【課題】 従来よりも正確に手入れ等の異常発生を検出することが可能なＸ線検査装置を提供する。
【解決手段】 搬入口１１ａおよび搬出口１１ｂに、物品を検出するための複数のセンサ１７ａ，１７ｂ，１８ａ，１８ｂを備えている。物品の検査開始前の段階においてサンプルの商品を搬送しながら物品検出を行い、制御コンピュータ２０が各センサ１７ａ，１７ｂにおける検出信号ＰＨ，ＰＬを基にして第１〜第３の合成信号を生成する。手入れ等の異常発生の有無を検出する際の基準となる正常合成信号として、第３の合成信号をＣＦ２５に記憶させる。物品の検査開始後には、コンベア１２によって搬送される物品を各センサ１７ａ，１７ｂ等で検出し、制御コンピュータ２０が第１〜第３の合成信号を生成する。ＣＦ２５に記憶された正常合成信号と、検査開始後に検出されたＰＨ，ＰＬから生成される第３の合成信号とを比較して、異なる部分がある場合には、これを異常発生として判定する。 （もっと読む）

【課題】 製品出荷時における製品の状態を、高い信憑性のもとに証明することのできるＸ線検査装置を提供する。
【解決手段】 検査対象物品Ｗを特定できる特徴部分もしくは全体像を撮影する光学撮影手段５を設け、この光学撮影手段５により撮影した検査対象物品Ｗの光学像と、検査対象物品ＷにＸ線を照射して得たＸ線透視像とを相互に関連づけて記憶する記憶手段１３を備えることにより、製品出荷時におけるＸ線透視像と実際の製品とを高い客観性および信憑性のもとに関連づけることを可能とし、公正なトレーサビリティを実現する。 （もっと読む）

【課題】 検査条件を規定するパラメータの自動設定において、Ｘ線がＸ線異物検出装置の外部に漏洩することを防止できるＸ線異物検出装置を提供すること。
【解決手段】 Ｘ線を照射して被検査物１内の異物を検査するＸ線異物検出装置１００であって、搬送部１１０と、Ｘ線発生器１２０と、Ｘ線ラインセンサ１３０と、筐体と、複数の遮蔽カーテンと、被検査物１を搬送部１１０で繰り返し搬送させて検査条件を規定するパラメータの自動設定を行うときに、搬送部１１０の搬送方向を反転させる制御を含む所定の搬送制御を行う搬送制御手段１４４とを備えるＸ線異物検出装置１００において、被検査物１の有無を検知する物品検知手段と、物品検知手段からの情報に基づいて、少なくとも搬送制御手段１４４によって搬送方向が反転するために搬送が停止する間、Ｘ線発生器１２０からのＸ線照射を一時停止させるＸ線照射制御手段１４３とを備えた構成を有している。 （もっと読む）

【課題】 高額・大型の設備が必要なく、小型、低コストの設備で軽元素を含む絶縁体材料の分析・評価を高感度・高精度に行うことができる新規な絶縁体中の軽元素分析・評価装置を提供する。
【解決手段】 この出願の発明による絶縁体試料中の軽元素分析・評価装置は、２から１００ｋｅＶの低エネルギーを有する正イオン２を、軽元素を含む絶縁体試料３に照射するイオン発生源１と、正イオンの照射により絶縁体試料３中に含まれる軽元素から発生する特性Ｘ線を検出するＸ線検出器５と、絶縁体試料３を配置するチャンバー４を備えていることを特徴とする。 （もっと読む）

開示されているのは、標的内の平均原子番号及び／又は質量の空間分布を求めるために前記標的から散乱する光子のエネルギースペクトルを用いる、潜在的な脅威を探して標的を走査するための方法及びシステムである。代表的な一方法は、光子ビームで標的の複数ボクセルそれぞれを照光する段階と、各ボクセルへの入射束を求める段階と、前記ボクセルから散乱した光子のエネルギースペクトルを測定する段階と、前記エネルギースペクトルを用いて前記ボクセル内の平均原子番号を求める段階と、前記入射束と、前記ボクセル内の物質の前記平均原子番号と、前記エネルギースペクトルと、前記ボクセルに対応する散乱核とを用いて前記ボクセル内の質量を求める段階とを含む。代表的な一システムは脅威検出ヒューリスティックスを用いて、前記ボクセルの前記平均原子番号及び／又は質量に基づいて更なる動作を開始させるか否かを決定してもよい。

