【課題】被写体にパターン光を照射することにより取得した画像を用いて、被写体の３次元形状を正確に計測する。
【解決手段】第１のカメラ２により被写体のプレ画像を取得し、演算部５がプレ画像上に複数の領域からなる照射範囲を設定する。さらに、照射範囲の領域毎にパターン光照射の有無を判定し、判定結果に応じてプロジェクタ４の変換部１２にパターンを表示する。これにより、光源１１をオンとすると、被写体の必要な部分にのみパターン光が照射される。被写体におけるパターン光の反射光は、第１および第２のカメラ２，３に入射する。そして、第１および第２のカメラ２，３が基準画像および参照画像を取得し、演算部５が画素の対応付けを行うことにより、被写体の３次元形状を計測する。 （もっと読む）

【課題】被写体にパターン光を照射することにより取得した画像を用いて、被写体の３次元形状を正確に計測する。
【解決手段】プロジェクタ４から所定方向に偏光されたパターン光を出射して被写体に照射する。被写体におけるパターン光の反射光は、フィルタ部１４，１５により所定方向に直交する方向に偏光されて、第１および第２のカメラ２，３に入射する。これにより、第１および第２のカメラ２，３が基準画像および参照画像を取得し、演算部５が画素の対応付けを行うことにより、被写体の３次元形状を計測する。 （もっと読む）

【課題】従来の縞パターン投影法とフーリエ変換法による三次元計測方法に、新たな処理フローを加えることにより、感光体表面に発生する膜厚むら、きず、突起、異物及び色むら等の全種の欠陥を検出する表面検査装置、それを用いた欠陥検出方法、プログラム及び記録媒体を提供する。
【解決手段】表面検査装置は、対象物上に縞パターンを投影する手段と、対象物の表面を撮像する手段と、対象物の画像データからフーリエ変換法により対象物の三次元形状データを算出する手段と、画像データの高周波成分に基づいて欠陥検出を行う手段と、低周波成分に基づいて欠陥検出を行う手段と、を備える。 （もっと読む）

【課題】発光装置（対象物）の位置を追跡しつつ、データの読み取りも円滑に行うことが可能な技術、発光装置を提供する。
【解決手段】「色彩の変化の変化（変化の切り替え）」でデータを表す発光装置を提供する。最初の１次変化で、その物体の特定、位置の特定を行い、その後、いわば２次変化（１次変化の切り替え）でデータを表している。したがって、物体の位置の特定を行いつつ、自由にデータを表すことが可能となったものである。 （もっと読む）

可視光干渉パターンの様々な使用が提供される。適した干渉パターンは、絞りのパターンからの回折により形成されるパターンである。本明細書中で開示される典型的な使用は、並進及び／又は角度位置決定システムなどの空間計測学に関連する。更なる使用は、光自体の特性の解析（例えば、電磁放射線の波長の決定）を含む。更なる他の使用は、光が通過する物質の１つ以上の特性（例えば屈折率）の解析を含む。干渉パターンの一部がＣＣＤチップなどの画素化された検出器で捕らえられ、捕らえられたパターンが計算されたパターンと比較される。最大値間の間隔の非常に正確な測定が可能であり、したがって、干渉パターン中における検出器の位置の非常に正確な測定を行なうことができる。
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物体の３次元表面形状特徴および／またはテクスチャ特徴を取得するシステムおよび方法を提供する。前記物体の表面にパターンを射影する。前記物体の基本２次元画像を取得し、前記物体の２次元特徴画像を取得し、前記物体における前記射影パターンの反射により２次元表面点を前記基本２次元画像から抽出し、前記２次元表面点を用いてセンサ座標系内の３次元表面点の集合を計算して、２次元表面形状／テクスチャ特徴の集合を抽出する。 （もっと読む）

【課題】ワーク表面の影響を受けずに、好適に焦点合わせを行うことができるオートフォーカス装置を提供する。
【解決手段】硬さ試験機１００において、パターン作成プログラム６３ａにより、試料Ｓの表面に投影する任意のパターンをユーザに作成させ、パターン投影プログラム６３ｂよりその任意のパターンを投影し、任意のパターンが投影された試料Ｓの表面が画像として撮像されると、その画像に基づいて、スペクトル強度算出プログラム６３ｃにより周波数解析を行い、スペクトル強度を算出する。そして、自動焦点合わせプログラム６３ｆにより、試料ＳをＡＦ（Ｚ）ステージ４により移動させ、移動させた位置で、スペクトル強度算出プログラム６３ｃにより算出される、ＤＣ成分から所定距離離れた位置における周波数成分のスペクトル強度が所定値を上回るか否かが判断され、上回ると判断された場合に、その位置にて焦点を合わせる。 （もっと読む）

