説明

クリー インコーポレイテッドにより出願された特許

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【課題】高温アニーリングは、SiC基板上に含まれる窒化ガリウムベースの材料からなるエピタキシャル層に損傷を与える可能性がある。
【解決手段】炭化珪素(SiC)基板上に金属を形成し、この金属とSiC基板との界面部をアニーリングして、そこに金属−SiC材を形成し、SiC基板上のある箇所ではアニーリングされないようにして、そこには金属−SiC材が形成されないようにすることによって半導体素子のコンタクトを形成することができる。 (もっと読む)


【課題】半導体発光デバイスを搭載するように構成された基板を作製する工程を含む、半導体発光デバイスをパッケージする方法を提供すること。
【解決手段】半導体発光デバイスをパッケージングする方法は半導体発光デバイスを搭載するように構成された基板を作製するステップを含む。該基板は中に半導体発光デバイスを搭載するように構成された空洞を含んでもよい。該半導体発光デバイスは該基板上に搭載されて基板の接続部分に電気的に接続される。該基板は該半導体発光デバイス上に、該基板に接着された光素子を形成するために液体注入モールドされる。液体注入モールドのステップに先行して空洞の中の電気的に接続された半導体発光デバイス上に軟樹脂を塗布するステップがある。半導体発光デバイスの基板リボンも提供される。 (もっと読む)


【課題】ワイヤ・ボンディングを、他のワイヤ・ボンディングや他のLEDチップ上を横切らないように比較的短くすることにより、固体発光パッケージの組み立てを簡略化して信頼性を向上する。さらに、同じ側に1つの極性のリード線を形成することにより、複雑で高価な多層相互配線を避ける。
【解決手段】パッケージのサブマウントは、支持部材の第1の側面に近接した第1のボンディング領域および支持部材の第2の側面の方へ延在する第2のボンディング領域を有する第1の電気的ボンディング・パッドと、支持部材の第1の側面に近接し電子デバイスを受け入れるダイ取付領域および支持部材の第2の側面の方へ延在する延長領域を有する第2の電気的ボンディング・パッドと、支持部材の第2の側面と第2の電気的ボンディング・パッドのダイ取付領域との間に位置した第3の電気的ボンディング・パッドとを、サブマウントの支持部材の上面に備える。 (もっと読む)


【課題】半導体発光デバイスを搭載するように構成された基板を作製する工程を含む、半導体発光デバイスをパッケージする方法を提供すること。
【解決手段】半導体発光デバイスをパッケージングする方法は半導体発光デバイスを搭載するように構成された基板を作製するステップを含む。該基板は中に半導体発光デバイスを搭載するように構成された空洞を含んでもよい。該半導体発光デバイスは該基板上に搭載されて基板の接続部分に電気的に接続される。該基板は該半導体発光デバイス上に、該基板に接着された光素子を形成するために液体注入モールドされる。液体注入モールドのステップに先行して空洞の中の電気的に接続された半導体発光デバイス上に軟樹脂を塗布するステップがある。半導体発光デバイスの基板リボンも提供される。 (もっと読む)


【課題】基板上に成長されるGaN層は歪みを受ける可能性があり、歪みのレベルがある閾値を超えると、GaN層に亀裂が入る恐れがある。
【解決手段】半導体構造は、基板、前記基板上の核生成層、前記核生成層上の組成傾斜層、及び前記組成傾斜層上の窒化物半導体材料の層を含む。前記窒化物半導体材料の層は、前記窒化物半導体材料の層の中に間隔をおいて配置された複数の実質的に緩和された窒化物中間層を含む。前記実質的に緩和された窒化物中間層は、アルミニウム及びガリウムを含み、n型ドーパントで導電的にドープされ、また前記複数の窒化物中間層を含む前記窒化物半導体材料の層は、少なくとも約2.0μmの全厚を有する。 (もっと読む)


【課題】実装基板、キャビティおよびヒートシンクを含むパッケージ、ならびにそれらをパッケージングする方法を提供する。
【解決手段】半導体発光素子用の実装基板は、第1および第2の対向する金属面100a、100bを有する固体金属ブロック100を含む。第1の金属面100aは、1つのキャビティ110を有し、このキャビティは、少なくとも1つの半導体発光素子を中に実装するように、またキャビティ110から離れる方向に中に実装されている少なくとも1つの半導体発光素子により放出される光を反射するように構成される。第2の金属面100bは、中に複数のヒートシンクフィン190を備える。1つまたは複数の半導体発光素子は、キャビティ110内に実装される。反射被覆、配線、絶縁層も、パッケージ内に形成することができる。 (もっと読む)


【課題】チャネル層中のキャリア濃度を増すため、高いアルミニウム含有率を有した厚いAlGaN層は、成長中か冷却後にひびが入る傾向があり、これによってデバイスが破壊される。
【解決手段】基板上の第1のIII族窒化物層は第1の歪みを有する。GaN層のような第2のIII族窒化物層が、第1のIII族窒化物層上に設けられている。第2のIII族窒化物層は、第1のIII族窒化物層のバンドギャップよりも小さなバンドギャップを有し、かつ第1の歪みの大きさよりも大きい第2の歪みを有する。AlGaN層又はAlN層のような第3のIII族窒化物層がGaN層上に設けられている。第3のIII族窒化物層は、第2のIII族窒化物層のバンドギャップよりも大きなバンドギャップを有し、かつ第2の歪みと逆の歪みの型の第3の歪みを有する。ソースコンタクトとドレインコンタクトとゲートコンタクトを第3のIII族窒化物層上に設ける。 (もっと読む)


【課題】他の要素からアクティブ素子を保護し、LED小立方体の光学的出力を増大させ、比較的短い波長(例えば、525nm)のハイフラックスLED群とともに用いても光学的な品質が低下しない、カプセル化層を提供する。
【解決手段】発光素子10は、アクティブ領域13に印加された電圧に反応して光を発するよう設定されたアクティブ領域13を含み、第1のカプセル化層16は、少なくとも部分的にアクティブ領域13をカプセル化し、基材とナノ粒子群を含み、第1のカプセル化層16の少なくとも一つの物理的性質を変化させる。 (もっと読む)


【課題】炭化ケイ素デバイスのためのエッジ終端構造において、酸化膜などの絶縁層の境界面電荷の悪影響を中和し、多重フローティングガードリング終端では、この酸化膜電荷の変化に対する影響を少なくし、又は影響をなくす。
【解決手段】炭化ケイ素ベースの半導体接合に近接し、この半導体接合から間隔をおいて配置された、炭化ケイ素層中の複数の同心円のフローティングガードリングを有する。酸化膜などの絶縁層が、これらのフローティングガードリング上に設けられ、炭化ケイ素表面電荷補償領域が、これらのフローティングガードリング間に設けられ、この絶縁層に隣接している。かかるエッジ終端構造の製造方法もまた提供される。 (もっと読む)


【課題】発光ダイオードパッケージおよびその製造方法を提供する。
【解決手段】LEDパッケージ30は上面40および底面を有し、その上面40上に複数の上部導電性要素および上部導熱性要素を有するサブマウント32を備える。LED34が、上部要素に印加された電気信号がLED34を発光させるように、上部要素の1つの上に設けられる。導電性要素は、LEDからの熱をサブマウントの上面の大部分にわたって拡散する。下部導熱性要素が、サブマウントの底面上に設けられ、サブマウントからの熱を拡散し、レンズ70が、LEDの上に直接に形成される。 (もっと読む)


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