説明

Cu−In−Ga三元系焼結合金スパッタリングターゲットの製造方法

【課題】太陽電池の光吸収層を形成するためのCu−In−Ga−Se四元系合金膜を形成するときに使用するCu−In−Ga三元系焼結合金スパッタリングターゲットの製造方法を提供する。
【解決手段】原料粉末として、Ga:20〜50質量%を含有し、残部がCuおよび不可避不純物からなるCu−Ga二元系母合金粉末、In:20〜70質量%を含有し、残部がCuおよび不可避不純物からなるCu−In二元母合金粉末並びに純Cu粉末を用意し、これら原料粉末をIn:40〜60質量%、Ga:1〜45質量%を含有し、残部がCuからなる成分組成となるように配合し混合して混合粉末を作製し、得られた混合粉末をプレス成形して成形体を作製し、得られた成形体を焼結する。

【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
この発明は、太陽電池の光吸収層を形成するためのCu−In−Ga−Se四元系合金膜を形成するときに使用するCu−In−Ga三元系焼結合金スパッタリングターゲットの製造方法に関するものである。
【背景技術】
【0002】
近年、化合物半導体による薄膜太陽電池が実用に供せられるようになり、この化合物半導体による薄膜太陽電池は、ソーダライムガラス基板の上にプラス電極となるMo電極層を形成し、このMo電極層の上にCu−In−Ga−Se四元系合金膜からなる光吸収層が形成し、このCu−In−Ga−Se四元系合金膜からなるこの光吸収層の上にZnS、CdSなどからなるバッファ層が形成され、このバッファ層の上にマイナス電極となる透明電極層が形成された基本構造を有している。
前記Cu−In−Ga−Se四元系合金膜からなる光吸収層の形成方法として、蒸着法により成膜する方法が知られており、この方法により得られたCu−In−Ga−Se四元系合金膜からなる光吸収層は高いエネルギー変換効率が得られるものの、蒸着法による成膜は速度が遅いためにコストがかかる。そのために、スパッタリング法によってCu−In−Ga−Se四元系合金膜からなる光吸収層を形成する方法が提案されている(特許文献1参照)。
このCu−In−Ga−Se四元系合金膜をスパッタリング法により成膜する方法として、まず、Inターゲットを使用してスパッタによりIn膜を成膜し、このIn膜の上にCu−Ga二元系合金ターゲットを使用してスパッタすることによりCu−Ga二元系合金膜を成膜し、得られたIn膜およびCu−Ga二元系合金膜からなる積層膜をSe雰囲気中で熱処理してCu−In−Ga−Se四元系合金膜を形成する方法が提案されている。そして、前記Cu−Ga二元系合金ターゲットとしてGa:1〜40重量%を含有し、残部がCuからなる組成を有するCu−Ga二元系合金ターゲットが知られており(特許文献2参照)、このCu−Ga二元系合金ターゲットは一般に鋳造で作製されている。
【特許文献1】特開2003−282908号公報
【特許文献2】特許第3249408号明細書
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【0003】
近年、太陽電池の変換効率を一層高めるとともに、太陽電池の一層のコストダウンが求められており、そのために前記Cu−In−Ga−Se四元系合金膜を一層効率良く成膜することが求められている。
そこで、本発明者らは、従来法では、Inターゲットを使用してスパッタリングによりIn膜を成膜し、このIn膜の上にCu−Ga二元系合金ターゲットを使用してスパッタリングすることによりCu−Ga二元系合金膜を成膜してIn膜およびCu−Ga二元系合金膜からなる積層膜を形成していたのを、Cu−In−Ga三元系合金ターゲットを使用して一回のスパッタリングによりCu−In−Ga三元系合金膜を成膜すれば、成膜工程を一工程省略することができ、この成膜工程を一工程省略ことにより一層のコストダウンを図ることができるとの考えに基づいて、Cu−In−Ga三元系合金溶湯を作製し、このCu−In−Ga三元系合金溶湯を鋳造することによりCu−In−Ga三元系合金からなる鋳造ターゲットを作製し、このCu−In−Ga三元系合金からなる鋳造ターゲットを用いてスパッタリングすることによりCu−In−Ga三元系合金膜を成膜した。
【0004】
ところが、このCu−In−Ga三元系合金からなる鋳造ターゲットを用いてスパッタリングすると多くのパーティクルが発生し、太陽電池のCu−In−Ga−Se四元系合金膜からなる光吸収層を形成するためのCu−In−Ga三元系合金膜として供することができなかった。
【課題を解決するための手段】
【0005】
