく今回取得された測定データから再計算して、その問題点を解決するのか、（β）試料の再測定を行って測定データを新たに取得する必要があるかを分析者が判断して問題点の解決を行っている。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、分析経験の浅い分析者にとって、検量線やプロファイルなどの情報から、その分析結果の良否を判定することは難しい。さらに、問題点を見つけた場合でも、（α）再計算して問題点を解決できるのか、（β）試料の再測定が必要なのかを判断するのは難しい。
【０００６】
この発明は、このような事情に鑑みてなされたものであって、分析結果の良否を簡単に判定して、否となる問題点を簡単に見つけることができる分析装置および分析処理方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
この発明は、このような目的を達成するために、次のような構成をとる。
すなわち、請求項１に記載の発明は、分析条件を設定する分析条件設定手段を備え、その分析条件設定手段で設定された分析条件に基づいて所定の分析を行う分析装置であって、分析の基となる測定データの良否を判断するための判断基準を予め記憶する第１情報記憶手段と、その第１情報記憶手段に記憶された判断基準に基づいて今回の分析結果の良否を判定する分析結果判定手段と、分析結果が否の場合において否となる過去の問題点およびその問題点に対する解決方法を互いに関連付けて情報を予め記憶する第２情報記憶手段と、その第２情報記憶手段に記憶された前記関連付けられた過去の問題点および解決方法の情報に基づいて今回の分析結果の問題点に対する解決方法を提示する解決方法提示手段とを備えることを特徴とするものである。
【０００８】
［作用・効果］請求項１に記載の発明によれば、分析条件設定手段で設定された分析条件に基づいて所定の分析を行う際に、分析結果判定手段は、第１情報記憶手段に記憶された分析の基となる測定データの良否を判断するための判断基準に基づいて今回の分析結果の良否を判定する。したがって、分析経験の浅い分析者でも、分析結果の良否を簡単に判定することができる。そして、解決方法提示手段は、第２情報記憶手段に記憶された互いに関連付けられた過去の問題点および解決方法の情報に基づいて今回の分析結果の問題点に対する解決方法を提示する。したがって、分析経験の浅い分析者でも、否となる問題点を簡単に見つけることができる。
【０００９】
上述した発明において、分析の基となる測定データを新たに測定して取得する必要がなく、新たなる分析条件を設定して分析を行うことで分析結果が良となる場合には、上述した解決方法提示手段によって提示された今回の問題点および解決方法のうちから、上述した新たなる分析条件を選択して、その新たなる分析条件に基づいて今回の分析結果を再計算して、上述した測定データを新たに測定して取得することなく新たなる分析結果を求めるように各手段を構成するのが好ましい（請求項２に記載の発明）。このように構成することで、新たなる分析条件を設定して分析を行うことで分析結果が良となるような場合では、測定データを新たに測定して取得することなく新たなる分析結果を求めることができる。そして、求められたその新たなる分析結果が良となる。
【００１０】
また、この発明における解決方法提示手段によって提示された今回の問題点および解決方法を出力する手段については、装置と別体であってもよいし、装置内に備えられていてもよい。装置内に備えられる場合には、出力する手段の代表的な一例は、今回の問題点および解決方法を表示する表示手段である（請求項３に記載の発明）。かかる表示手段を備えることで、分析者は問題点および解決方法の表示を簡単に閲覧することができる。なお、出力する手段は、出力表示を行う表示手段に限定されず、出力印刷する手段（例えばプリンタ）であってもよい。
【００１１】
また、上述した第1情報記憶手段または／および第２情報記憶手段は、最新の情報に書き換え可能に構成されていてもよい（請求項４に記載の発明）。このように各記憶手段を書き換え可能に構成することで、第1情報記憶手段の場合では分析結果判定手段は、第２情報記憶手段の場合では解決方法提示手段は、最新の情報を常に参照することができて、第1情報記憶手段の場合では分析結果の良否を正確に判定することができ、第２情報記憶手段の場合では否となる問題点を正確に見つけることができる。
【００１２】
また、所定の分析の一例は、分析の基となる測定データを測定して、その測定データを一括して取得する分析である（請求項５に記載の発明）。かかる分析の場合には、一括して測定データを取得した後に、その測定データと分析条件とに基づいて分析結果を求める。したがって、個々の分析条件に対応して分析結果を求める場合には、同一の測定データと個々の分析結果とに基づいて分析結果がそれぞれ求まるので、測定データを再度測定、すなわち試料の再測定を行う必要がない。特に、請求項６に記載の発明が、請求項２に記載の発明に従属されている場合には、同一の測定データのみで新たなる分析結果を求めることができる。
【００１３】
また、測定データを一括して取得する分析の一例は、多チャンネル型の検出器を備え、測定波長範囲内の測定データを同時に取得可能な同時分析型高周波プラズマ発光分析である（請求項６に記載の発明）。この発明における分析装置を、かかる高周波プラズマ発光分析を行う装置として用いることになる。同時分析型の高周波プラズマ発光分析装置の場合には、多チャンネル型の検出器を備えているので、スペクトル線などに代表される測定データを一括して同時に取得することができる。
【００１４】
また、請求項７に記載の発明は、設定された分析条件に基づいて所定の分析を行う分析工程を含んだ一連の分析処理を実行する分析処理方法であって、分析条件を設定する分析条件設定工程と、その分析条件設定工程で設定された分析条件に基づいて所定の分析を行う分析工程と、分析の基となる測定データの良否を判断するための判断基準に基づいて今回の分析結果の良否を判定する分析結果判定工程と、分析結果が否の場合において否となる過去の問題点およびその問題点に対する解決方法が互いに関連付けられているときにおいて、その関連付けられた過去の問題点および解決方法の情報に基づいて今回の分析結果の問題点に対する解決方法を提示する解決方法提示工程とを備えることを特徴とするものである。
【００１５】
［作用・効果］請求項７に記載の発明によれば、分析条件設定工程で設定された分析条件に基づいて分析工程で所定の分析を行い、分析の基となる測定データの良否を判断するための判断基準に基づいて分析結果判定工程で今回の分析結果の良否を判定する。したがって、分析経験の浅い分析者でも、分析結果の良否を簡単に判定することができる。そして、互いに関連付けられた過去の問題点および解決方法の情報に基づいて今回の分析結果の問題点に対する解決方法を解決方法提示工程で提示する。したがって、分析経験の浅い分析者でも、否となる問題点を簡単に見つけることができる。
【００１６】
また、請求項８に記載の発明は、請求項７に記載の分析処理方法において、前記測定データを新たに測定して取得する必要がなく、新たなる分析条件を設定して分析を行うことで分析結果が良となる場合には、前記解決方法提示工程で提示された前記今回の問題点および解決方法のうちから、前記新たなる分析条件を選択して再設定する分析条件再設定工程と、その新たなる分析条件に基づいて今回の分析結果を再計算する再計算工程と、前記測定データを新たに測定して取得することなく新たなる分析結果を求める分析結果再導出工程とを備えることを特徴とするものである。
【００１７】
［作用・効果］請求項８に記載の発明によれば、このような工程を備えることで、新たなる分析条件を設定して分析を行うことで分析結果が良となるような場合では、測定データを新たに測定して取得することなく分析結果再導出工程で新たなる分析結果を求めることができる。そして、求められたその新たなる分析結果が良となる。
【００１８】
なお、本明細書は、次のような分析処理方法および分析処理プログラム、並びに分析処理記憶媒体に係る発明も開示している。
【００１９】
（１）請求項７または請求項８に記載の分析処理方法において、前記解決方法提示工程で提示された前記今回の問題点および解決方法を表示する表示工程を備えることを特徴とする分析処理方法。
【００２０】
前記（１）に記載の発明によれば、表示工程を備えることで、分析者は問題点および解決方法の表示を簡単に閲覧することができる。
【００２１】
（２）請求項７、請求項８または前記（１）のいずれかに記載の分析処理方法において、前記所定の分析は、多チャンネル型の検出器によって検出して、測定波長範囲内の測定データを同時に取得可能な同時分析型高周波プラズマ発光分析であることを特徴とする分析処理方法。
【００２２】
前記（２）に記載の発明によれば、多チャンネル型の検出器によって、スペクトル線などに代表される測定データを一括して同時に取得することができる。
【００２３】
（３）設定された分析条件に基づいて所定の分析を行う分析工程を含んだ一連の分析処理をコンピュータに実行させるための分析処理プログラムであって、分析条件を設定する分析条件設定工程と、その分析条件設定工程で設定された分析条件に基づいて所定の分析を行う分析工程と、分析の基となる測定データの良否を判断するための判断基準に基づいて今回の分析結果の良否を判定する分析結果判定工程と、分析結果が否の場合において否となる過去の問題点およびその問題点に対する解決方法が互いに関連付けられているときにおいて、その関連付けられた過去の問題点および解決方法の情報に基づいて今回の分析結果の問題点に対する解決方法を提示する解決方法提示工程とを含む分析処理をコンピュータに実行させることを特徴とする分析処理プログラム。
【００２４】
前記（３）に記載の発明によれば、これらの工程を含む分析処理をコンピュータに実行させることによって、分析結果の良否を簡単に判定して、否となる問題点を簡単に見つけることができる。
【００２５】
（４）前記（３）に記載の分析処理プログラムにおいて、前記測定データを新たに測定して取得する必要がなく、新たなる分析条件を設定して分析を行うことで分析結果が良となる場合には、前記解決方法提示工程で提示された前記今回の問題点および解決方法のうちから、前記新たなる分析条件を選択して再設定する分析条件再設定工程と、その新たなる分析条件に基づいて今回の分析結果を再計算する再計算工程と、前記測定データを新たに測定して取得することなく新たなる分析結果を求める分析結果再導出工程とを前記分析処理にさらに含み、その分析処理をコンピュータに実行させることを特徴とする分析処理プログラム。
【００２６】
前記（４）に記載の発明によれば、このような工程をコンピュータに実行させることによって、新たなる分析条件を設定して分析を行うことで分析結果が良となるような場合では、測定データを新たに測定して取得することなく分析結果再導出工程で新たなる分析結果を求めることができる。そして、求められたその新たなる分析結果が良となる。
【００２７】
（５）前記（３）または（４）に記載の分析処理プログラムにおいて、前記解決方法提示工程で提示された前記今回の問題点および解決方法を表示する表示工程を前記分析処理にさらに含み、その分析処理をコンピュータに実行させることを特徴とする分析処理プログラム。
【００２８】
前記（５）に記載の発明によれば、表示工程をコンピュータに実行させることによって、分析者は問題点および解決方法の表示を簡単に閲覧することができる。
【００２９】
（６）前記（３）から（５）のいずれかに記載の分析処理プログラムにおいて、前記所定の分析は、多チャンネル型の検出器によって検出して、測定波長範囲内の測定データを同時に取得可能な同時分析型高周波プラズマ発光分析であることを特徴とする分析処理プログラム。
【００３０】
前記（６）に記載の発明によれば、多チャンネル型の検出器によって、スペクトル線などに代表される測定データを一括して同時に取得することができる。
