【課題】コークス炉における炉壁および炉底の耐火物の損耗量を簡易な方法で測定可能とするコークス炉における耐火物のプロファイル測定方法および耐火物の損耗量測定方法を提供する。
【解決手段】耐火物を炉壁及び炉底に設置したコークス炉１における耐火物のプロファイル測定方法であって、コークスを押し出した後、耐火物が赤熱している状態で耐火物およびその近傍に配置された基準点を含んで撮像し、該撮像は同一対象に対して撮影角度を異にした複数の画像を撮像するものであり、その画像データを取得して前記耐火物のプロファイルを算出する。 （もっと読む）

【課題】画像の奥行き方向の被写体の傾きをリアルタイムでユーザに知らせることができる内視鏡装置およびプログラムを提供する。
【解決手段】内視鏡２は被写体像を光電変換し、撮像信号を生成する。ＣＣＵ９は撮像信号を処理し、画像データを生成する。ＣＰＵ１８は、画像データを用いて、被写体上の点の空間座標および被写体上の点から内視鏡２の結像面までの被写体距離を三角測量の原理で計算する。また、ＣＰＵ１８は、被写体上の複数点についての被写体距離に基づいて、画像の奥行き方向の被写体の傾きの目安となる目印を表示するための処理を実行する。ＬＣＤ５は、画像データに基づいた被写体の画像を表示する。 （もっと読む）

【課題】連続的に多数の積層コンデンサの内部不良を検査することができる、検査装置および検査方法を提供する。
【解決手段】制御部は、赤外光が照射された積層コンデンサからの反射光を取得するステップ（Ｓ１００）と、分析対象データを平均化処理するステップ（Ｓ５００）と、最大波長側から小さい波長の反射率の極大値をカウントするステップ（Ｓ６００）と、反射率が極大値である波長を特定するステップ（Ｓ７００）と、反射率の極大値の差が最大の波長を特定するステップ（Ｓ１０００）と、特定された極大値に関するデータに基づいて不良品であるか否かを判定するステップ（Ｓ１２００）とを含む、プログラムを実行する。 （もっと読む）

【課題】測定範囲外で測定に必要な主走査の位置の変更に係る時間を短縮する。
【解決手段】走査制御部２５ａは、主走査機構１１を駆動させて測定範囲を距離Ｌの間隔を置いてＮ回、前記第１方向に平行な主走査をさせるとともに、測定範囲外で主走査機構による主走査の延長線上における延長副走査と、副走査機構３による第１方向と直交する第２の方向への副走査とを、ほぼ同時に実行させて距離Ｌの間隔をＮ−１回に亘って主走査位置を変更させる構成とした。 （もっと読む）

【課題】干渉縞に高周波成分が重畳されてしまう光学素子についてツェルニケ展開を行ったときにも、得られる多項式の直交性を保つことのできる収差測定方法を提供する
【解決手段】被検光学素子の波面収差の空間分布を、所定項数よりも少ない項数でツェルニケ展開して、低次の波面収差を得る低次波面収差算出工程と、低次波面収差算出工程において近似できなかった残差成分を、被検光学素子の波面収差の空間分布として算出する残差成分空間分布算出工程と、残差成分空間分布算出工程において算出された波面収差の空間分布を、所定項数でツェルニケ展開して、波面収差を得る高次波面収差算出工程と、高次波面収差算出工程において得られた波面収差のうち、所定項数よりも少ない項数について、低次波面収差算出工程において得られた波面収差を適用して、被検光学素子の波面収差を得る低次波面収差適用工程と、を備える。 （もっと読む）

【課題】光トモグラフィー計測により得られた断層画像における分解能の劣化を効率的に抑える。
【解決手段】各走査ライン毎に干渉信号ＩＳが取得され、干渉信号ＩＳの一部が抽出されることにより、信号長の異なる複数の抽出干渉信号ＩＳ０〜ＩＳ３が生成される。次に、抽出干渉信号ＩＳ０〜ＩＳ３から測定対象Ｓの各深さ位置ｚにおける中間断層情報ｒ０（ｚ）〜ｒ３（ｚ）が取得される。そして、測定対象Ｓの深さ位置ｚが深くなるにつれて信号長の短い抽出干渉信号ＩＳ０〜ＩＳ３から取得した中間断層情報ｒ０（ｚ）〜ｒ３（ｚ）を用いて断層情報ｒ（ｚ）が取得され、断層画像Ｐが生成される。 （もっと読む）

