【課題】簡素な構成にて目標領域の情報を精度よく取得できる情報取得装置およびこれを搭載する物体検出装置を提供する。
【解決手段】情報取得装置１は、波長８３０ｎｍ程度のレーザ光を出射するレーザ光源１１１と、レーザ光を前記目標領域に向けて投射する投射光学系１０と、前記目標領域からの反射光を受光して信号を出力するＣＭＯＳイメージセンサ１２５とを有する。レーザ光が出射されたときにＣＭＯＳイメージセンサ１２５から出力される第１の撮像データから、レーザ光が出射されていないときにＣＭＯＳイメージセンサ１２５から出力される第２の撮像データが減算され、減算結果が、メモリ２５に記憶される。３次元距離演算部２１ｃは、メモリ２５に記憶された減算結果に基づいて、３次元距離情報を演算し取得する。 （もっと読む）

【課題】被測定物の三次元形状測定を可能とする画像測定機を提供する。
【解決手段】テーブル１と、撮像光学部１０と、これらを相対移動させる相対移動機構５０とを有する画像測定機において、撮像光学部１０は、前側レンズ１２、後側レンズ１３およびテレセントリック絞り１４を有するテレセントリック光学系１１と、このテレセントリック光学系１１によって結像された被測定物の画像を撮像するＣＣＤカメラ１５とを含んで構成され、レーザ光を用いて、テレセントリック光学系１１の光軸上における被測定物表面の光軸方向の位置を非接触で測定するオートフォーカスレーザ変位計部２０とを備える。 （もっと読む）

【課題】パターン投影法による人の頭部等の３次元計測に用いられるパターン光を、簡易な装置で明るく、高精細に投影する。
【解決手段】フラッシュを光源とする事で簡易な構造とし、投影する直線状のパターンと平行な方向には広く、垂直な方向には狭いスリット状の絞りを設ける事により、投影された像のパターンと垂直な方向のぼけ幅を小さくし、高精細なパターン光を得る。また、ライトパイプを用いる事により明るいパターン光を得、高精度な３次元計測を行う。 （もっと読む）

【課題】ＣＭＯＳセンサーによる撮像時に、投影照明と回転シャッタとの同期を取る。
【解決手段】画像形成装置は照明組立体を有し、照明組立体は、複数の放射源と投影光学系を有し、放射源から視覚野の異なるそれぞれの領域の上へ放射を投影するように構成される。画像形成組立体は、画像センサ上に視覚野の光学的画像を形成するように構成された、画像センサと対物光学系を有し、画像センサは、多重のグループ内に配置されたセンサ要素の１配列を有し、画像センサは、視覚野の電子画像を形成するため、回転シャッタによりトリガーされて、連続するそれぞれの露出期間において、視覚野の異なるそれぞれの区域からの放射を獲得する。制御装置は、照明組立体が視覚野の異なるそれぞれの区域を前記回転シャッタと同期して照明するために、放射源をパルスモードで順次活性化するように接続される。 （もっと読む）

【課題】被写体が所定の条件を満たしたときには被写体の有する直線部の寸法を測定し寸法測定結果を表示部に表示させ得るカメラを提供する。
【解決手段】被写体像を撮影する撮影部２と、撮影部により取得された画像信号に基く画像及びその関連情報を表示する表示部３と、撮影部により取得された画像のうち第１の方向に延びる第１の直線，第１の直線に対して直交する第２の方向に延びる第２の直線及び第３の直線を検出する直線検出部１１ｂ，１１ｃと、第１の直線と上記第２の直線との交点となる第１のポイント，第１の直線と第３の直線との交点となる第２のポイントを検出するポイント検出部１１ｄと、第１のポイントと第２のポイントとの間の距離を測定する測定部１１ｅと、測定部による測定結果を表示部に表示する表示制御部３ａとを備える。 （もっと読む）

【課題】光学システムにおいて、位相および振幅情報を含む波面分析、ならびに３Ｄ測定を実行する方法および装置、特に、光学システムの画像面のような、中間面の出力の分析に基づく方法および装置を提供する。
【解決手段】 薄膜コーティング、または多層構造の個々の層が存在する表面トポグラフィの測定について記載する。多重波長分析を、位相および振幅マッピングと組み合わせて利用する。マクスウェルの方程式の解に基づき、仮想波面伝搬を用いて、波面伝搬および再合焦によって位相および表面トポグラフィの測定を改良する方法について記載する。このような位相操作方法によって、または広帯域およびコヒーレント光源の組み合わせを利用する方法によって、光学撮像システムにおいてコヒーレント・ノイズの低減を達成する。本方法は、集積回路の分析に適用され、コントラストを高めることにより、または１回のショット撮像における３Ｄ撮像によってオーバーレイ測定技法を改善する。 （もっと読む）