【００３１】
（７）設定された分析条件に基づいて所定の分析を行う分析工程を含んだ一連の分析処理をコンピュータに実行させるためのプログラムを記録した、コンピュータに読み取り可能な分析処理記憶媒体であって、分析条件を設定する分析条件設定工程と、その分析条件設定工程で設定された分析条件に基づいて所定の分析を行う分析工程と、分析の基となる測定データの良否を判断するための判断基準に基づいて今回の分析結果の良否を判定する分析結果判定工程と、分析結果が否の場合において否となる過去の問題点およびその問題点に対する解決方法が互いに関連付けられているときにおいて、その関連付けられた過去の問題点および解決方法の情報に基づいて今回の分析結果の問題点に対する解決方法を提示する解決方法提示工程とを含む分析処理をコンピュータに実行させるためのプログラムを記録することを特徴とする分析処理記憶媒体。
【００３２】
前記（７）に記載の発明によれば、これらの工程を含む分析処理をコンピュータに実行させることによって、分析結果の良否を簡単に判定して、否となる問題点を簡単に見つけることができる。
【００３３】
（８）前記（７）に記載の分析処理記憶媒体において、前記測定データを新たに測定して取得する必要がなく、新たなる分析条件を設定して分析を行うことで分析結果が良となる場合には、前記解決方法提示工程で提示された前記今回の問題点および解決方法のうちから、前記新たなる分析条件を選択して再設定する分析条件再設定工程と、その新たなる分析条件に基づいて今回の分析結果を再計算する再計算工程と、前記測定データを新たに測定して取得することなく新たなる分析結果を求める分析結果再導出工程とを前記分析処理にさらに含み、その分析処理をコンピュータに実行させるためのプログラムを記録することを特徴とする分析処理記憶媒体。
【００３４】
前記（８）に記載の発明によれば、このような工程をコンピュータに実行させることによって、新たなる分析条件を設定して分析を行うことで分析結果が良となるような場合では、測定データを新たに測定して取得することなく分析結果再導出工程で新たなる分析結果を求めることができる。そして、求められたその新たなる分析結果が良となる。
【００３５】
（９）前記（７）または（８）に記載の分析処理記憶媒体において、前記解決方法提示工程で提示された前記今回の問題点および解決方法を表示する表示工程を前記分析処理にさらに含み、その分析処理をコンピュータに実行させるためのプログラムを記録することを特徴とする分析処理記憶媒体。
【００３６】
前記（９）に記載の発明によれば、表示工程をコンピュータに実行させることによって、分析者は問題点および解決方法の表示を簡単に閲覧することができる。
【００３７】
（１０）前記（７）から（９）のいずれかに記載の分析処理記憶媒体において、前記所定の分析は、多チャンネル型の検出器によって検出して、測定波長範囲内の測定データを同時に取得可能な同時分析型高周波プラズマ発光分析であることを特徴とする分析処理記憶媒体。
【００３８】
前記（１０）に記載の発明によれば、多チャンネル型の検出器によって、スペクトル線などに代表される測定データを一括して同時に取得することができる。
【発明の効果】
【００３９】
この発明に係る分析装置および分析処理方法によれば、分析結果判定手段は、第１情報記憶手段に記憶された分析の基となる測定データの良否を判断するための判断基準に基づいて今回の分析結果の良否を判定し、解決方法提示手段は、第２情報記憶手段に記憶された互いに関連付けられた過去の問題点および解決方法の情報に基づいて今回の分析結果の問題点に対する解決方法を提示する。したがって、分析結果の良否を簡単に判定して、否となる問題点を簡単に見つけることができる。
【実施例】
【００４０】
以下、図面を参照してこの発明の実施例を説明する。
図１は、実施例に係る分析装置の概略を示すブロック図である。なお、本実施例では、分析として、測定データを一括して取得することが可能なエシェル型の分光器を用いた同時分析型高周波プラズマ発光分析（以下、「エシェル型の高周波プラズマ発光分析」と略記する）を例に採って説明する。
【００４１】
エシェル型の高周波プラズマ発光分析は、図１に示すように、プラズマ中の試料Ｓから発光されたスペクトル線Ｌを、光の回折効果を利用した分散素子である回折格子Ｇを用いて定量分析を行う。より具体的に説明すると、エシェル型の高周波プラズマ発光分析を行う分析装置１は、光源部１０と分光部２０と測光部３０と分析処理制御部４０とを備えている。
【００４２】
光源部１０は、アルゴン（Ａｒ）ガス、プラズマトーチと高周波電源とによって生成されるプラズマを発生させるプラズマ処理室からなり、プラズマ処理室内に試料Ｓを導入する。試料Ｓは溶液試料などである。試料Ｓが光源部１０に導入されると、高温のプラズマにより気化して原子状態となり、同時に励起される。励起状態にある原子は、励起状態から定常状態に状態遷移するときに、各元素特有の光をスペクトル線Ｌとして発光する。
【００４３】
分光部２０は、回折格子Ｇや次数分離用回折格子２１からなり、これらの格子Ｇ，２１によってスペクトル線Ｌを分光する。
【００４４】
測光部３０は、ＣＣＤカメラやラインセンサなどの多チャンネル型の検出器からなり、分光された各光を電気信号にそれぞれ変換する。その電気信号に基づいた光の波長ごとの強度を測定データとして、分析処理制御部４０に送り込む。この測定データは、分析の基となるデータである。
【００４５】
分析処理制御部４０は、パーソナルコンピュータで構成され、分析パラメータ設定部４１と分析結果導出部４２と第１情報記憶部４３と分析結果判定部４４と第２情報記憶部４５と解決方法提示部４６とモニタ４７とを備えている。分析パラメータ設定部４１、分析結果導出部４２、分析結果判定部４４、解決方法提示部４６は、中央演算処理装置（ＣＰＵ）などで構成されており、第１情報記憶部４３、第２情報記憶部４５は、ＲＯＭ（Read-only Memory）やＲＡＭ（Random-Access Memory）などに代表される記憶媒体などで構成されている。
【００４６】
分析パラメータ設定部４１は、分析対象となる元素や波長などの分析パラメータ（すなわち分析条件）を設定する。この分析パラメータ設定部４１は、図示を省略する入力部からの入力データに基づいて分析パラメータを設定する。この入力部は、マウスやキーボードやジョイスティックやトラックボールやタッチパネルなどに代表されるポインティングデバイスで構成されている。本実施例での分析パラメータ設定部４１の具体的な機能については後述する。分析パラメータ設定部４１で設定された分析パラメータを分析結果導出部４２に送り込む。分析パラメータ設定部４１は、この発明における分析条件設定手段に相当する。
【００４７】
分析結果導出部４２は、分析パラメータ設定部４１で設定された分析パラメータ、および測光部３０で測定された測定データに基づいて、光の強度から濃度への計算を行って分析結果を求める。本実施例での分析結果導出部４２での具体的な機能については後述する。分析結果導出部４２で求まった分析結果を分析結果判定部４４に送り込む。
【００４８】
第１情報記憶部４３は、分析の基となる測定データの良否を判断するための判断基準を予め記憶する。本実施例での判断基準については後述する。第１情報記憶部４３に記憶された判断基準を分析結果判定部４４に送り込む。第１情報記憶部４３は、この発明における第１情報記憶手段に相当する。
【００４９】
なお、第１情報記憶部４３を、ＲＡＭなどの書き換え可能な記憶媒体などで構成することにより、最新の情報などに内容を更新することができる。更新の方法は装置メーカなどによる一括書き換えとしてもよいし、自己学習型としてもよい。
【００５０】
分析結果判定部４４は、第１情報記憶部４３に記憶された判断基準の情報に基づいて今回の分析結果の良否を判定する。本実施例での分析結果判定部４４での具体的な構成については後述する。分析結果判定部４４で判定された今回の分析結果の良否を解決方法提示部４６に送り込む。分析結果判定部４４は、この発明における分析結果判定手段に相当する。
【００５１】
第２情報記憶部４５は、分析結果が否の場合において否となる過去の問題点およびその問題点に対する解決方法を互いに関連付けて情報を予め記憶する。本実施例でのその関連付けられた過去の問題点および解決方法の情報については後述する。第２情報記憶部４５に記憶された過去の問題点および解決方法の情報を解決方法提示部４６に送り込む。第２情報記憶部４５は、この発明における第２情報記憶手段に相当する。なお、第２情報記憶部４５についても、第１情報記憶部４３と同様に、ＲＡＭなどの書き換え可能な記憶媒体などで構成してもよい。
【００５２】
解決方法提示部４６は、第２情報記憶部４５に記憶された前記関連付けられた過去の問題点および解決方法の情報に基づいて、分析結果判定部４３で判定された今回の分析結果の良否のうち否となる問題点に対する解決方法を提示する。本実施例での解決方法提示部４６での具体的な構成については後述する。解決方法提示部４６で提示された問題点および解決方法をモニタ４７に送り込む。解決方法提示部４６は、この発明における解決方法提示手段に相当する。
【００５３】
また、分析の基となる測定データを測光部３０で新たに測定して取得する必要がなく、新たなる分析パラメータを分析パラメータ設定部４１で設定して計算処理を行うことで分析結果が良となる場合には、解決方法提示部４６で提示された問題点および解決方法を、分析パラメータ設定部４１にも送り込む。そして、分析パラメータ設定部４１で、今回の問題点および解決方法のうちから新たなる分析パラメータを選択して再設定する。そして、分析パラメータ設定部４１で再設定された分析パラメータを分析結果導出部４２に送り込んで、分析結果導出部４２は、分析パラメータ設定部４１で再設定された分析パラメータに基づいて、測定データを新たに測定して取得することなく新たなる分析結果を再計算して求める。
【００５４】
モニタ４７は、解決方法提示部４６で提示された今回の問題点および解決方法を表示する。本実施例でのモニタ４７に表示される今回の問題点および解決方法については後述する。モニタ４７は、この発明における表示手段に相当する。
【００５５】
次に、本実施例に係る分析処理方法について、図２のフローチャートおよび図３〜図１１の説明図を参照して説明する。図２は、本実施例に係る分析処理方法のフローチャートであり、図３は、検量線の説明図であり、図４〜図７はプロファイルの説明図であり、図８は、分析の基となる測定データの良否を判断するための判断基準の説明図であり、図９は、分析結果が否の場合において否となる過去の問題点およびその問題点に対する解決方法を互いに関連付けた情報の説明図であり、図１０は、提示された今回の問題点および解決方法の表示に関する説明図であり、図１１は、新たなる分析パラメータを設定する表示に関する説明図である。
【００５６】
（ステップＳ１）測定データの取得
先ず、分析結果を求めるために、分析の基となる測定データを測光部３０が求める。この測定データは、回折格子Ｇなどによって２次元に展開されて分光された複数の波長ごとの光に応じた強度として求められている。
【００５７】
（ステップＳ２）分析パラメータ設定
分析対象となる元素や波長を分析パラメータとして設定する。例えば、定量分析を行う元素がアルミニウム（Ａｌ）の場合には、分析対象となるＡｌを設定するとともに、Ａｌの波長と想定される値を設定する。これらの設定された入力データに基づいて分析パラメータ設定部４１は分析パラメータを設定して、分析結果導出部４２に送り込む。このステップＳ２は、この発明における分析条件設定工程に相当する。本実施例では、ステップＳ１で測定データを取得してからステップＳ２で分析パラメータを設定したが、ステップＳ２で分析パラメータを設定してから、ステップＳ１で測定データを取得して、次のステップＳ３で分析を行ってもよい。
【００５８】
（ステップＳ３）分析