【課題】コークス炉の炭化室の炉壁を従来よりも効率的に補修することができるようにする。
【解決手段】複数のコークス炉１００の複数の炭化室１１で実際に生じた押出負荷と、その炭化室１１について導出した抵抗指数ｋとを用いて、押出負荷と抵抗指数ｋとの関係を示すグラフ１４０１を求めておく。その後、炉壁３次元プロフィールデータ１５０１、１５０２に対して、補修対象領域１５０３、１５０４が指定されると、その補修対象領域１５０３、１５０４を補修した場合の抵抗指数ｋを計算し、計算した抵抗指数ｋに対応する押出負荷を、グラフ１４０１から推定する。抵抗指数ｋと押出負荷とは明瞭な相関関係があるので、推定した押出負荷の信頼性は、極めて高いものとなる。したがって、ユーザは、押出負荷の推定値（計算値）に基づいて、補修箇所の判断を、容易に且つ正確に行える。 （もっと読む）

【課題】簡素な構成で微少径を維持しつつも偏向部の回転速度が不均一になる現象を低減して安定した低コヒーレンス光の走査を実現することができるＯＣＴプローブを提供すること。
【解決手段】ＯＣＴプローブは、光源から照射された低コヒーレンスな光を用いて観察対象の断層像を取得するためのＯＣＴプローブであって、回転自在に構成され、外部にある光源から照射された光を前記ＯＣＴプローブの先端近傍まで導く導光手段と、導光手段と離間して配設され、導光手段から間接的に回転トルクを受けることにより導光手段の中心軸回りに回転するように構成され、導光手段により導かれた光を偏向して外部に照射すると同時に外部からの反射光を導光手段に向けて偏向する偏向手段と、導光手段から偏向手段に回転トルクを伝達し、かつ偏向手段の慣性による回転を許容するトルク伝達手段と、を有する構成にした。 （もっと読む）

【課題】先端閉塞のシース内に挿置された光ファイバを回転させて光ファイバの軸周りの走査を行って光ファイバ先端部付近のＯＣＴ断層像を演算するＯＣＴシステムに使用されるＯＣＴプローブにおいて、正しく断層像を取得できるようにする。
【解決手段】ＯＣＴプローブが、光ファイバの先端部付近に光ファイバと一体になるよう取り付けられ、光ファイバの回転に伴ってシース内に封入された流体から受ける作用によって光ファイバをその先端方向に向かって牽引させるような推進力を光ファイバに付与するブレードを有する。 （もっと読む）

【課題】規定トルクが確保されているか否かを高い精度で判定することが可能なねじ良否判定方法及びねじ良否判定装置を提供する。
【解決手段】規定トルクを発生させることができるか否かに直接的に係るねじ長を、該ねじ長に比例するねじ部の山部の健全領域（ＯＫ領域）に置き換え、このねじ部の山部の健全領域をねじ部に照射したレーザ光の反射光強度に基き抽出して画像化し、抽出された健全領域の画像に基き、健全領域の面積とねじ部全体の面積とを比較し、健全領域が規定トルクを発生するのに必要な面積を確保していると判別した場合に、ねじ穴が良（ＯＫ）であると判定する。これにより、規定トルクが確保されているか否かを高い精度で判定することができる。 （もっと読む）

