説明

曲げ損失強化光ファイバ

【課題】曲げのように外部物理力による光損失及び波長別損失差を最小化すると同時に、短い遮断波長特性を維持することができる光ファイバを提供する。
【解決手段】曲げ損失強化光ファイバは、光ファイバ100内の最大屈折率の差Δn1を有するコア110と、コアの外側に位置され、コアから遠くなるほど減少し、コアの最大屈折率の差より低い屈折率の差Δn2を有する内部層120と、内部層の外側に位置され、内部層の屈折率の差より低い内周屈折率の差Δn3と光ファイバ内の最小外周屈折率の差Δn4を有するトレンチ層130と、を含む。

【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は光ファイバに関するもので、特に極低曲げ損失を有する光ファイバに関する。
【背景技術】
【0002】
最近、FTTx(Fiber to the x)市場の持続的な拡大とともに経済危機回復のための各国政府のインフラ投資が活発に進んでいる。スマートフォンの無線データ使用量の増加、3D(Three-Dimensional)TVの普及拡大、TVポータル(portal)サービスの導入、LTE(Long Term Evolution)及びWiMAXのような無線インターネット4G(Fourth-Generation)の成長によって、光バックボーンネットワークとインドアシステム(indoor system)の容量増大が要求される。FTTxの効率的なネットワーク設置及び運用は、実際のケーブル敷設現場の環境的な制約に主に依存する。それによって、サービス事業者及び光ファイバ供給者は、現場で物理力により発生する曲げ損失、特に極限の曲げ発生環境を克服するための努力を継続して進行している。
【0003】
光ファイバコア及びクラッドの構造的制御を通じて行われるモードフィールド直径(Mode-Field Diameter:MFD)制御技術、低下した(depressed)クラッド製造技術、低屈折率トレンチ(Low-Index Trench)製造技術、及びクラッド内に等方性(isotropy)のリング構造を有するナノサイズのエアホール(air-hole)製造技術は、単一モード(又はシングルモード)光ファイバの曲げ損失特性が低下することを防止するために提案された。しかしながら、国際標準ITU-T G.657.B3の光特性及び信頼性規格を満たしつつ、既存の単一モード光ファイバ(ITU-T G.652.D)との接続互換性を維持できる商用化された技術は、極めて限定的である。
【0004】
上記した光特性と信頼性の特性を満たす光ファイバ構造及び製造方法として、コアと内部層を備えて最小屈折率のトレンチ層を含む低屈折率トレンチ製造技術が商用化されている。低屈折率トレンチ製造技術は、ソリッドガラス構造で、機械的、環境的な信頼性に優れ、大量生産に適合するため、曲げ強化光ファイバを実現する方法として多くの注目を浴びている。最近、敷設現場で要求する曲げ特性がより強化されるにつれて、深いトレンチを形成して曲げ損失特性を強化しようとする努力がなされている。
【0005】
しかしながら、低屈折率トレンチ製造技術において最も克服しにくい課題は、短い遮断波長特性を維持し、かつ曲げ損失を最小化することである。
【0006】
光ファイバ内の遮断波長の特性は、曲げ損失特性と反比例関係であり、これは、すなわち曲げ特性が強ければ強いほど高次モードを除去しにくいということである。
【0007】
光ファイバ内で導波するLP11以上の高次モードは、深いトレンチ領域の境界面条件、すなわち屈折率差によって一層集中され、これによって長距離にわたって高次モード特性を維持しつつ導波するようになる。
【0008】
上述した問題点は、実際の製造工程で歩留まり低下の原因となるコア及びトレンチ層のドーピング濃度と、コア及びトレンチ層のサイズに対して精密制御を必要とする。
【0009】
また、最近G-PON(Gigabit Passive Optical Network)、WDM-PON(Wavelength Division Multiplexing-PON)などの伝送ネットワークにおいて、加入者端末により光帯域の波長を割り当てろうという努力が進んでいる。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0010】
