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Fターム[2F065HH07]の内容

光学的手段による測長装置 (194,290) | 入射光 (9,091) | 強度分布 (4,196) | コード化パターン光 (370)

Fターム[2F065HH07]に分類される特許

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【課題】キャンバスや木枠等の湾曲やねじれの影響をなくし、筆のタッチや絵具の凹凸を抽出できるようにして、絵画の立体複製を精密に行える絵画表面計測装置を提供する。
【解決手段】絵画表面計測装置100は、絵画10の表面形状及び色彩を測定する測定部20と、測定部20で測定された表面形状データから低周波成分を除去して又は高周波成分を抽出して、絵画10の描画層厚データとする描画層厚測定部30と、絵画の描画層厚データをクラス分けしてマップ化するマップ形成部40と、マップ形成部40でマップ化された描画層厚データと測定部20で測定された色彩データとを出力するデータ出力部60とを備える。 (もっと読む)


【課題】対象物の表面に光パターンを投影することにより付与した空間符号を誤りなく抽出することを可能にし、しかも少数の光パターンによって高い空間分解能を得る。
【解決手段】対象物の表面に投影手段11により複数種類の光パターンを規定の順で投影し、投影方向とは異なる方向から光パターンの投影毎に撮像手段12により対象物の表面を撮像する。画像処理装置10は、撮像手段12により得た濃淡画像内で光パターンの各領域に対応する画素の位置を求め3次元形状を計測する。投影手段11が投影する光パターンは、複数の縞状の領域に分割され、全領域においてそれぞれ選択されるすべての強度レベルが1回ずつ出現するという条件と、各領域ごとに強度レベルの変化順序が異なるという条件とを満たすように規定した順序で対象物の表面に投影される。符号付与部15は、画素の明度の変化順序と明度の大小関係とから画素ごとの空間符号を抽出する。 (もっと読む)


【課題】表示パネルの点・線欠陥を検出する場合に、回路規模の増大を回避し、利用効率の低下及び処理速度の低下を抑制し得る画像処理装置を提供する。
【解決手段】画像メモリ12の表示パネル画像データから水平1ライン分の画像データを読み込むアドレスを、垂直方向cn毎となるように設定する垂直メモリアドレス制御回路(入力用)23aと、水平1ラインの((h−1)×cm+1)の各画素データを連続して格納するh個のラインバッファメモリ24を1組として、v組設けたラインバッファメモリユニットと、水平ラインの各画素データを画像メモリ12から複数ライン分をライン毎に順に読み込み、ラインバッファメモリ24に格納する画像メモリ制御回路21と、ラインバッファメモリ24から出力された比較演算対象画素データを用いて画素間比較演算を行う比較演算処理回路25と、演算結果を格納する画像メモリ12とを備える。 (もっと読む)


【課題】 計測対象物体における計測線分と、撮像画像上の計測対象物体のエッジとを正確に対応付け、この対応の関係を用いてより正確に撮像装置の位置姿勢を計測するための技術を提供すること。
【解決手段】 計測線分投影部400は、現実物体199の位置姿勢に3次元モデルを配置させた後、3次元モデルを撮像画像上に投影する。撮像画像上に投影された3次元モデルを構成する辺の周辺で、撮像画像上の現実物体199の辺を探索する。探索の結果に基づいて決まる、撮像画像上に投影された3次元モデルを構成する各辺と、撮像画像上に位置する現実物体199を構成する各辺との対応関係を用いて、現実物体199と撮像装置50との位置姿勢関係を計算する。上記探索は、注目辺の周辺で探索を行う場合、撮像画像上に投影された3次元モデルを構成する各辺と注目辺との位置関係に応じて、探索範囲を設定する。 (もっと読む)


