【課題】撮像対象との距離を表す距離画像を生成する際に、撮像対象の光反射やその光沢などの外乱、測定原理等に起因する距離の誤差の低減を実現する。
【解決手段】撮像対象との距離を計測するための画像を撮像する第１の撮像手段１１０と、第１の撮像手段１１０で撮像された画像に基づくデータを用いて撮像対象までの距離を算出する距離算出手段１３０と、偏光成分を計測するための画像を撮像する第２の撮像手段１２２と、第２の撮像手段１２２で撮像された画像に基づくデータを用いて偏光状態の解析処理を行う偏光解析手段１４０と、距離算出手段１３０で算出された距離に係る距離情報１０３及び偏光解析手段１４０で解析処理された偏光状態に係る偏光解析情報１０５に基づいて、撮像対象の距離画像１０６を生成する距離画像生成手段１５０を備える。 （もっと読む）

【課題】本発明は、ステレオカメラを利用した３次元距離認識装置を提供する。
【解決手段】本発明の３次元距離認識装置は、測定しようとする選択点の視差を検出するステレオビジョンカメラ１１０と、前記選択点が視差を発生させない物体である場合、パターン柄を発生させて、前記パターン柄を前記選択点に投映させるパターン発生装置１２０とを具備することで、測定しようとする物体が単色の平面や透明な硝子の場合でも、測定しようとする選択支点の距離を正確に認識することができるという長所がある。 （もっと読む）

【課題】パターン投影型の三次形状測定の原理に起因する測定誤差を抑えること。
【解決手段】本発明の三次元形状測定装置を例示する一態様は、測定対象物上に縞パターンを投影する投影手段（１３）と、測定対象物上に投影される縞パターンの位相を変化させながら、その測定対象物の撮像を繰り返すことにより、測定対象物上の各位置から輝度変化データを取得する撮像手段（１４）と、測定対象物に対する縞パターンのフォーカス位置を変化させながら、輝度変化データの取得を繰り返し実行させることにより、測定対象物上の各位置から輝度変化データを複数ずつ取得する制御手段（１０１）と、制御手段が取得した複数の輝度変化データの中から信頼性の高いものを選出する選出処理を、測定対象物上の各位置について行う選出手段（１００）と、測定対象物上の各位置について選出された輝度変化データによって表される各位置の座標を、測定対象物の面形状として求める形状算出手段（１００）とを備える。 （もっと読む）

【課題】熱間鍛造異形品の形状評価の量産工程へのインライン化を可能とする非接触形状測定装置を提供する。
【解決手段】非接触形状測定装置１３０は、回転テーブル１３１、ロボット１４１、エアブロー部１５１、参照ポイント設定部１６１、および、デジタイザ装置１７１を備えている。エアブロー部１５１は、回転テーブル１３１上のクランクシャフト２００の上側に移動し、エアーノズル１５２からクランクシャフト２００にエアを吹き付ける。続いて、参照ポイント設定部１６１は、回転テーブル１３１上のクランクシャフト２００の上側に移動し、クランクシャフト２００表面に参照ポイントを設定する。次いで、デジタイザ装置１７１は、クランクシャフト２００の計測位置に応じた位置調整後、スキャニングによりクランクシャフト２００の形状測定を行う。 （もっと読む）

【課題】
【解決手段】３次元表面プロファイル測定のための小視野を有する光学式ゲージ（１０）は、光源（２２）と、照射光路に沿って光を誘導する照射光学系（２８、３０、４２）とを有するプロジェクタ（２０）を含む。光学格子装置（３４）は、照射光路に配置され、構造化光パターン（４６）を照射するために照射光の分布を変更する。移相装置（４７）は、前記被測定表面（８０）上の所望の位相ずれを伴う少なくとも３つの位置へ構造化光パターンを移動する。ビューア（５０）は、照射光路と平行ではない観察光路を有する観察光学系と、前記表面からの構造化光パターンの拡散反射の画像を感知する光感知アレイ（５８）と、画像を記録するカメラ（５７）とを含む。光学式ゲージは、カメラと通信するデータ入力部と、画像から得られる表面輪郭情報に基づいてプロファイリング対象表面をモデル化するプロセッサとを具備するコンピュータ（６１）をさらに含む。 （もっと読む）