したがって、上記した従来技術の問題点を解決するために、本発明の目的は、曲げのように外部物理力による光損失及び波長別損失差を最小化すると同時に、短い遮断波長特性を維持する光ファイバ及び光ファイバ製造方法を提供することにある。
【0011】
本発明の他の目的は、短い遮断波長特性を維持しつつ、波長による曲げ損失差を最小化することによって、加入者ネットワーク運用における長波長の活用をより容易にすることにある。
【課題を解決するための手段】
【0012】
上記のような目的を達成するために、本発明の一態様によれば、
曲げ損失を強化する光ファイバであって、
光ファイバ内の最大屈折率の差Δn1を有するコアと、
前記コアの外側に位置され、前記コアの屈折率の差より低い屈折率の差Δn2を有する内部層と、
前記内部層の外側に位置され、前記内部層の屈折率の差より低い内周屈折率の差Δn3と前記光ファイバ内の最小外周屈折率の差Δn4を有するトレンチ層と、
を含むことを特徴とする。
本発明の他の態様によれば、
曲げ損失を強化する光ファイバであって、
屈折率の差Δn1を有するコアと、
前記コアの外側に位置され、前記コアの屈折率の差Δn1より低い屈折率の差Δn2を有する内部層と、
前記内部層の外側に位置され、前記内部層の屈折率の差Δn2より低い内周屈折率の差Δnと前記内周屈折率の差Δn3より低い外周屈折率の差Δn4を有するトレンチ層と、
を含むことを特徴とする。
【図面の簡単な説明】
【0013】
【図1】図1(a)本発明の望ましい実施形態による光ファイバを示す断面図である。 図1(b)は、本発明の望ましい実施形態による光ファイバの断面による屈折率の差 プロファイルを説明するためのグラフである。
【図2】図1に示す屈折率の差プロファイルを詳細に示す図である。
【図3】トレンチ層の内周屈折率の変化によるMFDの変化と分散値の変化を示す図である。
【図4】光ファイバを曲げた場合に光ファイバ内の屈折率の差プロファイルの変化を説明するための図である。
【図5】図5(a)は、本発明の比較例を説明するための第1の光ファイバの屈折率の差プロファイルを示す図である。 図5(b)は、本発明の比較例を説明するための第2の光ファイバの屈折率の差プロファイルを示す図である。 図5(c)は、本発明の比較例を説明するための第3の光ファイバの屈折率の差プロファイルを示す図である。
【図6】第3の光ファイバにおいてトレンチ層の内周屈折率の差n3及び外周屈折率の差n4の比(Δn3/Δn4)による曲げ損失の変化を示す図である。
【図7】第1乃至第3の光ファイバに対する曲げ損失及び遮断波長を示す図である。
【図8】MCVD(Modified Chemical Vapor Deposition)方法によるコア母材の製造工程において、CF又はSiFのようなFを含むドーパントの流量によるトレンチ層の内周屈折率の差Δn3の変化を示す図である。
【図9】外部気相蒸着方法によるコア母材の製造工程におけるスーと密度によるトレンチ層の内周屈折率の差Δn3の変化を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【0014】
以下、本発明の望ましい実施形態を添付の図面を参照して詳細に説明する。
下記の説明で、本発明に関連した公知の機能又は構成に関する具体的な説明が本発明の要旨を不明にすると判断された場合に、その詳細な説明を省略する。
【0015】
図1(a)及び図1(b)は本発明の望ましい実施形態による光ファイバを示す図であり、図2は図1に示す屈折率の差プロファイルを詳細に示す図である。図1(a)は光ファイバ100の断面図であり、図1(b)は光ファイバ断面による屈折率の差プロファイルを説明するためのグラフである。図1(a)及び図1(b)を参照すると、光ファイバ100は、コア110とクラッド115を含む。コア110は、光ファイバ100の中心に位置し、相対的に大きい屈折率の差を有し、内部全反射(total internal reflection)を通じて光信号を伝送する。クラッド115は、コア110の外側に位置し、相対的に小さい屈折率の差を有する。すなわち、クラッド115は、コア110の外周に沿ってコア110を全て取り囲むように位置される。コア110は断面円形の棒状の形状を有し、クラッド115は断面円形のチューブの形状を有し、コア110及びクラッド115は同心構造で配置される。
