貯留構造物の漏水位置探査システム及び貯留構造物の漏水位置探査方法
【課題】
遮水工に特別な設備がなくても遮水工の漏水の有無及びその漏水位置の特定が、容易、かつ、確実に可能となる貯留構造物の漏水位置探査システム及び貯留構造物の漏水位置探査方法を提供すること。
【解決手段】
廃棄物１１の保有水中にその保有水１２の電気伝導度と異なる電気伝導度を有する物質例えば塩水１８を投入することで周りの比抵抗と異なる比抵抗領域１６を生成し、この比抵抗領域１６を一種の電気的マーカーとして廃棄物表面の測線２０から遮水工としての遮水シート１０までの鉛直断面での該比抵抗領域１６を検出可能な検出手段としての検出装置７を具備することとしたので、漏水位置探査システムの完備していない既存の処分場の漏水箇所等を容易に探査することができる。
遮水工に特別な設備がなくても遮水工の漏水の有無及びその漏水位置の特定が、容易、かつ、確実に可能となる貯留構造物の漏水位置探査システム及び貯留構造物の漏水位置探査方法を提供すること。
【解決手段】
廃棄物１１の保有水中にその保有水１２の電気伝導度と異なる電気伝導度を有する物質例えば塩水１８を投入することで周りの比抵抗と異なる比抵抗領域１６を生成し、この比抵抗領域１６を一種の電気的マーカーとして廃棄物表面の測線２０から遮水工としての遮水シート１０までの鉛直断面での該比抵抗領域１６を検出可能な検出手段としての検出装置７を具備することとしたので、漏水位置探査システムの完備していない既存の処分場の漏水箇所等を容易に探査することができる。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、廃棄物を貯留する貯留構造物、特に最終処分場の貯留構造物の漏水位置探査システム及び貯留構造物の漏水位置探査方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、廃棄物を貯留する貯留構造物、例えば最終処分場等においては浸出水が漏水しないように処分場の底や斜面等に遮水工が施され、その遮水工の一般的なものとして遮水シートがあった。
【０００３】
ところが、その遮水シートも長期間の使用により、自然劣化やゆがみによる応力発生、外力付加等による破損が生じることがあり、かかる破損箇所から浸出水が漏水し、重大な環境破壊となるおそれがあった。
【０００４】
そこで、浸出水の漏水の発見及びその漏水箇所の特定を速やかに行える提案がされている（例えば、特許文献１参照。）。
【特許文献１】特開平１０−１０９３７５号公報（段落[０００７]から[００１３]、図１）。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら上述の提案により浸出水の漏水の発見及びその漏水箇所の特定を速やかに行えるようになったが、例えば最終処分場の施工時に予め上述したような遮水シートを処分場の底や斜面に敷設しなければならず、既存の最終処分場でそのような設備がない場合に浸出水の漏水の発見及びその漏水箇所の特定を速やかに、かつ、確実に行えないという問題があった。
【０００６】
本発明は、上述の課題に鑑みてなされるもので、遮水工に特別な設備がなくても遮水工の漏水の有無及びその漏水位置の特定が、容易、かつ、確実に可能となる貯留構造物の漏水位置探査システム及び貯留構造物の漏水位置探査方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記目的を達成するために、本発明の主たる観点に係る貯留構造物の漏水位置探査システムは、廃棄物を貯留する凹部と該凹部表面に設けられた遮水工とを有する貯留構造物の漏水位置探査システムにおいて、前記廃棄物の保有水の電気伝導度と異なる電気伝導度の物質を投入して生成された前記保有水の比抵抗と異なる比抵抗領域を、電気探査法または電磁探査法で得られる、前記廃棄物表面の測線から前記遮水工までの鉛直断面での電気的情報に基づき検出可能な検出手段と、前記検出手段により検出された前記比抵抗領域に関する情報を出力する出力手段とを具備することを特徴とする。
【０００８】
ここで、「測線」とは、例えば電気探査法であれば電極が一直線上に並んで配置されている当該直線のことであり、電磁探査法であれば例えば送信ループと受信ループとの中間の測定ポイントを結んだ直線等をいう。また、「電気的情報」とは、例えば電気探査法であれば電位情報であり、電磁探査法であれば電流情報等をいう。
【０００９】
本発明は、廃棄物の保有水中にその保有水の電気伝導度と異なる電気伝導度を有する物質例えば塩水を投入することで周りの比抵抗と異なる比抵抗領域を生成し、この比抵抗領域を一種の電気的マーカーとして廃棄物表面の測線から遮水工までの鉛直断面での該比抵抗領域を検出可能な検出手段を具備することとしたので、当該被抵抗領域に関する情報により漏水検知システムの完備していない既存の処分場の漏水及びその位置を容易に知ることが可能となる。
【００１０】
本発明の一の形態によれば、前記測線は、前記廃棄物表面に複数有するものであることを特徴とする。これにより、比抵抗領域を検出する鉛直断面を複数設定して検出装置により夫々の鉛直断面の当該比抵抗領域を検出でき、その情報に基づき該比抵抗領域が移動しているのか否か、更には移動しているとしてどこに移動しているのかを判断することが可能となる。この比抵抗領域の移動は、その周囲の保有水の流れでもあるので結局、貯留構造物の漏水の有無及びその漏水箇所を判断することが可能となる。
【００１１】
本発明の一の形態によれば、前記複数の測線は、異なる方向の測線を有することを特徴とする。これにより、２方向から該比抵抗領域の移動に関する情報を得ることが可能となり、より該比抵抗領域が移動しているのか否か、更には移動しているとしてどこに移動しているのかの正確な判断をすることが可能となる。
【００１２】
本発明の一の形態によれば、前記電気的情報は、前記物質を前記廃棄物表面上の少なくとも二つの地点から前記保有水中に投入して夫々測定したものであることを特徴とする。これにより、一の投入地点のすぐそばに遮水工の漏水箇所が在って廃棄物表面の測線から遮水工までの鉛直断面での比抵抗領域を検出できない場合でも、その他の投入地点での該物質の投入により生成された比抵抗領域を検出することが可能となり、より正確な該比抵抗領域を検出することができる。
【００１３】
本発明の一の形態によれば、前記物質は、前記保有水の電気伝導度の１．５倍以上であることを特徴とする。これにより、保有水中に生成された比抵抗領域を周りの保有水と区別でき検出手段で検出できる。より好ましくは、周りの保有水の電気伝導度の５倍以上であり、これにより更に明確に比抵抗領域を特定できる。
【００１４】
本発明の一の形態によれば、前記物質は、塩の濃度が０．１重量％以上であって２０重量％以下の塩水であり、前記保有水の電気伝導度の１．５倍以上であることを特徴とする。これにより、保有水の電気伝導度の１．５倍以上となるように０．１重量％以上２０重量％以下で塩水を適宜選択して用いることができ、塩水等の物質を環境中に無用に流出させることなく保有水中に生成された領域を明確に周りの保有水と区別することが可能となる。
【００１５】
本発明の一の形態によれば、前記物質の投入は、連続的に投入するものであることを特徴とする。これにより、例えば高電気伝導度の物質の投入により生成された比抵抗領域の移動を遮水工の漏水箇所まで一つの流路とすることができ、より精査に各鉛直断面で該比抵抗領域を検出することができる。
【００１６】
本発明の一の形態によれば、前記電気的情報に基づき前記検出手段により検出された情報を演算処理し、前記遮水工の漏水の有無及びその漏水箇所を判断する判断手段を更に具備することを特徴とする。これにより、電気的情報の収集からその分析まで一貫したシステムとすることができ、より漏水の有無及びその漏水箇所の判断が容易かつ迅速となる。
【００１７】
本発明の一の形態によれば、前記判断手段は、少なくとも前記保有水への前記物質の投入位置と異なる一つの前記鉛直断面で前記比抵抗領域が検出された場合に前記遮水工に漏水が有ると判断することを特徴とする。これにより、比抵抗領域が漏水箇所に移動していると判断することが可能となり、より容易かつ迅速に漏水の有無の判断ができる。
【００１８】
本発明の一の形態によれば、前記判断手段は、前記遮水工に漏水が有ると判断した場合に二つの隣り合う前記鉛直断面の一の鉛直断面には前記比抵抗領域が検出され、他の鉛直断面には前記比抵抗領域が検出されない場合に該隣り合う鉛直断面間に前記遮水工の漏水箇所が存在すると判断することを特徴とする。これにより、比抵抗領域が一の鉛直断面と他の鉛直断面との間で漏水により消滅したものと判断でき、より容易かつ迅速に漏水箇所の判断が可能となる。
【００１９】
本発明の一の形態によれば、前記物質は、染料、顔料及び蛍光材のうち少なくとも一つを混合したものであることを特徴とする。これにより、生成された比抵抗領域に関する情報から大まかな漏水箇所の範囲を特定し、その範囲の廃棄物を開削して染料、顔料及び蛍光材等の流れの跡から具体的に漏水箇所と特定できるので、作業を効率的にすることができると共に地形等の理由から正確な漏水箇所の特定が難しい場合にも正確に漏水箇所を特定できる。
【００２０】
本発明の他の観点に係る貯留構造物の漏水位置探査方法は、廃棄物を貯留する凹部と該凹部表面に設けられた遮水工とを有する貯留構造物の漏水位置探査方法において、前記凹部に貯留された前記廃棄物の保有水中に、該保有水の電気伝導度と異なる電気伝導度の物質を投入することにより、該保有水中に周囲の該保有水の比抵抗と異なる比抵抗領域を生成するステップと、前記廃棄物表面上の複数の測線から前記遮水工までの複数の鉛直断面における前記比抵抗領域を電気探査法または電磁探査法により探査するステップと、前記探査により得られた前記比抵抗領域に関する情報を出力するステップとを具備することを特徴とする。
【００２１】
本発明は、凹部に貯留された廃棄物の保有水中に該保有水の電気伝導度と異なる電気伝導度の物質を投入することにより該保有水中に周囲の該保有水の比抵抗と異なる比抵抗領域を生成することとしたので、漏水箇所へ向かって移動する当該比抵抗領域を電気探査法や電磁探査法等により容易に検出することができ、この比抵抗領域の移動は、その周囲の保有水の流れでもあるので結局、貯留構造物の漏水の有無及びその漏水箇所を判断することが可能となり、漏水検知システムの完備していない既存の処分場の漏水の有無及びその位置を容易に判断することができる。
【００２２】
本発明の一の形態によれば、前記探査の結果に基づき、少なくとも前記保有水への前記物質の投入位置と異なる一つの前記鉛直断面で前記比抵抗領域が検出された場合に、前記遮水工に漏水が有ると判断する第１の判断のステップを更に具備することを特徴とする。これにより、比抵抗領域が漏水箇所に移動していると判断することが可能となり、より容易かつ迅速に漏水の有無の判断ができる。
【００２３】
本発明の一の形態によれば、前記第１の判断により前記遮水工に漏水が有ると判断された場合に、二つの隣り合う前記鉛直断面の一の鉛直断面には前記比抵抗領域が検出され、他の鉛直断面には前記比抵抗領域が検出されない場合に、該隣り合う鉛直断面間に前記遮水工の漏水箇所が存在すると判断する第２の判断のステップを更に具備することを特徴とする。これにより、比抵抗領域が一の鉛直断面と他の鉛直断面との間で漏水により消滅したものと判断でき、より容易かつ迅速に漏水箇所の判断が可能となる。
【００２４】
本発明の一の形態によれば、前記複数の測線は、異なる方向の測線を有することを特徴とする。これにより、２方向から該比抵抗領域の移動に関する情報を得ることが可能となり、より該比抵抗領域が移動しているのか否か、更には移動しているとしてどこに移動しているのかの正確な判断をすることが可能となる。
【００２５】
本発明の一の形態によれば、前記探査は、前記物質を前記廃棄物表面上の少なくとも二つの地点から前記保有水中に投入して夫々探査するものであることを特徴とする。これにより、一の投入地点のすぐそばに遮水工の漏水箇所が在って廃棄物表面の測線から遮水工までの鉛直断面での比抵抗領域を検出できない場合でも、その他の投入地点での該物質の投入により生成された比抵抗領域を検出することが可能となり、より正確な該比抵抗領域を検出することができる。
【００２６】
本発明の一の形態によれば、前記物質は、前記保有水の電気伝導度の１．５倍以上であることを特徴とする。これにより、保有水中に生成された比抵抗領域を周りの保有水と区別でき検出可能となる。より好ましくは、周りの保有水の電気伝導度の５倍以上であり、これにより更に明確に比抵抗領域を特定できる。
【００２７】
本発明の一の形態によれば、前記物質は、塩の濃度が０．１重量％以上であって２０重量％以下の塩水であり、前記保有水の電気伝導度の１．５倍以上であることを特徴とする。これにより、保有水の電気伝導度の１．５倍以上となるように０．１重量％以上２０重量％以下で塩水を適宜選択して用いることができ、有害な物質を環境中に流出させることなく保有水中に生成された領域を明確に周りの保有水と区別することが可能となる。
【００２８】
本発明の一の形態によれば、前記物質の投入は、連続的に投入するものであることを特徴とする。これにより、例えば高電気伝導度の物質の投入により生成された比抵抗領域を遮水工の漏水箇所まで一つの流路とすることができ、より精査に各鉛直断面で該比抵抗領域を検出することができる。
【００２９】
本発明の一の形態によれば、前記物質は、染料、顔料及び蛍光材のうち少なくとも一つを混合したものであることを特徴とする。これにより、電気探査等が不十分な場合も廃棄物を開削して染料、顔料及び蛍光材等の流れの跡から具体的に漏水箇所を特定できる。
【００３０】
本発明の一の形態によれば、前記物質は、染料、顔料及び蛍光材のうち少なくとも一つを混合したものであり、前記第２の判断による前記漏水箇所を含む所定の範囲を開削して前記染料、顔料及び蛍光材のうち少なくとも一つの前記比抵抗領域の流れの跡により前記漏水箇所を特定するステップを更に具備することを特徴とする。これにより、生成された比抵抗領域に関する情報から大まかな漏水箇所の範囲を特定し、その範囲の廃棄物を開削して染料、顔料及び蛍光材等の流れの跡から具体的に漏水箇所と特定できるので、作業を効率的にすることができると共に地形等の理由から電気探査法等では正確な漏水箇所の特定が難しい場合にもより正確に漏水箇所を特定できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３１】
以下、本発明の実施形態を図面に基づき説明する。なお、以下実施形態を説明するにあたっては、貯留構造物の漏水位置探査システムとして電気探査法を用いた廃棄物処分場の漏水位置探査システムを中心に説明するが、これに限られるものではない。また、以下の図面においては各構成をわかりやすくするために、実際の構造と各構造における縮尺や数等が異なっている。
【００３２】
（第１の実施形態）
【００３３】
図１は本発明の第１の実施形態に係る廃棄物処分場の漏水位置探査システムの概略図及び図２は測線下の鉛直断面の電気探査の説明図である。
【００３４】
（貯留構造物の漏水位置探査システムの構成）
【００３５】
貯留構造物としての廃棄物処分場の漏水位置探査システム１は、例えば図１に示すように廃棄物処分場２、その廃棄物処分場２に貯留された廃棄物の保有水中に後述する物質を投入するための注入井戸３、その廃棄物処分場２に貯留された廃棄物表面下に配置された複数の電極４、その複数の電極４から後述する電流電極及び電位電極を夫々選択する電極選択装置５、その電流電極に所定の信号電流を供給する電源装置６、その電位電極により測定された電気的情報としての電位情報に基づき後述する比抵抗領域を検出する検出手段としての検出装置７及びその検出装置７により検出された情報を出力する出力手段としての出力装置８等から構成されている。
【００３６】
また、廃棄物処分場２は例えば図１に示すように四方が傾斜壁で囲まれ略平らな底部を有する凹部９、その凹部表面に設けられた遮水工としての遮水シート１０、その遮水シート１０内に貯留された廃棄物１１、その廃棄物１１の底近く例えば凹形状の遮水シート１０の底部付近に溜まっている保有水１２等を有する。
【００３７】
ここで、凹部９は丘陵地帯等を所定の深さ及び形状、例えば図１に示すように上方の開口部より底部の面積が小さい略台形状に造成されており、底部は略矩形に形成されている。また、凹部９は該底部の４辺から夫々外側に傾斜する４つの傾斜壁を有し、底部及び４つの傾斜壁表面には遮水シート１０が配置されている。勿論、凹部９は上述の形状に限られるものではなく、例えば底部が矩形状ではなく円形や三角形状等であってもよい。
【００３８】
また、遮水シート１０は例えば合成ゴム系・合成樹脂系、アスファルト系及びベントナイト系等あり、合成ゴム系・合成樹脂系であれば高弾性タイプの高密度ポリエチレン等や繊維補強タイプ、低弾性タイプ及び中弾性タイプ等が用いられており、当該遮水シート１０により廃棄物１１からの保有水等が廃棄物処分場２から漏れ出して地下の土壌や地下水を汚染することを防止するものである。
【００３９】
更に遮水シート１０は凹部９の底部表面に底面１３と、凹部９の４つの傾斜側壁の表面に夫々傾斜面１４ａ，１４ｂ，１４ｃ，１４ｄとが連続的に形成されている。
【００４０】
また、廃棄物１１は図１に示すように遮水シート１０で覆われた凹部９内に貯留されており、廃棄物としては産業廃棄物や不燃ごみ等がある。
【００４１】
更に保有水１２には、例えば図１に示すように遮水シート１０に漏水箇所１５が存在するときは、後述する注入井戸３から保有水１２中に投入された物質により該保有水１２中に生成される比抵抗領域１６が移動する流路１７等が形成される。
【００４２】
尚、保有水１２の電気伝導度は、例えば自治体の処分場では５００〜５０００μＳ／ｃｍ程度であるが、産業廃棄物関係では３００００μＳ／ｃｍとなることもある。更に保有水１２は、例えば底の遮水シート１０の表面から約３０ｃｍ以上の高さに溜まっていることが好ましい。これにより、比抵抗領域１６の流路１７をより明確に形成させることができる。必要があれば廃棄物表面から水を投入することにより必要な保有水１２を確保する。尚、約３０ｃｍ以上としたのは、３０ｃｍより高さが低いと十分な水圧が得られず比抵抗領域１６の流路１７をより明確に形成できないおそれがあるためである。
【００４３】
次に、注入井戸３は例えば廃棄物１１の表面から保有水１２に届くぐらいの深さに設けてあり、この注入井戸３を用いて保有水１２の電気伝導度と異なる電気伝導度の物質、例えば保有水１２の電気伝導度の１．５倍以上の電気伝導度を持つ物質を当該保有水１２中に投入することができる。
【００４４】
ここで、当該物質の電気伝導度を保有水１２の電気伝導度の１．５倍以上とした理由は、保有水１２の１．５倍より小さいと比抵抗領域１６が周囲の保有水１２から区別化し難くなるからである。より好ましくは５倍以上あることが好ましい。これにより、より正確に比抵抗領域の有無及びその位置を特定できる。
【００４５】
また、当該物質としては具体的には、例えば塩の濃度が０．１重量％以上であって２０重量％以下の塩水１８あり、保有水１２の電気伝導度の１．５倍以上となるものである。勿論より好ましくは、この場合も保有水１２の電気伝導度の５倍以上あることが好ましい。
【００４６】
ここで、塩の濃度を０．１重量％以上の塩水１８とした理由は、当該物質は保有水１２の電気伝導度とリンクするので、保有水１２の電気伝導度が一番小さい５００μＳ／ｃｍであればその２倍以上の電気伝導度の差とするには約１０００μＳ／ｃｍ以上必要となり、塩水濃度としては１０００μＳ／ｃｍであるためには０．１重量％必要となるためである。