分析パラメータ設定部４１で設定された分析パラメータ、および測光部３０で測定された測定データに基づいて、分析結果導出部４２は光の強度から濃度への計算を行う。この分析では、例えば、図３に示す既知の濃度の試料の測定に基づいた検量線や図４に示すプロファイルを作成して、これら作成された検量線やプロファイルに基づいて分析を行う。あるいは、プロファイルを作成して、作成されたプロファイルや予め作成された検量線に基づいて分析を行う。
【００５９】
元素は波長ごとに固有の感度を有している。検量線は、横軸に濃度（図３ではＡｌ濃度）をとって、縦軸に濃度に対応する強度（図３ではＡｌの強度Ｉ）をとる。元素Ａｌが設定されるとともに、ある所定の値の波長が設定されている場合には、設定された元素Ａｌ、設定された所定の値の波長に応じた検量線のグラフ（図３を参照）と、測光部３０で測定された強度に基づいて、Ａｌ濃度を求める。
【００６０】
プロファイルは、横軸に波長（図４ではＡｌの実際の波長）をとって、縦軸に波長に対応する強度（図４ではＡｌの強度Ｉ）をとる。強度がピークになっている波長λ1が実際の波長となる。ところで、プラズマを生成するガス（例えばアルゴン（Ａｒ））や試料中に大量に含まれる元素から独自の強度がバックグラウンドとして図４のプロファイルに重畳されている場合がある。また、波長によってバックグラウンドの強度が変化する場合がある。この波長に対する変化の傾きを図４ではｄとする。これらの場合には、重畳された強度であるバックグラウンド値ＢＧおよび傾きｄに基づいて補正する『バックグラウンド補正』を行う。バックグラウンド補正後のプロファイルは図５に示すようなグラフとなる。
【００６１】
また、図６に示すように、プロファイル中にピークが２つ以上存在する場合がある。この場合には、２つ以上存在するピークのうち１つが分析対象となる元素（図６ではＡｌ）の波長に対応して、残りのピークは分析対象となる元素の波長に近傍した元素（『妨害元素』あるいは『共存元素』と呼ぶ）の波長に対応する。そこで、妨害元素に関するプロファイルを、図７に示すように作成して、妨害元素の濃度を他の波長λ3で求めることにより、図６に重畳している妨害元素の波長λ2のプロファイル中のスペクトルを推定し、図６から減算して補正する『元素間補正』を行う。
【００６２】
これらの検量線やプロファイルに基づいて分析対象となる元素の濃度を求めて分析を行う。分析結果導出部４２は、これらの分析結果を分析結果判定部４４に送り込む。このステップＳ３は、この発明における分析工程に相当する。
【００６３】
（ステップＳ４）分析結果判定
一方、第１情報記憶部４３には、分析の基となる測定データの良否を判断するための判断基準が、例えば図８に示すように記憶されている。
【００６４】
具体的に判断基準としては、３パターンに分けられ、検出器などの装置のハードウェアの状態から判断されるパターン、測定データのプロファイルから数学的観点により判断されるパターン、各元素の既知のスペクトルの状態から経験的に蓄積されるパターンと分けられる。各判断基準項目には、判断点とその点について良否を決めるための状態と基準値とが登録されている。
【００６５】
例えば、図８中の問題点で『オーバーフローした元素がある』は、測光部３０の検出器（例えばＣＣＤのフォトダイオードや電荷電圧変換器）の検出能力を超えたときである。すなわち、検出器の性能に基づいて今回の分析結果において強度がオーバーフローしたか否かを判定する。図８中の判断基準としては、『検出器の性能による強度上限Ａ以上』となる。なおＡはオーバーフローの閾値（所定値）である。この判断基準は、検出器などの装置のハードウェアの状態から判断されるパターンの一例である。
【００６６】
例えば、図８中の問題点で『バックグラウンドや分光干渉に対し、分析元素の強度の正しい値がだせない』は、プラズマを生成するガスによるバックグラウンドや、分光による干渉で、分析対象となる元素の強度が低下したときである。過去の値から所定値を予め決定して、その所定値以下なら正しい値が求められないと判定する。図８中の判断基準としては、『分析元素の強度がＩ以下』となる。なお、Ｉは上述した所定値である。この判断基準は、測定データのプロファイルから数学的観点により判断されるパターンの一例である。
【００６７】
例えば、図８中の問題点で『バックグラウンドの変動がある』は、図４のバックグラウンドによってピーク近傍の箇所で強度が強く変動しているときである。このときは、強度の変動が測定強度に重複している。バックグラウンドはある程度は平坦であることが前提であり、本来であればピークでバックグラウンド値ＢＧを取得したいが、平坦でなく変動しているときにはピークで測定できないので、ピーク近傍の箇所でバックグラウンド値ＢＧを取得する。したがって、決められた強度の精度に対してバックグラウンド値ＢＧが所定値以下の影響しか与えない場合には、バックグラウンド変動なしであるが、所定値以上の影響があれば、バックグラウンドに変動ありとして、バックグラウンド補正を行う。すなわち、バックグラウンド値ＢＧに対して強度不足かあるいは適当な強度かを判定する。図８中の判断基準としては、『バックグラウンドの傾きがｄ以上』となる。
【００６８】
例えば、図８中の問題点で『共存元素から分光干渉がある』は、共存元素、すなわち妨害元素のピークが分析対象となる元素のピークの近傍にあり、分析対象となる元素波長の強度（あるいは濃度）に影響を与える場合である。図６のプロファイルから分析対象となる元素波長の強度（あるいは濃度）に対する妨害元素の強度（あるいは濃度）が、ある所定値以上の場合には、干渉の影響があると判定する。図８中の判断基準としては、『妨害元素の分析値がＡ以上』となる（ただしＡは所定値）。この判断基準は、各元素の既知のスペクトルの状態から経験的に蓄積されるパターンの一例である。
【００６９】
例えば、図８中の問題点で『試料濃度が不適切である』は、図３の検量線において濃度の範囲外のときである。例えば作成した検量線の上限・下限濃度の範囲を超えているか否かを判定する。図８中の判断基準としては、『分析値が検量線の信頼範囲外』となる。
【００７０】
例えば、図８中の問題点で『高濃度元素Ｎａが分析値に影響を与えている可能性がある』は、試料が海水を含んでいる場合には、海水の主成分のナトリウム（Ｎａ）による影響を受けているときである。このときは、Ｎａによる影響でプラズマの状態が変わり、感度が影響を受ける。過去の分析結果（例えば高濃度元素Ｎａの濃度に関するデータ）などに基づいてＮａによる影響を受けているか否かを判定する。図８中の判断基準としては、『高濃度元素Ｎａの濃度がＣ以上』となる。なお、Ｃは濃度に関する所定値である。
【００７１】
ステップＳ３の分析で行われた今回の分析結果において、これらの分析結果の良否を分析結果判定部４４が判定する。そして、今回の分析結果の良否を解決方法提示部４６に送り込む。このステップＳ４は、この発明における分析結果判定工程に相当する。
【００７２】
（ステップＳ５）問題あり？
分析結果が否となる問題点があれば、次のステップＳ６に進む。分析結果が良の場合には、一連の分析処理を終了する。
【００７３】
例えば、今回の分析結果において強度がオーバーフローすれば問題あり（否）と判定する。プラズマを生成するガスによるバックグラウンドや、分光による干渉で、分析対象となる元素の強度が低下して所定値以下なら問題あり（否）と判定する。バックグラウンドの傾きが所定値を超えたら問題あり（否）と判定する。妨害元素のピークが分析対象となる元素のピークの近傍にあって、妨害元素の分析値が所定値以上なら問題あり（否）と判定する。検量線において濃度の範囲外ならば問題あり（否）と判定する。Ｎａによる影響が大きすぎる場合には問題あり（否）と判定する。
【００７４】
（ステップＳ６）問題点および解決方法の提示
一方、第２情報記憶部４５には、分析結果が否の場合において否となる過去の問題点およびその問題点に対する解決方法を互いに関連付けた情報（テーブル）が、例えば図９に示すように記憶されている。
【００７５】
例えば、図９中の問題点で『オーバーフローした元素があります。』の場合には、設定した波長において感度が高すぎて強度がオーバーフローする可能性がある。この場合には、測定データをステップＳ１で新たに測定して取得する必要がなく、より感度の低い分析波長を分析パラメータとして分析パラメータ設定部４１で再設定して、今回の分析結果を分析結果導出部４２で再計算することで解決することができる。そこで、図９中の解決方法で『より感度の低い分析波長を追加することで解決する可能性があります。再測定を行わずに、再計算が可能です。システムが分析波長を選択します。』を『オーバーフローした元素があります。』に関連付けて、第２情報記憶部４５に予め記憶している。
【００７６】
他の問題点においても、その問題点に対する解決方法を互いに関連付けて図９のテーブルとして第２情報記憶部４５に予め記憶する。
【００７７】
なお、図９中の問題点で『試料濃度が不適切です。』の場合には、ステップＳ１で再測定する必要があるので、図９注の解決方法で『その範囲の試料での再測定が必要です。システムが検量線の濃度を推定します。』を『試料濃度が不適切です。』に関連付けて、第２情報記憶部４５に予め記憶している。
【００７８】
これらの関連付けられた問題点および解決方法を第２情報記憶部４５から読み出して、今回の分析結果の問題点およびそれに対する解決方法を解決方法提示部４６は提示する。解決方法提示部４６は、モニタ４７に送り込んで、提示された今回の問題点および解決方法を、例えば図１０に示すようにモニタ４７は表示する。このステップＳ６は、この発明における解決方法提示工程および表示工程に相当する。
【００７９】
（ステップＳ７）再計算で解決？
再計算で解決する場合、例えば図９、図１０に示すように問題点が『オーバーフローした元素があります。』で、より感度の低い分析波長を分析パラメータとして再設定して再計算を行うことで解決する場合には、次のステップＳ８に進む。再計算でも解決しない場合には、ステップＳ１の測定データの取得に戻る。
【００８０】
（ステップＳ８）分析パラメータ再設定
再計算で解決する場合、すなわち測定データをステップＳ１で新たに測定して取得する必要がなく、新たなる分析パラメータを設定して分析を行うことで分析結果が良となる場合には、解決方法提示部４６で提示された今回の問題点および解決方法のうちから、新たなる分析パラメータを選択して再設定する。
【００８１】
例えば図１０中のモニタ４７上で問題点『オーバーフローした元素があります。』を表示するとともに、解決方法『より感度の低い分析波長を追加することで解決する可能性があります。再測定を行わずに、再計算が可能です。システムが分析波長を選択します。』を表示する。この他に、試料名や分析の対象となる元素（図１０の場合にはカドミウム（Ｃｄ））を表示するとともに、ステップＳ２で設定した波長を表示する。また、モニタの右端部分には、図１０に示すように『解決を図る』ボタンを設けており、このボタンをタッチパネルで構成している。このボタンを押下して解決方法を選択することで、その解決方法に応じた分析パラメータを新たに設定する。図１０の場合には、より感度の低い分析波長を分析パラメータとして分析パラメータ設定部４１で再設定することになる。
【００８２】
そして、分析パラメータ設定部４１で再設定する場合には、例えば図１１中のモニタ４７上で追加波長を表示するとともに、再設定をキャンセルする『Ｃａｎｃｅｌ』と再設定を行う『ＯＫ』ボタンを表示する。これらのボタンもタッチパネルで構成している。『ＯＫ』ボタンを押下することで、新たなる分析パラメータを再設定する。図１１の場合には、より感度の低い波長を追加波長として、その追加波長を新たなる分析パラメータとする。
【００８３】
このように解決方法提示部４６で提示された問題点および解決方法を、分析パラメータ設定部４１に送り込んで、『ＯＫ』ボタンが押下されることで分析パラメータ設定部４１は今回の問題点および解決方法のうちから新たなる分析パラメータを選択して再設定する。そして、分析パラメータ設定部４１で再設定された分析パラメータを分析結果導出部４２に送り込む。このステップＳ８は、この発明における分析条件再設定工程に相当する。