三次元表示を使用して物理パラメータを推定するための、方法、システム、および装置。一態様では、既定の光パターンを対象物上に投影し、この投影光パターンと対象物の一部分との相互作用から生じる光パターンを検出する。この検出光パターン内の複数の光要素の三次元位置を判定し、この位置に基づいて、対象物の物理パラメータ、例えば重量を推定する。例えば、この方法、デバイス、およびシステムを使用して、家畜動物などの対象物の少なくとも一部分の三次元表示を作り出すことができる。 （もっと読む）

【課題】位相シフト法を利用した三次元計測を行うにあたり、計測精度の低下を抑制することのできる三次元計測装置を提供する。
【解決手段】三次元計測装置を具備する基板検査装置は、クリームハンダの印刷されてなるプリント基板の表面に対し、縞状のパターン光と光強度及び位相が一定の均一光を照射する照射装置と、プリント基板上の照射された部分を撮像するＣＣＤカメラと、撮像された画像データに基づきプリント基板上の計測対象点における高さ計測を行う制御装置とを備えている。制御装置は、各画像データ毎に均一光が照射された補正エリア５１内にて検出されるプリント基板上のマーク７０の位置を特定し、これらの相対位置関係に基づき、複数通りの画像データ相互間の位置ズレ量（Δｘ，Δｙ）を補正する。さらに、パターン光の位相ズレ量を補正した上で、プリント基板上の計測対象点における高さ計測を行う。 （もっと読む）

【課題】物体の三次元形状を迅速に精度良く計測する。
【解決手段】短波長の光パターン２０及び長波長の光パターン３０の各々を物体２に投射するプロジェクタ３と、光パターン２０、３０が投射された物体２を撮影するカメラ４と、カメラ４の撮影画像に基づいて、光パターン２０、３０の相対位相を算出し、算出した光パターン３０の相対位相に基づいて、光パターン２０の相対位相と絶対位相との間のオフセット値を求め、該オフセット値と、算出した光パターン２０の相対位相とに基づいて、物体２までの距離Ｚを求める制御部５とを備え、光パターン３０の波長（長波長）を光パターン２０の波長（短波長）の非整数倍の長さとし、光パターン３０の相対位相と光パターン２０の相対位相との対応関係を光パターン３０の周期毎に異ならせた三次元形状計測装置。 （もっと読む）

【課題】位相シフト法を利用した三次元計測を行うにあたり、より高精度な計測をより短時間で実現することのできる三次元計測装置を提供する。
【解決手段】三次元計測装置を有する基板検査装置は、クリームハンダの印刷されてなるプリント基板に対し縞状の光パターンを照射する照射装置と、プリント基板上の照射された部分を撮像するＣＣＤカメラと、これにより撮像された画像データに基づき三次元計測を行う制御装置とを備えている。制御装置は、周期２μｍの第１光パターンを第１位置にて照射して得られた画像データに基づき各画素毎の第１高さデータを算出する。また、半画素ピッチ斜めにずれた第２位置にて、周期４μｍの第２光パターンを照射して得られた画像データに基づき各画素毎の第２高さデータを算出する。そして、第２高さデータを基に、各第１高さデータの縞次数を特定し、当該第１高さデータの値を縞次数を考慮した値に置き換える。 （もっと読む）

【課題】テレセントリック光学系を用いることなく、計測精度の向上を図ることのできる三次元計測装置を提供する。
【解決手段】三次元計測装置を具備する基板検査装置は、クリームハンダの印刷されてなるプリント基板の表面に対し縞状のパターン光を照射するための照射装置４と、プリント基板上の照射された部分を撮像するためのＣＣＤカメラ５と、ＣＣＤカメラ５により撮像された画像データに基づきプリント基板上の各座標位置における高さ計測を行う制御装置とを備えている。また、制御装置は、ＣＣＤカメラ５のレンズ５ａの画角により生じ得る計測データのズレを、ＣＣＤカメラ５の高さＬcoと、プリント基板に対し照射されるパターン光の照射角αとに基づき補正する。 （もっと読む）