【００４７】
勿論、一番大きい３００００μＳ／ｃｍであればその２倍以上の電気伝導度の差とするには、投入する当該物質の電気伝導度は約６００００μＳ／ｃｍ以上となり、塩水濃度としては６重量％以上必要となる。
【００４８】
また、塩の濃度を２０重量％以下の塩水１８とした理由は、上述したように電気伝導度が約６００００μＳ／ｃｍ以上必要となる場合もあることと、自然界への負担をより少なくしてより比抵抗領域を正確に特定するために種々の状況を考慮し、最大２０重量％までとしたものである。なお、より好ましくは塩の濃度が０．１重量％以上であって１０重量％以下の塩水１８が好ましい。１０重量％あれば上述の約６００００μＳ／ｃｍ以上必要となる場合にも対応でき、かつ、より低コストで自然界への負担も軽減できるからである。
【００４９】
尚、物質は上述に限られるものではなく、例えば保有水１２の電気伝導度が高い場合は逆に電気伝導度の低いものを用いるとよい。これにより、より多種多様な廃棄物及び保有水に対応できる。
【００５０】
また、複数の電極４は例えば比抵抗領域を検出する廃棄物の鉛直断面１９と該廃棄物表面との交線である測線２０上に等間隔に配置されており、例えば金属（ステンレス等）製の棒を用い、その打ち込み深さは例えば３０ｃｍから４０ｃｍである。
【００５１】
また、電極４は夫々電極選択装置５に電線等により電気的に接続されており、ダイポール・ダイポール（Dipole-Dipole）法による場合は、当該電極４の内の隣合う２本の電極４を保有水１２を含む廃棄物１１に所定の電流を流す電流電極２１ａ，２１ｂと、他の隣合う２本の電極４をその電流電極２１ａ，２１ｂによる電位分布を測定する電位電極２２ａ，２２ｂとして該電極選択装置５により選択される。
【００５２】
更に電極選択装置５により選択された電流電極２１ａ，２１ｂは夫々電源装置６に電気的に接続され、電位電極２２ａ，２２ｂは夫々検出装置７に電気的に接続される。これにより、電流電極２１ａ，２１ｂには該電源装置６から所定の信号電流が供給され、電位電極２２ａ，２２ｂからは検出装置７に所定の電位情報が供給される。
【００５３】
次に、電極選択装置５は電線等により電気的接続された複数の電極４から電流電極２１ａ，２１ｂ及び電位電極２２ａ，２２ｂを選択するもので、例えば予め入力された情報に基づき図２に示すようにＸ軸方向で一番左端にあるＡ１，Ａ２の電極を２本の電流電極２１ａ，２１ｂとして選択し、Ａ３，Ａ４の電極４を２本の電位電極２２ａ，２２ｂとして選択する。これにより、電極Ａ１，Ａ２から所定の電流が廃棄物１１中に流され、それにより生成された電場による電位電極間の電位情報が電位電極２２ａ，２２ｂから電極選択装置５を介して検出装置７に供給される。
【００５４】
以下同様に、電極選択装置５はＡ１，Ａ２の電極を２本の電流電極２１ａ，２１ｂとして選択し、２本の電位電極２２ａ，２２ｂとして電極を一本ずつ右側にずらして例えば電極Ａ４，Ａ５からＡ１４，Ａ１５まで選択し、夫々の電位電極間の電位情報を検出装置７に供給する。
【００５５】
更に電極選択装置５は、例えば図２の電極Ａ１４，Ａ１５まで終了したときは電流電極２１ａ，２１ｂとしてＡ２，Ａ３を選択し、電位電極２２ａ，２２ｂとしてＡ４，Ａ５からＡ１５，Ａ１６間での電極４を選択し、夫々の電極間の電位情報を検出装置７に供給する。
【００５６】
以上の選択を電極選択装置５は、電流電極２１ａ，２１ｂとしてＡ２５，Ａ２６の電極を選択し、電位電極２２ａ，２２ｂとしてＡ２７，Ａ２８（図２中一番右端の電極）の電極を選択するまで続けることとなる。
【００５７】
次に、電源装置６は例えば図１に示すように電極選択装置５を介して電流電極２１ａ，２１ｂが電気的に接続されており、該電流電極２１ａ，２１ｂに所定の定電流例えば１００ｍＡを供給する。
【００５８】
また、検出装置７は電線等により電極選択装置５を介して電位電極２２ａ，２２ｂに電気的に接続されており、所定の電流電極及び電位電極の配置における当該電位電極２２ａ，２２ｂ間の電位情報が供給される。
【００５９】
これにより、検出装置７は電極選択装置５により例えば図２に示すように電流電極２１ａ，２１ｂとして電極Ａ１，Ａ２が選択され、電位電極２２ａ，２２ｂとして電極Ａ３，Ａ４が選択されたときの図２中のＰ１での見掛比抵抗（ρ）をρ＝πａｎ（ｎ＋１）（ｎ＋２）Ｖ／Ｉの式により導き出す。ここで、ρは見掛比抵抗（Ω・ｍ）、ａは電極間隔（ｍ）、ｎは離隔係数、Ｖは測定電位（ｍＶ）及びＩは電流値（ｍＡ）である。
【００６０】
同様に、図２中のＰ２からＰ１２を含め測線２０下の鉛直断面１９中の所定の箇所の見掛比抵抗が導かれる。これにより、保有水１２の比抵抗と予め設定されていた異なる比抵抗の比抵抗領域を探索し検出する。
【００６１】
更に出力装置８は、検出装置７により検出された比抵抗領域に関する情報として例えば比抵抗領域の有無及や該比抵抗領域が存在する場合にその鉛直断面中の位置に関する情報等を画像ディスプレーやプリンター等により出力する。
【００６２】
（貯留構造物の漏水位置探査方法）
【００６３】
次に、以上のように構成された廃棄物処分場の漏水位置探査システム１を用いた貯留構造物の漏水位置探査方法について説明する。
【００６４】
図３は貯留構造物の漏水位置探査方法のフローチャート、図４は塩水の投入状態の説明図、図５は比抵抗領域が流れる状態の説明図、図６は電気探査を行う複数の鉛直断面の説明図、図７はＢ１鉛直断面における比抵抗領域の説明図、図８はＢ７鉛直断面における比抵抗領域の説明図、図９は初めて比抵抗領域が出現しないＢ８鉛直断面の説明図、図１０は鉛直断面が異なる方向（ＹＺ平面）場合の廃棄物処分場の漏水位置探査システムの概略図、図１１は異なる方向の鉛直断面における比抵抗領域の説明図、図１２はＣ１鉛直断面における比抵抗領域の説明図、図１３はＣ２における比抵抗領域の説明図、図１４はＣ３鉛直断面における比抵抗領域の説明図、図１５は比抵抗領域の流れを示す廃棄物処分場の概略平面図、図１６は図１５と漏水箇所が異なる場合の説明図、図１７は図１５及び図１６と漏水箇所が異なる場合の説明図、図１８は漏水箇所が注入井戸の近くにある場合の説明図及び図１９は注入井戸の設置場所を変えた場合の説明図である。
【００６５】
まず、図１に示すように廃棄物処分場２に貯留されている廃棄物表面の所定の位置から鉛直下に掘られた注入井戸３を設置する。例えば廃棄物表面から鉛直下に掘られ、遮水シート１０の略矩形の底面１３でその四隅の内の一つの内側付近の保有水１２に届くように廃棄物表面のＢ地点に注入井戸３を設置する。
【００６６】
次に、図１及び図６に示すように注入井戸３のＢ地点から遠い方の遮水シート１０の傾斜面１４ａに向く方向に直交する鉛直断面（図１中のＸＺ平面）１９を注入井戸３に近い側から例えばＢ１からＢ９の等間隔に想定する。そして、Ｂ１の鉛直断面上の測線上に所定の等間隔で複数の電極４を廃棄物表面から３０ｃｍから４０ｃｍの深さに挿し込んで設置し、当該電極４を電極選択装置５に電線等で電気的に接続する。
【００６７】
その後、保有水１２の電気伝導度と異なる電気伝導度の物質、例えば保有水１２の電気伝導度の１．５倍以上、具体的には塩の濃度が０．１重量％以上であって２０重量％以下の塩水であり、保有水１２の電気伝導度の１．５倍以上となる塩水１８を製造し、図４及び図５に示すようにＢ地点の注入井戸３に連続的に投入する（ＳＴ１０１）。例えば保有水１２の電気伝導度が２５００μＳ／ｃｍであれば塩の濃度は０．５重量％となる。
【００６８】
これにより、図４に示すように注入井戸３の下端から保有水１２中に周りの保有水１２より電気伝導度の大きい塩水１８が入り込み、比抵抗領域１６が保有水中に生成される。このとき例えば遮水シート１０が漏水箇所１５で漏水しているとすると廃棄物処分場２の遮水シート１０の底面上に溜まった保有水１２は、図４に示す矢印Ｅのように漏水箇所１５に向かって流れることとなる。
【００６９】
また、保有水中に入り込んだ塩水１８による比抵抗領域１６は周りの保有水１２の流れに導かれ、例えば図５に示すように漏水箇所１５に向かう流路１７を形成することとなる。
【００７０】
次に、電極選択装置５に例えば電流電極２１ａ，２１ｂとして図２に示すようにＡ１，Ａ２を、電位電極２２ａ，２２ｂとしてＡ３，Ａ４を選択させて、電源装置６から所定の定電流例えば１００ｍＡを電極Ａ１，Ａ２に供給させる。このときの電位電極２２ａ，２２ｂにより得られる電位情報が電極選択装置５を介して検出装置７に供給され（ＳＴ１０２）、検出装置７は例えば図２のＰ１の位置情報とその位置における見掛比抵抗（ρ）等から比抵抗を算出し、図示しない内部記録装置にそのデータを記録する（ＳＴ１０３）。
【００７１】
以下、電極選択装置５により電流電極２１ａ，２１ｂ及び電位電極２２ａ，２２ｂを選択させ図２に示すＢ１の鉛直断面の他のＰ２等の電位情報を検出装置７に供給し、該検出装置７は位置情報とその位置における見掛比抵抗（ρ）等から比抵抗を算出し、そのデータを記録する。
【００７２】
更にＢ１の鉛直断面の全ての比抵抗のデータを出力装置８により画像データ等にして出力させ、その中に注入井戸３から注入された塩水１８による比抵抗領域１６に該当するものがあるか判断する（ＳＴ１０４）。例えば図７に示すように保有水１２の中でＰ２１が周りの比抵抗より異常に小さい場合、例えば投入した塩水１８の比抵抗程度であれば当該Ｐ２１の領域を注入井戸３から投入された塩水１８による比抵抗領域１６と判断し、当該鉛直断面に比抵抗領域１６があると判断し、保有水中にそのような塩水１８の比抵抗程度の領域がなければ当該鉛直断面に比抵抗領域１６がないと判断する。
【００７３】
ここで、比抵抗領域１６があると判断されたときは例えば注入井戸３の下端に生成された比抵抗領域１６が図６のＢ１の鉛直断面１９にも存在することとなり、当該比抵抗領域１６が移動したこと、すなわち当該保有水１２に流れがあることとなる。また、保有水１２の流れは遮水シート１０のどこかに漏水箇所１５があってそこに向かって流れることを意味することになり、結局、遮光シートには漏水箇所があることとなる（ＳＴ１０５）。
【００７４】
更にＳＴ１０５で漏水有りと判断されたときは、Ｂ１と同様にＢ２等のＢｎの鉛直断面１９で電位を測定し（ＳＴ１０６）、その鉛直断面１９の比抵抗を算出し記録する（ＳＴ１０７）。そして、Ｂｎの鉛直断面１９で比抵抗領域１６があると判断されたときは、図３に示すようにＳＴ１０５の後に戻り次の鉛直断面１９の電位を測定し、その鉛直断面１９の比抵抗を算出し記録する。これを鉛直断面１９で最初に当該比抵抗領域１６が当該鉛直断面から存在しなくなるまで遮水シート１０の傾斜面１４ａに向かって次々に各鉛直断面の測線上に電極４を配置し直し夫々の測線下の鉛直断面１９の電位を測定し、比抵抗を算出し、記録する。
【００７５】
一方、Ｂｎの鉛直断面１９で初めて比抵抗領域１６が存在しないと判断されたとき（ＳＴ１０８）は、例えば図６に示すＢ７の鉛直断面１９では図８に示すようにＰ２６での比抵抗が周りの保有水１２の比抵抗（図中のＰ２７，Ｐ２８等）より塩水１８と同程度に小さく、比抵抗領域１６が存在したが、Ｂ８の鉛直断面では図９に示すように比抵抗領域１６を検出できなかったこととなる。
【００７６】
このことは、塩水１８の注入井戸３への投入による比抵抗領域１６がＢ８の鉛直断面１９を通過できずその手前で止まってしまったことになり、その原因としてはＢ７の鉛直断面１９とＢ８の鉛直断面１９との間で比抵抗領域１６が漏水箇所１５により外部に漏れ、それより先に該比抵抗領域１６が流れなくなったものと考えることができる。
【００７７】
以上から、Ｂ７の鉛直断面１９とＢ８の鉛直断面１９との間の領域に遮水シート１０の漏水箇所１５が存在することが予想されることとなり、漏水箇所１５の特定がある程度可能となる。
【００７８】
次に、図１０及び図１１に示すようにＳＴ１０２からＳＴ１０８までの鉛直断面１９に対し略直交し、注入井戸３に近い側から例えばＣ１からＣ４の等間隔に鉛直断面（図中のＹＺ平面）２３を想定する。そして、Ｃ１の鉛直断面上の測線上に所定の等間隔で複数の電極４を廃棄物表面から例えば３０ｃｍから４０ｃｍの深さで挿し込んで設置し、当該電極４を電極選択装置５に電線等で電気的に接続する。
【００７９】
その後、保有水１２に注入井戸３から塩水１８を連続的に投入し、電極選択装置５に例えば複数の電極から所定の電流電極２１ａ，２１ｂ及び電位電極２２ａ，２２ｂを選択させて電源装置６から例えば１００ｍＡの定電流を電流電極２１ａ，２１ｂに供給する。このとき電位電極２２ａ，２２ｂにより得られる電位情報が電極選択装置５を介して検出装置７に供給され（ＳＴ１０９）、検出装置７は該鉛直断面２３の所定の位置の位置情報とその位置における見掛比抵抗（ρ）等から比抵抗を算出し、内部記録装置にそのデータを記録する（ＳＴ１１０）。
【００８０】
以下、電極選択装置５により電流電極２１ａ，２１ｂ及び電位電極２２ａ，２２ｂを選択させ図１１に示すＣ１の鉛直断面２３の他の位置の電位情報を検出装置７に供給し、該検出装置７は位置情報とその位置における見掛比抵抗（ρ）等から比抵抗を算出し、そのデータを記録する。
【００８１】
更にＣ１の鉛直断面の全ての比抵抗のデータを出力装置８により画像データ等にして出力させ、その中に注入井戸３から注入された塩水１８による比抵抗領域１６に該当するものがあるか判断する（ＳＴ１１１）。例えば図１２に示すように保有水１２の中でＰ３１がその周りの比抵抗（Ｐ３２，Ｐ３３等）より異常に小さい場合、例えば投入した塩水１８の比抵抗程度であれば当該Ｐ３１の領域をＢ地点の注入井戸３から投入された塩水１８による比抵抗領域１６と判断し、当該鉛直断面２３に比抵抗領域があると判断し、保有水中にそのような塩水１８の比抵抗程度の領域がなければ当該鉛直断面２３に比抵抗領域１６がないと判断する。
【００８２】
また、ＳＴ１１１で比抵抗領域有りと判断されたときは、Ｃ１と同様にＣ２等のＣｎの鉛直断面２３で電位を測定し（ＳＴ１１２）、その鉛直断面２３の比抵抗を算出し記録する（ＳＴ１１３）。そして、Ｃｎの鉛直断面２３で比抵抗領域１６があると判断されたときは、図３に示すようにＳＴ１１１の後に戻り次の鉛直断面２３の電位を測定し、その鉛直断面２３の比抵抗を算出し記録する。これを鉛直断面２３で最初に当該比抵抗領域１６が当該鉛直断面から存在しなくなるまで遮水シート１０の傾斜面１４ｄに向かって次々に各鉛直断面の測線上に電極４を配置し直し、夫々の測線下の鉛直断面２３の電位を測定し、比抵抗を算出し、記録する。
【００８３】
一方、Ｃｎの鉛直断面２３で初めて比抵抗領域１６が存在しないと判断されたときは、例えば図１１に示すＣ２の鉛直断面では図１３に示すようにＰ３６で周りに比較し比抵抗が極めて低く比抵抗領域１６が存在したが、Ｃ３の鉛直断面では図１４に示すように周りに比べ極めて低い比抵抗の領域である比抵抗領域１６を検出できなかったときは、Ｃ２の鉛直断面とＣ３の鉛直断面との間の領域に遮水シート１０の漏水箇所１５が存在することが予想されることとなり、ＳＴ１０８での結果と合わせて漏水箇所１５の特定が可能となる。
【００８４】
具体的には図１５に示すようにＳＴ１０８ではＢ７の鉛直断面１９とＢ８の鉛直断面１９との間の範囲内に漏水箇所１５が特定され、更にＳＴ１１４ではＣ２の鉛直断面とＣ３の鉛直断面との間の範囲内に漏水箇所（図１５中の斜線部分）が絞り込まれることとなる。
【００８５】
次に、上述のように例えば電気探査法により漏水箇所１５が所定の領域に特定された後、その領域の廃棄物１１を開削して遮水シート１０を露出させ漏水箇所１５を具体的に目視により特定する。
【００８６】
尚、ＳＴ１０８で初めてＢ８の鉛直断面１９に比抵抗領域１６がないと判断され、更にＳＴ１１１でＣ１の鉛直断面２３に比抵抗領域１６がないと判断されたときは図１６に示す斜線部分が漏水箇所２４の存在する領域となる。すなわち、Ｃ１の鉛直断面２３に比抵抗領域１６が存在しない以上該鉛直断面より図中上方の傾斜面１４ｃ側の遮水シート上に漏水箇所２４があることとなり、結局図１６の斜線部分に示すようにＢ７の鉛直断面１９とＢ８の鉛直断面１９との間の領域であり、かつ、Ｃ１の鉛直断面２３から傾斜面１４ｃまでの保有水中の遮水シート上に漏水箇所２４の位置が絞り込まれ特定されることとなる（ＳＴ１１５）。
【００８７】
また、ＳＴ１０４でＢ１の鉛直断面１９に比抵抗領域１６が存在しないと判断されたときは、遮水シート上には漏水箇所が無いのか、それともＢ１の鉛直断面１９より傾斜面１４ｂ側の領域にあるかのいずれかであり、図中のＹＺ平面の鉛直断面２３により比抵抗領域の有無を判断する必要がある。
【００８８】
そこで、まずＳＴ１０９に進み図１１及び図１５に示すＣ１の鉛直断面２３での全ての電位を測定し（ＳＴ１０９）、そのデータを検出装置７に供給しＣ１の鉛直断面２３での比抵抗の算出と記録をして（ＳＴ１１０）、該Ｃ１の鉛直断面２３に比抵抗領域１６が存在するか判断する（ＳＴ１１１）。
【００８９】
そして、ＳＴ１１１の判断で比抵抗領域１６が存在すると判断されたときはＳＴ１１６に進み、遮水シート１０に漏水個所が存在することとなる。
【００９０】
例えば注入井戸３の下端に生成された比抵抗領域１６がＣ１の鉛直断面２３にも存在することとなり、当該比抵抗領域１６が移動したこと、すなわち当該保有水１２に流れがあることとなる。また、保有水１２の流れは遮水シート１０のどこかに漏水箇所２５があってそこに向かって流れることを意味することになり、結局、遮水シートには漏水箇所があることとなる（ＳＴ１１６）。
【００９１】
次に、図３のＳＴ１１２に進みＣ１と同様にＣ２等のＣｎの鉛直断面２３で電位を測定し（ＳＴ１１２）、その鉛直断面２３の比抵抗を算出し記録する（ＳＴ１１３）。そして、Ｃｎの鉛直断面２３で比抵抗領域１６があると判断されたときは、図３に示すようにＳＴ１１１の後に戻り次の鉛直断面２３の電位を測定し、その鉛直断面２３の比抵抗を算出し記録する。これを鉛直断面２３で最初に当該比抵抗領域１６が当該鉛直断面から存在しなくなるまで遮水シート１０の傾斜面１４ｄに向かって次々に各鉛直断面の測線上に電極４を配置し直し、夫々の測線下の鉛直断面２３の電位を測定し、比抵抗を算出し、記録する。
【００９２】
一方、Ｃ３の鉛直断面２３で初めて比抵抗領域１６が存在しないと判断されたときは、Ｃ２の鉛直断面とＣ３の鉛直断面との間の領域に遮水シート１０の漏水箇所２５が存在することが予想されることとなり、ＳＴ１０４での結果と合わせて漏水箇所２５の特定が可能となる。
【００９３】
例えば図１７の斜線部分に示すようにＣ２の鉛直断面２３とＣ３の鉛直断面２３との間の領域であり、かつＢ１の鉛直断面１９から傾斜面１４ｂまでの保有水中の遮水シート上に漏水箇所２４の位置が絞り込まれ特定されることとなる（ＳＴ１１５）。
【００９４】
次に、ＳＴ１０４でＢ１の鉛直断面１９に比抵抗領域１６が存在しないと判断され、ＳＴ１１１でもＣ１の鉛直断面２３に比抵抗領域１６が存在しないと判断されたときは、例えば図１８に示すようにＢ１の鉛直断面１９から傾斜面１４ｂまでの保有水中の遮水シート領域であり、かつ、Ｃ１の鉛直断面２３から傾斜面１４ｃまでの保有水中の遮水シート領域である斜線部分に漏水箇所２６が有るのか、または漏水個所が遮水シート１０には全くないのかのいずれかとなる。
【００９５】
そこで、更に塩水１８を廃棄物１１の保有水１２中に投入する注入井戸３の設置場所を例えば図１９に示すようにＢ１の鉛直断面から傾斜面１４ｂまでの保有水中の遮水シート領域内で、少なくともＣ１の鉛直断面２３から傾斜面１４ｄの側でＢ地点と離れたＦ地点に移動させて廃棄物表面から鉛直下に掘り、遮水シート上の保有水１２に届くように廃棄物表面の該Ｆ地点に注入井戸３を設置する。