本発明者らは、スパッタリングに際してパーティクルが発生することの無いCu−In−Ga三元系合金からなるターゲットを開発すべく研究を行った。その結果、原料粉末として、Ga:20〜50質量%を含有し、残部がCuおよび不可避不純物からなるCu−Ga二元系母合金粉末、In:20〜70質量%を含有し、残部がCuおよび不可避不純物からなるCu−In二元母合金粉末並びに純Cu粉末を用意し、これら原料粉末をIn:40〜60質量%、Ga:1〜45質量%を含有し、残部がCuからなる成分組成となるように配合し混合して混合粉末を作製し、得られた混合粉末をプレス成形して成形体を作製し、得られた成形体を焼結することにより得られたCu−In−Ga三元系焼結合金ターゲットは、スパッタリングに際してパーティクルが発生することはない、という研究結果が得られたのである。
【0006】
この発明は、かかる研究結果に基づいてなされたものであって、
原料粉末として、Ga:20〜50質量%を含有し、残部がCuおよび不可避不純物からなるCu−Ga二元系母合金粉末、In:20〜70質量%を含有し、残部がCuおよび不可避不純物からなるCu−In二元母合金粉末並びに純Cu粉末を用意し、これら原料粉末をIn:40〜60質量%、Ga:1〜45質量%を含有し、残部がCuからなる成分組成となるように配合し混合して混合粉末を作製し、得られた混合粉末をプレス成形して成形体を作製し、得られた成形体を焼結するCu−In−Ga三元系焼結合金スパッタリングターゲットの製造方法、に特徴を有するものである。
【0007】
この発明のCu−In−Ga三元系焼結合金スパッタリングターゲットの製造方法は、Cu−Ga二元系母合金粉末およびCu−In二元母合金粉末を使用することを特徴とするものである。その理由は、Gaは化学的反応が激し過ぎて焼結の原料粉末として使用できないことからCu−Ga二元系母合金粉末を使用し、Inは融点が低すぎて焼結が困難となることからCu−In二元母合金粉末を使用するのである。
【0008】
この発明のCu−In−Ga三元系焼結合金スパッタリングターゲットの製造方法で使用するCu−Ga二元系母合金粉末の成分組成をGa:20〜50質量%を含有し、残部がCuおよび不可避不純物からなるように限定し、さらにCu−In二元母合金粉末の成分組成をIn:20〜70質量%を含有し、残部がCuおよび不可避不純物からなるように限定した理由は、Gaの含有量が20〜50質量%の範囲から外れた成分組成を有するCu−Ga二元系母合金粉末を使用し、さらにInの含有量が20〜70質量%の範囲から外れた成分組成を有するCu−In二元系母合金粉末を使用し焼結することにより作製したCu−In−Ga三元系焼結合金スパッタリングターゲットはスパッタリングに際してパーティクルが発生するので好ましくないからである。
【0009】
この発明のIn:40〜60質量%、Ga:1〜45質量%を含有し、残部がCuからなる成分組成を有するCu−In−Ga三元系焼結合金スパッタリングターゲットを製造する際に使用するCu−Ga二元系母合金粉末はGa:20〜50質量%を含有し、残部がCuおよび不可避不純物からなる成分組成を有する溶湯を作製し、不活性ガスを用いてガスアトマイズすることにより作製する。
また、この発明のIn:40〜60質量%、Ga:1〜45質量%を含有し、残部がCuからなる成分組成を有するCu−In−Ga三元系焼結合金スパッタリングターゲットを製造する際に使用するCu−In二元母合金粉末は、In:20〜70質量%を含有し、残部がCuおよび不可避不純物からなる成分組成を有する溶湯を作製し、不活性ガスを用いてガスアトマイズすることにより作製する。
【発明の効果】
【0010】
この発明によると、Cu−In−Ga−Se四元系合金膜からなる光吸収層を形成する際に、パーティクルを発生させることなくCu−In−Ga三元系合金膜を成膜することができるので、従来の成膜工程よりも少ない工程でCu−In−Ga−Se四元系合金膜からなる光吸収層を形成することができ、太陽電池のコスト削減に大いに貢献し得るものである。
【発明を実施するための最良の形態】
【0011】
表1に示される成分組成を有するCu−Ga二元系合金をカーボン坩堝内で高周波溶解し、アルゴンガスを用いてガスアトマイズすることにより平均粒径:35μmのCu−Ga二元系母合金粉末A〜Iを作製した。
さらに、表2に示される成分組成を有するCu−In二元系合金をアルミナ坩堝内で高周波溶解し、アルゴンガスを用いてガスアトマイズすることにより平均粒径:33μmのCu−In二元系母合金粉末a〜iを作製した。
さらに、平均粒径:20μmの純Cu粉末を用意した。
【0012】
【表1】