【００８４】
（ステップＳ９）分析結果の再計算
分析結果導出部４２は、分析パラメータ設定部４１で再設定された分析パラメータに基づいて、再計算を行う。このステップＳ９は、この発明における再計算工程に相当する。
【００８５】
（ステップＳ１０）分析結果再導出
そして、再計算から新たなる分析結果を求める。このステップＳ１０は、この発明における分析結果再導出工程に相当する。
【００８６】
上述した本実施例に係る分析装置１によれば、分析パラメータ設定部４１で設定された分析パラメータ（分析条件）に基づいて所定の分析（本実施例では高周波プラズマ発行分析）を行う際に、分析結果判定部４４は、第１情報記憶部４３に記憶された分析の基となる測定データの良否を判断するための判断基準に基づいて今回の分析結果の良否を判定する。したがって、分析経験の浅い分析者でも、分析結果の良否を簡単に判定することができる。そして、解決方法提示部４６は、第２情報記憶部４５に記憶された互いに関連付けられた過去の問題点および解決方法の情報に基づいて、今回の分析結果の問題点に対する解決方法を提示する。したがって、分析経験の浅い分析者でも、否となる問題点を簡単に見つけることができる。
【００８７】
本実施例では、分析の基となる測定データを新たに測定して取得する必要がなく、新たなる分析パラメータを設定して分析を行うことで分析結果が良となる場合には、解決方法提示部４６によって提示された今回の問題点および解決方法のうちから、上述した新たなる分析条件を選択して、その新たなる分析条件に基づいて今回の分析結果を再計算して、上述した測定データを新たに測定して取得することなく新たなる分析結果を求めるように、分析処理制御部４０の各手段を構成している。このように構成することで、新たなる分析パラメータを設定して分析を行うことで分析結果が良となるような場合では、測定データを新たに測定して取得することなく新たなる分析結果を求めることができる。そして、求められたその新たなる分析結果が良となる。
【００８８】
また、本実施例では、今回の問題点および解決方法を表示するモニタ４７を備えることで、分析者は問題点および解決方法の表示を簡単に閲覧することができる。
【００８９】
また、本実施例のようにエシェル型の高周波プラズマ発光分析では、ＣＣＤカメラやラインセンサなどの多チャンネル型の検出器を備えているので、測定データを一括して同時に取得することが可能である。かかるエシェル型の分光器を用いた分析に代表される同時分析型の場合には、目的の対象であるピークの他の波長についても測定データが同時に取得されるので、他の波長でのデータを用いた再計算により分析結果を良としたり、他の波長でのデータとの比較により、元素間補正に使用される分光干渉情報を得ることができる。このように、同時分析型高周波プラズマ発光分析に適用するのは有用である。
【００９０】
この発明は、上記実施形態に限られることはなく、下記のように変形実施することができる。
【００９１】
（１）上述した実施例では、エシェル型の高周波プラズマ発光分析を例に採って説明したが、エシェル型以外の同時分析型の高周波プラズマ発光分析であってもよい。また、同時分析型の高周波プラズマ発光分析以外にも、シーケンシャル型の高周波プラズマ発光分析であってもよい。さらに、高周波プラズマ発光分析以外の分析であって、分析パラメータを設定して、その分析パラメータに基づいて所定の分析を行うものであれば、特に限定されない。例えば、固相反応用のレジン粒を反応容器に入れて、試薬や溶媒を反応容器に注入して固相反応を進行させて、レジン粒内部に生成された化合物を分析するクロマトグラフィー分析装置にもこの発明は適用することができる。その他に、熱分析熱量計や、放射線で例えば食品中の異物を検出する放射線異物検出装置や、粘度分布測定装置や、におい識別装置などの分析装置にも適用することができる。
【００９２】
（２）上述した実施例を実行するのに、ステップＳ１〜Ｓ１０を実行させるための分析処理プログラムや、ステップＳ１〜Ｓ１０を実行させるためのプログラムを記録した分析処理記憶媒体を用いてもよい。分析処理プログラムの場合には、かかるプログラムを電気通信回線（例えばＲＳ−２３２Ｃ規格のケーブルやＬＡＮ(Local Area Network)ケーブル）を介して分析装置にダウンロード（取得）して、そのプログラムをパーソナルコンピュータで構成された分析処理制御部４０に実行させればよい。分析処理記憶媒体の場合には、上述した分析処理プログラムをＲＯＭやＲＡＭなどに代表される記憶媒体に予め記憶させておいて、その記憶媒体内に記憶されたプログラムを分析処理制御部４０に読み取って実行させればよい。
【００９３】
（３）上述した実施例では、測定データを新たに測定して取得する必要がなく、新たなる分析条件を設定して分析を行うことで分析結果が良となる場合には、新たなる分析パラメータを再設定して、今回の分析結果を再計算したが、必ずしも再設定および再計算の機能を備える必要はない。
【００９４】
（４）上述した実施例では、提示された今回の問題点および解決方法を出力するのにモニタなどに代表される表示手段を出力手段として備えたが、出力印刷する手段（例えばプリンタ）であってもよい。また、モニタやプリンタを分析装置に対して外付けにして、外付けされたモニタやプリンタに分析装置内の解決方法提示部が出力データを送信してもよい。
【００９５】
（５）上述した実施例でも述べたように、第１情報記憶部４３または第２情報記憶部４５のいずれか一方を、あるいは第１情報記憶部４３および第２情報記憶部４５を、最新の情報に書き換え可能に構成してもよい。このように構成する場合には、記憶部４３，４５にはＲＯＭでなくＲＡＭを用いる。このように各記憶４３，４５を書き換え可能に構成することで、第１情報記憶部４３の場合では分析結果判定部４４は、第２情報記憶部４５の場合では解決方法提示部４６は、最新の情報を常に参照することができる。第１情報記憶部４３の場合では分析結果の良否を正確に判定することができ、第２情報記憶部４５の場合では否となる問題点を正確に見つけることができる。
【図面の簡単な説明】
【００９６】
【図１】実施例に係る分析装置の概略を示すブロック図である。
【図２】実施例に係る分析処理方法のフローチャートである。
【図３】検量線の説明図である。
【図４】プロファイルの説明図である。
【図５】プロファイルの説明図である。
【図６】プロファイルの説明図である。
【図７】プロファイルの説明図である。
【図８】分析の基となる測定データの良否を判断するための判断基準の説明図である。
【図９】分析結果が否の場合において否となる過去の問題点およびその問題点に対する解決方法を互いに関連付けた情報の説明図である。
【図１０】提示された今回の問題点および解決方法の表示に関する説明図である。
【図１１】新たなる分析パラメータを設定する表示に関する説明図である。
【符号の説明】
【００９７】
１ … 分析装置
４１ … 分析パラメータ設定部
４３ … 第１情報記憶部
４４ … 分析結果判定部
４５ … 第２情報記憶部
４６ … 解決方法提示部
４７ … モニタ
【技術分野】
【０００１】
この発明は、所定の分析を行う分析装置および分析処理方法に係り、特に、分析条件に基づいてその所定の分析を行う技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
分析装置として、高周波プラズマ発光分析装置を例に採って説明する。高周波プラズマ発光分析装置は、プラズマ中の試料から発光された光を分光し、その分光によって得られたスペクトル線を用いて定量分析を行う。例えば、シーケンシャル型の高周波プラズマ発光分析装置は、回折格子などに代表される光学系を動かしながら定量分析を行う。一方、同時分析型の高周波プラズマ発光分析装置は、多チャンネル型の検出器を備え、装置の測定波長範囲内にある分析元素・波長全てについてスペクトル線などに代表される測定データを一括して同時に取得することができる。
【０００３】
そして、分析条件（すなわち分析パラメータ）を設定して、取得された測定データと分析条件とに基づいて分析を行う。より具体的には、例えば分析条件として分析対象となる元素や波長を設定して、その元素・波長についての検量線やプロファイルといった情報を取得し、その情報から計算された試料中元素濃度を出力する。そして、これらを分析者が参照し、分析結果の良否を判定している。
【０００４】
分析結果に問題点を見つけた場合、すなわち分析結果が否だと判定した場合には、分析者がその問題点の原因を特定する。そして、（α）分析パラメータを新たに設定して、測定データを新たに取得することなく今回取得された測定データから再計算して、その問題点を解決するのか、（β）試料の再測定を行って測定データを新たに取得する必要があるかを分析者が判断して問題点の解決を行っている。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、分析経験の浅い分析者にとって、検量線やプロファイルなどの情報から、その分析結果の良否を判定することは難しい。さらに、問題点を見つけた場合でも、（α）再計算して問題点を解決できるのか、（β）試料の再測定が必要なのかを判断するのは難しい。
【０００６】
この発明は、このような事情に鑑みてなされたものであって、分析結果の良否を簡単に判定して、否となる問題点を簡単に見つけることができる分析装置および分析処理方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
この発明は、このような目的を達成するために、次のような構成をとる。
すなわち、請求項１に記載の発明は、分析条件を設定する分析条件設定手段を備え、その分析条件設定手段で設定された分析条件に基づいて所定の分析を行う分析装置であって、分析の基となる測定データの良否を判断するための判断基準を予め記憶する第１情報記憶手段と、その第１情報記憶手段に記憶された判断基準に基づいて今回の分析結果の良否を判定する分析結果判定手段と、分析結果が否の場合において否となる過去の問題点およびその問題点に対する解決方法を互いに関連付けて情報を予め記憶する第２情報記憶手段と、その第２情報記憶手段に記憶された前記関連付けられた過去の問題点および解決方法の情報に基づいて今回の分析結果の問題点に対する解決方法を提示する解決方法提示手段とを備えることを特徴とするものである。
【０００８】
［作用・効果］請求項１に記載の発明によれば、分析条件設定手段で設定された分析条件に基づいて所定の分析を行う際に、分析結果判定手段は、第１情報記憶手段に記憶された分析の基となる測定データの良否を判断するための判断基準に基づいて今回の分析結果の良否を判定する。したがって、分析経験の浅い分析者でも、分析結果の良否を簡単に判定することができる。そして、解決方法提示手段は、第２情報記憶手段に記憶された互いに関連付けられた過去の問題点および解決方法の情報に基づいて今回の分析結果の問題点に対する解決方法を提示する。したがって、分析経験の浅い分析者でも、否となる問題点を簡単に見つけることができる。
【０００９】
上述した発明において、分析の基となる測定データを新たに測定して取得する必要がなく、新たなる分析条件を設定して分析を行うことで分析結果が良となる場合には、上述した解決方法提示手段によって提示された今回の問題点および解決方法のうちから、上述した新たなる分析条件を選択して、その新たなる分析条件に基づいて今回の分析結果を再計算して、上述した測定データを新たに測定して取得することなく新たなる分析結果を求めるように各手段を構成するのが好ましい（請求項２に記載の発明）。このように構成することで、新たなる分析条件を設定して分析を行うことで分析結果が良となるような場合では、測定データを新たに測定して取得することなく新たなる分析結果を求めることができる。そして、求められたその新たなる分析結果が良となる。