【００９６】
次に、図１９に示すように注入井戸３のＦ地点から傾斜面１４ｃに向く方向に直交する鉛直断面（図１中のＸＺ平面）２７を注入井戸３に近い側から例えばＤ１からＤ２等の等間隔に想定する。
【００９７】
そして、Ｄ１の鉛直断面上の測線上に所定の等間隔で複数の電極４を設置し、当該電極４を電極選択装置５に電線等で電気的に接続する。
【００９８】
その後、保有水１２に注入井戸３から塩水１８を連続的に投入し（ＳＴ１１７）、電極選択装置５に例えば複数の電極から所定の電流電極２１ａ，２１ｂ及び電位電極２２ａ，２２ｂを選択させて電源装置６から例えば１００ｍＡの定電流を電流電極２１ａ，２１ｂに供給する。このとき電位電極２２ａ，２２ｂにより得られる電位情報が電極選択装置５を介して検出装置７に供給され（ＳＴ１１８）、検出装置７は該鉛直断面２７の所定の位置の位置情報とその位置における見掛比抵抗（ρ）等から比抵抗を算出し、内部記録装置にそのデータを記録する（ＳＴ１１９）。
【００９９】
以下、電極選択装置５により電流電極２１ａ，２１ｂ及び電位電極２２ａ，２２ｂを選択させＤ１の鉛直断面２７の他の位置の電位情報を検出装置７に供給し、該検出装置７は位置情報とその位置における見掛比抵抗（ρ）等から比抵抗を算出し、そのデータを記録する。
【０１００】
更にＤ１の鉛直断面の全ての比抵抗のデータを出力装置８により画像データ等にして出力させ、その中に注入井戸３から注入された塩水１８による比抵抗領域１６に該当するものがあるか判断する（ＳＴ１２０）。
【０１０１】
ＳＴ１２０で比抵抗領域有りと判断されたときは、少なくともＤ１の鉛直断面２７までは比抵抗領域１６の流れ（流路）が存在することとなり、その流れは遮水シート１０に漏水個所が存在するために保有水１２が外部に漏れ出し、その保有水１２に流れが生じたことによると考えられ、少なくともＢ１の鉛直断面から傾斜面１４ｂまでの保有水中の遮水シート１０領域に漏水箇所２６が存在することとなる（ＳＴ１２１）。
【０１０２】
そこで、Ｄ１と同様にＤ２等のＤｎの鉛直断面２７で電位を測定し（ＳＴ１２２）、その鉛直断面２７の比抵抗を算出し記録する（ＳＴ１２３）。そして、Ｄｎの鉛直断面２７で比抵抗領域１６があると判断されたとき（ＳＴ１２４）は、図３に示すようにＳＴ１２１の後に戻り次の鉛直断面２７の電位を測定し、その鉛直断面２７の比抵抗を算出し記録する。これを鉛直断面２７で最初に当該比抵抗領域１６が当該鉛直断面から存在しなくなるまで遮水シート１０の傾斜面１４ｃに向かって次々に各鉛直断面の測線上に電極４を配置し直し、夫々の測線下の鉛直断面２３の電位を測定し、比抵抗を算出し、記録する。
【０１０３】
一方、Ｄｎの鉛直断面２７で初めて比抵抗領域１６が存在しないと判断されたとき（ＳＴ１２４）は、例えば図１９に示すＤ２の鉛直断面では比抵抗領域１６が存在したが、Ｄ３の鉛直断面では比抵抗領域１６を検出できなかったときは、Ｄ２の鉛直断面とＤ３の鉛直断面との間の領域に遮水シート１０の漏水箇所２６が存在することが予想されることとなり、ＳＴ１０４での結果と合わせて漏水箇所２６の特定が可能となる（ＳＴ１１５）。
【０１０４】
具体的には図１９に示すようにＳＴ１０４では少なくともＢ１の鉛直断面１９から傾斜面１４ａまでの保有水中の遮水シート領域には漏水個所は存在せず、更にＳＴ１２１では遮水シート１０の何処かには漏水個所が存在することが確かめられ、ＳＴ１２４によりＤ２の鉛直断面とＤ３の鉛直断面との間の範囲内に漏水箇所（図１９中の斜線部分）が絞り込まれることとなる。
【０１０５】
ここで、便宜上図１９ではＤ１，Ｄ２の符号を用い鉛直断面２７の位置を示したが当該Ｄ１，Ｄ２の鉛直断面の位置は図１８のＣ２，Ｃ１の鉛直断面２３の位置と同じ位置に設けるものとする。
【０１０６】
次に、ＳＴ１０４でＢ１の鉛直断面１９に比抵抗領域１６が存在しないと判断され、ＳＴ１１１でもＣ１の鉛直断面２３に比抵抗領域１６が存在しないと判断され、更にＳＴ１２０でもＤ１の鉛直断面２７に比抵抗領域１６が存在しないと判断されたときは、最初の注入井戸３を設置したＢ地点では漏水個所を検出できないとされた図１８に示すＢ１の鉛直断面１９から傾斜面１４ｂまでの保有水中の遮水シート領域であり、かつ、Ｃ１の鉛直断面２３から傾斜面１４ｃまでの保有水中の遮水シート領域である斜線部分にも漏水個所が存在しなかったこととなる。結局、少なくとも保有水中の遮水シート１０には漏水は無いこととなる（ＳＴ１２５）。
【０１０７】
以上で廃棄物処分場の漏水位置探査システム１を用いた貯留構造物の漏水位置探査方法の説明を終了する。
【０１０８】
尚、上述の説明では説明の都合上、図２や図１２等において廃棄物処分場２の凹部９の傾斜面１４ａ，１４ｂ，１４ｃ，１４ｄを測定ポイントＰ１２等から離れるように記載したがこれに限定されるものではなく、実際には例えば当該傾斜面は図に示す傾斜面側の測定ポイントを結ぶ直線の傾斜より緩やかで全ての鉛直断面中での測定が可能である。
【０１０９】
このように本実施形態によれば、廃棄物１１の保有水中にその保有水１２の電気伝導度と異なる電気伝導度を有する物質例えば塩水１８を投入することで周りの比抵抗と異なる比抵抗領域１６を生成し、この比抵抗領域１６を一種の電気的マーカーとして廃棄物表面の測線２０から遮水工としての遮水シート１０までの鉛直断面での該比抵抗領域１６を検出可能な検出手段として検出装置７を具備することとしたので、漏水位置探査システムの完備していない既存の処分場の漏水箇所等を容易に探査することができる。
【０１１０】
また、測線２０は、廃棄物表面に複数に有するものであるとしたので、比抵抗領域１６を検出する鉛直断面を複数設定して検出装置７により夫々の鉛直断面の当該比抵抗領域１６を検出でき、その情報に基づき該比抵抗領域１６が移動しているのか否か、更には移動しているとしてどこに移動しているのかを判断することが可能となる。この比抵抗領域１６の移動は、その周囲の保有水１２の流れでもあるので結局、貯留構造物の漏水の有無及びその漏水箇所を判断することが可能となる。
【０１１１】
更に複数の測線２０は、異なる方向の測線２０を有することとしたので、例えば２方向から該比抵抗領域１６の移動に関する情報を得ることが可能となり、より該比抵抗領域１６が移動しているのか否か、更には移動しているとしてどこに移動しているのかの正確な判断をすることが可能となる。
【０１１２】
また、電位電極２２ａ，２２ｂから得られる電位情報は、塩水等の物質を廃棄物表面上の少なくとも二つの地点から保有水中に投入して夫々測定できることとしたので、一の投入地点（例えば図１９中のＢ地点）のすぐそばに遮水シート１０の漏水箇所が在って廃棄物表面の測線２０から遮水シート１０までの鉛直断面での比抵抗領域１６を検出できない場合でも、その他の投入地点（例えば図１９中のＦ地点）での該物質の投入により生成された比抵抗領域１６を検出することが可能となり、より正確な該比抵抗領域１６の有無及びその位置を検出することができる。
【０１１３】
更に検出装置７の検出結果に基づき、遮水シート上の保有水１２への塩水等の投入位置と異なる少なくとも一つの鉛直断面で比抵抗領域１６が検出された場合に遮水シート１０に漏水が有ると判断する第１の判断のステップを具備することとしたので、例えば電気探査法により容易かつ迅速に漏水の有無の判断ができる。
【０１１４】
また、遮水シート１０に漏水が有ると判断された場合に、二つの隣り合う鉛直断面の一の鉛直断面には比抵抗領域１６が検出され、他の鉛直断面には比抵抗領域１６が検出されない場合に、該隣り合う鉛直断面間に遮水シート１０の漏水箇所が存在すると判断する第２の判断のステップを具備することとしたので、例えば電気探査法により容易かつ迅速に漏水箇所の判断が可能となる。
【０１１５】
（変形例１）
【０１１６】
次に、本発明に係る貯留構造物の漏水位置探査システムの第１の実施形態の変形例１について説明する。本変形例１においては検査装置と出力装置との間に判断装置が設けられている点が第１の実施形態と異なるのでその点を中心に説明する。尚、第１の実施形態の構成要素と共通する構成要素については、第１の実施形態の構成要素と同一の符号を付しその説明を省略する。
【０１１７】
図２０は変形例１の廃棄物処分場の漏水位置探査システムの概略図である。
【０１１８】
（貯留構造物の漏水位置探査システムの構成）
【０１１９】
貯留構造物としての廃棄物処分場の漏水位置探査システム１０１は、例えば図２０に示すように廃棄物処分場２、その廃棄物処分場２に貯留された廃棄物の保有水中に塩水等の物質を投入するための注入井戸３、その廃棄物処分場２に貯留された廃棄物表面下に配置された複数の電極４、その複数の電極４から後述する電流電極及び電位電極を夫々選択する電極選択装置５、その電流電極に所定の信号電流を供給する電源装置６、その電位電極により測定された電位情報に基づき後述する比抵抗領域を検出する検出装置７、その検出装置７により検出された情報を演算処理し、廃棄物処分場２に漏水があるか否かまた、漏水があるとすればその漏水個所等の判断をする判断手段としての判断装置１３１及びその判断装置１３１により判断された判断情報等を出力する出力装置１０８等から構成されている。
【０１２０】
ここで、判断装置１３１は図示しない例えば演算と制御とをするＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）、必要に応じて一時的に各種データ及びソフト等を記録し、判断装置１３１の制御をより円滑に行なうＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ Ａｃｃｅｓｓ Ｍｅｍｒｙ）、ＲＯＭ（Ｒｅａｄ ＯｎｌｙＭｅｍｏｒｙ）、検出装置７からのデータや漏水箇所等を記録するデータ格納部及び各種のソフトウエアが格納されたソフトウエア格納部等を有する。
【０１２１】
ソフトウエア格納部は、例えば検出装置７から受け渡された鉛直断面の比抵抗領域に関する情報に基づき、鉛直断面に比抵抗領域が存在するか判断することができる比抵抗領域判断機構、遮水シート１０に漏水が存在するか判断することができる漏水判断機構、該漏水判断機構により漏水が存在すると判断された場合に検出装置７から受け渡された隣合う鉛直断面の比抵抗領域が一方にのみ存在するとの情報により当該隣合う鉛直断面間に漏水箇所が存在すると判断することができる漏水箇所判断機構等を有する。
【０１２２】
また、出力装置１０８は検出装置７により検出された比抵抗領域に関する情報、該比抵抗領域が存在する場合にその鉛直断面中の位置に関する情報及び判断装置１３１により判断された遮水シート等の漏水の有無、その漏水箇所に関する情報等を例えば画像ディスプレーやプリンター等により出力することができる。
【０１２３】
（貯留構造物の漏水位置探査方法）
【０１２４】
次に、以上のように構成された廃棄物処分場の漏水位置探査システム１０１を用いた貯留構造物の漏水位置探査方法については第１の実施形態と略同様であるが、例えば図３のＳＴ１０４，ＳＴ１０８等での比抵抗領域があるか否かの判断、ＳＴ１０５、ＳＴ１１６等での漏水が存在するとの判断、更にはＳＴ１１５の漏水箇所の特定、ＳＴ１２５の遮水シートに漏水は存在しないとの判断等を観測者や観測者の手助けによらず判断装置１３１により判断する点が異なる。その点について簡単に説明する。
【０１２５】
例えば判断装置内のＣＰＵは、検出装置７から判断装置１３１に送られた比抵抗領域に関するデータにより比抵抗領域判断機構に当該鉛直断面に比抵抗領域があるか判断させる（ＳＴ１０４）。比抵抗領域が存在すると判断されたときは、その情報を漏水判断機構に送り当該漏水判断機構に遮水シート１０に漏水が存在するとの判断をさせる。
【０１２６】
更に判断装置内のＣＰＵは、図３のＳＴ１１４で比抵抗領域判断機構が比抵抗領域が存在しないと判断したときは、その情報を漏水箇所判断機構に送り当該漏水箇所判断機構に遮水シート１０の漏水箇所を判断させ特定させる。
【０１２７】
このように本変形例によれば、電位電極２２ａ，２２ｂから供給された電位情報に基づき検出手段としての検出装置７により検出された情報を演算処理し、遮水工としての遮水シート１０の漏水の有無及びその漏水箇所を判断する判断装置１３１を具備することとしたので、電位情報の収集からその分析まで一貫したシステムとすることができ、より漏水の有無及びその漏水箇所の判断が容易かつ迅速となる。
【０１２８】
また、判断装置１３１は少なくとも保有水１２への塩水等の投入位置と異なる一つの鉛直断面で比抵抗領域１６が検出された場合に遮水シート１０に漏水が有ると判断することとしたので、より容易かつ迅速に漏水の有無の判断ができる。
【０１２９】
更に判断装置１３１は、遮水シート１０に漏水が有ると判断した場合に二つの隣り合う鉛直断面の一の鉛直断面には比抵抗領域１６が検出され、他の鉛直断面には比抵抗領域１６が検出されない場合に比抵抗領域が一の鉛直断面と他の鉛直断面との間で漏水により消滅したものと判断し、該隣り合う鉛直断面間に遮水シート１０の漏水箇所が存在すると判断することとしたので、より容易かつ迅速に漏水箇所の判断が可能となる。
【０１３０】
（第２の実施形態）
【０１３１】
次に、本発明に係る貯留構造物の漏水位置探査システムの第２の実施形態について説明する。本実施形態においては比抵抗領域を生成する物質に例えば染料を混合している点が異なるのでその点を中心に説明する。尚、第１の実施形態の構成要素と共通する構成要素については、第１の実施形態の構成要素と同一の符号を付しその説明を省略する。
【０１３２】
（貯留構造物の漏水位置探査システムの構成）
【０１３３】
貯留構造物としての廃棄物処分場の漏水位置探査システム２０１は、例えば図１に示すように廃棄物処分場２、その廃棄物処分場２に貯留された廃棄物の保有水中に後述する塩水等の物質を投入するための注入井戸２０３、その廃棄物処分場２に貯留された廃棄物表面下に配置された複数の電極４、その複数の電極４から後述する電流電極及び電位電極を夫々選択する電極選択装置５、その電流電極に所定の信号電流を供給する電源装置６、その電位電極により測定された電位情報に基づき比抵抗領域を検出する検出装置７及びその検出装置７により検出された情報を出力する出力装置８等から構成されている。
【０１３４】
ここで、注入井戸２０３は例えば廃棄物１１の表面から保有水１２に届くぐらいの深さに設けてあり、この注入井戸２０３を用いて保有水１２の電気伝導度と異なる電気伝導度の物質、例えば保有水１２の電気伝導度の１．５倍以上高い電気伝導度を持つ物質を当該保有水１２中に投入することができる。当該物質としては、具体的には塩の濃度が０．１重量％以上であって２０重量％以下で、保有水１２の電気伝導度の１．５倍以上となる塩水２１８であり、当該塩水に染料、顔料及び蛍光材等のうち少なくとも一つを混合したものである。例えば保有水１２の電気伝導度が２５００μＳ／ｃｍであれば塩の濃度は０．５重量％となる。尚、より好ましくは５倍以上あることが好ましい。これにより、より正確に比抵抗領域の有無及びその位置を特定できる。
【０１３５】
これにより、電気探査法である程度の漏水箇所１５が存在すると思われる領域を特定し、その特定された領域を開削して塩水２１８に混合された染料等によるトレース跡を追跡し、遮水シート１０の漏水箇所１５を具体的に特定できる。
【０１３６】
尚、物質は上述の塩水に限られるものではなく、例えば保有水１２の電気伝導度が高い場合は逆に電気伝導度の低いものを用いるとよい。これにより、より多種多様な廃棄物及び保有水に対応できる。
【０１３７】
（貯留構造物の漏水位置探査方法）
【０１３８】
次に、以上のように構成された廃棄物処分場の漏水位置探査システム２０１を用いた貯留構造物の漏水位置探査方法について説明する。本実施形態においては比抵抗領域を生成する物質に例えば染料を混合して、電気探査を行なう鉛直断面を第１の実施形態の半分程度にしている点が異なるのでその点を中心に説明する。
【０１３９】
図２１は本発明の第２の実施形態に係る鉛直断面における比抵抗領域の説明図、図２２は本実施形態の異なる方向の鉛直断面における比抵抗領域の説明図及び図２３は本実施形態の比抵抗領域の流れを示す廃棄物処分場の概略平面図である。
【０１４０】
まず、図１に示すように廃棄物処分場２に貯留されている廃棄物表面の所定の位置から鉛直下に掘られた注入井戸２０３を設置する。例えば廃棄物表面から鉛直下に掘られ、遮水シート１０の略矩形の底面１３でその四隅の内の一つの内側付近の保有水１２に届くように廃棄物表面のＢ地点に注入井戸２０３を設置する。
【０１４１】
次に、図１、図３及び図２１に示すように注入井戸２０３のＢ地点から遠い方の遮水シート１０の傾斜面１４ａに向く方向に直交する鉛直断面（図１中のＸＺ平面）１９を注入井戸２０３に近い側から例えばＢ１からＢ５の等間隔、図中のＬ２の間隔であり第１の実施形態の鉛直断面１９の間隔であるＬ１（図6中のＬ１）の略２倍に想定する。そして、Ｂ１の鉛直断面上の測線上に所定の等間隔で複数の電極４を廃棄物表面から３０ｃｍから４０ｃｍの深さで挿し込んで設置し、当該電極４を電極選択装置５に電線等で電気的に接続する。
【０１４２】
その後、保有水１２の電気伝導度と異なる電気伝導度の物質、例えば保有水１２の電気伝導度の１．５倍以上、具体的には塩の濃度が０．１重量％以上であって２０重量％以下で、保有水１２の電気伝導度の１．５倍以上となる染料等が混合された塩水２１８を製造し、Ｂ地点の注入井戸２０３に連続的に投入する（ＳＴ１０１）。
【０１４３】
これにより、注入井戸２０３の下端から保有水１２中に周りの保有水１２より電気伝導度の大きい塩水２１８が入り込み、比抵抗領域１６が保有水中に生成される。このとき例えば遮水シート１０が漏水箇所１５で漏水しているとすると廃棄物処分場２の遮水シート１０の底面上に溜まった保有水１２は、漏水箇所１５に向かって流れることとなる。
【０１４４】
以下、図３に示すＢ１の鉛直断面１９の電位の測定であるＳＴ１０２からＢｎの鉛直断面１９で比抵抗領域１６があると判断されたときであるＳＴ１０８までは、注入井戸３が注入井戸２０３に、塩水１８は染料等が混合された塩水２１８となっている以外は第１の実施形態と略同様なのでその説明を省略する。
【０１４５】
一方、Ｂｎの鉛直断面１９で初めて比抵抗領域１６が存在しないと判断されたとき（ＳＴ１０８）は、例えば図２１に示すＢ４の鉛直断面１９では比抵抗が周りの保有水１２の比抵抗より塩水２１８と同程度に小さく、比抵抗領域１６が存在したが、Ｂ５の鉛直断面では比抵抗領域１６を検出できなかったこととなる。
【０１４６】
このことは、塩水２１８の注入井戸２０３への投入による比抵抗領域１６がＢ５の鉛直断面１９を通過できずその手前で止まってしまったことになり、その原因としてはＢ４の鉛直断面１９とＢ５の鉛直断面１９との間で比抵抗領域１６が漏水箇所１５により外部に漏れ、それより先に該比抵抗領域１６が流れなくなったものと考えることができる。
【０１４７】
以上から、Ｂ４の鉛直断面１９とＢ５の鉛直断面１９との間の領域に遮水シート１０の漏水箇所１５が存在することが予想されることとなり、漏水箇所１５の特定がある程度可能となる。
【０１４８】
次に、図２２に示すようにＳＴ１０２からＳＴ１０８までの鉛直断面１９に対し略直交し、注入井戸２０３に近い側から例えばＣ１及びＣ２の間隔、図中のＭ２の間隔であり第１の実施形態の鉛直断面２３の間隔であるＭ１（図１１中のＭ１）の略２倍に鉛直断面（図中のＹＺ平面）２３を想定する。そして、Ｃ１の鉛直断面上の測線上に所定の等間隔で複数の電極４を廃棄物表面から３０ｃｍから４０ｃｍの深さで挿し込んで設置し、当該電極４を電極選択装置５に電線等で電気的に接続する。
【０１４９】