【0016】
コア110は、光ファイバ100内の最大屈折率の差を有し、コア110の屈折率の差Δn1は、コア110の全体領域において一定に維持される。コア110の屈折率の差Δn1は、0.24Δ%〜0.48Δ%(Δ%は単純に%で表示できる)の範囲であり得るが、0.31Δ%〜0.41Δ%内の範囲を有することがより望ましい。また、コア110は、その半径が3.0〜7.0μmであり得るが、4.0〜5.0μm内の範囲を有することがより望ましい。コア110の半径は、コア110の最高屈折率の差の1/2に対応する位置で測定できる。例えば、光ファイバ100を構成する各層の屈折率の差は、上記層の屈折率とクラッド115の最も外側に位置する外部層140の屈折率の差として定義される。また、Δ%は、屈折率の差を百分率で表示することを示す。外部層140の屈折率の差は0である。
【0017】
クラッド115は、コア110の外周から遠ざかるほど屈折率の差Δn2が徐々に小さくなる内部層120と、この内部層120の最も小さい屈折率の差と類似した屈折率の差を有する外部層140と、この内部層120と外部層140との間に位置され、光ファイバ100を構成する層の中で最も小さい屈折率の差を有するトレンチ層130とを含む。すなわち、内部層120、トレンチ層130、及び外部層140は、コア110の外周面上に順に直接積層され、各々円形チューブ形状を有し、コア110と一緒に同心構造で位置される。
【0018】
内部層120は、第1及び第2の内部サブ層121,122を含む。第1及び第2の内部サブ層121,122は、コア110の外周面上に順に直接積層され、各々円形チューブの形状を有し、コア110とともに同心構造で位置される。
第1の内部サブ層121は、コア110の外周面に接する内周から第1の内部サブ層121の外周へ屈折率の差が徐々に小さくなる屈折率の差プロファイルを有する。第1の内部サブ層121の内周屈折率の差は、コア110の屈折率の差より小さいと同時に外部層140の屈折率の差より大きく、第1の内部サブ層121の外周屈折率の差は外部層140の屈折率の差と同一である。例示のように、第1の内部サブ層121は、その内周からその外周の方に屈折率の差が線形的に減少する屈折率の差分布を有する。また、第2の内部サブ層122は、第1の内部サブ層121の外周屈折率の差と同一であると同時に一定の屈折率の差を有する。
【0019】
内部層120は、その屈折率の差Δn2が−0.07〜0.1Δ%の範囲内に含まれることができる。曲げによる光損失を最小化し、最大又は向上したMFD(Mode Field Diameter)のための内部層120の屈折率の差Δn2は、0.2〜−0.07Δ%の範囲に含まれることがより好ましい。この内部層120の範囲は、コア110から外周方向に屈折率の差が0.05Δ%である位置から−0.05Δ%となる位置までに定義可能である。
【0020】
内部層120のコアに接する位置からの厚さbは、4.5〜17.5μmの範囲に含まれるものがより望ましい。ここで、コア110の半径aと内部層120の厚さbとの比(a+b)/bは、2.8以下であり、2.7以下がより望ましい。
【0021】
トレンチ層130は、内部層120の外周面上に直接積層され、円形チューブの形状を有し、コア110及び内部層120と共に同心構造で位置される。トレンチ層130は、内周から外周への方向に線形的に減少する屈折率の差分布を有する。
【0022】
トレンチ層130の外周屈折率の差は、光ファイバ100内の最小屈折率の差に該当し、トレンチ層130は、内周から外周への方に屈折率の差が徐々に小さくなる屈折率の差プロファイルを有する。
【0023】
外部層140は、トレンチ層130を取り囲み、通常の純粋石英ガラス(silica glass)が有する屈折率と近似的に同一の屈折率(例えば、1.456)を有する。
【0024】