【0013】

【表2】

【0014】
実施例
表1に示されるCu−Ga二元系母合金粉末A〜I、表2に示されるCu−In二元系母合金粉末a〜iおよび純Cu粉末を表3に示される配合組成となるように配合し混合して混合粉末を作製し、この混合粉末をAr雰囲気中、圧力:196MPa、温度:140℃、30分間保持の条件でホットプレスすることにより表3に示される成分組成を有するCu−In−Ga三元系合金ホットプレス体を作製し、得られたホットプレス体の表面を切削してターゲットに仕上げることにより本発明Cu−In−Ga三元系焼結合金ターゲットの製造法(以下、本発明法という)1〜7および比較Cu−In−Ga三元系焼結合金ターゲットの製造法(以下、比較法という)1〜4を実施した。
【0015】
従来例
Cu−Ga二元系合金原料に、純Cu原料およびIn原料をカーボン坩堝に装入し高周波溶解して溶湯を作成し、この溶湯を鋳型に鋳造して表3に示される成分組成を有するインゴットを作製し、このインゴットの表面を切削してターゲットに仕上げることにより従来Cu−In−Ga三元系鋳造合金ターゲットの製造法(以下、従来法という)を実施した。
【0016】
更に、本発明法1〜7、比較法1〜4および従来法で得られたターゲットを市販のスパッタリング装置にセットし、
真空到達度:5×10−5Pa、
電力:800W、
雰囲気:Arガス、
ターゲットと基板との距離:70mm、
の条件で1時間スパッタを行い、異常放電回数をアーキングカウンターにて測定し、その結果を表3に示した。
【0017】
【表3】

【0018】
表1〜3に示される結果から、鋳造による従来法により作製したターゲットは、スパッタリングに際して異常放電が発生するが、これに対して焼結による本発明法1〜7により作製したターゲットはスパッタリングに際して異常放電は全く発生しないことから、本発明法1〜7は従来法に比べて格段に優れていることがわかる。しかし、成分組成がこの発明から外れた値を有する表1のCu−Ga二元系母合金粉末H〜I、この発明から外れた値を有する表2のCu−In二元系母合金粉末h〜iを使用する比較法1〜4により作製したターゲットはスパッタリングに際した異常放電が少し発生するので好ましくないことが分かる。

【特許請求の範囲】
【請求項1】
原料粉末として、Ga:20〜50質量%を含有し、残部がCuおよび不可避不純物からなるCu−Ga二元系母合金粉末、In:20〜70質量%を含有し、残部がCuおよび不可避不純物からなるCu−In二元母合金粉末並びに純Cu粉末を用意し、これら原料粉末をIn:40〜60質量%、Ga:1〜45質量%を含有し、残部がCuからなる成分組成となるように配合し混合して混合粉末を作製し、得られた混合粉末をプレス成形して成形体を作製し、得られた成形体を焼結することを特徴とするCu−In−Ga三元系焼結合金スパッタリングターゲットの製造方法。

【公開番号】特開2009−120863(P2009−120863A)
【公開日】平成21年6月4日(2009.6.4)
【国際特許分類】
【出願番号】特願2007−292738(P2007−292738)
【出願日】平成19年11月12日(2007.11.12)
【出願人】(000006264)三菱マテリアル株式会社 (4,417)
【Fターム(参考)】