【００１０】
また、この発明における解決方法提示手段によって提示された今回の問題点および解決方法を出力する手段については、装置と別体であってもよいし、装置内に備えられていてもよい。装置内に備えられる場合には、出力する手段の代表的な一例は、今回の問題点および解決方法を表示する表示手段である（請求項３に記載の発明）。かかる表示手段を備えることで、分析者は問題点および解決方法の表示を簡単に閲覧することができる。なお、出力する手段は、出力表示を行う表示手段に限定されず、出力印刷する手段（例えばプリンタ）であってもよい。
【００１１】
また、上述した第1情報記憶手段または／および第２情報記憶手段は、最新の情報に書き換え可能に構成されていてもよい（請求項４に記載の発明）。このように各記憶手段を書き換え可能に構成することで、第1情報記憶手段の場合では分析結果判定手段は、第２情報記憶手段の場合では解決方法提示手段は、最新の情報を常に参照することができて、第1情報記憶手段の場合では分析結果の良否を正確に判定することができ、第２情報記憶手段の場合では否となる問題点を正確に見つけることができる。
【００１２】
また、所定の分析の一例は、分析の基となる測定データを測定して、その測定データを一括して取得する分析である（請求項５に記載の発明）。かかる分析の場合には、一括して測定データを取得した後に、その測定データと分析条件とに基づいて分析結果を求める。したがって、個々の分析条件に対応して分析結果を求める場合には、同一の測定データと個々の分析結果とに基づいて分析結果がそれぞれ求まるので、測定データを再度測定、すなわち試料の再測定を行う必要がない。特に、請求項６に記載の発明が、請求項２に記載の発明に従属されている場合には、同一の測定データのみで新たなる分析結果を求めることができる。
【００１３】
また、測定データを一括して取得する分析の一例は、多チャンネル型の検出器を備え、測定波長範囲内の測定データを同時に取得可能な同時分析型高周波プラズマ発光分析である（請求項６に記載の発明）。この発明における分析装置を、かかる高周波プラズマ発光分析を行う装置として用いることになる。同時分析型の高周波プラズマ発光分析装置の場合には、多チャンネル型の検出器を備えているので、スペクトル線などに代表される測定データを一括して同時に取得することができる。
【００１４】
また、請求項７に記載の発明は、設定された分析条件に基づいて所定の分析を行う分析工程を含んだ一連の分析処理を実行する分析処理方法であって、分析条件を設定する分析条件設定工程と、その分析条件設定工程で設定された分析条件に基づいて所定の分析を行う分析工程と、分析の基となる測定データの良否を判断するための判断基準に基づいて今回の分析結果の良否を判定する分析結果判定工程と、分析結果が否の場合において否となる過去の問題点およびその問題点に対する解決方法が互いに関連付けられているときにおいて、その関連付けられた過去の問題点および解決方法の情報に基づいて今回の分析結果の問題点に対する解決方法を提示する解決方法提示工程とを備えることを特徴とするものである。
【００１５】
［作用・効果］請求項７に記載の発明によれば、分析条件設定工程で設定された分析条件に基づいて分析工程で所定の分析を行い、分析の基となる測定データの良否を判断するための判断基準に基づいて分析結果判定工程で今回の分析結果の良否を判定する。したがって、分析経験の浅い分析者でも、分析結果の良否を簡単に判定することができる。そして、互いに関連付けられた過去の問題点および解決方法の情報に基づいて今回の分析結果の問題点に対する解決方法を解決方法提示工程で提示する。したがって、分析経験の浅い分析者でも、否となる問題点を簡単に見つけることができる。
【００１６】
また、請求項８に記載の発明は、請求項７に記載の分析処理方法において、前記測定データを新たに測定して取得する必要がなく、新たなる分析条件を設定して分析を行うことで分析結果が良となる場合には、前記解決方法提示工程で提示された前記今回の問題点および解決方法のうちから、前記新たなる分析条件を選択して再設定する分析条件再設定工程と、その新たなる分析条件に基づいて今回の分析結果を再計算する再計算工程と、前記測定データを新たに測定して取得することなく新たなる分析結果を求める分析結果再導出工程とを備えることを特徴とするものである。
【００１７】
［作用・効果］請求項８に記載の発明によれば、このような工程を備えることで、新たなる分析条件を設定して分析を行うことで分析結果が良となるような場合では、測定データを新たに測定して取得することなく分析結果再導出工程で新たなる分析結果を求めることができる。そして、求められたその新たなる分析結果が良となる。
【００１８】
なお、本明細書は、次のような分析処理方法および分析処理プログラム、並びに分析処理記憶媒体に係る発明も開示している。
【００１９】
（１）請求項７または請求項８に記載の分析処理方法において、前記解決方法提示工程で提示された前記今回の問題点および解決方法を表示する表示工程を備えることを特徴とする分析処理方法。
【００２０】
前記（１）に記載の発明によれば、表示工程を備えることで、分析者は問題点および解決方法の表示を簡単に閲覧することができる。
【００２１】
（２）請求項７、請求項８または前記（１）のいずれかに記載の分析処理方法において、前記所定の分析は、多チャンネル型の検出器によって検出して、測定波長範囲内の測定データを同時に取得可能な同時分析型高周波プラズマ発光分析であることを特徴とする分析処理方法。
【００２２】
前記（２）に記載の発明によれば、多チャンネル型の検出器によって、スペクトル線などに代表される測定データを一括して同時に取得することができる。
【００２３】
（３）設定された分析条件に基づいて所定の分析を行う分析工程を含んだ一連の分析処理をコンピュータに実行させるための分析処理プログラムであって、分析条件を設定する分析条件設定工程と、その分析条件設定工程で設定された分析条件に基づいて所定の分析を行う分析工程と、分析の基となる測定データの良否を判断するための判断基準に基づいて今回の分析結果の良否を判定する分析結果判定工程と、分析結果が否の場合において否となる過去の問題点およびその問題点に対する解決方法が互いに関連付けられているときにおいて、その関連付けられた過去の問題点および解決方法の情報に基づいて今回の分析結果の問題点に対する解決方法を提示する解決方法提示工程とを含む分析処理をコンピュータに実行させることを特徴とする分析処理プログラム。
【００２４】
前記（３）に記載の発明によれば、これらの工程を含む分析処理をコンピュータに実行させることによって、分析結果の良否を簡単に判定して、否となる問題点を簡単に見つけることができる。
【００２５】
（４）前記（３）に記載の分析処理プログラムにおいて、前記測定データを新たに測定して取得する必要がなく、新たなる分析条件を設定して分析を行うことで分析結果が良となる場合には、前記解決方法提示工程で提示された前記今回の問題点および解決方法のうちから、前記新たなる分析条件を選択して再設定する分析条件再設定工程と、その新たなる分析条件に基づいて今回の分析結果を再計算する再計算工程と、前記測定データを新たに測定して取得することなく新たなる分析結果を求める分析結果再導出工程とを前記分析処理にさらに含み、その分析処理をコンピュータに実行させることを特徴とする分析処理プログラム。
【００２６】
前記（４）に記載の発明によれば、このような工程をコンピュータに実行させることによって、新たなる分析条件を設定して分析を行うことで分析結果が良となるような場合では、測定データを新たに測定して取得することなく分析結果再導出工程で新たなる分析結果を求めることができる。そして、求められたその新たなる分析結果が良となる。
【００２７】
（５）前記（３）または（４）に記載の分析処理プログラムにおいて、前記解決方法提示工程で提示された前記今回の問題点および解決方法を表示する表示工程を前記分析処理にさらに含み、その分析処理をコンピュータに実行させることを特徴とする分析処理プログラム。
【００２８】
前記（５）に記載の発明によれば、表示工程をコンピュータに実行させることによって、分析者は問題点および解決方法の表示を簡単に閲覧することができる。
【００２９】
（６）前記（３）から（５）のいずれかに記載の分析処理プログラムにおいて、前記所定の分析は、多チャンネル型の検出器によって検出して、測定波長範囲内の測定データを同時に取得可能な同時分析型高周波プラズマ発光分析であることを特徴とする分析処理プログラム。
【００３０】
前記（６）に記載の発明によれば、多チャンネル型の検出器によって、スペクトル線などに代表される測定データを一括して同時に取得することができる。
【００３１】
（７）設定された分析条件に基づいて所定の分析を行う分析工程を含んだ一連の分析処理をコンピュータに実行させるためのプログラムを記録した、コンピュータに読み取り可能な分析処理記憶媒体であって、分析条件を設定する分析条件設定工程と、その分析条件設定工程で設定された分析条件に基づいて所定の分析を行う分析工程と、分析の基となる測定データの良否を判断するための判断基準に基づいて今回の分析結果の良否を判定する分析結果判定工程と、分析結果が否の場合において否となる過去の問題点およびその問題点に対する解決方法が互いに関連付けられているときにおいて、その関連付けられた過去の問題点および解決方法の情報に基づいて今回の分析結果の問題点に対する解決方法を提示する解決方法提示工程とを含む分析処理をコンピュータに実行させるためのプログラムを記録することを特徴とする分析処理記憶媒体。
【００３２】
前記（７）に記載の発明によれば、これらの工程を含む分析処理をコンピュータに実行させることによって、分析結果の良否を簡単に判定して、否となる問題点を簡単に見つけることができる。
【００３３】
（８）前記（７）に記載の分析処理記憶媒体において、前記測定データを新たに測定して取得する必要がなく、新たなる分析条件を設定して分析を行うことで分析結果が良となる場合には、前記解決方法提示工程で提示された前記今回の問題点および解決方法のうちから、前記新たなる分析条件を選択して再設定する分析条件再設定工程と、その新たなる分析条件に基づいて今回の分析結果を再計算する再計算工程と、前記測定データを新たに測定して取得することなく新たなる分析結果を求める分析結果再導出工程とを前記分析処理にさらに含み、その分析処理をコンピュータに実行させるためのプログラムを記録することを特徴とする分析処理記憶媒体。
【００３４】
前記（８）に記載の発明によれば、このような工程をコンピュータに実行させることによって、新たなる分析条件を設定して分析を行うことで分析結果が良となるような場合では、測定データを新たに測定して取得することなく分析結果再導出工程で新たなる分析結果を求めることができる。そして、求められたその新たなる分析結果が良となる。
【００３５】
（９）前記（７）または（８）に記載の分析処理記憶媒体において、前記解決方法提示工程で提示された前記今回の問題点および解決方法を表示する表示工程を前記分析処理にさらに含み、その分析処理をコンピュータに実行させるためのプログラムを記録することを特徴とする分析処理記憶媒体。
【００３６】
前記（９）に記載の発明によれば、表示工程をコンピュータに実行させることによって、分析者は問題点および解決方法の表示を簡単に閲覧することができる。
【００３７】
（１０）前記（７）から（９）のいずれかに記載の分析処理記憶媒体において、前記所定の分析は、多チャンネル型の検出器によって検出して、測定波長範囲内の測定データを同時に取得可能な同時分析型高周波プラズマ発光分析であることを特徴とする分析処理記憶媒体。
【００３８】
前記（１０）に記載の発明によれば、多チャンネル型の検出器によって、スペクトル線などに代表される測定データを一括して同時に取得することができる。
【発明の効果】
【００３９】