【課題】一回の撮影で対象物体の形状を計測することができて、複数方向からの同時計測も可能な投影パターンの投影方法および投影手段を備えた3次元形状計測方法および装置を提供する。
【解決手段】3次元形状計測装置は、制御装置5と、撮像カメラ2と、プロジェクタ1からなり、制御装置5は、2画素以上の大きさを有し、それぞれを識別可能な特徴的な色分布を設定した複数の小領域からなる投影パターンを作成してプロジェクタ1により対象物3に投影させ、撮像カメラ2により投影パターンが投影されている対象物3を撮像し、撮像された撮像画像中の任意の小領域の色分布に基づいて投影パターンの小領域との対応関係を求める。 (もっと読む)


【課題】LIF法によるエンジン燃焼実験に用いる複数のカメラの位置調整装置を提供する。
【解決手段】複数の透光部を備えるパターンが形成されたプレート100と、パターンにより生成された光パターンを撮影する位置調整自在に支持された複数のカメラ153、154と、それぞれのカメラにより撮影された光パターンの映像からそれぞれのカメラ相互間の位置ズレ量を演算する画像処理装置160と、画像処理装置によって演算されたそれぞれのカメラ相互間の位置ズレ量からそれぞれのカメラを位置調整するカメラ位置制御装置190とを有することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】最適パターン光投影のような強度変調パターン光投影手法による非静止物体の三次元画像計測を行う。
【解決手段】計測対象物体Aにパターン光を投影するパターン投影機1と、パターン光が投影された計測対象物体Aを撮像して画像を撮像するカメラ2と、カメラ2により撮像した画像のデータを処理するデータ処理装置3とから構成され、パターン投影機1とカメラ2により、計測対象物体Aに全面投影用のパターンの光および強度変調パターン光を投影して画像を撮影し、撮影した全照明反射画像および反射パターン画像により計測対象物体Aの運動状態を推定し、全照明反射画像もしくは反射パターン画像を調節した上で、反射パターン画像の強度値を補正し、補正された反射パターン画像の強度値から投影パターン光を形成している個別パターン光の投影方向角を算出し、奥行き距離が算出されるので、精度の高い三次元情報を非接触で得ることができる。 (もっと読む)


【課題】本発明は、距離画像検出の高速化及び高精細化を実現する3次元情報検出方法及びその装置を提供することを目的とする。
【解決手段】位相がπ/M(Mは4以上の整数)ずつシフトするM種類の強度変調光をフレーム毎に順次切替えて被写体に照射し、各強度変調を照射するときの被写体からの反射光を水平走査ライン毎に光蓄積と転送のタイミングがシフトするシャッタを通してフレーム毎にM種類の2次元画像を撮影し、前記M種類の2次元画像の差である差画像の和と前記差画像の差との比に基づいて距離を画像の輝度で表す距離画像を算出する。 (もっと読む)


【課題】積雪面に照射手段によりレーザーパターンを斜め上方から照射し、積雪面に照射されたレーザーパターンを撮像手段により撮影し、撮影されたレーザーパターンの位置の変化に基づいて積雪深計測手段により積雪深さを計測することができる。
【解決手段】積雪面SにレーザーパターンLを斜め上方から照射する照射手段1と、積雪面に照射されたレーザーパターンを撮影する撮像手段2と、撮影されたレーザーパターンの位置の変化に基づいて積雪深さHを計測する積雪深計測手段3と、撮影されたレーザーパターンの形状に基づいて積雪面の凹凸状況を計測する凹凸計測手段4と、撮影されたレーザーパターンの形状の変化に基づいて積雪面の雪質を計測する雪質計測手段5とを具備してなる。 (もっと読む)


【課題】被測定面の形状変化が大きいような場合でも、三角測量の原理に基づき、被測定面の3次元形状を高精度かつ高速度に求めることが可能な3次元形状測定装置を得る。
【解決手段】一露光時間内に被測定面7の全域に亘って輝線を間欠的に投影、走査する投影走査系2と、被測定面7に投影されて変形した各輝線を互いに異なる方向から撮像する第1および第2の撮像系3,4と、各輝線の投影方向を検出する投影方向検出手段5とを備えることにより、第1の3次元座標取得部61によって得られたステレオ法による3次元座標データに基づく形状解析と、第2の3次元座標取得手段によって得られた光切断法による3次元座標データに基づく形状解析とを、適宜組み合わせて実施できるようにする。 (もっと読む)