【課題】簡素な構成で微少径を維持しつつも偏向部の回転速度が不均一になる現象を低減して安定した低コヒーレンス光の走査を実現することができるＯＣＴプローブを提供すること。
【解決手段】ＯＣＴプローブは、光源から照射された低コヒーレンスな光を用いて観察対象の断層像を取得するためのＯＣＴプローブであって、回転自在に構成され、外部にある光源から照射された光を前記ＯＣＴプローブの先端近傍まで導く導光手段と、導光手段と離間して配設され、導光手段から間接的に回転トルクを受けることにより導光手段の中心軸回りに回転するように構成され、導光手段により導かれた光を偏向して外部に照射すると同時に外部からの反射光を導光手段に向けて偏向する偏向手段と、導光手段から偏向手段に回転トルクを伝達し、かつ偏向手段の慣性による回転を許容するトルク伝達手段と、を有する構成にした。 （もっと読む）

【課題】１次光線束を広い幅に扇形展開することを可能にし、かつ比較的簡単に製作可能である光偏向要素を提供する。
【解決手段】この出願は、光偏向要素（４５０）の光軸（４１７）に対して同軸に扇形に広げられて空間的に構造化された光線束（４２２）を屈折により発生させるための光偏向要素を開示する。光偏向要素（４５０）が少なくとも部分的に光透過性材料から作られた基材（４５２）を有し、その基材が光入口面（４６０）および光出口面（４７０）を有する。１次光線束（４１１）が基材（４５２）に入射可能であるように、光入口面（４６０）が構成されている。光出口面（４７０）が光偏向要素（４５０）の光軸（４１７）に関して円筒対称の輪郭を有し、その輪郭が基材（４５２）において凹みを定める。１次光線束（４１１）の扇形展開が、光軸（４１７）に対して異なって傾斜させられた回転対称の境界面（４７１，４７２）における屈折によって行なわれる。この出願は、更に対象物内に形成されている空洞の３次元測定のために上記の光偏向要素（１５０，４５０）を有する光学式測定装置（１００）を開示する。更に、この出願は、上記の光偏向要素（１５０）を用いて同軸に広げられて空間的に構造化された光線束（４２２）を発生させるための方法を開示する。 （もっと読む）

【課題】光断層画像化装置において、高速に高分解能の断層画像を取得する。
【解決手段】光源ユニット１０から、波長帯域1.0μｍ〜1.5μｍ内で、波長が繰り返し掃引される光Ｌａと、波長帯域0.6μｍ〜1.1μｍ内で、波長が繰り返し掃引される光Ｌｂとを同時に射出する。分波手段３は光Ｌａ、Ｌｂをそれぞれ測定光Ｌ１ａ、Ｌ１ｂと参照光Ｌ２ａ、Ｌ２ｂとに分割する。合波手段５は、測定光Ｌ１ａ、Ｌ１ｂが測定対象Ｓに照射されたときの反射光Ｌ３ａ、Ｌ３ｂと参照光Ｌ２ａ、Ｌ２ｂとを合波する。波長分割手段３０は、このとき生じた干渉光Ｌ４ａと干渉光Ｌ４ｂの波長帯域を0.9μｍ以下、0.9μｍ〜1.2μｍ以下、1.2μｍより長波長の３つの波長帯域に分割して干渉信号を取得する。光Ｌａと光Ｌｂとで波長が重複している重複波長帯域を含む0.9μｍ〜1.2μｍ以下の波長帯域においては、光源１０ａまたは光源１０ｂの一方の光源のみから光が射出される。 （もっと読む）

【課題】 光断層画像化装置において、光プローブの揺れによる干渉信号レベルの揺らぎを防止する。
【解決手段】 測定対象内に挿入される光ファイバ１２を収容した光プローブ１０を、光断層画像化装置本体１Ａに接続してなる光断層画像化装置１において、光プローブ１０の測定対象Ｈ外に延びる部分の少なくとも一部を、すくなくとも光断層画像取得時に固定する固定手段５Ａを備える。 （もっと読む）

【課題】被検査物の被検査面に向けて出射させる検査光を拡開させることにより、被検査物の被検査面の表面状態の検査に要する検査時間を短縮させることができる被検査物検査装置を提供する。
【解決手段】被検査物検査装置は、被検査面１０をもつ被検査物１を保持する被検査物保持部１５と、検査光８を投光する投光部２と、投光部２から投光された検査光８を透過させると共に被検査物１の被検査面１０に向けて検査光８を出射させる導光体３と、被検査物１の被検査面１０で反射した反射光８ｈを撮像する撮像部６とを備える。導光体３は、被検査物１の被検査面１０に対向する側に形成され、検査光８をこれの出射角を拡開させて被検査物１の被検査面１０に照射させるように、断面で被検査面１０に突出する円弧凸状をなす出射面４８を備えている。 （もっと読む）