この発明に係る分析装置および分析処理方法によれば、分析結果判定手段は、第１情報記憶手段に記憶された分析の基となる測定データの良否を判断するための判断基準に基づいて今回の分析結果の良否を判定し、解決方法提示手段は、第２情報記憶手段に記憶された互いに関連付けられた過去の問題点および解決方法の情報に基づいて今回の分析結果の問題点に対する解決方法を提示する。したがって、分析結果の良否を簡単に判定して、否となる問題点を簡単に見つけることができる。
【実施例】
【００４０】
以下、図面を参照してこの発明の実施例を説明する。
図１は、実施例に係る分析装置の概略を示すブロック図である。なお、本実施例では、分析として、測定データを一括して取得することが可能なエシェル型の分光器を用いた同時分析型高周波プラズマ発光分析（以下、「エシェル型の高周波プラズマ発光分析」と略記する）を例に採って説明する。
【００４１】
エシェル型の高周波プラズマ発光分析は、図１に示すように、プラズマ中の試料Ｓから発光されたスペクトル線Ｌを、光の回折効果を利用した分散素子である回折格子Ｇを用いて定量分析を行う。より具体的に説明すると、エシェル型の高周波プラズマ発光分析を行う分析装置１は、光源部１０と分光部２０と測光部３０と分析処理制御部４０とを備えている。
【００４２】
光源部１０は、アルゴン（Ａｒ）ガス、プラズマトーチと高周波電源とによって生成されるプラズマを発生させるプラズマ処理室からなり、プラズマ処理室内に試料Ｓを導入する。試料Ｓは溶液試料などである。試料Ｓが光源部１０に導入されると、高温のプラズマにより気化して原子状態となり、同時に励起される。励起状態にある原子は、励起状態から定常状態に状態遷移するときに、各元素特有の光をスペクトル線Ｌとして発光する。
【００４３】
分光部２０は、回折格子Ｇや次数分離用回折格子２１からなり、これらの格子Ｇ，２１によってスペクトル線Ｌを分光する。
【００４４】
測光部３０は、ＣＣＤカメラやラインセンサなどの多チャンネル型の検出器からなり、分光された各光を電気信号にそれぞれ変換する。その電気信号に基づいた光の波長ごとの強度を測定データとして、分析処理制御部４０に送り込む。この測定データは、分析の基となるデータである。
【００４５】
分析処理制御部４０は、パーソナルコンピュータで構成され、分析パラメータ設定部４１と分析結果導出部４２と第１情報記憶部４３と分析結果判定部４４と第２情報記憶部４５と解決方法提示部４６とモニタ４７とを備えている。分析パラメータ設定部４１、分析結果導出部４２、分析結果判定部４４、解決方法提示部４６は、中央演算処理装置（ＣＰＵ）などで構成されており、第１情報記憶部４３、第２情報記憶部４５は、ＲＯＭ（Read-only Memory）やＲＡＭ（Random-Access Memory）などに代表される記憶媒体などで構成されている。
【００４６】
分析パラメータ設定部４１は、分析対象となる元素や波長などの分析パラメータ（すなわち分析条件）を設定する。この分析パラメータ設定部４１は、図示を省略する入力部からの入力データに基づいて分析パラメータを設定する。この入力部は、マウスやキーボードやジョイスティックやトラックボールやタッチパネルなどに代表されるポインティングデバイスで構成されている。本実施例での分析パラメータ設定部４１の具体的な機能については後述する。分析パラメータ設定部４１で設定された分析パラメータを分析結果導出部４２に送り込む。分析パラメータ設定部４１は、この発明における分析条件設定手段に相当する。
【００４７】
分析結果導出部４２は、分析パラメータ設定部４１で設定された分析パラメータ、および測光部３０で測定された測定データに基づいて、光の強度から濃度への計算を行って分析結果を求める。本実施例での分析結果導出部４２での具体的な機能については後述する。分析結果導出部４２で求まった分析結果を分析結果判定部４４に送り込む。
【００４８】
第１情報記憶部４３は、分析の基となる測定データの良否を判断するための判断基準を予め記憶する。本実施例での判断基準については後述する。第１情報記憶部４３に記憶された判断基準を分析結果判定部４４に送り込む。第１情報記憶部４３は、この発明における第１情報記憶手段に相当する。
【００４９】
なお、第１情報記憶部４３を、ＲＡＭなどの書き換え可能な記憶媒体などで構成することにより、最新の情報などに内容を更新することができる。更新の方法は装置メーカなどによる一括書き換えとしてもよいし、自己学習型としてもよい。
【００５０】
分析結果判定部４４は、第１情報記憶部４３に記憶された判断基準の情報に基づいて今回の分析結果の良否を判定する。本実施例での分析結果判定部４４での具体的な構成については後述する。分析結果判定部４４で判定された今回の分析結果の良否を解決方法提示部４６に送り込む。分析結果判定部４４は、この発明における分析結果判定手段に相当する。
【００５１】
第２情報記憶部４５は、分析結果が否の場合において否となる過去の問題点およびその問題点に対する解決方法を互いに関連付けて情報を予め記憶する。本実施例でのその関連付けられた過去の問題点および解決方法の情報については後述する。第２情報記憶部４５に記憶された過去の問題点および解決方法の情報を解決方法提示部４６に送り込む。第２情報記憶部４５は、この発明における第２情報記憶手段に相当する。なお、第２情報記憶部４５についても、第１情報記憶部４３と同様に、ＲＡＭなどの書き換え可能な記憶媒体などで構成してもよい。
【００５２】
解決方法提示部４６は、第２情報記憶部４５に記憶された前記関連付けられた過去の問題点および解決方法の情報に基づいて、分析結果判定部４３で判定された今回の分析結果の良否のうち否となる問題点に対する解決方法を提示する。本実施例での解決方法提示部４６での具体的な構成については後述する。解決方法提示部４６で提示された問題点および解決方法をモニタ４７に送り込む。解決方法提示部４６は、この発明における解決方法提示手段に相当する。
【００５３】
また、分析の基となる測定データを測光部３０で新たに測定して取得する必要がなく、新たなる分析パラメータを分析パラメータ設定部４１で設定して計算処理を行うことで分析結果が良となる場合には、解決方法提示部４６で提示された問題点および解決方法を、分析パラメータ設定部４１にも送り込む。そして、分析パラメータ設定部４１で、今回の問題点および解決方法のうちから新たなる分析パラメータを選択して再設定する。そして、分析パラメータ設定部４１で再設定された分析パラメータを分析結果導出部４２に送り込んで、分析結果導出部４２は、分析パラメータ設定部４１で再設定された分析パラメータに基づいて、測定データを新たに測定して取得することなく新たなる分析結果を再計算して求める。
【００５４】
モニタ４７は、解決方法提示部４６で提示された今回の問題点および解決方法を表示する。本実施例でのモニタ４７に表示される今回の問題点および解決方法については後述する。モニタ４７は、この発明における表示手段に相当する。
【００５５】
次に、本実施例に係る分析処理方法について、図２のフローチャートおよび図３〜図１１の説明図を参照して説明する。図２は、本実施例に係る分析処理方法のフローチャートであり、図３は、検量線の説明図であり、図４〜図７はプロファイルの説明図であり、図８は、分析の基となる測定データの良否を判断するための判断基準の説明図であり、図９は、分析結果が否の場合において否となる過去の問題点およびその問題点に対する解決方法を互いに関連付けた情報の説明図であり、図１０は、提示された今回の問題点および解決方法の表示に関する説明図であり、図１１は、新たなる分析パラメータを設定する表示に関する説明図である。
【００５６】
（ステップＳ１）測定データの取得
先ず、分析結果を求めるために、分析の基となる測定データを測光部３０が求める。この測定データは、回折格子Ｇなどによって２次元に展開されて分光された複数の波長ごとの光に応じた強度として求められている。
【００５７】
（ステップＳ２）分析パラメータ設定
分析対象となる元素や波長を分析パラメータとして設定する。例えば、定量分析を行う元素がアルミニウム（Ａｌ）の場合には、分析対象となるＡｌを設定するとともに、Ａｌの波長と想定される値を設定する。これらの設定された入力データに基づいて分析パラメータ設定部４１は分析パラメータを設定して、分析結果導出部４２に送り込む。このステップＳ２は、この発明における分析条件設定工程に相当する。本実施例では、ステップＳ１で測定データを取得してからステップＳ２で分析パラメータを設定したが、ステップＳ２で分析パラメータを設定してから、ステップＳ１で測定データを取得して、次のステップＳ３で分析を行ってもよい。
【００５８】
（ステップＳ３）分析
分析パラメータ設定部４１で設定された分析パラメータ、および測光部３０で測定された測定データに基づいて、分析結果導出部４２は光の強度から濃度への計算を行う。この分析では、例えば、図３に示す既知の濃度の試料の測定に基づいた検量線や図４に示すプロファイルを作成して、これら作成された検量線やプロファイルに基づいて分析を行う。あるいは、プロファイルを作成して、作成されたプロファイルや予め作成された検量線に基づいて分析を行う。
【００５９】
元素は波長ごとに固有の感度を有している。検量線は、横軸に濃度（図３ではＡｌ濃度）をとって、縦軸に濃度に対応する強度（図３ではＡｌの強度Ｉ）をとる。元素Ａｌが設定されるとともに、ある所定の値の波長が設定されている場合には、設定された元素Ａｌ、設定された所定の値の波長に応じた検量線のグラフ（図３を参照）と、測光部３０で測定された強度に基づいて、Ａｌ濃度を求める。
【００６０】
プロファイルは、横軸に波長（図４ではＡｌの実際の波長）をとって、縦軸に波長に対応する強度（図４ではＡｌの強度Ｉ）をとる。強度がピークになっている波長λ1が実際の波長となる。ところで、プラズマを生成するガス（例えばアルゴン（Ａｒ））や試料中に大量に含まれる元素から独自の強度がバックグラウンドとして図４のプロファイルに重畳されている場合がある。また、波長によってバックグラウンドの強度が変化する場合がある。この波長に対する変化の傾きを図４ではｄとする。これらの場合には、重畳された強度であるバックグラウンド値ＢＧおよび傾きｄに基づいて補正する『バックグラウンド補正』を行う。バックグラウンド補正後のプロファイルは図５に示すようなグラフとなる。
【００６１】
また、図６に示すように、プロファイル中にピークが２つ以上存在する場合がある。この場合には、２つ以上存在するピークのうち１つが分析対象となる元素（図６ではＡｌ）の波長に対応して、残りのピークは分析対象となる元素の波長に近傍した元素（『妨害元素』あるいは『共存元素』と呼ぶ）の波長に対応する。そこで、妨害元素に関するプロファイルを、図７に示すように作成して、妨害元素の濃度を他の波長λ3で求めることにより、図６に重畳している妨害元素の波長λ2のプロファイル中のスペクトルを推定し、図６から減算して補正する『元素間補正』を行う。
【００６２】
これらの検量線やプロファイルに基づいて分析対象となる元素の濃度を求めて分析を行う。分析結果導出部４２は、これらの分析結果を分析結果判定部４４に送り込む。このステップＳ３は、この発明における分析工程に相当する。
【００６３】
（ステップＳ４）分析結果判定
一方、第１情報記憶部４３には、分析の基となる測定データの良否を判断するための判断基準が、例えば図８に示すように記憶されている。
【００６４】
具体的に判断基準としては、３パターンに分けられ、検出器などの装置のハードウェアの状態から判断されるパターン、測定データのプロファイルから数学的観点により判断されるパターン、各元素の既知のスペクトルの状態から経験的に蓄積されるパターンと分けられる。各判断基準項目には、判断点とその点について良否を決めるための状態と基準値とが登録されている。
【００６５】