【解決手段】バーコード読み取り装置および方法であって、そこではプローブ光のスペクトルがまず空間にフーリエ変換され、バーコード上に導かれ、そしてフーリエ変換され、スペクトル的に符号化されたバーコードパターンを時間ドメインの波形に変換する。ある実装では、スペクトルドメインから空間ドメインへのフーリエ変換は分散要素によって行われ、一方でスペクトル的に符号化されたバーコードパターンから時間ドメインの波形へのフーリエ変換は群速度分散（ＧＶＤ）によって行われる。時間的に符号化されたバーコードパターンは光ディテクタによって検出され、デジタイザによってデジタル化され、およびデジタル信号プロセッサによって解析される。本発明は、１および２次元バーコードの読み取りや変位検知や表面測定や幅およびギャップの測定やフローサイトメトリや光メディアの読み取りや存在または非存在検出や他の関連分野を含む複数の分野に適用可能である。 （もっと読む）

【課題】検査対象物表面からの反射光のノイズ成分を除去して反射光のピーク輝度の検出を容易にし、測定精度の向上を図る。
【解決手段】対物レンズを介して検査対象物上に複数の光ビームを照射して複数の測定点を指定し、前記対物レンズと検査対象物との間隔を変化させながら、撮像手段で前記複数の測定点からの反射光を受光して前記各測定点に対応する複数の輝度を取得し、該複数の輝度から前記各測定点のピーク輝度を検出して前記検査対象物表面の凹凸形状を測定する表面形状測定方法であって、前記各測定点に対して光ビームの照射及び照射停止の明暗二つの状態を交互に与えて各状態における輝度を取得し、前記測定点毎に前記明暗二つの状態の輝度を減算処理して相対輝度を算出し、前記対物レンズと検査対象物との間隔を変化させながら前記測定点毎に得られた複数の前記相対輝度から各測定点のピーク輝度を検出するものである。 （もっと読む）

【課題】対象物の複数のカメラ画像を記録して組み合わせて、対象物の３Ｄ座標を決定する、対象物を３Ｄデジタル化するための方法を改善する。
【解決手段】対象物１を撮影した写真から対象物１の２Ｄ特徴点１１，１２，１３；２１，２２，２３を決定する。これら２Ｄ特徴点の３Ｄ座標を決定する。一の写真と別の写真との間で互いに対応する２Ｄ特徴点からなる２Ｄ点対応組３１，３２，３３を複数組決定する。これら２Ｄ点対応組の中から複数組の２Ｄ点対応組を選択して３Ｄ変換対象を決定する。該３Ｄ変換対象の品質を、２Ｄ特徴点の３Ｄ座標を参照して決定して、該３Ｄ変換対象の中から有効３Ｄ特徴点を決定する。その有効３Ｄ特徴点の３Ｄ座標を、対象物１のカメラ画像を組み合わせるために使用する。 （もっと読む）

【課題】フォーカスの精度を良好に維持できる光学式測定装置を提供すること。
【解決手段】投影板にはサイズの異なる複数のパターンＰ１〜Ｐ３が形成され、小さなサイズのパターンＰ１〜Ｐ３ほど投影板を透過する光束の中心軸Ｌ近くに配置されている。そのため、低倍率の時には、光束の中心軸Ｌから離れた位置にある大きなサイズのパターンＰ３が用いられ、高倍率の時には、光束の中心軸Ｌに近接配置される小さなサイズのパターンＰ１が用いられることとなるので、ズーミングに伴うパターンＰ１〜Ｐ３のサイズの変化を抑制でき、フォーカスの精度を良好に維持できる。 （もっと読む）