以下、図３に示すＣ１の鉛直断面２３の電位の測定であるＳＴ１０９からＣｎの鉛直断面１９で比抵抗領域１６があると判断されたときであるＳＴ１１４までは、注入井戸３が注入井戸２０３に、塩水１８は染料等が混合された塩水２１８となっており、鉛直断面２３はＣ１とＣ２との二つしか想定していない以外は第１の実施形態と略同様なのでその説明を省略する。
【０１５０】
一方、Ｃｎの鉛直断面２３で初めて比抵抗領域１６が存在しないと判断されたときは、例えば図２２に示すＣ１の鉛直断面では周りに比較し比抵抗が極めて低く比抵抗領域１６が存在したが、Ｃ２の鉛直断面では周りに比べ極めて低い比抵抗の領域である比抵抗領域１６を検出できなかったときは、Ｃ１の鉛直断面とＣ２の鉛直断面との間の領域に遮水シート１０の漏水箇所１５が存在することが予想されることとなり、ＳＴ１０８での結果と合わせて漏水箇所１５の特定（ＳＴ１１５）が可能となる。
【０１５１】
具体的には図２３に示すようにＳＴ１０８ではＢ４の鉛直断面１９とＢ５の鉛直断面１９との間の範囲内に漏水箇所１５が特定され、更にＳＴ１１４ではＣ１の鉛直断面とＣ２の鉛直断面との間の範囲内に漏水箇所（図２３中の斜線部分）が絞り込まれることとなる。
【０１５２】
次に、例えば図２３の斜線部分のように漏水箇所１５がある程度の広さの領域、第１の実施形態の電気探査法で絞り込まれた領域（例えば図１５の斜線部分）の略４倍の表面積の領域に特定された後、その領域の廃棄物１１を開削して塩水２１８に混合されていた染料等のトレース跡を追跡して具体的な漏水箇所１５を特定する。
【０１５３】
尚、ＳＴ１０８で初めてＢ４の鉛直断面１９に比抵抗領域１６がないと判断され、更にＳＴ１１１でＣ１の鉛直断面２３に比抵抗領域１６がないと判断されたとき、ＳＴ１０４でＢ１の鉛直断面１９に比抵抗領域１６が存在しないと判断されたとき、ＳＴ１０４でＢ１の鉛直断面１９に比抵抗領域１６が存在しないと判断され、ＳＴ１１１でもＣ１の鉛直断面２３に比抵抗領域１６が存在しないと判断されたとき、ＳＴ１０４でＢ１の鉛直断面１９に比抵抗領域１６が存在しないと判断され、ＳＴ１１１でもＣ１の鉛直断面２３に比抵抗領域１６が存在しないと判断され、更にＳＴ１２０でもＤ１の鉛直断面２７に比抵抗領域１６が存在しないと判断されたときの貯留構造物の漏水位置探査方法は、第１の実施形態と鉛直断面１９，２３が夫々略半分の数となっている点を除けば略同様であるのでその説明を省略する。
【０１５４】
以上で廃棄物処分場の漏水位置探査システム２０１を用いた貯留構造物の漏水位置探査方法の説明を終了する。
【０１５５】
このように本実施形態によれば、廃棄物中の保有水１２に投入される塩水２１８は、染料、顔料及び蛍光材のうち少なくとも一つを混合したものであり、隣合う鉛直断面での比抵抗領域の有無による判断等で特定された漏水箇所を含む所定の範囲を開削して当該染料等の流れの跡により具体的に漏水箇所を特定することとしたので、生成された比抵抗領域の有無及びその位置に関する情報から大まかな漏水箇所の範囲を特定し、その範囲の廃棄物を開削して染料、顔料及び蛍光材等の流れの跡から具体的に漏水箇所を特定でき、作業を効率的、経済的にすることが可能となると共に、電気探査のみでは地形等の理由から正確な漏水箇所の特定が難しい場合にも正確に漏水箇所を特定できる。
【０１５６】
（第３の実施形態）
【０１５７】
次に、本発明に係る貯留構造物の漏水位置探査システムの第３の実施形態について説明する。本実施形態においては電磁探査法で漏水位置を探査している点が異なるのでその点を中心に簡単に説明する。尚、第１の実施形態の構成要素と共通する構成要素については、第１の実施形態の構成要素と同一の符号を付しその説明を省略する。
【０１５８】
図２４は本発明の第３の実施形態に係る廃棄物処分場の漏水位置探査システムの概略図である。
【０１５９】
（貯留構造物の漏水位置探査システムの構成）
【０１６０】
貯留構造物としての廃棄物処分場の漏水位置探査システム３０１は、例えば図２４に示すように廃棄物処分場２、その廃棄物処分場２に貯留された廃棄物の保有水中に塩水等の物質を投入するための注入井戸３、その廃棄物処分場２に貯留された例えば廃棄物上でその廃棄物表面に非接触に配置された渦電流発生用の送信ループ３０４、その渦電流を受信する受信ループ３０５、該送信ループ３０４に所定の周波数の交流電流を供給する送信装置３０６、該受信ループ３０５により測定された電流情報に基づき比抵抗領域を検出する検出装置３０７及びその検出装置３０７により検出された情報を出力する出力装置８等から構成されている。
【０１６１】
ここで、送信ループ３０４は例えば図２４に示すように略矩形状の廃棄物表面の一つの辺の内側付近にループ形状に構成されており、送信装置３０６から所定の周波数の送信電流が供給されるように電線等で電気的に接続されている。
【０１６２】
更に受信ループ３０５は、例えば図２４に示すように比抵抗領域を検出する廃棄物の鉛直断面１９と該廃棄物表面との交線である測線２０が丁度送信ループ３０４と当該受信ループ３０５との真ん中（図２４で長さＧ／２となる位置）に来るように配置されている。
【０１６３】
これにより、例えば送信ループ３０４及び受信ループ３０５で所定の距離Ｇを保ちながら図２４中の矢印Ｈ方向（例えば図２４中のＸ軸方向）に傾斜面１４ｄ付近から傾斜面１４ｃ付近まで廃棄物表面に非接触で移動させることにより、図２４中の測線下の鉛直断面１９の所定の深さでの電流情報が受信ループ３０５により検出装置３０７に供給されることとなる。
【０１６４】
次に、送信装置３０６は例えば図２４に示すように電線等で送信ループ３０４に電気的に接続されており、測定深度に合わせ適正な周波数を設定し交流電流を該送信ループ３０４に供給できる。
【０１６５】
また、検出装置３０７は送信装置３０６により周波数を変え検出深度を次の深度に変えて同様に測線２０の端から端まで所定の間隔で測定ポイントの電流情報を受信ループ３０５より受取り、必要に応じ図示しない内部記録装置等に記録する。
【０１６６】
以上の測定、記録を当該鉛直断面１９の全ての測定ポイントで行い、検出装置３０７は、供給、記録された電流情報からその測線２０下の複数の測定ポイントの比抵抗を演算し、例えば保有水１２の比抵抗と予め設定されていた異なる比抵抗の比抵抗領域を検出する。また、必要に応じて他の測線下の鉛直断面１９でも同様に比抵抗領域を検出する。
【０１６７】
更に出力装置８は、検出装置３０７により検出された比抵抗領域に関する情報を例えば画像ディスプレーやプリンター等により出力する。
【０１６８】
尚、上述の説明では複数の測定ポイントとして検出したが連続的に受信ループ３０５から電流情報等を受けて、当該連続した情報として出力装置に出力させてもよい。
【０１６９】
（貯留構造物の漏水位置探査方法）
【０１７０】
次に、以上のように構成された廃棄物処分場の漏水位置探査システム３０１を用いた貯留構造物の漏水位置探査方法については、送信側に送られるのが所定の周波数の交流電流である点や各鉛直断面で測定されるのが電流である点等であることを除けば略第１の実施形態の電気探査法と同様であるので、その説明を省略する。
【０１７１】
このように本実施形態によれば、廃棄物処分場２の凹部９に貯留された廃棄物１１の保有水中に該保有水１２の電気伝導度と異なる電気伝導度の物質、例えば塩水を投入することにより該保有水中に周囲の該保有水１２の比抵抗と異なる比抵抗領域を生成することとしたので、漏水箇所へ向かって移動する当該比抵抗領域を電磁探査法により容易に検出することができ、この比抵抗領域の移動は、その周囲の保有水１２の流れでもあるので結局、貯留構造物の漏水の有無及びその漏水箇所を判断することが可能となり、漏水検知システムの完備していない既存の処分場の漏水の有無及びその位置を容易に判断することができる。
【０１７２】
また、電磁探査法により保有水中の比抵抗を検出することとしたので、大量の電極を必要とせず、低コストでより容易に既存の処分場の漏水の有無及びその位置を判断することができる。
【０１７３】
尚、本発明は上述したいずれの実施形態にも限定されず、本発明の技術思想の範囲内で適宜変更して実施できる。
【０１７４】
例えば上述した実施形態及び変形例では、既存の廃棄物処分場の漏水の有無及びその位置を検出するシステムとして説明したがこれに限られるものではなく、新設の廃棄物処分場例えば漏水の有無及びその位置を検出する設備のある処分場でも勿論用いることができる。これにより、更に漏水の有無及びその位置の検出を正確にすることができる。
【０１７５】
また、上述の実施形態及び変形例では物質である塩水等を注入井戸に連続的に投入するものとして説明したがこれに限られるものではなく、例えば一定の間隔で間欠的に投入してもよい。これにより、よりコストを低減でき環境への影響もより少なくできる。
【０１７６】
更に上述の実施形態及び変形例では、塩水等の投入のための注入井戸の設置場所として１箇所または２箇所として説明したがこれに限られるものではなく、例えば格子状、千鳥状、直列状等に３箇所以上設置してもよい。これにより、探査領域が広くて比抵抗領域が拡散してしまい正確に比抵抗領域を検出できなくなることを防止できる。
【０１７７】
また、上述の実施形態及び変形例では塩水等の投入のための注入井戸の設置場所として２箇所設ける場合は、該２箇所の注入井戸に同時には投入せず夫々１箇所ずつ塩水等を投入して電気探査法等を用いたがこれに限られるものではなく、例えば２箇所或は３箇所以上の設置場所の注入井戸で同時に塩水等を投入し保有水中の比抵抗領域を探索してもよい。これにより、より迅速に漏水の有無、漏水箇所の特定ができる。
【０１７８】
更に上述の実施形態及び変形例では、電気探査法としてダイポール・ダイポール(Dipole-Dipole)法によったがこれに限られるものではなく、例えばウェンナ(Wenner)法やエルトラン法等と組み合わせたものであってもよい。また、電磁探査法として地上電磁探査を説明したがこれに限られるものではなく空中電磁探査法であってもよい。これにより、地上電磁探査による受信データにノイズが含まれやすいという点を改善することができ、より均質なデータを得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【０１７９】
【図１】本発明の第１の実施形態に係る廃棄物処分場の漏水位置探査システムの概略図である。
【図２】本発明の第１の実施形態に係る側線下の鉛直断面の電気探査の説明図である。
【図３】本発明の第１の実施形態に係る貯留構造物の漏水位置探査方法のフローチャートである。
【図４】本発明の第１の実施形態に係る塩水の投入状態の説明図である。
【図５】本発明の第１の実施形態に係る比抵抗領域が流れる状態の説明図である。
【図６】本発明の第１の実施形態に係る電気探査を行う複数の鉛直断面の説明図である。
【図７】本発明の第１の実施形態に係るＢ１鉛直断面における比抵抗領域の説明図である。
【図８】本発明の第１の実施形態に係るＢ７鉛直断面における比抵抗領域の説明図である。
【図９】本発明の第１の実施形態に係る初めて比抵抗領域が出現しないＢ８鉛直断面の説明図である。
【図１０】本発明の第１の実施形態に係る鉛直断面が異なる方向（ＹＺ平面）場合の廃棄物処分場の漏水位置探査システムの概略図である。
【図１１】本発明の第１の実施形態に係る異なる方向の鉛直断面における比抵抗領域の説明図である。
【図１２】本発明の第１の実施形態に係るＣ１鉛直断面における比抵抗領域の説明図である。
【図１３】本発明の第１の実施形態に係るＣ２における比抵抗領域の説明図である。
【図１４】本発明の第１の実施形態に係るＣ３鉛直断面における比抵抗領域の説明図である。
【図１５】本発明の第１の実施形態に係る比抵抗領域の流れを示す廃棄物処分場の概略平面図である。
【図１６】図１５と漏水箇所が異なる場合の説明図である。
【図１７】図１５及び図１６と漏水箇所が異なる場合の説明図である。
【図１８】本発明の第１の実施形態に係る漏水箇所が注入井戸の近くにある場合の説明図である。
【図１９】本発明の第１の実施形態に係る注入井戸の設置場所を変えた場合の説明図である。
【図２０】変形例１の廃棄物処分場の漏水位置探査システムの概略図である。
【図２１】本発明の第２の実施形態に係る鉛直断面における比抵抗領域の説明図である。
【図２２】本発明の第２の実施形態に係る異なる方向の鉛直断面における比抵抗領域の説明図である。
【図２３】本発明の第２の実施形態に係る比抵抗領域の流れを示す廃棄物処分場の概略平面図である。
【図２４】本発明の第３の実施形態に係る廃棄物処分場の漏水位置探査システムの概略図である。
【符号の説明】
【０１８０】
１，１０１，２０１，３０１ 廃棄物処分場の漏水位置探査システム、 ２ 廃棄物処分場、 ３，２０３ 注入井戸、 ４ 電極、 ５ 電極選択装置、 ６ 電源装置、 ７，３０７ 検出装置、 ８，１０８ 出力装置、 ９ 凹部、 １０ 遮水シート、 １１ 廃棄物、 １２ 保有水、 １３ 底面、 １４ａ，１４ｂ，１４ｃ，１４ｄ 傾斜面、 １５，２４，２５，２６ 漏水箇所、 １６ 比抵抗領域、 １７ 流路、 １８，２１８ 塩水、 １９，２３，２７ 鉛直断面、 ２０ 測線、 ２１ａ，２１ｂ 電流電極、 ２２ａ，２２ｂ 電位電極、 １３１ 判断装置、 ３０４ 送信ループ、 ３０５ 受信ループ、 ３０６ 送信装置
【技術分野】
【０００１】
本発明は、廃棄物を貯留する貯留構造物、特に最終処分場の貯留構造物の漏水位置探査システム及び貯留構造物の漏水位置探査方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、廃棄物を貯留する貯留構造物、例えば最終処分場等においては浸出水が漏水しないように処分場の底や斜面等に遮水工が施され、その遮水工の一般的なものとして遮水シートがあった。
【０００３】
ところが、その遮水シートも長期間の使用により、自然劣化やゆがみによる応力発生、外力付加等による破損が生じることがあり、かかる破損箇所から浸出水が漏水し、重大な環境破壊となるおそれがあった。
【０００４】
そこで、浸出水の漏水の発見及びその漏水箇所の特定を速やかに行える提案がされている（例えば、特許文献１参照。）。
【特許文献１】特開平１０−１０９３７５号公報（段落[０００７]から[００１３]、図１）。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら上述の提案により浸出水の漏水の発見及びその漏水箇所の特定を速やかに行えるようになったが、例えば最終処分場の施工時に予め上述したような遮水シートを処分場の底や斜面に敷設しなければならず、既存の最終処分場でそのような設備がない場合に浸出水の漏水の発見及びその漏水箇所の特定を速やかに、かつ、確実に行えないという問題があった。
【０００６】
本発明は、上述の課題に鑑みてなされるもので、遮水工に特別な設備がなくても遮水工の漏水の有無及びその漏水位置の特定が、容易、かつ、確実に可能となる貯留構造物の漏水位置探査システム及び貯留構造物の漏水位置探査方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記目的を達成するために、本発明の主たる観点に係る貯留構造物の漏水位置探査システムは、廃棄物を貯留する凹部と該凹部表面に設けられた遮水工とを有する貯留構造物の漏水位置探査システムにおいて、前記廃棄物の保有水の電気伝導度と異なる電気伝導度の物質を投入して生成された前記保有水の比抵抗と異なる比抵抗領域を、電気探査法または電磁探査法で得られる、前記廃棄物表面の測線から前記遮水工までの鉛直断面での電気的情報に基づき検出可能な検出手段と、前記検出手段により検出された前記比抵抗領域に関する情報を出力する出力手段とを具備することを特徴とする。
【０００８】
ここで、「測線」とは、例えば電気探査法であれば電極が一直線上に並んで配置されている当該直線のことであり、電磁探査法であれば例えば送信ループと受信ループとの中間の測定ポイントを結んだ直線等をいう。また、「電気的情報」とは、例えば電気探査法であれば電位情報であり、電磁探査法であれば電流情報等をいう。
【０００９】
本発明は、廃棄物の保有水中にその保有水の電気伝導度と異なる電気伝導度を有する物質例えば塩水を投入することで周りの比抵抗と異なる比抵抗領域を生成し、この比抵抗領域を一種の電気的マーカーとして廃棄物表面の測線から遮水工までの鉛直断面での該比抵抗領域を検出可能な検出手段を具備することとしたので、当該被抵抗領域に関する情報により漏水検知システムの完備していない既存の処分場の漏水及びその位置を容易に知ることが可能となる。
【００１０】
本発明の一の形態によれば、前記測線は、前記廃棄物表面に複数有するものであることを特徴とする。これにより、比抵抗領域を検出する鉛直断面を複数設定して検出装置により夫々の鉛直断面の当該比抵抗領域を検出でき、その情報に基づき該比抵抗領域が移動しているのか否か、更には移動しているとしてどこに移動しているのかを判断することが可能となる。この比抵抗領域の移動は、その周囲の保有水の流れでもあるので結局、貯留構造物の漏水の有無及びその漏水箇所を判断することが可能となる。
【００１１】
本発明の一の形態によれば、前記複数の測線は、異なる方向の測線を有することを特徴とする。これにより、２方向から該比抵抗領域の移動に関する情報を得ることが可能となり、より該比抵抗領域が移動しているのか否か、更には移動しているとしてどこに移動しているのかの正確な判断をすることが可能となる。
【００１２】
本発明の一の形態によれば、前記電気的情報は、前記物質を前記廃棄物表面上の少なくとも二つの地点から前記保有水中に投入して夫々測定したものであることを特徴とする。これにより、一の投入地点のすぐそばに遮水工の漏水箇所が在って廃棄物表面の測線から遮水工までの鉛直断面での比抵抗領域を検出できない場合でも、その他の投入地点での該物質の投入により生成された比抵抗領域を検出することが可能となり、より正確な該比抵抗領域を検出することができる。
【００１３】
本発明の一の形態によれば、前記物質は、前記保有水の電気伝導度の１．５倍以上であることを特徴とする。これにより、保有水中に生成された比抵抗領域を周りの保有水と区別でき検出手段で検出できる。より好ましくは、周りの保有水の電気伝導度の５倍以上であり、これにより更に明確に比抵抗領域を特定できる。
【００１４】
本発明の一の形態によれば、前記物質は、塩の濃度が０．１重量％以上であって２０重量％以下の塩水であり、前記保有水の電気伝導度の１．５倍以上であることを特徴とする。これにより、保有水の電気伝導度の１．５倍以上となるように０．１重量％以上２０重量％以下で塩水を適宜選択して用いることができ、塩水等の物質を環境中に無用に流出させることなく保有水中に生成された領域を明確に周りの保有水と区別することが可能となる。
【００１５】
本発明の一の形態によれば、前記物質の投入は、連続的に投入するものであることを特徴とする。これにより、例えば高電気伝導度の物質の投入により生成された比抵抗領域の移動を遮水工の漏水箇所まで一つの流路とすることができ、より精査に各鉛直断面で該比抵抗領域を検出することができる。
【００１６】
本発明の一の形態によれば、前記電気的情報に基づき前記検出手段により検出された情報を演算処理し、前記遮水工の漏水の有無及びその漏水箇所を判断する判断手段を更に具備することを特徴とする。これにより、電気的情報の収集からその分析まで一貫したシステムとすることができ、より漏水の有無及びその漏水箇所の判断が容易かつ迅速となる。
【００１７】