【課題】被検査物の表面に存在する加工部が欠陥の有無の判別に与える影響を排除して正確な検査を実施でき、かつ処理の高速化を図ることが可能な表面検査装置を提供する。
【解決手段】被検査物の円筒状の表面に対応する２次元画像内の濃度値に基づいて欠陥の有無を判別する表面検査装置において、２次元画像上に出現すべき加工部の像２０３ａ〜２０３ａ、２０４を、加工部毎に別々の基準画像２１１、２１２として保持するとともに、表面の軸線方向に相当する軸線相当方向における加工部の像の位置ｙ１、ｙ２、及び表面の周方向に相当する周相当方向に関して同一の加工部の像が存在すべき個数を基準画像２１１、２１２と対応付けて保持する。基準画像、該基準画像に対応付けられた位置及び個数に基づいて、２次元画像上で欠陥判別の対象から除外されるべき領域を特定し、その特定された領域外における画素の濃度値に基づいて欠陥の有無を判別する。 （もっと読む）

【課題】本発明の目的は、灰溶融炉の炉室壁の現実の損耗量を光学的計測技術を利用して求めるための芯出治具、計測システム、計測方法を提供することである。
【解決手段】芯出治具（２０）は、灰溶融炉（１）の外殻構造（２）に対して位置決めされる基部（２１）と、前記灰溶融炉の炉室（３）に配置されるように前記基部に支持される基準物体（２５）とを具備している。したがって、外殻構造（２）に対して位置決めされて炉室（３）に配置される基準物体（２５）を基準として、炉室壁（４、５、６）の現実の損耗量を光学的計測技術を利用して求めることが可能となる。 （もっと読む）

【課題】高価な画像処理装置を用いることなく中子孔の狭窄・閉塞状態の良否判定を短時間で行うことができる中子孔検査方法およびその装置を目的とする。
【解決手段】 内面が微細凹凸粗面で非直線状の中子孔３の開口２から投光器４の検査光を孔内面に照射し、孔内面形状を表した投影光を一つ以上の屈曲孔部４で拡散反射させて孔内面照射用の面光源を一つ以上得、該面光源からの反射光を他方の開口２に臨ませた受光器６により検出し、検出された光量を良否判定器１５で閾値と比較して中子孔３の狭窄・閉塞状態を判定するものとしたから、一方の開口２から他方の開口２までの屈曲孔部形状と孔内面形状に基く光量が反射光として検出され、中子孔の良否判定を簡単且つ短時間で行うことができる。 （もっと読む）

【課題】ブレードの欠陥検査工程と寸法検査工程とを連動させて自動化を図る。
【解決手段】欠陥検査装置２１および寸法検査装置３１は、ブレード１が欠陥検査装置２１および寸法検査装置３１に対して連続的に相対移動されるように取付台１１の移動方向に沿って配列されている。そして、欠陥検査装置２１は、ブレード１の内部の欠陥を検査する内部欠陥検査部２５と、ブレード１の第１の基準面３における欠陥を検査する第１の表面欠陥検査部２６と、ブレード１の第１の基準面３に直交する第２の基準面４における欠陥を検査する第２の表面欠陥検査部２７とを有する。 （もっと読む）

【課題】平板形状の被検物体の端部の状態を精度よく検査する。
【解決手段】平板形状の被検物体１の端部に対して、前記被検物体の表面あるいは裏面の上方あるいは下方以外の位置から拡散光を照射する照明手段５と、前記端部を前記被検物体の表面あるいは裏面と平行な面に対して垂直方向位置から撮像する撮像手段４と、前記撮像手段により得られた像により、前記端部の前記表面あるいは裏面に対して傾斜した部分の状態を検査する検査手段７とを備える。 （もっと読む）