【課題】軸上色収差量が可変の結像光学系を提供する。
【解決手段】結像光学系は、結像レンズ３と、結像レンズ３の光軸方向に移動可能な第１レンズ１及び第２レンズ２とを備え、第１レンズ１及び第２レンズ２のうち少なくとも一方のレンズを光軸方向に移動させることにより結像光学系の軸上色収差量が可変的に調節され、第１レンズ１及び第２レンズ２の光軸方向の位置関係を変化させることにより、軸上色収差量の変動に伴う結像光学系の倍率色収差の変動が抑制される。 （もっと読む）

【課題】物体の三次元形状を迅速に精度良く計測する。
【解決手段】三次元形状計測装置は、短波長及び長波長の光パターン２０、３０の各々を物体２に投射するプロジェクタ３と、物体２を撮影するカメラ４と、距離Ｚ₁と対応付けて光パターン２０の絶対位相を登録した第１テーブル４０と、距離Ｚ₂と対応付けて光パターン３０の相対位相及び光パターン２０のオフセット値ｎを登録した第２テーブル５０と、撮影画像に基づいて光パターン２０、３０の相対位相を算出し、第１及び第２テーブル４０、５０を利用して物体２までの距離を求める制御部５とを備える。制御部５は、光パターン２０の相対位相が０、２π又はそれらの近傍の値であるときに、光パターン３０の相対位相と第２テーブルを照合して得られる距離Ｚ₂と、光パターン２０の絶対位相と第１テーブル４０を照合して得られる距離Ｚ₁とを対比し、両者が適合しないときにオフセット値ｎを変更する。 （もっと読む）

【課題】重複画像における誤対応点を自動判定することで、三次元形状の測定に必要な初期値を始めとする測定値を自動で取得する。
【解決手段】
形状測定装置１は、重複撮影領域で測定対象物１８を撮影する撮影部２〜９と、撮影部２〜９によって撮影された重複画像における測定対象物１８の特徴点の位置を対応付ける特徴点対応付部２１と、特徴点対応付部２１で対応付けた特徴点に基づき、測定対象物１８のモデルを形成する測定モデル形成部２３と、測定モデル形成部２３で形成した測定モデルと、別の測定対象物の基準モデルとに基づいて、誤対応点を判定する誤対応点判定部２４と、誤対応点判定部２４で誤対応点と判定された点を除いた特徴点の位置等に基づき、測定対象物１８の三次元形状を求める三次元形状測定部２５とを備える。 （もっと読む）

【課題】配線等の製造作業の煩雑さの少ない三次元形状計測用のパターン光発生装置を提供する。
【解決手段】ＬＥＤチップは、線状ＬＥＤ素子が当該素子の延伸方向に垂直な方向に沿って複数配列されてなる素子アレイを備える。この素子アレイは、半導体プロセスにより生成される。各線状ＬＥＤ素子は、それぞれ線状に延びるｐ側電極１０８を有しており、素子分離溝１１０により互いに分離されている。各線状ＬＥＤ素子は共通の基板１２０上に形成されており、その基板１２０の下側には全素子で共用されるｎ側電極１３０が形成される。 （もっと読む）

【課題】投影されるパターンのピッチと対物レンズの開口数とを最適化して、十分な高さ検出精度を得ることができる形状測定装置を提供する。
【解決手段】形状測定装置１は、投影パターン１３の像を、対物レンズ１７の焦点面に結像して検査対象物Ｓに照射する照明光学系２と、検査対象物Ｓの像を結像する撮像光学系３と、検査対象物Ｓの像を検出して画像信号を出力する撮像素子２１と、検査対象物Ｓ又は対物レンズ１７を相対的に移動させて、撮像素子２１により、合焦状態の異なる複数の像の画像データを取得して検査対象物Ｓの形状を得る制御部２０と、を有し、対物レンズ１７の焦点面に形成された投影パターン１３の像のピッチ及び対物レンズ１７の開口数が、撮像光学系３により、検査対象物Ｓから出射する回折光のうち、少なくとも３次の回折光までを取り込むことができるように設定する。 （もっと読む）