【課題】被写体の3次元形状を計測するに際し、無駄なく簡易な演算により3次元形状を計測できるようにする。
【解決手段】第1の撮影手段2または第2の撮影手段3が取得した基準画像B0または参照画像R0から顔等の特定領域を検出し、特定領域に応じたパターン光をプロジェクタ4から被写体の特定部分に照射する。パターン光が照射された被写体を撮影することにより第1および第2の撮影手段2,3が取得した基準画像B1および参照画像R1における特定領域上の画素の対応付けを行って、特定部分の3次元形状を計測する。 (もっと読む)


【課題】三次元形状測定装置において、撮像所要時間を短縮すると共に、被写体表面の反射率の分布に関わらず正しく三次元情報を取得する。
【解決手段】三次元形状測定装置は、2種類のスリットパターンSa、Sbを切替えて照射するパターン照射装置と、被写体Pを撮像する複眼撮像装置と、撮像された画像情報から空間コード情報を取得する電子回路とを備える。複眼撮像装置は、同一平面上に配置された2つの光学レンズを有する光学レンズアレイと、各光学レンズにより形成される2つの個眼像A、Bを撮像する固体撮像素子8と、個眼像A、Bを1シャッタ動作内で時間差をもって順に読出すローリングシャッタ装置9を備え、パターン照射装置は、ローリングシャッタ装置9が1シャッタ動作を行う間にスリットパターンSa、Sbを順に切替える。各個眼像A、Bには、それぞれスリットパターンSa、Sbによって空間が明暗に分割された被写体Pの像が形成される。 (もっと読む)


【課題】鏡面乃至半鏡面状の測定対象表面上の、観察可能なあらゆる場所における、面歪の分布を、測定対象の3次元形状の影響を受けることなく、光学的手段を用いて定量的に、また高速・高精度に測定および評価できる、面歪の測定装置及び方法を提供することを課題とする。
【解決手段】複数種の明暗パタンを切替えて表示することが可能なパタン表示手段と、鏡面乃至半鏡面状の測定対象表面上に写る前記パタン表示手段に表示された複数の明暗パタンの鏡像を、撮影する撮影手段と、撮影された複数の明暗パタンの鏡像画像を画像処理して前記測定対象表面の面歪分布を演算する面歪分布演算手段とを備えたことを特徴とする鏡面乃至半鏡面上の面歪の測定装置において、前記測定対象のマクロ3次元形状を測定するマクロ形状測定手段と、測定されたマクロ3次元形状に基づいて、演算された面歪分布を補正するマクロ形状補正手段とを備える。 (もっと読む)


【課題】コストの増加や検査効率を低下させることなく、被検査面の傾斜角度を従来よりも細かい単位で検出できるようにする。
【解決手段】半球状の筐体20を具備する照明部2と撮像面を真下に向けて配備したカメラ1により基板を撮像する。筐体20には、周方向および上下方向をそれぞれ等角度間隔をもって区分けすることにより複数の領域が設定される。各領域には、それぞれ12個のLED22aが3×4のマトリクスを構成するように配置される。これらのLED22aのうち、マトリクスの4隅を除く8個のLED22aは、その点消灯のパターンによって、基板に対する照明の方向を示すバイナリコードを表示する。検査の際の画像処理では、画像に現れた反射パターンからそのパターンに対応する照明光の方向を特定して、フィレットの傾斜角度を求める。 (もっと読む)