奥行き画像コンシューマーと複数の異なる奥行き画像プロデューサーとの間の互換性が、奥行き画像コンシューマーとの互換性がないサポートされていないデプスカメラパラメーターを有する固有の奥行き画像を受信し、当該固有の奥行き画像を、奥行き画像コンシューマーと互換性のあるサポートされた仮想デプスカメラパラメーターを有する仮想的な奥行き画像へと変換することによって提供される。この仮想的な奥行き画像は奥行き画像コンシューマーへ出力される。
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【課題】 構成素子の配置誤差や画像情報検出装置自体の配置誤差に対して、パターンの検出位置精度が鈍感となる画像情報検出装置を提供すること。
【解決手段】 複数の感光ドラムを有するカラー画像形成装置の画像の重なりずれを検出する画像情報検出装置は、四角形の発光面を有する光源と、所定の方向に移動する像担持体と、四角形の受光面を有する受光手段と、前記光源の発光面と前記像担持体を共役関係にし、前記光源から出射された光束を前記像担持体上に形成された重なりずれ検出パターンに照射する照明光学系と、前記像担持体と前記受光手段の受光面を共役関係にし、前記重なりずれ検出パターンにて反射された光束を前記受光手段に導光する受光光学系と、を有し、前記発光面の前記像担持体上における共役像の輪郭を形成する発光面共役像直線部と前記受光面の前記像担持体上における共役像の輪郭を形成する受光面共役像直線部は平行である。 （もっと読む）

【課題】 計量皿に載置された被測定物の単位重量あたりに対する天秤ビームの他端部が変位する変位の量が小さくても、天秤ビームの他端部の変位を正確に算出することができる電子天秤を提供すること。
【解決手段】 一端部に被測定物１５が載置される計量皿９が連結され、他端部に電磁力発生装置６、７が連結される天秤ビーム４と、光束を出射する発光部２と、光束を受光する受光面２１、２２、２３、２４を有する受光部Ｒとを備える光学的位置センサ２０と、受光部Ｒの受光面２１、２２、２３、２４で受光された受光量情報に基づいて、天秤ビーム４の他端部の変位を算出する制御部５とを備える電子天秤１であって、受光部Ｒは、４個以上に分割された受光面２１、２２、２３、２４を有し、制御部５は、４個以上の受光量情報に基づいて、天秤ビーム４の他端部の変位を算出する。 （もっと読む）

【課題】 参照光と被検光との相対位置及び光路長差を独立して調整することにより、被検物の面位置を高精度に計測する。
【解決手段】 白色光源からの光を用いて被検物の表面の位置を計測する計測装置は、白色光源からの光を参照光と被検光とに分割し、被検光と参照光とを合成する光学系と、被検光と参照光との干渉光を検出する検出器と、参照光又は被検光の光路内に配置された光学部材であって、参照光と被検光との光路長差及び相対位置とを変更するための光学部材と、光学部材の位置を可変とする位置可変機構とを有する。位置可変機構を用いて光学部材の位置を変更することにより参照光と被検光との光路長差及び相対位置を独立して調整する。 （もっと読む）

【課題】近接場光エッチングを実行しつつ、リアルタイムで表面粗さを計測する。
【解決手段】原料ガス雰囲気中に光学素子２を配置し、原料ガスのガス分子の吸収端波長よりも長波長からなる光を光学素子２に照射することにより、当該光学素子２表面に形成された凹凸における少なくとも角部に発生させた近接場光に基づいて上記原料ガスを解離させて上記角部をエッチングし、更にエッチング中に光学素子２表面に対して表面粗さ計測用のレーザ光を照射し、そのレーザ光が光学素子２表面で散乱された散乱光の強度を測定し、測定した散乱光強度に基づいて角部へのエッチングによる表面粗さを計測する。 （もっと読む）

【課題】絞りが組みつけられた状態で容易に且つ確実に絞りの開口の形状を検査することができる絞りの検査方法及び内視鏡装置を提供すること。
【解決手段】被検体の像を取得するための光学系を有する光学機器に組みつけられた絞りを検査する絞りの検査方法であって、検査光を出射する検査光源を前記絞りよりも前記光学系の像面側に配置し、前記検査光を前記絞りの開口を覆う範囲に照射する照射工程Ｓ２と、前記絞りを通過した前記検査光により前記開口の像を撮像し、前記撮像された像の形状に基づいて前記絞りを検査する検査工程Ｓ５と、を備える。 （もっと読む）

【課題】本発明は、サンプルの厚み情報を短時間で精度よく取得する。
【解決手段】本発明は、取得した位相差像の基準像に対する相関状態を算出し、該相関状態に応じて組織切片ＴＳの厚み情報を取得するようにしたことにより、１つの位相差像から組織切片ＴＳの厚み情報が取得でき、またサンプルの厚み方向の分布を反映した厚み情報を取得することができ、かくして厚み情報を短時間で精度よく取得することができる。 （もっと読む）