本発明の一の形態によれば、前記判断手段は、少なくとも前記保有水への前記物質の投入位置と異なる一つの前記鉛直断面で前記比抵抗領域が検出された場合に前記遮水工に漏水が有ると判断することを特徴とする。これにより、比抵抗領域が漏水箇所に移動していると判断することが可能となり、より容易かつ迅速に漏水の有無の判断ができる。
【００１８】
本発明の一の形態によれば、前記判断手段は、前記遮水工に漏水が有ると判断した場合に二つの隣り合う前記鉛直断面の一の鉛直断面には前記比抵抗領域が検出され、他の鉛直断面には前記比抵抗領域が検出されない場合に該隣り合う鉛直断面間に前記遮水工の漏水箇所が存在すると判断することを特徴とする。これにより、比抵抗領域が一の鉛直断面と他の鉛直断面との間で漏水により消滅したものと判断でき、より容易かつ迅速に漏水箇所の判断が可能となる。
【００１９】
本発明の一の形態によれば、前記物質は、染料、顔料及び蛍光材のうち少なくとも一つを混合したものであることを特徴とする。これにより、生成された比抵抗領域に関する情報から大まかな漏水箇所の範囲を特定し、その範囲の廃棄物を開削して染料、顔料及び蛍光材等の流れの跡から具体的に漏水箇所と特定できるので、作業を効率的にすることができると共に地形等の理由から正確な漏水箇所の特定が難しい場合にも正確に漏水箇所を特定できる。
【００２０】
本発明の他の観点に係る貯留構造物の漏水位置探査方法は、廃棄物を貯留する凹部と該凹部表面に設けられた遮水工とを有する貯留構造物の漏水位置探査方法において、前記凹部に貯留された前記廃棄物の保有水中に、該保有水の電気伝導度と異なる電気伝導度の物質を投入することにより、該保有水中に周囲の該保有水の比抵抗と異なる比抵抗領域を生成するステップと、前記廃棄物表面上の複数の測線から前記遮水工までの複数の鉛直断面における前記比抵抗領域を電気探査法または電磁探査法により探査するステップと、前記探査により得られた前記比抵抗領域に関する情報を出力するステップとを具備することを特徴とする。
【００２１】
本発明は、凹部に貯留された廃棄物の保有水中に該保有水の電気伝導度と異なる電気伝導度の物質を投入することにより該保有水中に周囲の該保有水の比抵抗と異なる比抵抗領域を生成することとしたので、漏水箇所へ向かって移動する当該比抵抗領域を電気探査法や電磁探査法等により容易に検出することができ、この比抵抗領域の移動は、その周囲の保有水の流れでもあるので結局、貯留構造物の漏水の有無及びその漏水箇所を判断することが可能となり、漏水検知システムの完備していない既存の処分場の漏水の有無及びその位置を容易に判断することができる。
【００２２】
本発明の一の形態によれば、前記探査の結果に基づき、少なくとも前記保有水への前記物質の投入位置と異なる一つの前記鉛直断面で前記比抵抗領域が検出された場合に、前記遮水工に漏水が有ると判断する第１の判断のステップを更に具備することを特徴とする。これにより、比抵抗領域が漏水箇所に移動していると判断することが可能となり、より容易かつ迅速に漏水の有無の判断ができる。
【００２３】
本発明の一の形態によれば、前記第１の判断により前記遮水工に漏水が有ると判断された場合に、二つの隣り合う前記鉛直断面の一の鉛直断面には前記比抵抗領域が検出され、他の鉛直断面には前記比抵抗領域が検出されない場合に、該隣り合う鉛直断面間に前記遮水工の漏水箇所が存在すると判断する第２の判断のステップを更に具備することを特徴とする。これにより、比抵抗領域が一の鉛直断面と他の鉛直断面との間で漏水により消滅したものと判断でき、より容易かつ迅速に漏水箇所の判断が可能となる。
【００２４】
本発明の一の形態によれば、前記複数の測線は、異なる方向の測線を有することを特徴とする。これにより、２方向から該比抵抗領域の移動に関する情報を得ることが可能となり、より該比抵抗領域が移動しているのか否か、更には移動しているとしてどこに移動しているのかの正確な判断をすることが可能となる。
【００２５】
本発明の一の形態によれば、前記探査は、前記物質を前記廃棄物表面上の少なくとも二つの地点から前記保有水中に投入して夫々探査するものであることを特徴とする。これにより、一の投入地点のすぐそばに遮水工の漏水箇所が在って廃棄物表面の測線から遮水工までの鉛直断面での比抵抗領域を検出できない場合でも、その他の投入地点での該物質の投入により生成された比抵抗領域を検出することが可能となり、より正確な該比抵抗領域を検出することができる。
【００２６】
本発明の一の形態によれば、前記物質は、前記保有水の電気伝導度の１．５倍以上であることを特徴とする。これにより、保有水中に生成された比抵抗領域を周りの保有水と区別でき検出可能となる。より好ましくは、周りの保有水の電気伝導度の５倍以上であり、これにより更に明確に比抵抗領域を特定できる。
【００２７】
本発明の一の形態によれば、前記物質は、塩の濃度が０．１重量％以上であって２０重量％以下の塩水であり、前記保有水の電気伝導度の１．５倍以上であることを特徴とする。これにより、保有水の電気伝導度の１．５倍以上となるように０．１重量％以上２０重量％以下で塩水を適宜選択して用いることができ、有害な物質を環境中に流出させることなく保有水中に生成された領域を明確に周りの保有水と区別することが可能となる。
【００２８】
本発明の一の形態によれば、前記物質の投入は、連続的に投入するものであることを特徴とする。これにより、例えば高電気伝導度の物質の投入により生成された比抵抗領域を遮水工の漏水箇所まで一つの流路とすることができ、より精査に各鉛直断面で該比抵抗領域を検出することができる。
【００２９】
本発明の一の形態によれば、前記物質は、染料、顔料及び蛍光材のうち少なくとも一つを混合したものであることを特徴とする。これにより、電気探査等が不十分な場合も廃棄物を開削して染料、顔料及び蛍光材等の流れの跡から具体的に漏水箇所を特定できる。
【００３０】
本発明の一の形態によれば、前記物質は、染料、顔料及び蛍光材のうち少なくとも一つを混合したものであり、前記第２の判断による前記漏水箇所を含む所定の範囲を開削して前記染料、顔料及び蛍光材のうち少なくとも一つの前記比抵抗領域の流れの跡により前記漏水箇所を特定するステップを更に具備することを特徴とする。これにより、生成された比抵抗領域に関する情報から大まかな漏水箇所の範囲を特定し、その範囲の廃棄物を開削して染料、顔料及び蛍光材等の流れの跡から具体的に漏水箇所と特定できるので、作業を効率的にすることができると共に地形等の理由から電気探査法等では正確な漏水箇所の特定が難しい場合にもより正確に漏水箇所を特定できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３１】
以下、本発明の実施形態を図面に基づき説明する。なお、以下実施形態を説明するにあたっては、貯留構造物の漏水位置探査システムとして電気探査法を用いた廃棄物処分場の漏水位置探査システムを中心に説明するが、これに限られるものではない。また、以下の図面においては各構成をわかりやすくするために、実際の構造と各構造における縮尺や数等が異なっている。
【００３２】
（第１の実施形態）
【００３３】
図１は本発明の第１の実施形態に係る廃棄物処分場の漏水位置探査システムの概略図及び図２は測線下の鉛直断面の電気探査の説明図である。
【００３４】
（貯留構造物の漏水位置探査システムの構成）
【００３５】
貯留構造物としての廃棄物処分場の漏水位置探査システム１は、例えば図１に示すように廃棄物処分場２、その廃棄物処分場２に貯留された廃棄物の保有水中に後述する物質を投入するための注入井戸３、その廃棄物処分場２に貯留された廃棄物表面下に配置された複数の電極４、その複数の電極４から後述する電流電極及び電位電極を夫々選択する電極選択装置５、その電流電極に所定の信号電流を供給する電源装置６、その電位電極により測定された電気的情報としての電位情報に基づき後述する比抵抗領域を検出する検出手段としての検出装置７及びその検出装置７により検出された情報を出力する出力手段としての出力装置８等から構成されている。
【００３６】
また、廃棄物処分場２は例えば図１に示すように四方が傾斜壁で囲まれ略平らな底部を有する凹部９、その凹部表面に設けられた遮水工としての遮水シート１０、その遮水シート１０内に貯留された廃棄物１１、その廃棄物１１の底近く例えば凹形状の遮水シート１０の底部付近に溜まっている保有水１２等を有する。
【００３７】
ここで、凹部９は丘陵地帯等を所定の深さ及び形状、例えば図１に示すように上方の開口部より底部の面積が小さい略台形状に造成されており、底部は略矩形に形成されている。また、凹部９は該底部の４辺から夫々外側に傾斜する４つの傾斜壁を有し、底部及び４つの傾斜壁表面には遮水シート１０が配置されている。勿論、凹部９は上述の形状に限られるものではなく、例えば底部が矩形状ではなく円形や三角形状等であってもよい。
【００３８】
また、遮水シート１０は例えば合成ゴム系・合成樹脂系、アスファルト系及びベントナイト系等あり、合成ゴム系・合成樹脂系であれば高弾性タイプの高密度ポリエチレン等や繊維補強タイプ、低弾性タイプ及び中弾性タイプ等が用いられており、当該遮水シート１０により廃棄物１１からの保有水等が廃棄物処分場２から漏れ出して地下の土壌や地下水を汚染することを防止するものである。
【００３９】
更に遮水シート１０は凹部９の底部表面に底面１３と、凹部９の４つの傾斜側壁の表面に夫々傾斜面１４ａ，１４ｂ，１４ｃ，１４ｄとが連続的に形成されている。
【００４０】
また、廃棄物１１は図１に示すように遮水シート１０で覆われた凹部９内に貯留されており、廃棄物としては産業廃棄物や不燃ごみ等がある。
【００４１】
更に保有水１２には、例えば図１に示すように遮水シート１０に漏水箇所１５が存在するときは、後述する注入井戸３から保有水１２中に投入された物質により該保有水１２中に生成される比抵抗領域１６が移動する流路１７等が形成される。
【００４２】
尚、保有水１２の電気伝導度は、例えば自治体の処分場では５００〜５０００μＳ／ｃｍ程度であるが、産業廃棄物関係では３００００μＳ／ｃｍとなることもある。更に保有水１２は、例えば底の遮水シート１０の表面から約３０ｃｍ以上の高さに溜まっていることが好ましい。これにより、比抵抗領域１６の流路１７をより明確に形成させることができる。必要があれば廃棄物表面から水を投入することにより必要な保有水１２を確保する。尚、約３０ｃｍ以上としたのは、３０ｃｍより高さが低いと十分な水圧が得られず比抵抗領域１６の流路１７をより明確に形成できないおそれがあるためである。
【００４３】
次に、注入井戸３は例えば廃棄物１１の表面から保有水１２に届くぐらいの深さに設けてあり、この注入井戸３を用いて保有水１２の電気伝導度と異なる電気伝導度の物質、例えば保有水１２の電気伝導度の１．５倍以上の電気伝導度を持つ物質を当該保有水１２中に投入することができる。
【００４４】
ここで、当該物質の電気伝導度を保有水１２の電気伝導度の１．５倍以上とした理由は、保有水１２の１．５倍より小さいと比抵抗領域１６が周囲の保有水１２から区別化し難くなるからである。より好ましくは５倍以上あることが好ましい。これにより、より正確に比抵抗領域の有無及びその位置を特定できる。
【００４５】
また、当該物質としては具体的には、例えば塩の濃度が０．１重量％以上であって２０重量％以下の塩水１８あり、保有水１２の電気伝導度の１．５倍以上となるものである。勿論より好ましくは、この場合も保有水１２の電気伝導度の５倍以上あることが好ましい。
【００４６】
ここで、塩の濃度を０．１重量％以上の塩水１８とした理由は、当該物質は保有水１２の電気伝導度とリンクするので、保有水１２の電気伝導度が一番小さい５００μＳ／ｃｍであればその２倍以上の電気伝導度の差とするには約１０００μＳ／ｃｍ以上必要となり、塩水濃度としては１０００μＳ／ｃｍであるためには０．１重量％必要となるためである。
【００４７】
勿論、一番大きい３００００μＳ／ｃｍであればその２倍以上の電気伝導度の差とするには、投入する当該物質の電気伝導度は約６００００μＳ／ｃｍ以上となり、塩水濃度としては６重量％以上必要となる。
【００４８】
また、塩の濃度を２０重量％以下の塩水１８とした理由は、上述したように電気伝導度が約６００００μＳ／ｃｍ以上必要となる場合もあることと、自然界への負担をより少なくしてより比抵抗領域を正確に特定するために種々の状況を考慮し、最大２０重量％までとしたものである。なお、より好ましくは塩の濃度が０．１重量％以上であって１０重量％以下の塩水１８が好ましい。１０重量％あれば上述の約６００００μＳ／ｃｍ以上必要となる場合にも対応でき、かつ、より低コストで自然界への負担も軽減できるからである。
【００４９】
尚、物質は上述に限られるものではなく、例えば保有水１２の電気伝導度が高い場合は逆に電気伝導度の低いものを用いるとよい。これにより、より多種多様な廃棄物及び保有水に対応できる。
【００５０】
また、複数の電極４は例えば比抵抗領域を検出する廃棄物の鉛直断面１９と該廃棄物表面との交線である測線２０上に等間隔に配置されており、例えば金属（ステンレス等）製の棒を用い、その打ち込み深さは例えば３０ｃｍから４０ｃｍである。
【００５１】
また、電極４は夫々電極選択装置５に電線等により電気的に接続されており、ダイポール・ダイポール（Dipole-Dipole）法による場合は、当該電極４の内の隣合う２本の電極４を保有水１２を含む廃棄物１１に所定の電流を流す電流電極２１ａ，２１ｂと、他の隣合う２本の電極４をその電流電極２１ａ，２１ｂによる電位分布を測定する電位電極２２ａ，２２ｂとして該電極選択装置５により選択される。
【００５２】
更に電極選択装置５により選択された電流電極２１ａ，２１ｂは夫々電源装置６に電気的に接続され、電位電極２２ａ，２２ｂは夫々検出装置７に電気的に接続される。これにより、電流電極２１ａ，２１ｂには該電源装置６から所定の信号電流が供給され、電位電極２２ａ，２２ｂからは検出装置７に所定の電位情報が供給される。
【００５３】
次に、電極選択装置５は電線等により電気的接続された複数の電極４から電流電極２１ａ，２１ｂ及び電位電極２２ａ，２２ｂを選択するもので、例えば予め入力された情報に基づき図２に示すようにＸ軸方向で一番左端にあるＡ１，Ａ２の電極を２本の電流電極２１ａ，２１ｂとして選択し、Ａ３，Ａ４の電極４を２本の電位電極２２ａ，２２ｂとして選択する。これにより、電極Ａ１，Ａ２から所定の電流が廃棄物１１中に流され、それにより生成された電場による電位電極間の電位情報が電位電極２２ａ，２２ｂから電極選択装置５を介して検出装置７に供給される。
【００５４】
以下同様に、電極選択装置５はＡ１，Ａ２の電極を２本の電流電極２１ａ，２１ｂとして選択し、２本の電位電極２２ａ，２２ｂとして電極を一本ずつ右側にずらして例えば電極Ａ４，Ａ５からＡ１４，Ａ１５まで選択し、夫々の電位電極間の電位情報を検出装置７に供給する。
【００５５】
更に電極選択装置５は、例えば図２の電極Ａ１４，Ａ１５まで終了したときは電流電極２１ａ，２１ｂとしてＡ２，Ａ３を選択し、電位電極２２ａ，２２ｂとしてＡ４，Ａ５からＡ１５，Ａ１６間での電極４を選択し、夫々の電極間の電位情報を検出装置７に供給する。
【００５６】
以上の選択を電極選択装置５は、電流電極２１ａ，２１ｂとしてＡ２５，Ａ２６の電極を選択し、電位電極２２ａ，２２ｂとしてＡ２７，Ａ２８（図２中一番右端の電極）の電極を選択するまで続けることとなる。
【００５７】
次に、電源装置６は例えば図１に示すように電極選択装置５を介して電流電極２１ａ，２１ｂが電気的に接続されており、該電流電極２１ａ，２１ｂに所定の定電流例えば１００ｍＡを供給する。
【００５８】
また、検出装置７は電線等により電極選択装置５を介して電位電極２２ａ，２２ｂに電気的に接続されており、所定の電流電極及び電位電極の配置における当該電位電極２２ａ，２２ｂ間の電位情報が供給される。
【００５９】
これにより、検出装置７は電極選択装置５により例えば図２に示すように電流電極２１ａ，２１ｂとして電極Ａ１，Ａ２が選択され、電位電極２２ａ，２２ｂとして電極Ａ３，Ａ４が選択されたときの図２中のＰ１での見掛比抵抗（ρ）をρ＝πａｎ（ｎ＋１）（ｎ＋２）Ｖ／Ｉの式により導き出す。ここで、ρは見掛比抵抗（Ω・ｍ）、ａは電極間隔（ｍ）、ｎは離隔係数、Ｖは測定電位（ｍＶ）及びＩは電流値（ｍＡ）である。
【００６０】
同様に、図２中のＰ２からＰ１２を含め測線２０下の鉛直断面１９中の所定の箇所の見掛比抵抗が導かれる。これにより、保有水１２の比抵抗と予め設定されていた異なる比抵抗の比抵抗領域を探索し検出する。
【００６１】
更に出力装置８は、検出装置７により検出された比抵抗領域に関する情報として例えば比抵抗領域の有無及や該比抵抗領域が存在する場合にその鉛直断面中の位置に関する情報等を画像ディスプレーやプリンター等により出力する。
【００６２】
（貯留構造物の漏水位置探査方法）
【００６３】
次に、以上のように構成された廃棄物処分場の漏水位置探査システム１を用いた貯留構造物の漏水位置探査方法について説明する。
【００６４】
図３は貯留構造物の漏水位置探査方法のフローチャート、図４は塩水の投入状態の説明図、図５は比抵抗領域が流れる状態の説明図、図６は電気探査を行う複数の鉛直断面の説明図、図７はＢ１鉛直断面における比抵抗領域の説明図、図８はＢ７鉛直断面における比抵抗領域の説明図、図９は初めて比抵抗領域が出現しないＢ８鉛直断面の説明図、図１０は鉛直断面が異なる方向（ＹＺ平面）場合の廃棄物処分場の漏水位置探査システムの概略図、図１１は異なる方向の鉛直断面における比抵抗領域の説明図、図１２はＣ１鉛直断面における比抵抗領域の説明図、図１３はＣ２における比抵抗領域の説明図、図１４はＣ３鉛直断面における比抵抗領域の説明図、図１５は比抵抗領域の流れを示す廃棄物処分場の概略平面図、図１６は図１５と漏水箇所が異なる場合の説明図、図１７は図１５及び図１６と漏水箇所が異なる場合の説明図、図１８は漏水箇所が注入井戸の近くにある場合の説明図及び図１９は注入井戸の設置場所を変えた場合の説明図である。
【００６５】
まず、図１に示すように廃棄物処分場２に貯留されている廃棄物表面の所定の位置から鉛直下に掘られた注入井戸３を設置する。例えば廃棄物表面から鉛直下に掘られ、遮水シート１０の略矩形の底面１３でその四隅の内の一つの内側付近の保有水１２に届くように廃棄物表面のＢ地点に注入井戸３を設置する。
【００６６】
次に、図１及び図６に示すように注入井戸３のＢ地点から遠い方の遮水シート１０の傾斜面１４ａに向く方向に直交する鉛直断面（図１中のＸＺ平面）１９を注入井戸３に近い側から例えばＢ１からＢ９の等間隔に想定する。そして、Ｂ１の鉛直断面上の測線上に所定の等間隔で複数の電極４を廃棄物表面から３０ｃｍから４０ｃｍの深さに挿し込んで設置し、当該電極４を電極選択装置５に電線等で電気的に接続する。
【００６７】
その後、保有水１２の電気伝導度と異なる電気伝導度の物質、例えば保有水１２の電気伝導度の１．５倍以上、具体的には塩の濃度が０．１重量％以上であって２０重量％以下の塩水であり、保有水１２の電気伝導度の１．５倍以上となる塩水１８を製造し、図４及び図５に示すようにＢ地点の注入井戸３に連続的に投入する（ＳＴ１０１）。例えば保有水１２の電気伝導度が２５００μＳ／ｃｍであれば塩の濃度は０．５重量％となる。
【００６８】
これにより、図４に示すように注入井戸３の下端から保有水１２中に周りの保有水１２より電気伝導度の大きい塩水１８が入り込み、比抵抗領域１６が保有水中に生成される。このとき例えば遮水シート１０が漏水箇所１５で漏水しているとすると廃棄物処分場２の遮水シート１０の底面上に溜まった保有水１２は、図４に示す矢印Ｅのように漏水箇所１５に向かって流れることとなる。
【００６９】