例えば、図８中の問題点で『オーバーフローした元素がある』は、測光部３０の検出器（例えばＣＣＤのフォトダイオードや電荷電圧変換器）の検出能力を超えたときである。すなわち、検出器の性能に基づいて今回の分析結果において強度がオーバーフローしたか否かを判定する。図８中の判断基準としては、『検出器の性能による強度上限Ａ以上』となる。なおＡはオーバーフローの閾値（所定値）である。この判断基準は、検出器などの装置のハードウェアの状態から判断されるパターンの一例である。
【００６６】
例えば、図８中の問題点で『バックグラウンドや分光干渉に対し、分析元素の強度の正しい値がだせない』は、プラズマを生成するガスによるバックグラウンドや、分光による干渉で、分析対象となる元素の強度が低下したときである。過去の値から所定値を予め決定して、その所定値以下なら正しい値が求められないと判定する。図８中の判断基準としては、『分析元素の強度がＩ以下』となる。なお、Ｉは上述した所定値である。この判断基準は、測定データのプロファイルから数学的観点により判断されるパターンの一例である。
【００６７】
例えば、図８中の問題点で『バックグラウンドの変動がある』は、図４のバックグラウンドによってピーク近傍の箇所で強度が強く変動しているときである。このときは、強度の変動が測定強度に重複している。バックグラウンドはある程度は平坦であることが前提であり、本来であればピークでバックグラウンド値ＢＧを取得したいが、平坦でなく変動しているときにはピークで測定できないので、ピーク近傍の箇所でバックグラウンド値ＢＧを取得する。したがって、決められた強度の精度に対してバックグラウンド値ＢＧが所定値以下の影響しか与えない場合には、バックグラウンド変動なしであるが、所定値以上の影響があれば、バックグラウンドに変動ありとして、バックグラウンド補正を行う。すなわち、バックグラウンド値ＢＧに対して強度不足かあるいは適当な強度かを判定する。図８中の判断基準としては、『バックグラウンドの傾きがｄ以上』となる。
【００６８】
例えば、図８中の問題点で『共存元素から分光干渉がある』は、共存元素、すなわち妨害元素のピークが分析対象となる元素のピークの近傍にあり、分析対象となる元素波長の強度（あるいは濃度）に影響を与える場合である。図６のプロファイルから分析対象となる元素波長の強度（あるいは濃度）に対する妨害元素の強度（あるいは濃度）が、ある所定値以上の場合には、干渉の影響があると判定する。図８中の判断基準としては、『妨害元素の分析値がＡ以上』となる（ただしＡは所定値）。この判断基準は、各元素の既知のスペクトルの状態から経験的に蓄積されるパターンの一例である。
【００６９】
例えば、図８中の問題点で『試料濃度が不適切である』は、図３の検量線において濃度の範囲外のときである。例えば作成した検量線の上限・下限濃度の範囲を超えているか否かを判定する。図８中の判断基準としては、『分析値が検量線の信頼範囲外』となる。
【００７０】
例えば、図８中の問題点で『高濃度元素Ｎａが分析値に影響を与えている可能性がある』は、試料が海水を含んでいる場合には、海水の主成分のナトリウム（Ｎａ）による影響を受けているときである。このときは、Ｎａによる影響でプラズマの状態が変わり、感度が影響を受ける。過去の分析結果（例えば高濃度元素Ｎａの濃度に関するデータ）などに基づいてＮａによる影響を受けているか否かを判定する。図８中の判断基準としては、『高濃度元素Ｎａの濃度がＣ以上』となる。なお、Ｃは濃度に関する所定値である。
【００７１】
ステップＳ３の分析で行われた今回の分析結果において、これらの分析結果の良否を分析結果判定部４４が判定する。そして、今回の分析結果の良否を解決方法提示部４６に送り込む。このステップＳ４は、この発明における分析結果判定工程に相当する。
【００７２】
（ステップＳ５）問題あり？
分析結果が否となる問題点があれば、次のステップＳ６に進む。分析結果が良の場合には、一連の分析処理を終了する。
【００７３】
例えば、今回の分析結果において強度がオーバーフローすれば問題あり（否）と判定する。プラズマを生成するガスによるバックグラウンドや、分光による干渉で、分析対象となる元素の強度が低下して所定値以下なら問題あり（否）と判定する。バックグラウンドの傾きが所定値を超えたら問題あり（否）と判定する。妨害元素のピークが分析対象となる元素のピークの近傍にあって、妨害元素の分析値が所定値以上なら問題あり（否）と判定する。検量線において濃度の範囲外ならば問題あり（否）と判定する。Ｎａによる影響が大きすぎる場合には問題あり（否）と判定する。
【００７４】
（ステップＳ６）問題点および解決方法の提示
一方、第２情報記憶部４５には、分析結果が否の場合において否となる過去の問題点およびその問題点に対する解決方法を互いに関連付けた情報（テーブル）が、例えば図９に示すように記憶されている。
【００７５】
例えば、図９中の問題点で『オーバーフローした元素があります。』の場合には、設定した波長において感度が高すぎて強度がオーバーフローする可能性がある。この場合には、測定データをステップＳ１で新たに測定して取得する必要がなく、より感度の低い分析波長を分析パラメータとして分析パラメータ設定部４１で再設定して、今回の分析結果を分析結果導出部４２で再計算することで解決することができる。そこで、図９中の解決方法で『より感度の低い分析波長を追加することで解決する可能性があります。再測定を行わずに、再計算が可能です。システムが分析波長を選択します。』を『オーバーフローした元素があります。』に関連付けて、第２情報記憶部４５に予め記憶している。
【００７６】
他の問題点においても、その問題点に対する解決方法を互いに関連付けて図９のテーブルとして第２情報記憶部４５に予め記憶する。
【００７７】
なお、図９中の問題点で『試料濃度が不適切です。』の場合には、ステップＳ１で再測定する必要があるので、図９注の解決方法で『その範囲の試料での再測定が必要です。システムが検量線の濃度を推定します。』を『試料濃度が不適切です。』に関連付けて、第２情報記憶部４５に予め記憶している。
【００７８】
これらの関連付けられた問題点および解決方法を第２情報記憶部４５から読み出して、今回の分析結果の問題点およびそれに対する解決方法を解決方法提示部４６は提示する。解決方法提示部４６は、モニタ４７に送り込んで、提示された今回の問題点および解決方法を、例えば図１０に示すようにモニタ４７は表示する。このステップＳ６は、この発明における解決方法提示工程および表示工程に相当する。
【００７９】
（ステップＳ７）再計算で解決？
再計算で解決する場合、例えば図９、図１０に示すように問題点が『オーバーフローした元素があります。』で、より感度の低い分析波長を分析パラメータとして再設定して再計算を行うことで解決する場合には、次のステップＳ８に進む。再計算でも解決しない場合には、ステップＳ１の測定データの取得に戻る。
【００８０】
（ステップＳ８）分析パラメータ再設定
再計算で解決する場合、すなわち測定データをステップＳ１で新たに測定して取得する必要がなく、新たなる分析パラメータを設定して分析を行うことで分析結果が良となる場合には、解決方法提示部４６で提示された今回の問題点および解決方法のうちから、新たなる分析パラメータを選択して再設定する。
【００８１】
例えば図１０中のモニタ４７上で問題点『オーバーフローした元素があります。』を表示するとともに、解決方法『より感度の低い分析波長を追加することで解決する可能性があります。再測定を行わずに、再計算が可能です。システムが分析波長を選択します。』を表示する。この他に、試料名や分析の対象となる元素（図１０の場合にはカドミウム（Ｃｄ））を表示するとともに、ステップＳ２で設定した波長を表示する。また、モニタの右端部分には、図１０に示すように『解決を図る』ボタンを設けており、このボタンをタッチパネルで構成している。このボタンを押下して解決方法を選択することで、その解決方法に応じた分析パラメータを新たに設定する。図１０の場合には、より感度の低い分析波長を分析パラメータとして分析パラメータ設定部４１で再設定することになる。
【００８２】
そして、分析パラメータ設定部４１で再設定する場合には、例えば図１１中のモニタ４７上で追加波長を表示するとともに、再設定をキャンセルする『Ｃａｎｃｅｌ』と再設定を行う『ＯＫ』ボタンを表示する。これらのボタンもタッチパネルで構成している。『ＯＫ』ボタンを押下することで、新たなる分析パラメータを再設定する。図１１の場合には、より感度の低い波長を追加波長として、その追加波長を新たなる分析パラメータとする。
【００８３】
このように解決方法提示部４６で提示された問題点および解決方法を、分析パラメータ設定部４１に送り込んで、『ＯＫ』ボタンが押下されることで分析パラメータ設定部４１は今回の問題点および解決方法のうちから新たなる分析パラメータを選択して再設定する。そして、分析パラメータ設定部４１で再設定された分析パラメータを分析結果導出部４２に送り込む。このステップＳ８は、この発明における分析条件再設定工程に相当する。
【００８４】
（ステップＳ９）分析結果の再計算
分析結果導出部４２は、分析パラメータ設定部４１で再設定された分析パラメータに基づいて、再計算を行う。このステップＳ９は、この発明における再計算工程に相当する。
【００８５】
（ステップＳ１０）分析結果再導出
そして、再計算から新たなる分析結果を求める。このステップＳ１０は、この発明における分析結果再導出工程に相当する。
【００８６】
上述した本実施例に係る分析装置１によれば、分析パラメータ設定部４１で設定された分析パラメータ（分析条件）に基づいて所定の分析（本実施例では高周波プラズマ発行分析）を行う際に、分析結果判定部４４は、第１情報記憶部４３に記憶された分析の基となる測定データの良否を判断するための判断基準に基づいて今回の分析結果の良否を判定する。したがって、分析経験の浅い分析者でも、分析結果の良否を簡単に判定することができる。そして、解決方法提示部４６は、第２情報記憶部４５に記憶された互いに関連付けられた過去の問題点および解決方法の情報に基づいて、今回の分析結果の問題点に対する解決方法を提示する。したがって、分析経験の浅い分析者でも、否となる問題点を簡単に見つけることができる。
【００８７】
本実施例では、分析の基となる測定データを新たに測定して取得する必要がなく、新たなる分析パラメータを設定して分析を行うことで分析結果が良となる場合には、解決方法提示部４６によって提示された今回の問題点および解決方法のうちから、上述した新たなる分析条件を選択して、その新たなる分析条件に基づいて今回の分析結果を再計算して、上述した測定データを新たに測定して取得することなく新たなる分析結果を求めるように、分析処理制御部４０の各手段を構成している。このように構成することで、新たなる分析パラメータを設定して分析を行うことで分析結果が良となるような場合では、測定データを新たに測定して取得することなく新たなる分析結果を求めることができる。そして、求められたその新たなる分析結果が良となる。
【００８８】
また、本実施例では、今回の問題点および解決方法を表示するモニタ４７を備えることで、分析者は問題点および解決方法の表示を簡単に閲覧することができる。
【００８９】
また、本実施例のようにエシェル型の高周波プラズマ発光分析では、ＣＣＤカメラやラインセンサなどの多チャンネル型の検出器を備えているので、測定データを一括して同時に取得することが可能である。かかるエシェル型の分光器を用いた分析に代表される同時分析型の場合には、目的の対象であるピークの他の波長についても測定データが同時に取得されるので、他の波長でのデータを用いた再計算により分析結果を良としたり、他の波長でのデータとの比較により、元素間補正に使用される分光干渉情報を得ることができる。このように、同時分析型高周波プラズマ発光分析に適用するのは有用である。
【００９０】
この発明は、上記実施形態に限られることはなく、下記のように変形実施することができる。
【００９１】