図3は、トレンチ層の内周屈折率の差の変化によるMFDの変化と分散値の変化を示す。横軸はトレンチ層130の内周の屈折率の差Δn3を示し、左側の縦軸は1310nm波長の光に対するMFDを示し、右側の縦軸は分散値を示す。内部層120の最低屈折率の差とトレンチ層130の内周屈折率の差Δn3の屈折率差が減少するほど、MFDの増加及び分散値の低下効果が現れる。このようなMFDの増加は、トレンチ層130内に浸透する光波の分布を拡大させることによって、コア110の有効屈折率の差を低くする効果が得られる。すなわち、トレンチ層130の内周屈折率の差Δn3を最大限大きく維持することによって、LP11以上の高次モードの漏洩モード(leaky mode)損失を大きくできる。これは、短い距離で使用波長のシングルモード条件を確保可能にする。
【0025】
一般的な光ファイバを曲げた場合、クラッドの屈折率変化が非常に大きくなる。また、このような屈折率変化によって、光ファイバ内に進行する光の損失が増大するので、光の長距離伝送が不可能になる。長距離光伝送のためには曲げ損失を最小化すべきであり、このために、曲げによるクラッドの屈折率変化を最小化する必要がある。
【0026】
図4は、光ファイバを曲げた場合に光ファイバ内の屈折率の差プロファイルの変化を説明するための図である。図4の(a)は、正常状態で光ファイバ100の屈折率の差プロファイルを示し、図4の(b)は光ファイバ100半径5mm以下の円筒に1回巻き取る場合に光ファイバ100の屈折率の差プロファイルを示す。図示のように、光ファイバ100を曲げた場合、クラッドの屈折率変化が大きく発生する。正常状態でトレンチ層130の外周屈折率の差Δn4を内周屈折率の差Δn3より小さくすることで、光ファイバ100の曲げによってトレンチ層130の屈折率の差分布が平坦化されることがわかる。すなわち、本発明の光ファイバ100は、曲げが加えられた場合、トレンチ層130に対する最小の屈折率変化を得ることができる。また、トレンチ層130の外周屈折率の差Δn4を内周屈折率の差Δn3より小さくすることで、短波長と長波長との間の曲げ損失差を2.5倍以下に減少する。このような波長依存性の改善に従って、加入者ネットワーク運用において長波長の活用をより容易にすることができる。光ファイバ100は、Δn1>Δn2>Δn3>Δn4の関係を満足する。
【0027】
図5(a)〜図5(c)は、本発明の比較例を説明するためのトレンチ層の多様な屈折率の差プロファイルを例示する。
図5(a)は同一の内周屈折率の差Δn3及び外周屈折率の差Δn4を有する第1の光ファイバの屈折率の差プロファイルを示し、図5(b)は内周屈折率の差Δn3が外周屈折率の差Δn4より小さい第2の光ファイバの屈折率の差プロファイルを示し、図5(c)は内周屈折率の差Δn3が外周屈折率の差Δn4より大きい第3の光ファイバの屈折率の差プロファイルを示す。
【0028】
下記の<表1>は、上記比較例による光ファイバ特性を示す。Δn3=Δn4の条件を有する第1の光ファイバは、屈折率が小さいトレンチ層を広く維持することによって、小さい曲げ損失及び波長別損失特性を有するが、高次モードの集中によって大きい遮断波長を有するようになる。また、Δn3<Δn4の条件を有する第2の光ファイバは、クラッドの激しい屈折率変化に従って曲げ損失に脆弱な特性を有する。一方、Δn3>Δn4の条件を有する第3の光ファイバは小さい曲げ損失及び小さい遮断波長を有する。
【0029】
【表1】

【0030】
図6は、第3の光ファイバにおけるトレンチ層の内周屈折率の差Δn3及び外周屈折率の差Δn4の比 Δn3/Δn4による曲げ損失の変化を示す。横軸は内周屈折率の差Δn3及び外周屈折率の差Δn4の比 Δn3/Δn4を示し、縦軸は1550nm波長の光に対する曲げ損失を示す。図6には、半径が5.0mmである円筒に第3の光ファイバを巻き取った場合の曲げ損失曲線と、半径が2.5mmである円筒に第3の光ファイバを巻き取った場合の曲げ損失曲線が示されている。図示のように、内周屈折率の差Δn3と外周屈折率の差Δn4の比 Δn3/Δn4が小さいほど光ファイバの曲げによる損失が減少することがわかる。
【0031】
図7は、第1乃至第3の光ファイバに対する曲げ損失及び遮断波長を示す。