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【解決手段】画像装置10はフォトン検出器およびこれに接続されたアクセス回路を含む。フォトン検出器は、フォトンを検出し、それに応答した信号を生成する。アクセス回路は、イベント感知モードで動作するように、非常に高いレートでフォトン検出器からの信号を読む。装置10はまた、信号を処理し、対象の画像に関するデータを生成するための信号処理モジュール15を含む。本発明の種々の実施例にしたがって、信号処理モジュール15は空間解像度回路、フォトンエネルギー解像度回路、時間解像度回路、またはこれらの組み合わせを含むことができる。
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【課題】 全ての欠陥種を検出できる最適の欠陥検査レシピを作成者の熟練度に依存することなく作成する方法を提供する。
【解決手段】 模擬正常パターンに対して高さ方向での変化と平面形状での変化とを有する模擬欠陥パターンＤＦ１〜ＤＦ３を備える模擬欠陥ウェーハ１を用いて暫定検査レシピを作成し、模擬欠陥ウェーハ１について欠陥検査を行ない、検出された欠陥データと、予め得られた模擬欠陥ウェーハ１の模擬欠陥データとを照合して欠陥検出感度を定量化し、所望の欠陥検出率が得られるまでレシピパラメータを変更して暫定検査レシピを作成する。 （もっと読む）

【課題】 電子銃の制約を受けず、高い集光効率の光学系を設計することが可能なカソードルミネッセンス専用測定装置を提供する。
【解決手段】 試料（２）に電子線を照射するための電子線照射部（３）と、試料（２）から発光するカソードルミネッセンスを測定する発光測定部（４）と、カソードルミネッセンスを発光測定部（４）に集光する、楕円鏡（５）を含む反射鏡の組み合わせあるいは反射鏡とレンズとの組み合わせとを備えたカソードルミネッセンス専用測定装置（１）であって、電子線照射部（３）、発光測定部（４）および楕円鏡（５）を含む反射鏡の組み合わせあるいは反射鏡とレンズとの組み合わせが同一のフランジ（７）に固定されて一体化され、それらが真空装置に接続されており、楕円鏡（５）を含む反射鏡の組み合わせあるいは反射鏡とレンズとの組み合わせにより、照射する電子線の軸と試料（２）からのカソードルミネッセンスの軸とを別にして、電子線照射と集光を反平行で行うカソードルミネッセンス専用測定装置（１）とする。 （もっと読む）

発光分光分析法を使用する、溶融材料、例えば鋳鉄あるいは鋼、あるいはスラグ、ガラスあるいは溶岩を分析するための方法及び装置が提供される。少なくとも一つの分光計と、被分析材料を励起させるための少なくとも一つの励起装置とを有する検出素子が使用される。被分析材料を励起させることにより被分析材料から放射物が部分的あるいは完全に発生され、発生した放射物が検出素子内の分光計により分析される。検出素子は溶融した被分析材料との接触状態に持ち来され、分光計によって供給される分析成分を含む情報を伝送する。本発明によれば浸漬センサも提供される。 （もっと読む）

ハイブリッド型金属異物検知装置（１）は、マグネットブースタ（５）、Ｘ線装置（７）、センサコイル（８）を含む。ベルトコンベヤ（４）で搬送されてくる被検出物（６）に混入された金属異物はマグネットブースタ（５）を通過するとき磁性が強くなりセンサコイル（８）で検知しやすくなる。Ｘ線装置（７）から発生するＸ線の焦点は、センサコイル（８）の感度が一番低下する領域に設定することによって、被検出物の表面、中央部分に混入した金属異物を良好に検知できる。 （もっと読む）

本発明は、コンピュータ断層撮影装置の動作中、回転軸の周りに回転するロータからのデータが光電子的に転送される、コンピュータ断層撮影装置に関する。この目的のため、転送されるべき前記データによって変調されている光を、前記回転軸上に取り付けられている受信機に向かって送信する少なくとも１つの送信機が、前記ロータ上に設けられている。
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