（１）上述した実施例では、エシェル型の高周波プラズマ発光分析を例に採って説明したが、エシェル型以外の同時分析型の高周波プラズマ発光分析であってもよい。また、同時分析型の高周波プラズマ発光分析以外にも、シーケンシャル型の高周波プラズマ発光分析であってもよい。さらに、高周波プラズマ発光分析以外の分析であって、分析パラメータを設定して、その分析パラメータに基づいて所定の分析を行うものであれば、特に限定されない。例えば、固相反応用のレジン粒を反応容器に入れて、試薬や溶媒を反応容器に注入して固相反応を進行させて、レジン粒内部に生成された化合物を分析するクロマトグラフィー分析装置にもこの発明は適用することができる。その他に、熱分析熱量計や、放射線で例えば食品中の異物を検出する放射線異物検出装置や、粘度分布測定装置や、におい識別装置などの分析装置にも適用することができる。
【００９２】
（２）上述した実施例を実行するのに、ステップＳ１〜Ｓ１０を実行させるための分析処理プログラムや、ステップＳ１〜Ｓ１０を実行させるためのプログラムを記録した分析処理記憶媒体を用いてもよい。分析処理プログラムの場合には、かかるプログラムを電気通信回線（例えばＲＳ−２３２Ｃ規格のケーブルやＬＡＮ(Local Area Network)ケーブル）を介して分析装置にダウンロード（取得）して、そのプログラムをパーソナルコンピュータで構成された分析処理制御部４０に実行させればよい。分析処理記憶媒体の場合には、上述した分析処理プログラムをＲＯＭやＲＡＭなどに代表される記憶媒体に予め記憶させておいて、その記憶媒体内に記憶されたプログラムを分析処理制御部４０に読み取って実行させればよい。
【００９３】
（３）上述した実施例では、測定データを新たに測定して取得する必要がなく、新たなる分析条件を設定して分析を行うことで分析結果が良となる場合には、新たなる分析パラメータを再設定して、今回の分析結果を再計算したが、必ずしも再設定および再計算の機能を備える必要はない。
【００９４】
（４）上述した実施例では、提示された今回の問題点および解決方法を出力するのにモニタなどに代表される表示手段を出力手段として備えたが、出力印刷する手段（例えばプリンタ）であってもよい。また、モニタやプリンタを分析装置に対して外付けにして、外付けされたモニタやプリンタに分析装置内の解決方法提示部が出力データを送信してもよい。
【００９５】
（５）上述した実施例でも述べたように、第１情報記憶部４３または第２情報記憶部４５のいずれか一方を、あるいは第１情報記憶部４３および第２情報記憶部４５を、最新の情報に書き換え可能に構成してもよい。このように構成する場合には、記憶部４３，４５にはＲＯＭでなくＲＡＭを用いる。このように各記憶４３，４５を書き換え可能に構成することで、第１情報記憶部４３の場合では分析結果判定部４４は、第２情報記憶部４５の場合では解決方法提示部４６は、最新の情報を常に参照することができる。第１情報記憶部４３の場合では分析結果の良否を正確に判定することができ、第２情報記憶部４５の場合では否となる問題点を正確に見つけることができる。
【図面の簡単な説明】
【００９６】
【図１】実施例に係る分析装置の概略を示すブロック図である。
【図２】実施例に係る分析処理方法のフローチャートである。
【図３】検量線の説明図である。
【図４】プロファイルの説明図である。
【図５】プロファイルの説明図である。
【図６】プロファイルの説明図である。
【図７】プロファイルの説明図である。
【図８】分析の基となる測定データの良否を判断するための判断基準の説明図である。
【図９】分析結果が否の場合において否となる過去の問題点およびその問題点に対する解決方法を互いに関連付けた情報の説明図である。
【図１０】提示された今回の問題点および解決方法の表示に関する説明図である。
【図１１】新たなる分析パラメータを設定する表示に関する説明図である。
【符号の説明】
【００９７】
１ … 分析装置
４１ … 分析パラメータ設定部
４３ … 第１情報記憶部
４４ … 分析結果判定部
４５ … 第２情報記憶部
４６ … 解決方法提示部
４７ … モニタ
【特許請求の範囲】
【請求項１】
分析条件を設定する分析条件設定手段を備え、その分析条件設定手段で設定された分析条件に基づいて所定の分析を行う分析装置であって、分析の基となる測定データの良否を判断するための判断基準を予め記憶する第１情報記憶手段と、その第１情報記憶手段に記憶された判断基準に基づいて今回の分析結果の良否を判定する分析結果判定手段と、分析結果が否の場合において否となる過去の問題点およびその問題点に対する解決方法を互いに関連付けて情報を予め記憶する第２情報記憶手段と、その第２情報記憶手段に記憶された前記関連付けられた過去の問題点および解決方法の情報に基づいて今回の分析結果の問題点に対する解決方法を提示する解決方法提示手段とを備えることを特徴とする分析装置。
【請求項２】
請求項１に記載の分析装置において、前記測定データを新たに測定して取得する必要がなく、新たなる分析条件を設定して分析を行うことで分析結果が良となる場合には、前記解決方法提示手段によって提示された前記今回の問題点および解決方法のうちから、前記新たなる分析条件を選択して、その新たなる分析条件に基づいて今回の分析結果を再計算して、前記測定データを新たに測定して取得することなく新たなる分析結果を求めるように各手段を構成することを特徴とする分析装置。
【請求項３】
請求項１または請求項２に記載の分析装置において、前記解決方法提示手段によって提示された前記今回の問題点および解決方法を表示する表示手段を備えることを特徴とする分析装置。
【請求項４】
請求項１から請求項３のいずれかに記載の分析装置において、前記第1情報記憶手段または／および前記第２情報記憶手段は、最新の情報に書き換え可能に構成されていることを特徴とする分析装置。
【請求項５】
請求項１から請求項４のいずれかに記載の分析装置において、前記所定の分析は、分析の基となる測定データを測定して、その測定データを一括して取得する分析であることを特徴とする分析装置。
【請求項６】
請求項５に記載の分析装置において、多チャンネル型の検出器を備え、測定波長範囲内の測定データを同時に取得可能な同時分析型高周波プラズマ発光分析を行うことを特徴とする分析装置。
【請求項７】
設定された分析条件に基づいて所定の分析を行う分析工程を含んだ一連の分析処理を実行する分析処理方法であって、分析条件を設定する分析条件設定工程と、その分析条件設定工程で設定された分析条件に基づいて所定の分析を行う分析工程と、分析の基となる測定データの良否を判断するための判断基準に基づいて今回の分析結果の良否を判定する分析結果判定工程と、分析結果が否の場合において否となる過去の問題点およびその問題点に対する解決方法が互いに関連付けられているときにおいて、その関連付けられた過去の問題点および解決方法の情報に基づいて今回の分析結果の問題点に対する解決方法を提示する解決方法提示工程とを備えることを特徴とする分析処理方法。
【請求項８】
請求項７に記載の分析処理方法において、前記測定データを新たに測定して取得する必要がなく、新たなる分析条件を設定して分析を行うことで分析結果が良となる場合には、前記解決方法提示工程で提示された前記今回の問題点および解決方法のうちから、前記新たなる分析条件を選択して再設定する分析条件再設定工程と、その新たなる分析条件に基づいて今回の分析結果を再計算する再計算工程と、前記測定データを新たに測定して取得することなく新たなる分析結果を求める分析結果再導出工程とを備えることを特徴とする分析処理方法。
【請求項１】
分析条件を設定する分析条件設定手段を備え、その分析条件設定手段で設定された分析条件に基づいて所定の分析を行う分析装置であって、分析の基となる測定データの良否を判断するための判断基準を予め記憶する第１情報記憶手段と、その第１情報記憶手段に記憶された判断基準に基づいて今回の分析結果の良否を判定する分析結果判定手段と、分析結果が否の場合において否となる過去の問題点およびその問題点に対する解決方法を互いに関連付けて情報を予め記憶する第２情報記憶手段と、その第２情報記憶手段に記憶された前記関連付けられた過去の問題点および解決方法の情報に基づいて今回の分析結果の問題点に対する解決方法を提示する解決方法提示手段とを備えることを特徴とする分析装置。
【請求項２】
請求項１に記載の分析装置において、前記測定データを新たに測定して取得する必要がなく、新たなる分析条件を設定して分析を行うことで分析結果が良となる場合には、前記解決方法提示手段によって提示された前記今回の問題点および解決方法のうちから、前記新たなる分析条件を選択して、その新たなる分析条件に基づいて今回の分析結果を再計算して、前記測定データを新たに測定して取得することなく新たなる分析結果を求めるように各手段を構成することを特徴とする分析装置。
【請求項３】
請求項１または請求項２に記載の分析装置において、前記解決方法提示手段によって提示された前記今回の問題点および解決方法を表示する表示手段を備えることを特徴とする分析装置。
【請求項４】
請求項１から請求項３のいずれかに記載の分析装置において、前記第1情報記憶手段または／および前記第２情報記憶手段は、最新の情報に書き換え可能に構成されていることを特徴とする分析装置。
【請求項５】
請求項１から請求項４のいずれかに記載の分析装置において、前記所定の分析は、分析の基となる測定データを測定して、その測定データを一括して取得する分析であることを特徴とする分析装置。
【請求項６】
請求項５に記載の分析装置において、多チャンネル型の検出器を備え、測定波長範囲内の測定データを同時に取得可能な同時分析型高周波プラズマ発光分析を行うことを特徴とする分析装置。
【請求項７】
設定された分析条件に基づいて所定の分析を行う分析工程を含んだ一連の分析処理を実行する分析処理方法であって、分析条件を設定する分析条件設定工程と、その分析条件設定工程で設定された分析条件に基づいて所定の分析を行う分析工程と、分析の基となる測定データの良否を判断するための判断基準に基づいて今回の分析結果の良否を判定する分析結果判定工程と、分析結果が否の場合において否となる過去の問題点およびその問題点に対する解決方法が互いに関連付けられているときにおいて、その関連付けられた過去の問題点および解決方法の情報に基づいて今回の分析結果の問題点に対する解決方法を提示する解決方法提示工程とを備えることを特徴とする分析処理方法。
【請求項８】
請求項７に記載の分析処理方法において、前記測定データを新たに測定して取得する必要がなく、新たなる分析条件を設定して分析を行うことで分析結果が良となる場合には、前記解決方法提示工程で提示された前記今回の問題点および解決方法のうちから、前記新たなる分析条件を選択して再設定する分析条件再設定工程と、その新たなる分析条件に基づいて今回の分析結果を再計算する再計算工程と、前記測定データを新たに測定して取得することなく新たなる分析結果を求める分析結果再導出工程とを備えることを特徴とする分析処理方法。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【公開番号】特開２００７−２４６７９（Ｐ２００７−２４６７９Ａ）
【公開日】平成１９年２月１日（２００７．２．１）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２００５−２０７２５６（Ｐ２００５−２０７２５６）
【出願日】平成１７年７月１５日（２００５．７．１５）
【出願人】（０００００１９９３）株式会社島津製作所 (3,708)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成１９年２月１日（２００７．２．１）
【国際特許分類】
【出願日】平成１７年７月１５日（２００５．７．１５）
【出願人】（０００００１９９３）株式会社島津製作所 (3,708)
【Ｆターム（参考）】
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