【課題】 物体の変位量を高精度に測定可能な変位測定装置を提供すること。
【解決手段】 本発明の一側面としての変位測定装置は、格子パターン６が形成されたスケール７と、スケール７に光を照射する光源と、スケール７の格子パターン６で回折された光を受光する受光素子と、を備える。格子パターン６の形状は、その格子パターン６の格子方向Ｙに一定の周期で変化している。受光素子は、格子パターン６上の、格子方向Ｙにその周期の自然数倍の長さを有する領域１００で回折された光を受光する。 （もっと読む）

【課題】本発明はサーボエリアを設定し、サーボエリア、データエリアのうち少なくとデータエリアの欠陥を検出できるパターンドメディア用ハードディスク検査装置及び検査方法を提供することにある。
【解決手段】本発明はサーボエリア及びデータエリアにパターンが形成されたハードディスク表面に２次元的に走査して照射し、前記ハードディスク表面からの散乱光を受光して前記ハードディスク表面の欠陥を検出する際に、前記散乱光のうちサーボエリアから第１散乱光に基づいてサーボエリアを設定し、前記設定結果から前記散乱光のうちデータエリアからの第２散乱光を抽出し、前記データエリアの欠陥を検出することを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】複数の撮像画像に亘って頻繁に撮像対象となった被写体を推定できる解析装置、撮像装置、サーバ装置、解析システムを提供する。
【解決手段】撮像装置１において、ＣＰＵ１１が特定プログラムを実行することにより、推定プログラムの実行により推定された画像データごとの領域を同一平面上に重ね合わせた際の、重ね合わせ度合いが所定値以上となる箇所を被写体の存在位置として特定するように構成した。 （もっと読む）

【課題】紡糸口金の検査に要する人手や時間を軽減し、簡便に紡糸口金を検査することが可能な紡糸口金の検査装置及び検査方法を提供する。
【解決手段】光源部２と、光源からの光を投影レンズ７に導く集光レンズ３と、集光レンズ３を経た光を投影する投影レンズ７を具備するプロジェクタにおいて、光源からの光を通す開口部を有し、かつ集光レンズ３に隣接して光源からの光を遮光する紙または板４を備え、集光レンズ３から投影レンズ７の間に存在し、外部からの光を遮光する筒体６を備えた検査装置にて紡糸口金を検査する。 （もっと読む）

【課題】物体の表面の形状を測定する精度の点で有利な測定方法を提供する。
【解決手段】物体の表面の形状を測定する測定方法であって、他の領域と重なり合う領域を有する前記表面の複数の領域のそれぞれに対する表面測定によって前記複数の領域のそれぞれの形状のデータを得るステップと、得られた前記形状のデータに基づいて、前記重なり合う領域での形状の差が最小になるように、前記表面測定の誤差を求めるステップと、前記形状のデータと前記誤差とに基づいて、前記表面の形状を求めるステップと、を有し、前記形状のデータは、要求精度に基づいて決定された閾値を超える空間周波数を有する成分を含まないように得られる、ことを特徴とする測定方法を提供する。 （もっと読む）

【課題】検出対象物の位置の検出精度の低下を抑制する。
【解決手段】光学式位置検出装置は、物体表面の少なくとも一部で構成される基準面２００Ｐの上方位置に設定された検出空間Ｓに配置される検出対象物３００を光学的に検出するもので、位置検出光Ｌ２を出射して検出空間に基準面に沿った位置に応じて変化する光強度分布を形成する位置検出用光源と、検出空間の側方位置に配置され、検出空間で検出対象物により反射された位置検出光を検出する光検出器４１０と、光検出器の光検出値に基づいて前記検出対象物の位置を検出する位置検出部とを具備する。光検出器は、光検出面４１１ａを備えた検出器本体４１１と、光検出面の検出空間の側において位置検出光の少なくとも一部を前記光検出面に対して遮光する遮光構造４１２とを有し、遮光構造は、基準面から出射し直接に光検出面に入射する位置検出光の少なくとも一部を光検出面に対して遮光する。 （もっと読む）

【課題】環境温度の変化に伴う誤検出を防止した対物レンズの調整方法を提供する。
【解決手段】結晶質の材料を用いたレンズを含む複数のレンズからなる対物レンズの調整方法であって、環境温度の変化によって対物レンズに生じる熱応力を求め、求めた熱応力から、当該熱応力により生じる対物レンズを通る光の状態変化を求める変化量算出ステップ（ステップＳ１０１〜Ｓ１０３）と、対物レンズを通る光の状態が環境温度の変化に拘わらず一定となるように、求めた光の状態変化を打ち消すような結晶質の材料を用いたレンズ（第９レンズ）の結晶方位を算出する調整量算出ステップ（ステップＳ１０４）と、算出した結晶方位が得られるように結晶質の材料を用いたレンズ（第９レンズ）を光軸回りに回転させる調整ステップ（ステップＳ１０５）とを有している。 （もっと読む）