【課題】 光切断法により対象物体の３次元情報を計測する作業システムにおいて、高い計測精度を実現する。
【解決手段】 ロボットアーム１１１と、前記ロボットアーム１１１先端部に配置されたハンド位置検出部１１４と、スリット光を照射するスリットレーザ投光器１１３と、ロボットアーム１１１とは独立した位置に固定され、対象物体１６０を撮像するカメラ１２０と、カメラ１２０による撮像により得られた対象物体１６０の画像データに含まれるハンド位置検出部１１４上に形成された光切断線に基づいて、スリット光の光切断面を算出し、該算出した光切断面と対象物体１６０上に形成された光切断線とに基づいて、対象物体１６０の位置及び姿勢を算出する計算機１４０とを備える。 （もっと読む）

本発明は、タイヤＰの表面のディジタル凹凸像を収集する装置であって、立体視像の収集のための２つのカラーカメラ（１３ａ，１３ｂ）を有し、各カメラは、所与の原色（Ｒ，Ｇ，Ｂ）のためのＮ個の１次イメージセンサ（１３１ａ，１３２ａ，１３３ａ，１３１ｂ，１３２ｂ，１３３ｂ）を有し、Ｎは、２以上であり、カメラは、照明手段（２３１，２３２，２３３）の使用によりタイヤ表面の所定の領域（Ｚ）に向かって放出され（Ｅ）、タイヤ表面により反射された（Ｆ）光を収集するよう配置され、収集装置は、各々独立して且つ同一方向に沿ってカメラの原色（Ｒ，Ｇ，Ｂ）のうちの１つに対応した波長を持つ光を所与の幅（Ｌ₁，Ｌ₂・・・Ｌ_N）の交互に並んだ照明バンド及び非照明バンドから成るフリンジ系（Ｓ₁，Ｓ₂・・・Ｓ_N）に従って、タイヤ表面の領域（Ｚ）上に同時に投射するＮ個の照明手段（２３１，２３２，２３３）を有することを特徴とする収集装置に関する。
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【課題】自動的な光ファイバ伝送路測定を可能にして、保守効率の向上を図る。
【解決手段】送信部１ａは、光ファイバ伝送路の測定に使用する測定用パケットを生成し、光ファイバ伝送路を介して対向装置３へ送信する。受信部１ｂは、光ファイバ伝送路を介して対向装置３から折り返し戻ってきた測定用パケットを検出する。計測部１ｃは、測定用パケットの生成から検出するまでに要する時間であるパケット伝送時間を計測する。測定部１ｄは、パケット伝送時間にもとづいて、少なくとも光ファイバ伝送路の長さに関する、光ファイバ伝送路の測定制御を行う。折り返し部３ａは、測定用パケットを測定装置１０へ折り返し出力する。 （もっと読む）

【課題】 ３次元形状の測定方法及び測定装置を提供すること。
【解決手段】 本発明の３次元形状の測定方法は、データベースからフィーチャー情報を読み出し、ボードを測定位置に移動し、測定ヘッドをボードの検査領域に移動し、３次元測定のための第１光と２次元測定のための第２光とを検査領域に照射して、反射された第１反射イメージと第２反射イメージとを撮影し、フィーチャー情報と、第１反射イメージおよび第２反射イメージのうち少なくとも一つ以上とを比較して検査領域の歪曲を検査し、検査領域を再設定し、再設定された検査領域を検査することを含むことを特徴とする。本発明の測定方法によれば、３次元形状を正確に測定することができる。 （もっと読む）

【課題】改良された多軸干渉計を提供すること。
【解決手段】装置は、複数の自由度に関する反射測定対象物の相対位置を測定する多軸干渉計を含み、この干渉計は、複数の自由度の内の異なる一つの自由度に関する測定対象物の相対位置についての情報を各々が含む複数の出力ビームを生成するように構成される。各出力ビームは測定対象物に共通経路に沿って少なくとも１回接触するビーム成分を含み、複数のビーム成分の内の少なくとも一つのビーム成分が、共通経路とは異なる第１経路に沿って測定対象物に対して少なくとも２回目の接触を更に行なう。 （もっと読む）