また、保有水中に入り込んだ塩水１８による比抵抗領域１６は周りの保有水１２の流れに導かれ、例えば図５に示すように漏水箇所１５に向かう流路１７を形成することとなる。
【００７０】
次に、電極選択装置５に例えば電流電極２１ａ，２１ｂとして図２に示すようにＡ１，Ａ２を、電位電極２２ａ，２２ｂとしてＡ３，Ａ４を選択させて、電源装置６から所定の定電流例えば１００ｍＡを電極Ａ１，Ａ２に供給させる。このときの電位電極２２ａ，２２ｂにより得られる電位情報が電極選択装置５を介して検出装置７に供給され（ＳＴ１０２）、検出装置７は例えば図２のＰ１の位置情報とその位置における見掛比抵抗（ρ）等から比抵抗を算出し、図示しない内部記録装置にそのデータを記録する（ＳＴ１０３）。
【００７１】
以下、電極選択装置５により電流電極２１ａ，２１ｂ及び電位電極２２ａ，２２ｂを選択させ図２に示すＢ１の鉛直断面の他のＰ２等の電位情報を検出装置７に供給し、該検出装置７は位置情報とその位置における見掛比抵抗（ρ）等から比抵抗を算出し、そのデータを記録する。
【００７２】
更にＢ１の鉛直断面の全ての比抵抗のデータを出力装置８により画像データ等にして出力させ、その中に注入井戸３から注入された塩水１８による比抵抗領域１６に該当するものがあるか判断する（ＳＴ１０４）。例えば図７に示すように保有水１２の中でＰ２１が周りの比抵抗より異常に小さい場合、例えば投入した塩水１８の比抵抗程度であれば当該Ｐ２１の領域を注入井戸３から投入された塩水１８による比抵抗領域１６と判断し、当該鉛直断面に比抵抗領域１６があると判断し、保有水中にそのような塩水１８の比抵抗程度の領域がなければ当該鉛直断面に比抵抗領域１６がないと判断する。
【００７３】
ここで、比抵抗領域１６があると判断されたときは例えば注入井戸３の下端に生成された比抵抗領域１６が図６のＢ１の鉛直断面１９にも存在することとなり、当該比抵抗領域１６が移動したこと、すなわち当該保有水１２に流れがあることとなる。また、保有水１２の流れは遮水シート１０のどこかに漏水箇所１５があってそこに向かって流れることを意味することになり、結局、遮光シートには漏水箇所があることとなる（ＳＴ１０５）。
【００７４】
更にＳＴ１０５で漏水有りと判断されたときは、Ｂ１と同様にＢ２等のＢｎの鉛直断面１９で電位を測定し（ＳＴ１０６）、その鉛直断面１９の比抵抗を算出し記録する（ＳＴ１０７）。そして、Ｂｎの鉛直断面１９で比抵抗領域１６があると判断されたときは、図３に示すようにＳＴ１０５の後に戻り次の鉛直断面１９の電位を測定し、その鉛直断面１９の比抵抗を算出し記録する。これを鉛直断面１９で最初に当該比抵抗領域１６が当該鉛直断面から存在しなくなるまで遮水シート１０の傾斜面１４ａに向かって次々に各鉛直断面の測線上に電極４を配置し直し夫々の測線下の鉛直断面１９の電位を測定し、比抵抗を算出し、記録する。
【００７５】
一方、Ｂｎの鉛直断面１９で初めて比抵抗領域１６が存在しないと判断されたとき（ＳＴ１０８）は、例えば図６に示すＢ７の鉛直断面１９では図８に示すようにＰ２６での比抵抗が周りの保有水１２の比抵抗（図中のＰ２７，Ｐ２８等）より塩水１８と同程度に小さく、比抵抗領域１６が存在したが、Ｂ８の鉛直断面では図９に示すように比抵抗領域１６を検出できなかったこととなる。
【００７６】
このことは、塩水１８の注入井戸３への投入による比抵抗領域１６がＢ８の鉛直断面１９を通過できずその手前で止まってしまったことになり、その原因としてはＢ７の鉛直断面１９とＢ８の鉛直断面１９との間で比抵抗領域１６が漏水箇所１５により外部に漏れ、それより先に該比抵抗領域１６が流れなくなったものと考えることができる。
【００７７】
以上から、Ｂ７の鉛直断面１９とＢ８の鉛直断面１９との間の領域に遮水シート１０の漏水箇所１５が存在することが予想されることとなり、漏水箇所１５の特定がある程度可能となる。
【００７８】
次に、図１０及び図１１に示すようにＳＴ１０２からＳＴ１０８までの鉛直断面１９に対し略直交し、注入井戸３に近い側から例えばＣ１からＣ４の等間隔に鉛直断面（図中のＹＺ平面）２３を想定する。そして、Ｃ１の鉛直断面上の測線上に所定の等間隔で複数の電極４を廃棄物表面から例えば３０ｃｍから４０ｃｍの深さで挿し込んで設置し、当該電極４を電極選択装置５に電線等で電気的に接続する。
【００７９】
その後、保有水１２に注入井戸３から塩水１８を連続的に投入し、電極選択装置５に例えば複数の電極から所定の電流電極２１ａ，２１ｂ及び電位電極２２ａ，２２ｂを選択させて電源装置６から例えば１００ｍＡの定電流を電流電極２１ａ，２１ｂに供給する。このとき電位電極２２ａ，２２ｂにより得られる電位情報が電極選択装置５を介して検出装置７に供給され（ＳＴ１０９）、検出装置７は該鉛直断面２３の所定の位置の位置情報とその位置における見掛比抵抗（ρ）等から比抵抗を算出し、内部記録装置にそのデータを記録する（ＳＴ１１０）。
【００８０】
以下、電極選択装置５により電流電極２１ａ，２１ｂ及び電位電極２２ａ，２２ｂを選択させ図１１に示すＣ１の鉛直断面２３の他の位置の電位情報を検出装置７に供給し、該検出装置７は位置情報とその位置における見掛比抵抗（ρ）等から比抵抗を算出し、そのデータを記録する。
【００８１】
更にＣ１の鉛直断面の全ての比抵抗のデータを出力装置８により画像データ等にして出力させ、その中に注入井戸３から注入された塩水１８による比抵抗領域１６に該当するものがあるか判断する（ＳＴ１１１）。例えば図１２に示すように保有水１２の中でＰ３１がその周りの比抵抗（Ｐ３２，Ｐ３３等）より異常に小さい場合、例えば投入した塩水１８の比抵抗程度であれば当該Ｐ３１の領域をＢ地点の注入井戸３から投入された塩水１８による比抵抗領域１６と判断し、当該鉛直断面２３に比抵抗領域があると判断し、保有水中にそのような塩水１８の比抵抗程度の領域がなければ当該鉛直断面２３に比抵抗領域１６がないと判断する。
【００８２】
また、ＳＴ１１１で比抵抗領域有りと判断されたときは、Ｃ１と同様にＣ２等のＣｎの鉛直断面２３で電位を測定し（ＳＴ１１２）、その鉛直断面２３の比抵抗を算出し記録する（ＳＴ１１３）。そして、Ｃｎの鉛直断面２３で比抵抗領域１６があると判断されたときは、図３に示すようにＳＴ１１１の後に戻り次の鉛直断面２３の電位を測定し、その鉛直断面２３の比抵抗を算出し記録する。これを鉛直断面２３で最初に当該比抵抗領域１６が当該鉛直断面から存在しなくなるまで遮水シート１０の傾斜面１４ｄに向かって次々に各鉛直断面の測線上に電極４を配置し直し、夫々の測線下の鉛直断面２３の電位を測定し、比抵抗を算出し、記録する。
【００８３】
一方、Ｃｎの鉛直断面２３で初めて比抵抗領域１６が存在しないと判断されたときは、例えば図１１に示すＣ２の鉛直断面では図１３に示すようにＰ３６で周りに比較し比抵抗が極めて低く比抵抗領域１６が存在したが、Ｃ３の鉛直断面では図１４に示すように周りに比べ極めて低い比抵抗の領域である比抵抗領域１６を検出できなかったときは、Ｃ２の鉛直断面とＣ３の鉛直断面との間の領域に遮水シート１０の漏水箇所１５が存在することが予想されることとなり、ＳＴ１０８での結果と合わせて漏水箇所１５の特定が可能となる。
【００８４】
具体的には図１５に示すようにＳＴ１０８ではＢ７の鉛直断面１９とＢ８の鉛直断面１９との間の範囲内に漏水箇所１５が特定され、更にＳＴ１１４ではＣ２の鉛直断面とＣ３の鉛直断面との間の範囲内に漏水箇所（図１５中の斜線部分）が絞り込まれることとなる。
【００８５】
次に、上述のように例えば電気探査法により漏水箇所１５が所定の領域に特定された後、その領域の廃棄物１１を開削して遮水シート１０を露出させ漏水箇所１５を具体的に目視により特定する。
【００８６】
尚、ＳＴ１０８で初めてＢ８の鉛直断面１９に比抵抗領域１６がないと判断され、更にＳＴ１１１でＣ１の鉛直断面２３に比抵抗領域１６がないと判断されたときは図１６に示す斜線部分が漏水箇所２４の存在する領域となる。すなわち、Ｃ１の鉛直断面２３に比抵抗領域１６が存在しない以上該鉛直断面より図中上方の傾斜面１４ｃ側の遮水シート上に漏水箇所２４があることとなり、結局図１６の斜線部分に示すようにＢ７の鉛直断面１９とＢ８の鉛直断面１９との間の領域であり、かつ、Ｃ１の鉛直断面２３から傾斜面１４ｃまでの保有水中の遮水シート上に漏水箇所２４の位置が絞り込まれ特定されることとなる（ＳＴ１１５）。
【００８７】
また、ＳＴ１０４でＢ１の鉛直断面１９に比抵抗領域１６が存在しないと判断されたときは、遮水シート上には漏水箇所が無いのか、それともＢ１の鉛直断面１９より傾斜面１４ｂ側の領域にあるかのいずれかであり、図中のＹＺ平面の鉛直断面２３により比抵抗領域の有無を判断する必要がある。
【００８８】
そこで、まずＳＴ１０９に進み図１１及び図１５に示すＣ１の鉛直断面２３での全ての電位を測定し（ＳＴ１０９）、そのデータを検出装置７に供給しＣ１の鉛直断面２３での比抵抗の算出と記録をして（ＳＴ１１０）、該Ｃ１の鉛直断面２３に比抵抗領域１６が存在するか判断する（ＳＴ１１１）。
【００８９】
そして、ＳＴ１１１の判断で比抵抗領域１６が存在すると判断されたときはＳＴ１１６に進み、遮水シート１０に漏水個所が存在することとなる。
【００９０】
例えば注入井戸３の下端に生成された比抵抗領域１６がＣ１の鉛直断面２３にも存在することとなり、当該比抵抗領域１６が移動したこと、すなわち当該保有水１２に流れがあることとなる。また、保有水１２の流れは遮水シート１０のどこかに漏水箇所２５があってそこに向かって流れることを意味することになり、結局、遮水シートには漏水箇所があることとなる（ＳＴ１１６）。
【００９１】
次に、図３のＳＴ１１２に進みＣ１と同様にＣ２等のＣｎの鉛直断面２３で電位を測定し（ＳＴ１１２）、その鉛直断面２３の比抵抗を算出し記録する（ＳＴ１１３）。そして、Ｃｎの鉛直断面２３で比抵抗領域１６があると判断されたときは、図３に示すようにＳＴ１１１の後に戻り次の鉛直断面２３の電位を測定し、その鉛直断面２３の比抵抗を算出し記録する。これを鉛直断面２３で最初に当該比抵抗領域１６が当該鉛直断面から存在しなくなるまで遮水シート１０の傾斜面１４ｄに向かって次々に各鉛直断面の測線上に電極４を配置し直し、夫々の測線下の鉛直断面２３の電位を測定し、比抵抗を算出し、記録する。
【００９２】
一方、Ｃ３の鉛直断面２３で初めて比抵抗領域１６が存在しないと判断されたときは、Ｃ２の鉛直断面とＣ３の鉛直断面との間の領域に遮水シート１０の漏水箇所２５が存在することが予想されることとなり、ＳＴ１０４での結果と合わせて漏水箇所２５の特定が可能となる。
【００９３】
例えば図１７の斜線部分に示すようにＣ２の鉛直断面２３とＣ３の鉛直断面２３との間の領域であり、かつＢ１の鉛直断面１９から傾斜面１４ｂまでの保有水中の遮水シート上に漏水箇所２４の位置が絞り込まれ特定されることとなる（ＳＴ１１５）。
【００９４】
次に、ＳＴ１０４でＢ１の鉛直断面１９に比抵抗領域１６が存在しないと判断され、ＳＴ１１１でもＣ１の鉛直断面２３に比抵抗領域１６が存在しないと判断されたときは、例えば図１８に示すようにＢ１の鉛直断面１９から傾斜面１４ｂまでの保有水中の遮水シート領域であり、かつ、Ｃ１の鉛直断面２３から傾斜面１４ｃまでの保有水中の遮水シート領域である斜線部分に漏水箇所２６が有るのか、または漏水個所が遮水シート１０には全くないのかのいずれかとなる。
【００９５】
そこで、更に塩水１８を廃棄物１１の保有水１２中に投入する注入井戸３の設置場所を例えば図１９に示すようにＢ１の鉛直断面から傾斜面１４ｂまでの保有水中の遮水シート領域内で、少なくともＣ１の鉛直断面２３から傾斜面１４ｄの側でＢ地点と離れたＦ地点に移動させて廃棄物表面から鉛直下に掘り、遮水シート上の保有水１２に届くように廃棄物表面の該Ｆ地点に注入井戸３を設置する。
【００９６】
次に、図１９に示すように注入井戸３のＦ地点から傾斜面１４ｃに向く方向に直交する鉛直断面（図１中のＸＺ平面）２７を注入井戸３に近い側から例えばＤ１からＤ２等の等間隔に想定する。
【００９７】
そして、Ｄ１の鉛直断面上の測線上に所定の等間隔で複数の電極４を設置し、当該電極４を電極選択装置５に電線等で電気的に接続する。
【００９８】
その後、保有水１２に注入井戸３から塩水１８を連続的に投入し（ＳＴ１１７）、電極選択装置５に例えば複数の電極から所定の電流電極２１ａ，２１ｂ及び電位電極２２ａ，２２ｂを選択させて電源装置６から例えば１００ｍＡの定電流を電流電極２１ａ，２１ｂに供給する。このとき電位電極２２ａ，２２ｂにより得られる電位情報が電極選択装置５を介して検出装置７に供給され（ＳＴ１１８）、検出装置７は該鉛直断面２７の所定の位置の位置情報とその位置における見掛比抵抗（ρ）等から比抵抗を算出し、内部記録装置にそのデータを記録する（ＳＴ１１９）。
【００９９】
以下、電極選択装置５により電流電極２１ａ，２１ｂ及び電位電極２２ａ，２２ｂを選択させＤ１の鉛直断面２７の他の位置の電位情報を検出装置７に供給し、該検出装置７は位置情報とその位置における見掛比抵抗（ρ）等から比抵抗を算出し、そのデータを記録する。
【０１００】
更にＤ１の鉛直断面の全ての比抵抗のデータを出力装置８により画像データ等にして出力させ、その中に注入井戸３から注入された塩水１８による比抵抗領域１６に該当するものがあるか判断する（ＳＴ１２０）。
【０１０１】
ＳＴ１２０で比抵抗領域有りと判断されたときは、少なくともＤ１の鉛直断面２７までは比抵抗領域１６の流れ（流路）が存在することとなり、その流れは遮水シート１０に漏水個所が存在するために保有水１２が外部に漏れ出し、その保有水１２に流れが生じたことによると考えられ、少なくともＢ１の鉛直断面から傾斜面１４ｂまでの保有水中の遮水シート１０領域に漏水箇所２６が存在することとなる（ＳＴ１２１）。
【０１０２】
そこで、Ｄ１と同様にＤ２等のＤｎの鉛直断面２７で電位を測定し（ＳＴ１２２）、その鉛直断面２７の比抵抗を算出し記録する（ＳＴ１２３）。そして、Ｄｎの鉛直断面２７で比抵抗領域１６があると判断されたとき（ＳＴ１２４）は、図３に示すようにＳＴ１２１の後に戻り次の鉛直断面２７の電位を測定し、その鉛直断面２７の比抵抗を算出し記録する。これを鉛直断面２７で最初に当該比抵抗領域１６が当該鉛直断面から存在しなくなるまで遮水シート１０の傾斜面１４ｃに向かって次々に各鉛直断面の測線上に電極４を配置し直し、夫々の測線下の鉛直断面２３の電位を測定し、比抵抗を算出し、記録する。
【０１０３】
一方、Ｄｎの鉛直断面２７で初めて比抵抗領域１６が存在しないと判断されたとき（ＳＴ１２４）は、例えば図１９に示すＤ２の鉛直断面では比抵抗領域１６が存在したが、Ｄ３の鉛直断面では比抵抗領域１６を検出できなかったときは、Ｄ２の鉛直断面とＤ３の鉛直断面との間の領域に遮水シート１０の漏水箇所２６が存在することが予想されることとなり、ＳＴ１０４での結果と合わせて漏水箇所２６の特定が可能となる（ＳＴ１１５）。
【０１０４】
具体的には図１９に示すようにＳＴ１０４では少なくともＢ１の鉛直断面１９から傾斜面１４ａまでの保有水中の遮水シート領域には漏水個所は存在せず、更にＳＴ１２１では遮水シート１０の何処かには漏水個所が存在することが確かめられ、ＳＴ１２４によりＤ２の鉛直断面とＤ３の鉛直断面との間の範囲内に漏水箇所（図１９中の斜線部分）が絞り込まれることとなる。
【０１０５】
ここで、便宜上図１９ではＤ１，Ｄ２の符号を用い鉛直断面２７の位置を示したが当該Ｄ１，Ｄ２の鉛直断面の位置は図１８のＣ２，Ｃ１の鉛直断面２３の位置と同じ位置に設けるものとする。
【０１０６】
次に、ＳＴ１０４でＢ１の鉛直断面１９に比抵抗領域１６が存在しないと判断され、ＳＴ１１１でもＣ１の鉛直断面２３に比抵抗領域１６が存在しないと判断され、更にＳＴ１２０でもＤ１の鉛直断面２７に比抵抗領域１６が存在しないと判断されたときは、最初の注入井戸３を設置したＢ地点では漏水個所を検出できないとされた図１８に示すＢ１の鉛直断面１９から傾斜面１４ｂまでの保有水中の遮水シート領域であり、かつ、Ｃ１の鉛直断面２３から傾斜面１４ｃまでの保有水中の遮水シート領域である斜線部分にも漏水個所が存在しなかったこととなる。結局、少なくとも保有水中の遮水シート１０には漏水は無いこととなる（ＳＴ１２５）。
【０１０７】
以上で廃棄物処分場の漏水位置探査システム１を用いた貯留構造物の漏水位置探査方法の説明を終了する。
【０１０８】
尚、上述の説明では説明の都合上、図２や図１２等において廃棄物処分場２の凹部９の傾斜面１４ａ，１４ｂ，１４ｃ，１４ｄを測定ポイントＰ１２等から離れるように記載したがこれに限定されるものではなく、実際には例えば当該傾斜面は図に示す傾斜面側の測定ポイントを結ぶ直線の傾斜より緩やかで全ての鉛直断面中での測定が可能である。
【０１０９】
このように本実施形態によれば、廃棄物１１の保有水中にその保有水１２の電気伝導度と異なる電気伝導度を有する物質例えば塩水１８を投入することで周りの比抵抗と異なる比抵抗領域１６を生成し、この比抵抗領域１６を一種の電気的マーカーとして廃棄物表面の測線２０から遮水工としての遮水シート１０までの鉛直断面での該比抵抗領域１６を検出可能な検出手段として検出装置７を具備することとしたので、漏水位置探査システムの完備していない既存の処分場の漏水箇所等を容易に探査することができる。
【０１１０】
また、測線２０は、廃棄物表面に複数に有するものであるとしたので、比抵抗領域１６を検出する鉛直断面を複数設定して検出装置７により夫々の鉛直断面の当該比抵抗領域１６を検出でき、その情報に基づき該比抵抗領域１６が移動しているのか否か、更には移動しているとしてどこに移動しているのかを判断することが可能となる。この比抵抗領域１６の移動は、その周囲の保有水１２の流れでもあるので結局、貯留構造物の漏水の有無及びその漏水箇所を判断することが可能となる。
【０１１１】
更に複数の測線２０は、異なる方向の測線２０を有することとしたので、例えば２方向から該比抵抗領域１６の移動に関する情報を得ることが可能となり、より該比抵抗領域１６が移動しているのか否か、更には移動しているとしてどこに移動しているのかの正確な判断をすることが可能となる。
【０１１２】
また、電位電極２２ａ，２２ｂから得られる電位情報は、塩水等の物質を廃棄物表面上の少なくとも二つの地点から保有水中に投入して夫々測定できることとしたので、一の投入地点（例えば図１９中のＢ地点）のすぐそばに遮水シート１０の漏水箇所が在って廃棄物表面の測線２０から遮水シート１０までの鉛直断面での比抵抗領域１６を検出できない場合でも、その他の投入地点（例えば図１９中のＦ地点）での該物質の投入により生成された比抵抗領域１６を検出することが可能となり、より正確な該比抵抗領域１６の有無及びその位置を検出することができる。
【０１１３】
更に検出装置７の検出結果に基づき、遮水シート上の保有水１２への塩水等の投入位置と異なる少なくとも一つの鉛直断面で比抵抗領域１６が検出された場合に遮水シート１０に漏水が有ると判断する第１の判断のステップを具備することとしたので、例えば電気探査法により容易かつ迅速に漏水の有無の判断ができる。
【０１１４】
また、遮水シート１０に漏水が有ると判断された場合に、二つの隣り合う鉛直断面の一の鉛直断面には比抵抗領域１６が検出され、他の鉛直断面には比抵抗領域１６が検出されない場合に、該隣り合う鉛直断面間に遮水シート１０の漏水箇所が存在すると判断する第２の判断のステップを具備することとしたので、例えば電気探査法により容易かつ迅速に漏水箇所の判断が可能となる。
【０１１５】
（変形例１）
【０１１６】
次に、本発明に係る貯留構造物の漏水位置探査システムの第１の実施形態の変形例１について説明する。本変形例１においては検査装置と出力装置との間に判断装置が設けられている点が第１の実施形態と異なるのでその点を中心に説明する。尚、第１の実施形態の構成要素と共通する構成要素については、第１の実施形態の構成要素と同一の符号を付しその説明を省略する。