【課題】半鏡面反射性物体の姿勢を求める方法及び装置の提供。
【解決手段】カメラは、半鏡面反射性物体の一組の符号化画像及び一組のフラッシュ画像を取得する。符号化画像は、レーザービームパターンで物体を走査しながら取得され、フラッシュ画像は、カメラに近い異なる場所にある一組の光源で物体を照らしながら各光源につき１枚ずつ取得される。一組の符号化画像から物体の表面上の点の３Ｄ座標が求められ、一組のフラッシュ画像に落ちた影から物体の２Ｄシルエットが求められる。一組のフラッシュ画像の照度差ステレオから３Ｄの点の面法線が得られる。３Ｄ座標、２Ｄシルエット及び面法線を物体の既知の３Ｄモデルと比較して、物体の姿勢を求める。 （もっと読む）

航空機の構成要素における複合材料の分析のためのシステムおよび方法である。構造化光測定を使用して対象物の３次元形状が判定され、次いで、レーザ超音波測定を行うときの走査数を最少にするために３次元形状が分析される。 （もっと読む）

複合材料を分析するためのシステムおよび方法である。構造化光を用いる改善されたスキャン速度を含む、複合物品の形状および位置を測定するための改善された技術が提供される。
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複合材料の解析のためのシステムおよび方法である。複合材料のレーザー超音波測定を、複合物品の形状および位置と相関付けられる。
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【課題】可変シート状物品等のワークに対して行う作業を自動化するために、その３次元形状を高速かつ高分解能に取得すること。
【解決手段】ステレオカメラの撮像領域に配置されたワークにパターンを投影し、ステレオカメラによりワークのパターン付きステレオ画像を取得し、ステレオ画像処理することによりワークの３次元形状を計測する方法であって、前記投影パターンは、前記ワークのパターン付きステレオ画像の対応付けを行うための第１のパターンと、ワークの３次元形状を計測するための第２のパターンとを備えることを特徴とする３次元形状の計測方法およびその装置。 （もっと読む）

【課題】投光装置の実部品点数を削減し、小型化を実現できる形状計測装置を得る。
【解決手段】ビームの照射パターン信号を生成して伝送制御部４を介して投光装置３に伝送すると共に、伝送制御部を介して伝送される照射パターンに対応して撮像装置２より撮像された画像に基づいて対象物１の形状を計測する形状計測部５とを備えた形状計測装置において、投光装置３は、光源８、コリメート光学系９、平行ビームを走査する偏向走査装置１１、平行ビームの整形及び偏向制御を行うビーム制御光学系１０、ビーム制御光学系の反射光を受光する２つの受光素子１２ａ，１２ｂを有し、ビーム制御光学系１０は、平行ビームを整形しスリット光に伸張するレンズ部１４、前記レンズの両端に設けられて、前記平行ビームを前記受光素子に導くミラー部１５を有し、伝送制御部４は、２つの受光素子の受光信号に基づいて偏向走査装置の走査時間を制御する。 （もっと読む）

【課題】本発明は、解析誤差を確実に抑えることのできるフーリエ変換法による波形解析方法を提供することを目的とする。
【解決手段】 本発明の波形解析方法の一態様は、キャリアが重畳された入力波形へフーリエ変換法による波形解析処理を施すことにより、前記入力波形の位相情報を抽出し、その位相情報に基づきその位相情報に含まれる信号成分を算出する波形解析方法であって、前記入力波形のフーリエスペクトルから＋１次スペクトルと−１次スペクトルとを分離する（Ｓ１６，Ｓ２０）に当たり、それらスペクトルの少なくとも一方を狭帯化する狭帯化手順（Ｓ１４，Ｓ１８）を有することを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】被検面の形状を簡易かつ低コストで細密に測定し得るパターン投影形状測定装置を得る。
【解決手段】投影系２により被検非球面８ａに投影されるパターン像は、被検非球面８ａの形状基準となる基準形状面に投影された場合に撮像される変形パターン像が、解像可能な所定の基準パターンと等しくなるように構成される。このパターン像が被検非球面８ａに投影されて撮像系３により撮像された変形パターン像の、基準パターンからの形状偏差に基づき、形状解析装置４１において被検非球面８ａの形状情報が求められる。 （もっと読む）

【課題】物体の３Ｄ座標を決定するためにパターンを物体に対して投影し、この物体から反射されたパターンを撮影して評価する方法を改善する。
【解決手段】第１ステップにおいて、物体２の第１サブ領域１２に対してパターンを投影し、物体２の第１サブ領域１２から反射されたパターンを撮影する。第２ステップにおいて、物体２の第２サブ領域に対してパターンを投影し、物体２の第２サブ領域から反射されたパターンを撮影する。そして、撮影したパターンを評価する。 （もっと読む）