図7を参照すると、左側の縦軸は半径が5.0mmである円筒に光ファイバを巻き取る場合の1550nm波長の光に対する曲げ損失を示し、右側の縦軸は被覆付き光ファイバの遮断波長を示す。内周屈折率の差Δn3が外周屈折率の差Δn4より大きい屈折率の差プロファイルを有する第3の光ファイバは、第1及び第2の光ファイバに比べて小さい曲げ損失を有し、第1の光ファイバより短い遮断波長を有することがわかる。
【0032】
本発明によるトレンチ層130の外周屈折率の差Δn4は、−0.21Δ%以下に含まれることが望ましいが、より望ましくは−0.27Δ%以下に含まれる。このとき、内周屈折率の差Δn3と外周屈折率の差Δn4の比 Δn3/Δn4は、0.6より大きくかつ1より小さいことが望ましく、0.8より大きくかつ0.98より小さい範囲がより望ましい。
【0033】
また、トレンチ層130の厚さcは9.6μm以下であり得るが、7.2μm以下であることがより望ましい。
【0034】
下記の<表2>と<表3>は、本発明による光ファイバのためのコア母材を製造するための工程の実施形態である。本発明のトレンチ層は、多様な蒸着方法により実現されることができ、例えば、サブストレートチューブ(Substrate tube)をその中心軸を基準として回転させつつ、チューブの内部に基本物質であるSiO及び屈折率制御のためのドーパントを蒸着するMCVD(Modified Chemical Vapor Deposition)方法、外部気相蒸着(outside vapor deposition)方法などを通じて実現可能である。例示されたコア母材の製造工程は、φ31(内径)×φ36(外径)×11200(長さ)[mm]のサイズを有するサブストレートチューブに基づく。
【0035】
下記の<表2>は、屈折率制御物質としてCF又はSiFを用いてコア母材を製造するための工程の一実施形態を示す。
【0036】
【表2】

【0037】
下記の<表3>は、BCIを屈折率制御物質として用いてコア母材を製造するための工程の一実施形態を示す。
【0038】
【表3】

【0039】
図8は、MCVD方法によるコア母材の製造工程において、CF又はSiFのようなFを含むドーパントの流量によるトレンチ層の内周屈折率の差Δn3の変化を示す。同図に示すように、本発明によるトレンチ層は、MCVD方法でF-ドーパントの流量を増加させることによって減少する屈折率の差分布を有することができる。
【0040】
本発明のトレンチ層を実現する他の実施形態である外部気相蒸着方法でスートの密度を制御する方法を説明すると、次のようである。まず、MCVD及びVAD(Vapor phase Axial Deposition)方法を通じてコア及び内部層まで製作されたガラス母材に外部気相蒸着方法でトレンチを形成するスートを蒸着する。外部気相蒸着方法によって、火炎加水分解反応によってスートをガラス母材に数十回にかけて付着させる場合、トレンチ層の内周から外周までスートの密度を順次に減少させる。
【0041】
図9は、外部気相蒸着方法によるコア母材の製造工程におけるスート密度によるトレンチ層の内周屈折率の差Δn3の変化を示す。例示のように、F-ドーパントのドーピング濃度は、スート密度に比例関係があるため、スートの密度調節を通じてトレンチ層の屈折率の差分布を容易に制御できる。このスートは、多孔層として焼結及びガラス化過程を経てガラス化される。このとき、ガラス化は、1.0slpmのCl2、20slpmのHe、約1〜5slpmのF-ドーパント(CF4、SiF4など)の雰囲気でスートを300分程度1500℃で加熱することによって実現される。焼結は1550〜1650℃の温度と、1×10-2torrの真空下で進行でき、焼結は15〜20slpmのHe雰囲気下で遂行されることが望ましい。
【0042】
2つの実施形態を通じて製造されたコア母材は、原料物質と燃焼ガスが供給される蒸着用トーチを用いて、コア母材の外部回りにスート(soot)を蒸着するオーバークラッド工程を遂行する。コア母材に一定の外径と重さでオーバークラッドスートが蒸着すると、蒸着を終了し、コア母材を徐冷(slow cooling)した後に焼結及びガラス化工程を進行する。上述したコア母材の外部に蒸着、焼結、ガラス化されるオーバークラッド層はオーバージャケッティング(over jacketting)に代替可能である。
【0043】