【０１１７】
図２０は変形例１の廃棄物処分場の漏水位置探査システムの概略図である。
【０１１８】
（貯留構造物の漏水位置探査システムの構成）
【０１１９】
貯留構造物としての廃棄物処分場の漏水位置探査システム１０１は、例えば図２０に示すように廃棄物処分場２、その廃棄物処分場２に貯留された廃棄物の保有水中に塩水等の物質を投入するための注入井戸３、その廃棄物処分場２に貯留された廃棄物表面下に配置された複数の電極４、その複数の電極４から後述する電流電極及び電位電極を夫々選択する電極選択装置５、その電流電極に所定の信号電流を供給する電源装置６、その電位電極により測定された電位情報に基づき後述する比抵抗領域を検出する検出装置７、その検出装置７により検出された情報を演算処理し、廃棄物処分場２に漏水があるか否かまた、漏水があるとすればその漏水個所等の判断をする判断手段としての判断装置１３１及びその判断装置１３１により判断された判断情報等を出力する出力装置１０８等から構成されている。
【０１２０】
ここで、判断装置１３１は図示しない例えば演算と制御とをするＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）、必要に応じて一時的に各種データ及びソフト等を記録し、判断装置１３１の制御をより円滑に行なうＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ Ａｃｃｅｓｓ Ｍｅｍｒｙ）、ＲＯＭ（Ｒｅａｄ ＯｎｌｙＭｅｍｏｒｙ）、検出装置７からのデータや漏水箇所等を記録するデータ格納部及び各種のソフトウエアが格納されたソフトウエア格納部等を有する。
【０１２１】
ソフトウエア格納部は、例えば検出装置７から受け渡された鉛直断面の比抵抗領域に関する情報に基づき、鉛直断面に比抵抗領域が存在するか判断することができる比抵抗領域判断機構、遮水シート１０に漏水が存在するか判断することができる漏水判断機構、該漏水判断機構により漏水が存在すると判断された場合に検出装置７から受け渡された隣合う鉛直断面の比抵抗領域が一方にのみ存在するとの情報により当該隣合う鉛直断面間に漏水箇所が存在すると判断することができる漏水箇所判断機構等を有する。
【０１２２】
また、出力装置１０８は検出装置７により検出された比抵抗領域に関する情報、該比抵抗領域が存在する場合にその鉛直断面中の位置に関する情報及び判断装置１３１により判断された遮水シート等の漏水の有無、その漏水箇所に関する情報等を例えば画像ディスプレーやプリンター等により出力することができる。
【０１２３】
（貯留構造物の漏水位置探査方法）
【０１２４】
次に、以上のように構成された廃棄物処分場の漏水位置探査システム１０１を用いた貯留構造物の漏水位置探査方法については第１の実施形態と略同様であるが、例えば図３のＳＴ１０４，ＳＴ１０８等での比抵抗領域があるか否かの判断、ＳＴ１０５、ＳＴ１１６等での漏水が存在するとの判断、更にはＳＴ１１５の漏水箇所の特定、ＳＴ１２５の遮水シートに漏水は存在しないとの判断等を観測者や観測者の手助けによらず判断装置１３１により判断する点が異なる。その点について簡単に説明する。
【０１２５】
例えば判断装置内のＣＰＵは、検出装置７から判断装置１３１に送られた比抵抗領域に関するデータにより比抵抗領域判断機構に当該鉛直断面に比抵抗領域があるか判断させる（ＳＴ１０４）。比抵抗領域が存在すると判断されたときは、その情報を漏水判断機構に送り当該漏水判断機構に遮水シート１０に漏水が存在するとの判断をさせる。
【０１２６】
更に判断装置内のＣＰＵは、図３のＳＴ１１４で比抵抗領域判断機構が比抵抗領域が存在しないと判断したときは、その情報を漏水箇所判断機構に送り当該漏水箇所判断機構に遮水シート１０の漏水箇所を判断させ特定させる。
【０１２７】
このように本変形例によれば、電位電極２２ａ，２２ｂから供給された電位情報に基づき検出手段としての検出装置７により検出された情報を演算処理し、遮水工としての遮水シート１０の漏水の有無及びその漏水箇所を判断する判断装置１３１を具備することとしたので、電位情報の収集からその分析まで一貫したシステムとすることができ、より漏水の有無及びその漏水箇所の判断が容易かつ迅速となる。
【０１２８】
また、判断装置１３１は少なくとも保有水１２への塩水等の投入位置と異なる一つの鉛直断面で比抵抗領域１６が検出された場合に遮水シート１０に漏水が有ると判断することとしたので、より容易かつ迅速に漏水の有無の判断ができる。
【０１２９】
更に判断装置１３１は、遮水シート１０に漏水が有ると判断した場合に二つの隣り合う鉛直断面の一の鉛直断面には比抵抗領域１６が検出され、他の鉛直断面には比抵抗領域１６が検出されない場合に比抵抗領域が一の鉛直断面と他の鉛直断面との間で漏水により消滅したものと判断し、該隣り合う鉛直断面間に遮水シート１０の漏水箇所が存在すると判断することとしたので、より容易かつ迅速に漏水箇所の判断が可能となる。
【０１３０】
（第２の実施形態）
【０１３１】
次に、本発明に係る貯留構造物の漏水位置探査システムの第２の実施形態について説明する。本実施形態においては比抵抗領域を生成する物質に例えば染料を混合している点が異なるのでその点を中心に説明する。尚、第１の実施形態の構成要素と共通する構成要素については、第１の実施形態の構成要素と同一の符号を付しその説明を省略する。
【０１３２】
（貯留構造物の漏水位置探査システムの構成）
【０１３３】
貯留構造物としての廃棄物処分場の漏水位置探査システム２０１は、例えば図１に示すように廃棄物処分場２、その廃棄物処分場２に貯留された廃棄物の保有水中に後述する塩水等の物質を投入するための注入井戸２０３、その廃棄物処分場２に貯留された廃棄物表面下に配置された複数の電極４、その複数の電極４から後述する電流電極及び電位電極を夫々選択する電極選択装置５、その電流電極に所定の信号電流を供給する電源装置６、その電位電極により測定された電位情報に基づき比抵抗領域を検出する検出装置７及びその検出装置７により検出された情報を出力する出力装置８等から構成されている。
【０１３４】
ここで、注入井戸２０３は例えば廃棄物１１の表面から保有水１２に届くぐらいの深さに設けてあり、この注入井戸２０３を用いて保有水１２の電気伝導度と異なる電気伝導度の物質、例えば保有水１２の電気伝導度の１．５倍以上高い電気伝導度を持つ物質を当該保有水１２中に投入することができる。当該物質としては、具体的には塩の濃度が０．１重量％以上であって２０重量％以下で、保有水１２の電気伝導度の１．５倍以上となる塩水２１８であり、当該塩水に染料、顔料及び蛍光材等のうち少なくとも一つを混合したものである。例えば保有水１２の電気伝導度が２５００μＳ／ｃｍであれば塩の濃度は０．５重量％となる。尚、より好ましくは５倍以上あることが好ましい。これにより、より正確に比抵抗領域の有無及びその位置を特定できる。
【０１３５】
これにより、電気探査法である程度の漏水箇所１５が存在すると思われる領域を特定し、その特定された領域を開削して塩水２１８に混合された染料等によるトレース跡を追跡し、遮水シート１０の漏水箇所１５を具体的に特定できる。
【０１３６】
尚、物質は上述の塩水に限られるものではなく、例えば保有水１２の電気伝導度が高い場合は逆に電気伝導度の低いものを用いるとよい。これにより、より多種多様な廃棄物及び保有水に対応できる。
【０１３７】
（貯留構造物の漏水位置探査方法）
【０１３８】
次に、以上のように構成された廃棄物処分場の漏水位置探査システム２０１を用いた貯留構造物の漏水位置探査方法について説明する。本実施形態においては比抵抗領域を生成する物質に例えば染料を混合して、電気探査を行なう鉛直断面を第１の実施形態の半分程度にしている点が異なるのでその点を中心に説明する。
【０１３９】
図２１は本発明の第２の実施形態に係る鉛直断面における比抵抗領域の説明図、図２２は本実施形態の異なる方向の鉛直断面における比抵抗領域の説明図及び図２３は本実施形態の比抵抗領域の流れを示す廃棄物処分場の概略平面図である。
【０１４０】
まず、図１に示すように廃棄物処分場２に貯留されている廃棄物表面の所定の位置から鉛直下に掘られた注入井戸２０３を設置する。例えば廃棄物表面から鉛直下に掘られ、遮水シート１０の略矩形の底面１３でその四隅の内の一つの内側付近の保有水１２に届くように廃棄物表面のＢ地点に注入井戸２０３を設置する。
【０１４１】
次に、図１、図３及び図２１に示すように注入井戸２０３のＢ地点から遠い方の遮水シート１０の傾斜面１４ａに向く方向に直交する鉛直断面（図１中のＸＺ平面）１９を注入井戸２０３に近い側から例えばＢ１からＢ５の等間隔、図中のＬ２の間隔であり第１の実施形態の鉛直断面１９の間隔であるＬ１（図6中のＬ１）の略２倍に想定する。そして、Ｂ１の鉛直断面上の測線上に所定の等間隔で複数の電極４を廃棄物表面から３０ｃｍから４０ｃｍの深さで挿し込んで設置し、当該電極４を電極選択装置５に電線等で電気的に接続する。
【０１４２】
その後、保有水１２の電気伝導度と異なる電気伝導度の物質、例えば保有水１２の電気伝導度の１．５倍以上、具体的には塩の濃度が０．１重量％以上であって２０重量％以下で、保有水１２の電気伝導度の１．５倍以上となる染料等が混合された塩水２１８を製造し、Ｂ地点の注入井戸２０３に連続的に投入する（ＳＴ１０１）。
【０１４３】
これにより、注入井戸２０３の下端から保有水１２中に周りの保有水１２より電気伝導度の大きい塩水２１８が入り込み、比抵抗領域１６が保有水中に生成される。このとき例えば遮水シート１０が漏水箇所１５で漏水しているとすると廃棄物処分場２の遮水シート１０の底面上に溜まった保有水１２は、漏水箇所１５に向かって流れることとなる。
【０１４４】
以下、図３に示すＢ１の鉛直断面１９の電位の測定であるＳＴ１０２からＢｎの鉛直断面１９で比抵抗領域１６があると判断されたときであるＳＴ１０８までは、注入井戸３が注入井戸２０３に、塩水１８は染料等が混合された塩水２１８となっている以外は第１の実施形態と略同様なのでその説明を省略する。
【０１４５】
一方、Ｂｎの鉛直断面１９で初めて比抵抗領域１６が存在しないと判断されたとき（ＳＴ１０８）は、例えば図２１に示すＢ４の鉛直断面１９では比抵抗が周りの保有水１２の比抵抗より塩水２１８と同程度に小さく、比抵抗領域１６が存在したが、Ｂ５の鉛直断面では比抵抗領域１６を検出できなかったこととなる。
【０１４６】
このことは、塩水２１８の注入井戸２０３への投入による比抵抗領域１６がＢ５の鉛直断面１９を通過できずその手前で止まってしまったことになり、その原因としてはＢ４の鉛直断面１９とＢ５の鉛直断面１９との間で比抵抗領域１６が漏水箇所１５により外部に漏れ、それより先に該比抵抗領域１６が流れなくなったものと考えることができる。
【０１４７】
以上から、Ｂ４の鉛直断面１９とＢ５の鉛直断面１９との間の領域に遮水シート１０の漏水箇所１５が存在することが予想されることとなり、漏水箇所１５の特定がある程度可能となる。
【０１４８】
次に、図２２に示すようにＳＴ１０２からＳＴ１０８までの鉛直断面１９に対し略直交し、注入井戸２０３に近い側から例えばＣ１及びＣ２の間隔、図中のＭ２の間隔であり第１の実施形態の鉛直断面２３の間隔であるＭ１（図１１中のＭ１）の略２倍に鉛直断面（図中のＹＺ平面）２３を想定する。そして、Ｃ１の鉛直断面上の測線上に所定の等間隔で複数の電極４を廃棄物表面から３０ｃｍから４０ｃｍの深さで挿し込んで設置し、当該電極４を電極選択装置５に電線等で電気的に接続する。
【０１４９】
以下、図３に示すＣ１の鉛直断面２３の電位の測定であるＳＴ１０９からＣｎの鉛直断面１９で比抵抗領域１６があると判断されたときであるＳＴ１１４までは、注入井戸３が注入井戸２０３に、塩水１８は染料等が混合された塩水２１８となっており、鉛直断面２３はＣ１とＣ２との二つしか想定していない以外は第１の実施形態と略同様なのでその説明を省略する。
【０１５０】
一方、Ｃｎの鉛直断面２３で初めて比抵抗領域１６が存在しないと判断されたときは、例えば図２２に示すＣ１の鉛直断面では周りに比較し比抵抗が極めて低く比抵抗領域１６が存在したが、Ｃ２の鉛直断面では周りに比べ極めて低い比抵抗の領域である比抵抗領域１６を検出できなかったときは、Ｃ１の鉛直断面とＣ２の鉛直断面との間の領域に遮水シート１０の漏水箇所１５が存在することが予想されることとなり、ＳＴ１０８での結果と合わせて漏水箇所１５の特定（ＳＴ１１５）が可能となる。
【０１５１】
具体的には図２３に示すようにＳＴ１０８ではＢ４の鉛直断面１９とＢ５の鉛直断面１９との間の範囲内に漏水箇所１５が特定され、更にＳＴ１１４ではＣ１の鉛直断面とＣ２の鉛直断面との間の範囲内に漏水箇所（図２３中の斜線部分）が絞り込まれることとなる。
【０１５２】
次に、例えば図２３の斜線部分のように漏水箇所１５がある程度の広さの領域、第１の実施形態の電気探査法で絞り込まれた領域（例えば図１５の斜線部分）の略４倍の表面積の領域に特定された後、その領域の廃棄物１１を開削して塩水２１８に混合されていた染料等のトレース跡を追跡して具体的な漏水箇所１５を特定する。
【０１５３】
尚、ＳＴ１０８で初めてＢ４の鉛直断面１９に比抵抗領域１６がないと判断され、更にＳＴ１１１でＣ１の鉛直断面２３に比抵抗領域１６がないと判断されたとき、ＳＴ１０４でＢ１の鉛直断面１９に比抵抗領域１６が存在しないと判断されたとき、ＳＴ１０４でＢ１の鉛直断面１９に比抵抗領域１６が存在しないと判断され、ＳＴ１１１でもＣ１の鉛直断面２３に比抵抗領域１６が存在しないと判断されたとき、ＳＴ１０４でＢ１の鉛直断面１９に比抵抗領域１６が存在しないと判断され、ＳＴ１１１でもＣ１の鉛直断面２３に比抵抗領域１６が存在しないと判断され、更にＳＴ１２０でもＤ１の鉛直断面２７に比抵抗領域１６が存在しないと判断されたときの貯留構造物の漏水位置探査方法は、第１の実施形態と鉛直断面１９，２３が夫々略半分の数となっている点を除けば略同様であるのでその説明を省略する。
【０１５４】
以上で廃棄物処分場の漏水位置探査システム２０１を用いた貯留構造物の漏水位置探査方法の説明を終了する。
【０１５５】
このように本実施形態によれば、廃棄物中の保有水１２に投入される塩水２１８は、染料、顔料及び蛍光材のうち少なくとも一つを混合したものであり、隣合う鉛直断面での比抵抗領域の有無による判断等で特定された漏水箇所を含む所定の範囲を開削して当該染料等の流れの跡により具体的に漏水箇所を特定することとしたので、生成された比抵抗領域の有無及びその位置に関する情報から大まかな漏水箇所の範囲を特定し、その範囲の廃棄物を開削して染料、顔料及び蛍光材等の流れの跡から具体的に漏水箇所を特定でき、作業を効率的、経済的にすることが可能となると共に、電気探査のみでは地形等の理由から正確な漏水箇所の特定が難しい場合にも正確に漏水箇所を特定できる。
【０１５６】
（第３の実施形態）
【０１５７】
次に、本発明に係る貯留構造物の漏水位置探査システムの第３の実施形態について説明する。本実施形態においては電磁探査法で漏水位置を探査している点が異なるのでその点を中心に簡単に説明する。尚、第１の実施形態の構成要素と共通する構成要素については、第１の実施形態の構成要素と同一の符号を付しその説明を省略する。
【０１５８】
図２４は本発明の第３の実施形態に係る廃棄物処分場の漏水位置探査システムの概略図である。
【０１５９】
（貯留構造物の漏水位置探査システムの構成）
【０１６０】
貯留構造物としての廃棄物処分場の漏水位置探査システム３０１は、例えば図２４に示すように廃棄物処分場２、その廃棄物処分場２に貯留された廃棄物の保有水中に塩水等の物質を投入するための注入井戸３、その廃棄物処分場２に貯留された例えば廃棄物上でその廃棄物表面に非接触に配置された渦電流発生用の送信ループ３０４、その渦電流を受信する受信ループ３０５、該送信ループ３０４に所定の周波数の交流電流を供給する送信装置３０６、該受信ループ３０５により測定された電流情報に基づき比抵抗領域を検出する検出装置３０７及びその検出装置３０７により検出された情報を出力する出力装置８等から構成されている。
【０１６１】
ここで、送信ループ３０４は例えば図２４に示すように略矩形状の廃棄物表面の一つの辺の内側付近にループ形状に構成されており、送信装置３０６から所定の周波数の送信電流が供給されるように電線等で電気的に接続されている。
【０１６２】
更に受信ループ３０５は、例えば図２４に示すように比抵抗領域を検出する廃棄物の鉛直断面１９と該廃棄物表面との交線である測線２０が丁度送信ループ３０４と当該受信ループ３０５との真ん中（図２４で長さＧ／２となる位置）に来るように配置されている。
【０１６３】
これにより、例えば送信ループ３０４及び受信ループ３０５で所定の距離Ｇを保ちながら図２４中の矢印Ｈ方向（例えば図２４中のＸ軸方向）に傾斜面１４ｄ付近から傾斜面１４ｃ付近まで廃棄物表面に非接触で移動させることにより、図２４中の測線下の鉛直断面１９の所定の深さでの電流情報が受信ループ３０５により検出装置３０７に供給されることとなる。
【０１６４】
次に、送信装置３０６は例えば図２４に示すように電線等で送信ループ３０４に電気的に接続されており、測定深度に合わせ適正な周波数を設定し交流電流を該送信ループ３０４に供給できる。
【０１６５】
また、検出装置３０７は送信装置３０６により周波数を変え検出深度を次の深度に変えて同様に測線２０の端から端まで所定の間隔で測定ポイントの電流情報を受信ループ３０５より受取り、必要に応じ図示しない内部記録装置等に記録する。
【０１６６】
以上の測定、記録を当該鉛直断面１９の全ての測定ポイントで行い、検出装置３０７は、供給、記録された電流情報からその測線２０下の複数の測定ポイントの比抵抗を演算し、例えば保有水１２の比抵抗と予め設定されていた異なる比抵抗の比抵抗領域を検出する。また、必要に応じて他の測線下の鉛直断面１９でも同様に比抵抗領域を検出する。
【０１６７】
更に出力装置８は、検出装置３０７により検出された比抵抗領域に関する情報を例えば画像ディスプレーやプリンター等により出力する。
【０１６８】
尚、上述の説明では複数の測定ポイントとして検出したが連続的に受信ループ３０５から電流情報等を受けて、当該連続した情報として出力装置に出力させてもよい。
【０１６９】
（貯留構造物の漏水位置探査方法）
【０１７０】
次に、以上のように構成された廃棄物処分場の漏水位置探査システム３０１を用いた貯留構造物の漏水位置探査方法については、送信側に送られるのが所定の周波数の交流電流である点や各鉛直断面で測定されるのが電流である点等であることを除けば略第１の実施形態の電気探査法と同様であるので、その説明を省略する。
【０１７１】
このように本実施形態によれば、廃棄物処分場２の凹部９に貯留された廃棄物１１の保有水中に該保有水１２の電気伝導度と異なる電気伝導度の物質、例えば塩水を投入することにより該保有水中に周囲の該保有水１２の比抵抗と異なる比抵抗領域を生成することとしたので、漏水箇所へ向かって移動する当該比抵抗領域を電磁探査法により容易に検出することができ、この比抵抗領域の移動は、その周囲の保有水１２の流れでもあるので結局、貯留構造物の漏水の有無及びその漏水箇所を判断することが可能となり、漏水検知システムの完備していない既存の処分場の漏水の有無及びその位置を容易に判断することができる。
【０１７２】
また、電磁探査法により保有水中の比抵抗を検出することとしたので、大量の電極を必要とせず、低コストでより容易に既存の処分場の漏水の有無及びその位置を判断することができる。