【課題】測定精度を向上させた形状測定方法を提供する。
【解決手段】本発明に係る形状測定方法は、被検物に対して所定形状の投影パターンを投影し、被検物で反射した投影パターンの像を検出パターンとして検出するステップ(S101〜S102)と、前記ステップで検出した検出パターンに基づいて、検出パターンの形状分布がほぼ一様となるように投影パターンに対して前記所定形状の補正を行ったニアネットパターンを作成する第2のステップ(S103)と、前記ステップで作成したニアネットパターンを被検物に対して投影して、被検物で反射したニアネットパターンの像を検出パターンとして検出し、形状分布がほぼ一様となった検出パターンに基づいて被検物の表面の高さを算出するステップ(S104〜S106)とを有している。 (もっと読む)


【課題】正確な表面形状測定を行うことができる形状測定方法を提供する。
【解決手段】本発明に係る形状測定方法は、被検物と撮像光学系との間の光軸方向距離を変化させて、光軸方向距離に応じた複数の被検物の測定画像を撮像取得するステップ(プS101〜S103)と、前記ステップで取得した複数の測定画像に基づいてそれぞれ、被検物の表面の高さを複数算出するステップ(S104)と、前記ステップで複数算出した被検物の表面の高さに基づいて、複数の測定画像の中から、撮像光学系が被検物に対して合焦状態となる光軸方向距離に対応した合焦測定画像を決定するステップ(S105〜S106)と、前記ステップで決定した合焦測定画像に基づいて被検物の表面の高さを算出する第4のステップ(S107〜S108)とを有している。 (もっと読む)


【課題】通常の感度のカメラを用いながら、他の装置との干渉を効果的に回避するようにした環境認識装置および方法を提供する。
【解決手段】環境空間に存在する被測定物に向けて1フレームを規定するパルス列のデューティファクタτ/Tに従って間欠的に光パターンを照射する照射器、光パターンが照射されたときの露光で撮影して得た画像と照射されないときの露光で撮影して得た画像の差分画像を出力するカメラ、および差分画像に基づいて被測定物を認識する認識手段を備えた環境認識装置において、1フレーム内においてパルス列のパルス繰り返し周期Tをランダムに変化させて前記光パターンを照射するタイミングを制御するタイミング制御器を備える。 (もっと読む)


【課題】コスト上昇を抑えながら比較的に短時間で被計測物の3次元形状を計測する。
【解決手段】位相シフト法を利用した3次元形状計測において必須となる正弦波状の縞パターンAkと、空間をコード化して縞パターンAkの縞次数nを確定するための空間コードパターンCkとを投影パターンPkとして被計測物に同時に投影して撮像する。しかも、縞パターンAkと空間コードパターンCkを組み合わせた投影パターンPkを投影パターン制御手段30で生成して投影しているため、特許文献2に記載されている従来例のように高価な投影装置や撮像装置を用いる必要がなく、その結果、表面に段差や孔のある物体の3次元形状をコスト上昇を抑えながら少ない撮像回数で計測することができる。 (もっと読む)


【課題】 DMDのようにパターンを可変的に表示するパターン表示素子を用いる構成において、被検面の面位置を高精度に且つ安定的に検出することのできる位置検出装置。
【解決手段】 本発明の位置検出装置では、被検面(Wa)上に斜め方向から光束を投射する投射系(1〜8)と、被検面で反射された光束を受光する受光系(9〜15)とを備え、この受光系の出力に基づいて被検面の位置を検出する。投射系は、パターンを可変的に表示するパターン表示素子(4)と、このパターン表示素子のパターンの像を被検面上に形成するための結像光学系(6,8)と、パターン表示素子への入射光の入射角度を被検面への入射光の入射角度よりも実質的に小さく変更するための入射角変更素子(7)とを有する。 (もっと読む)


【課題】
【解決手段】
被写体から追加的な情報を得るための方法および装置、ならびに、表面撮像および三次元撮像の方法が記載されている。単一のレンズ、単一の絞り開口、単一のセンサーシステムおよびステレオ光学系を修正して、被写体の表面マップまたは三次元表現を成功裡に生成しうる。本発明の様々な態様は、標準的なデフォーカス技術に共通しているミスマッチングを解消するための、アドレス可能なパターンの使用例を示している。
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