上述したガラス化過程を経て完成された光ファイバ母材は、引き出しタワー(draw tower)で光ファイバとして引き出される。
【0044】
本発明による光ファイバは、1260nm以下の遮断波長、1550nmの波長、半径10mm以下の曲げで1.0dB以下の曲げ損失、1625nmでの曲げ損失(α2)と1550nmでの曲げ損失(α1)の比率(α2/α1)が2.7未満であることを特徴とする。また、光ファイバは、1550nmの波長、半径2.5mm以下の曲げで1.0dB以下の曲げ損失を有することを特徴とする。また、光ファイバは1300nm〜1324nm範囲の零分散波長を含み、零分散波長の傾きは0.092ps/(nm2・km)以下であることを特徴とする。
【0045】
例えば、本発明による光ファイバは8.7μmのMFD(@1310nm)、1312nmの零分散波長、1240nmのケーブル遮断波長を有することができる。
【0046】
光ファイバを半径5mmの円筒に1回巻き取る場合に1550nmでの光損失は0.04dBであり、半径2.5mmの円筒に1回巻き取る場合に1550nmでの光損失は0.43dBであり、1625nmとの波長別損失比は2.2である。
【0047】
光ファイバは、米国Verizon社 (Verizon(登録商標) Communications INC.)の規格であるMDU(Multiple Dwelling Units)応用テストを満たし、2kgと13.5kgの荷重を印加した90度の垂直曲げ、10mmの直径曲げ2回、ケーブルタッカ(cable tacker)(T-25)30回、及び高温/低温/老化損失変化の和が0.4dB以下であることを示す。また、既存の線路である一般の単一モード光ファイバとの互換性評価のための溶融接続損失は、約0.08dB@1310、1550nmとして測定される。すなわち、本発明による光ファイバは、FTTxのインドアシステムの設置コスト及び時間を低減されると同時に極限の環境(コネクタ挿入損失、ケーブル内部曲げ、温度特性など)でも最上の伝送特性を維持できる。
【0048】
本発明による光ファイバは、内部層の外周屈折率の差とトレンチ層の内周屈折率の差との差を小さく維持することによって、短い遮断波長特性を有することを特徴とし、加えてトレンチ層の外周屈折率の差と外部層の屈折率の差との差を大きくすることで、最小の曲げ特性を同時に満たすことができる。
【0049】
また、本発明による光ファイバは、トレンチ層の内周屈折率の差を最大限大きく維持することによって、LP11以上の高次モードの漏洩モード(leaky mode)損失を大きくし、これは、短い距離で使用波長のシングルモード条件を確保可能にする。同時に、本発明は、トレンチ層の外周屈折率の差を最大限小さく維持することによって、光ファイバに曲げが発生した場合に屈折率の変化による光損失を最小化することができる。また、トレンチ層の外周屈折率の差を小さくすることによって、短波長と長波長との間の曲げ損失差を2.7倍以下に減少させて光ファイバの波長依存性を改善することで、加入者ネットワーク運用における長波長の活用を一層容易にすることができる。
【符号の説明】
【0050】
100 光ファイバ
110 コア
115 クラッド
120 内部層
121 第1の内部サブ層
122 第2の内部サブ層
130 トレンチ層
140 外部層

【特許請求の範囲】
【請求項1】
曲げ損失を強化する光ファイバであって、
光ファイバ内の最大屈折率の差Δn1を有するコアと、
前記コアの外側に位置され、前記コアから遠くなるほど減少し、前記コアの最大屈折率の差より低い屈折率の差Δn2を有する内部層と、
前記内部層の外側に位置され、前記内部層の屈折率の差より低い内周屈折率の差Δn3と前記光ファイバ内の最小外周屈折率の差Δn4を有するトレンチ層と、
を含み、
前記トレンチ層の屈折率の差は内周から外周へ徐々に減少し、
前記内周屈折率の差Δn3と前記外周屈折率の差Δn4との比 Δn4/Δn3は0.6より大きくかつ1より小さく、
前記コアの厚さaと前記内部層の厚さbの比(a+b)/bは2.8以下であり、
前記光ファイバは、1260nm以下の遮断波長、1550nmの波長及び半径10mm以下の曲げで1.0dB以下の曲げ損失を有し、1625nmでの曲げ損失(α2)と1550nmでの曲げ損失(α1)の比(α2/α1)が2.7未満であることを特徴とする光ファイバ。