【０１７３】
尚、本発明は上述したいずれの実施形態にも限定されず、本発明の技術思想の範囲内で適宜変更して実施できる。
【０１７４】
例えば上述した実施形態及び変形例では、既存の廃棄物処分場の漏水の有無及びその位置を検出するシステムとして説明したがこれに限られるものではなく、新設の廃棄物処分場例えば漏水の有無及びその位置を検出する設備のある処分場でも勿論用いることができる。これにより、更に漏水の有無及びその位置の検出を正確にすることができる。
【０１７５】
また、上述の実施形態及び変形例では物質である塩水等を注入井戸に連続的に投入するものとして説明したがこれに限られるものではなく、例えば一定の間隔で間欠的に投入してもよい。これにより、よりコストを低減でき環境への影響もより少なくできる。
【０１７６】
更に上述の実施形態及び変形例では、塩水等の投入のための注入井戸の設置場所として１箇所または２箇所として説明したがこれに限られるものではなく、例えば格子状、千鳥状、直列状等に３箇所以上設置してもよい。これにより、探査領域が広くて比抵抗領域が拡散してしまい正確に比抵抗領域を検出できなくなることを防止できる。
【０１７７】
また、上述の実施形態及び変形例では塩水等の投入のための注入井戸の設置場所として２箇所設ける場合は、該２箇所の注入井戸に同時には投入せず夫々１箇所ずつ塩水等を投入して電気探査法等を用いたがこれに限られるものではなく、例えば２箇所或は３箇所以上の設置場所の注入井戸で同時に塩水等を投入し保有水中の比抵抗領域を探索してもよい。これにより、より迅速に漏水の有無、漏水箇所の特定ができる。
【０１７８】
更に上述の実施形態及び変形例では、電気探査法としてダイポール・ダイポール(Dipole-Dipole)法によったがこれに限られるものではなく、例えばウェンナ(Wenner)法やエルトラン法等と組み合わせたものであってもよい。また、電磁探査法として地上電磁探査を説明したがこれに限られるものではなく空中電磁探査法であってもよい。これにより、地上電磁探査による受信データにノイズが含まれやすいという点を改善することができ、より均質なデータを得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【０１７９】
【図１】本発明の第１の実施形態に係る廃棄物処分場の漏水位置探査システムの概略図である。
【図２】本発明の第１の実施形態に係る側線下の鉛直断面の電気探査の説明図である。
【図３】本発明の第１の実施形態に係る貯留構造物の漏水位置探査方法のフローチャートである。
【図４】本発明の第１の実施形態に係る塩水の投入状態の説明図である。
【図５】本発明の第１の実施形態に係る比抵抗領域が流れる状態の説明図である。
【図６】本発明の第１の実施形態に係る電気探査を行う複数の鉛直断面の説明図である。
【図７】本発明の第１の実施形態に係るＢ１鉛直断面における比抵抗領域の説明図である。
【図８】本発明の第１の実施形態に係るＢ７鉛直断面における比抵抗領域の説明図である。
【図９】本発明の第１の実施形態に係る初めて比抵抗領域が出現しないＢ８鉛直断面の説明図である。
【図１０】本発明の第１の実施形態に係る鉛直断面が異なる方向（ＹＺ平面）場合の廃棄物処分場の漏水位置探査システムの概略図である。
【図１１】本発明の第１の実施形態に係る異なる方向の鉛直断面における比抵抗領域の説明図である。
【図１２】本発明の第１の実施形態に係るＣ１鉛直断面における比抵抗領域の説明図である。
【図１３】本発明の第１の実施形態に係るＣ２における比抵抗領域の説明図である。
【図１４】本発明の第１の実施形態に係るＣ３鉛直断面における比抵抗領域の説明図である。
【図１５】本発明の第１の実施形態に係る比抵抗領域の流れを示す廃棄物処分場の概略平面図である。
【図１６】図１５と漏水箇所が異なる場合の説明図である。
【図１７】図１５及び図１６と漏水箇所が異なる場合の説明図である。
【図１８】本発明の第１の実施形態に係る漏水箇所が注入井戸の近くにある場合の説明図である。
【図１９】本発明の第１の実施形態に係る注入井戸の設置場所を変えた場合の説明図である。
【図２０】変形例１の廃棄物処分場の漏水位置探査システムの概略図である。
【図２１】本発明の第２の実施形態に係る鉛直断面における比抵抗領域の説明図である。
【図２２】本発明の第２の実施形態に係る異なる方向の鉛直断面における比抵抗領域の説明図である。
【図２３】本発明の第２の実施形態に係る比抵抗領域の流れを示す廃棄物処分場の概略平面図である。
【図２４】本発明の第３の実施形態に係る廃棄物処分場の漏水位置探査システムの概略図である。
【符号の説明】
【０１８０】
１，１０１，２０１，３０１ 廃棄物処分場の漏水位置探査システム、 ２ 廃棄物処分場、 ３，２０３ 注入井戸、 ４ 電極、 ５ 電極選択装置、 ６ 電源装置、 ７，３０７ 検出装置、 ８，１０８ 出力装置、 ９ 凹部、 １０ 遮水シート、 １１ 廃棄物、 １２ 保有水、 １３ 底面、 １４ａ，１４ｂ，１４ｃ，１４ｄ 傾斜面、 １５，２４，２５，２６ 漏水箇所、 １６ 比抵抗領域、 １７ 流路、 １８，２１８ 塩水、 １９，２３，２７ 鉛直断面、 ２０ 測線、 ２１ａ，２１ｂ 電流電極、 ２２ａ，２２ｂ 電位電極、 １３１ 判断装置、 ３０４ 送信ループ、 ３０５ 受信ループ、 ３０６ 送信装置
【特許請求の範囲】
【請求項１】
廃棄物を貯留する凹部と該凹部表面に設けられた遮水工とを有する貯留構造物の漏水位置探査システムにおいて、
前記廃棄物の保有水の電気伝導度と異なる電気伝導度の物質を投入して生成された前記保有水の比抵抗と異なる比抵抗領域を、電気探査法または電磁探査法で得られる、前記廃棄物表面の測線から前記遮水工までの鉛直断面での電気的情報に基づき検出可能な検出手段と、
前記検出手段により検出された前記比抵抗領域に関する情報を出力する出力手段と
を具備することを特徴とする貯留構造物の漏水位置探査システム。
【請求項２】
請求項１に記載の貯留構造物の漏水位置探査システムにおいて、
前記測線は、前記廃棄物表面に複数有するものであることを特徴とする貯留構造物の漏水位置探査システム。
【請求項３】
請求項２に記載の貯留構造物の漏水位置探査システムにおいて、
前記複数の測線は、異なる方向の測線を有することを特徴とする貯留構造物の漏水位置探査システム。
【請求項４】
請求項１に記載の貯留構造物の漏水位置探査システムにおいて、
前記電気的情報は、前記物質を前記廃棄物表面上の少なくとも二つの地点から前記保有水中に投入して夫々測定したものであることを特徴とする貯留構造物の漏水位置探査システム。
【請求項５】
請求項１に記載の貯留構造物の漏水位置探査システムにおいて、
前記物質は、前記保有水の電気伝導度の１．５倍以上であることを特徴とする貯留構造物の漏水位置探査システム。
【請求項６】
請求項１に記載の貯留構造物の漏水位置探査システムにおいて、
前記物質は、塩の濃度が０．１重量％以上であって２０重量％以下の塩水であり、前記保有水の電気伝導度の１．５倍以上であることを特徴とする貯留構造物の漏水位置探査システム。
【請求項７】
請求項１に記載の貯留構造物の漏水位置探査システムにおいて、
前記物質の投入は、連続的に投入するものであることを特徴とする貯留構造物の漏水位置探査システム。
【請求項８】
請求項１に記載の貯留構造物の漏水位置探査システムにおいて、
前記電気的情報に基づき前記検出手段により検出された情報を演算処理し、前記遮水工の漏水の有無及びその漏水箇所を判断する判断手段を更に具備することを特徴とする貯留構造物の漏水位置探査システム。
【請求項９】
請求項８に記載の貯留構造物の漏水位置探査システムにおいて、
前記判断手段は、少なくとも前記保有水への前記物質の投入位置と異なる一つの前記鉛直断面で前記比抵抗領域が検出された場合に前記遮水工に漏水が有ると判断することを特徴とする貯留構造物の漏水位置探査システム。
【請求項１０】
請求項９に記載の貯留構造物の漏水位置探査システムにおいて、
前記判断手段は、前記遮水工に漏水が有ると判断した場合に二つの隣り合う前記鉛直断面の一の鉛直断面には前記比抵抗領域が検出され、他の鉛直断面には前記比抵抗領域が検出されない場合に該隣り合う鉛直断面間に前記遮水工の漏水箇所が存在すると判断することを特徴とする貯留構造物の漏水位置探査システム。
【請求項１１】
請求項１に記載の貯留構造物の漏水位置探査システムにおいて、
前記物質は、染料、顔料及び蛍光材のうち少なくとも一つを混合したものであることを特徴とする貯留構造物の漏水位置探査システム。
【請求項１２】
廃棄物を貯留する凹部と該凹部表面に設けられた遮水工とを有する貯留構造物の漏水位置探査方法において、
前記凹部に貯留された前記廃棄物の保有水中に、該保有水の電気伝導度と異なる電気伝導度の物質を投入することにより、該保有水中に周囲の該保有水の比抵抗と異なる比抵抗領域を生成するステップと、
前記廃棄物表面上の複数の測線から前記遮水工までの複数の鉛直断面における前記比抵抗領域を電気探査法または電磁探査法により探査するステップと、
前記探査により得られた前記比抵抗領域に関する情報を出力するステップと
を具備することを特徴とする貯留構造物の漏水位置探査方法。
【請求項１３】
請求項１２に記載の貯留構造物の漏水位置探査方法において、
前記探査の結果に基づき、少なくとも前記保有水への前記物質の投入位置と異なる一つの前記鉛直断面で前記比抵抗領域が検出された場合に、前記遮水工に漏水が有ると判断する第１の判断のステップを更に具備することを特徴とする貯留構造物の漏水位置探査方法。
【請求項１４】
請求項１３に記載の貯留構造物の漏水位置探査方法において、
前記第１の判断により前記遮水工に漏水が有ると判断された場合に、二つの隣り合う前記鉛直断面の一の鉛直断面には前記比抵抗領域が検出され、他の鉛直断面には前記比抵抗領域が検出されない場合に、該隣り合う鉛直断面間に前記遮水工の漏水箇所が存在すると判断する第２の判断のステップを更に具備することを特徴とする貯留構造物の漏水位置探査方法。
【請求項１５】
請求項１２に記載の貯留構造物の漏水位置探査方法において、
前記複数の測線は、異なる方向の測線を有することを特徴とする貯留構造物の漏水位置探査方法。
【請求項１６】
請求項１２に記載の貯留構造物の漏水位置探査方法において、
前記探査は、前記物質を前記廃棄物表面上の少なくとも二つの地点から前記保有水中に投入して夫々探査するものであることを特徴とする貯留構造物の漏水位置探査方法。
【請求項１７】
請求項１２に記載の貯留構造物の漏水位置探査方法において、
前記物質は、前記保有水の電気伝導度の１．５倍以上であることを特徴とする貯留構造物の漏水位置探査方法。
【請求項１８】
請求項１２に記載の貯留構造物の漏水位置探査方法において、
前記物質は、塩の濃度が０．１重量％以上であって２０重量％以下の塩水であり、前記保有水の電気伝導度の１．５倍以上であることを特徴とする貯留構造物の漏水位置探査方法。
【請求項１９】
請求項１２に記載の貯留構造物の漏水位置探査方法において、
前記物質の投入は、連続的に投入するものであることを特徴とする貯留構造物の漏水位置探査方法。
【請求項２０】
請求項１２に記載の貯留構造物の漏水位置探査方法において、
前記物質は、染料、顔料及び蛍光材のうち少なくとも一つを混合したものであることを特徴とする貯留構造物の漏水位置探査方法。
【請求項２１】
請求項１４に記載の貯留構造物の漏水位置探査方法において、
前記物質は、染料、顔料及び蛍光材のうち少なくとも一つを混合したものであり、
前記第２の判断による前記漏水箇所を含む所定の範囲を開削して前記染料、顔料及び蛍光材のうち少なくとも一つの前記比抵抗領域の流れの跡により前記漏水箇所を特定するステップを更に具備することを特徴とする貯留構造物の漏水位置探査方法。
【請求項１】
廃棄物を貯留する凹部と該凹部表面に設けられた遮水工とを有する貯留構造物の漏水位置探査システムにおいて、
前記廃棄物の保有水の電気伝導度と異なる電気伝導度の物質を投入して生成された前記保有水の比抵抗と異なる比抵抗領域を、電気探査法または電磁探査法で得られる、前記廃棄物表面の測線から前記遮水工までの鉛直断面での電気的情報に基づき検出可能な検出手段と、
前記検出手段により検出された前記比抵抗領域に関する情報を出力する出力手段と
を具備することを特徴とする貯留構造物の漏水位置探査システム。
【請求項２】
請求項１に記載の貯留構造物の漏水位置探査システムにおいて、
前記測線は、前記廃棄物表面に複数有するものであることを特徴とする貯留構造物の漏水位置探査システム。
【請求項３】
請求項２に記載の貯留構造物の漏水位置探査システムにおいて、
前記複数の測線は、異なる方向の測線を有することを特徴とする貯留構造物の漏水位置探査システム。
【請求項４】
請求項１に記載の貯留構造物の漏水位置探査システムにおいて、
前記電気的情報は、前記物質を前記廃棄物表面上の少なくとも二つの地点から前記保有水中に投入して夫々測定したものであることを特徴とする貯留構造物の漏水位置探査システム。
【請求項５】
請求項１に記載の貯留構造物の漏水位置探査システムにおいて、
前記物質は、前記保有水の電気伝導度の１．５倍以上であることを特徴とする貯留構造物の漏水位置探査システム。
【請求項６】
請求項１に記載の貯留構造物の漏水位置探査システムにおいて、
前記物質は、塩の濃度が０．１重量％以上であって２０重量％以下の塩水であり、前記保有水の電気伝導度の１．５倍以上であることを特徴とする貯留構造物の漏水位置探査システム。
【請求項７】
請求項１に記載の貯留構造物の漏水位置探査システムにおいて、
前記物質の投入は、連続的に投入するものであることを特徴とする貯留構造物の漏水位置探査システム。
【請求項８】
請求項１に記載の貯留構造物の漏水位置探査システムにおいて、
前記電気的情報に基づき前記検出手段により検出された情報を演算処理し、前記遮水工の漏水の有無及びその漏水箇所を判断する判断手段を更に具備することを特徴とする貯留構造物の漏水位置探査システム。
【請求項９】
請求項８に記載の貯留構造物の漏水位置探査システムにおいて、
前記判断手段は、少なくとも前記保有水への前記物質の投入位置と異なる一つの前記鉛直断面で前記比抵抗領域が検出された場合に前記遮水工に漏水が有ると判断することを特徴とする貯留構造物の漏水位置探査システム。
【請求項１０】
請求項９に記載の貯留構造物の漏水位置探査システムにおいて、
前記判断手段は、前記遮水工に漏水が有ると判断した場合に二つの隣り合う前記鉛直断面の一の鉛直断面には前記比抵抗領域が検出され、他の鉛直断面には前記比抵抗領域が検出されない場合に該隣り合う鉛直断面間に前記遮水工の漏水箇所が存在すると判断することを特徴とする貯留構造物の漏水位置探査システム。
【請求項１１】
請求項１に記載の貯留構造物の漏水位置探査システムにおいて、
前記物質は、染料、顔料及び蛍光材のうち少なくとも一つを混合したものであることを特徴とする貯留構造物の漏水位置探査システム。
【請求項１２】
廃棄物を貯留する凹部と該凹部表面に設けられた遮水工とを有する貯留構造物の漏水位置探査方法において、
前記凹部に貯留された前記廃棄物の保有水中に、該保有水の電気伝導度と異なる電気伝導度の物質を投入することにより、該保有水中に周囲の該保有水の比抵抗と異なる比抵抗領域を生成するステップと、
前記廃棄物表面上の複数の測線から前記遮水工までの複数の鉛直断面における前記比抵抗領域を電気探査法または電磁探査法により探査するステップと、
前記探査により得られた前記比抵抗領域に関する情報を出力するステップと
を具備することを特徴とする貯留構造物の漏水位置探査方法。
【請求項１３】
請求項１２に記載の貯留構造物の漏水位置探査方法において、
前記探査の結果に基づき、少なくとも前記保有水への前記物質の投入位置と異なる一つの前記鉛直断面で前記比抵抗領域が検出された場合に、前記遮水工に漏水が有ると判断する第１の判断のステップを更に具備することを特徴とする貯留構造物の漏水位置探査方法。
【請求項１４】
請求項１３に記載の貯留構造物の漏水位置探査方法において、
前記第１の判断により前記遮水工に漏水が有ると判断された場合に、二つの隣り合う前記鉛直断面の一の鉛直断面には前記比抵抗領域が検出され、他の鉛直断面には前記比抵抗領域が検出されない場合に、該隣り合う鉛直断面間に前記遮水工の漏水箇所が存在すると判断する第２の判断のステップを更に具備することを特徴とする貯留構造物の漏水位置探査方法。
【請求項１５】
請求項１２に記載の貯留構造物の漏水位置探査方法において、
前記複数の測線は、異なる方向の測線を有することを特徴とする貯留構造物の漏水位置探査方法。
【請求項１６】
請求項１２に記載の貯留構造物の漏水位置探査方法において、
前記探査は、前記物質を前記廃棄物表面上の少なくとも二つの地点から前記保有水中に投入して夫々探査するものであることを特徴とする貯留構造物の漏水位置探査方法。
【請求項１７】
請求項１２に記載の貯留構造物の漏水位置探査方法において、
前記物質は、前記保有水の電気伝導度の１．５倍以上であることを特徴とする貯留構造物の漏水位置探査方法。
【請求項１８】
請求項１２に記載の貯留構造物の漏水位置探査方法において、
前記物質は、塩の濃度が０．１重量％以上であって２０重量％以下の塩水であり、前記保有水の電気伝導度の１．５倍以上であることを特徴とする貯留構造物の漏水位置探査方法。
【請求項１９】
請求項１２に記載の貯留構造物の漏水位置探査方法において、
前記物質の投入は、連続的に投入するものであることを特徴とする貯留構造物の漏水位置探査方法。
【請求項２０】
請求項１２に記載の貯留構造物の漏水位置探査方法において、
前記物質は、染料、顔料及び蛍光材のうち少なくとも一つを混合したものであることを特徴とする貯留構造物の漏水位置探査方法。
【請求項２１】
請求項１４に記載の貯留構造物の漏水位置探査方法において、
前記物質は、染料、顔料及び蛍光材のうち少なくとも一つを混合したものであり、
前記第２の判断による前記漏水箇所を含む所定の範囲を開削して前記染料、顔料及び蛍光材のうち少なくとも一つの前記比抵抗領域の流れの跡により前記漏水箇所を特定するステップを更に具備することを特徴とする貯留構造物の漏水位置探査方法。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【図１３】
【図１４】
【図１５】
【図１６】
【図１７】
【図１８】
【図１９】
【図２０】
【図２１】
【図２２】
【図２３】
【図２４】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【図１３】
【図１４】
【図１５】
【図１６】
【図１７】
【図１８】
【図１９】
【図２０】
【図２１】
【図２２】
【図２３】
【図２４】
【公開番号】特開２００７−３４２９（Ｐ２００７−３４２９Ａ）
【公開日】平成１９年１月１１日（２００７．１．１１）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２００５−１８５９５７（Ｐ２００５−１８５９５７）
【出願日】平成１７年６月２７日（２００５．６．２７）
【出願人】（０００２２３１０４）東和科学株式会社 (9)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成１９年１月１１日（２００７．１．１１）
【国際特許分類】
【出願日】平成１７年６月２７日（２００５．６．２７）
【出願人】（０００２２３１０４）東和科学株式会社 (9)
【Ｆターム（参考）】
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