【請求項2】
前記コアの最大屈折率の差は0.48%以下であり、前記トレンチ層の外周屈折率の差は−0.21%未満であることを特徴とする請求項1に記載の光ファイバ。
【請求項3】
前記トレンチ層の外側に位置され、前記トレンチ層より高くて前記コアより低い屈折率の差を有する外部層をさらに含むことを特徴とする請求項1又は2に記載の光ファイバ。
【請求項4】
前記コアの屈折率の差はΔ2が−0.07〜0.1Δ%の範囲内に含まれることを特徴とする請求項1〜3のいずれか一項に記載の光ファイバ。
【請求項5】
前記コアの半径が3.0〜7.0μmの範囲内に含まれることを特徴とする請求項1〜4のいずれか一項に記載の光ファイバ。
【請求項6】
前記内部層の厚さが4.5〜17.5μmの範囲内に含まれることを特徴とする請求項1〜5のいずれか一項に記載の光ファイバ。
【請求項7】
前記光ファイバは、1550nmの波長と、半径2.5mm以下の曲げで1.0dB以下の曲げ損失を有することを特徴とする請求項1〜6のいずれか一項に記載の光ファイバ。
【請求項8】
1625nmでの曲げ損失(α2)と1550nmでの曲げ損失(α1)の比(α2/α1)が2.5以下であることを特徴とする請求項1〜7のいずれか1項に記載の光ファイバ。
【請求項9】
前記光ファイバは1300nm〜1324nm範囲の零分散波長を含み、零分散波長の傾きは0.092ps/(nm・km)以下であることを特徴とする請求項1〜8のいずれか一項に記載の光ファイバ。
【請求項10】
前記内部層は、
前記コアから遠くなるほど屈折率の差が減少する第1の内部サブ層と、
屈折率の差が一定の第2の内部サブ層と、
を含むことを特徴とする請求項1〜9のいずれか1項に記載の光ファイバ。
【請求項11】
前記トレンチ層はMCVD(Modified Chemical Vapor Deposition)方法により形成され、前記トレンチ層はSiO及びF−ドーパントをサブストレートチューブ(Substrate tube)に蒸着し、F−ドーパントの流量を増加させることにより形成されることを特徴とする請求項1〜10のいずれか一項に記載の光ファイバ。
【請求項12】
前記トレンチ層は外部気相蒸着方法(outside vapor deposition)により形成され、前記トレンチ層は前記トレンチ層を形成するスートの密度を順次に減少させることにより形成されることを特徴とする請求項1〜10のいずれか一項に記載の光ファイバ。

【図1】
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【図2】
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【図3】
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【図4】
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【図5】
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【図6】
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【図7】
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【図8】
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【図9】
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【公開番号】特開2013−88818(P2013−88818A)
【公開日】平成25年5月13日(2013.5.13)
【国際特許分類】
【出願番号】特願2012−229632(P2012−229632)
【出願日】平成24年10月17日(2012.10.17)
【公序良俗違反の表示】
(特許庁注:以下のものは登録商標)
1.LTE
【出願人】(512268295)エスイーエイチエフ−コリア・カンパニー・リミテッド (1)
【Fターム(参考)】