【課題】 ターゲットボードにボルト孔を開けなくてもソケットを固定可能であり、さらに、複数部品を互いに固定する手間の不要なＩＣソケットを提供する。
【解決手段】 筐体（３）の貫通孔群（１５）の各々に収納支持される各プローブピン（５）を、パイプ状本体（２１）と、上方付勢される出没自在な可動ピン（２３）と、パイプ状本体下部に設けたハンダ部（２９）と、により構成する。パイプ状本体外周面にはフランジ構造（２７）を設けて貫通孔に圧入してプローブピン全体を自立支持可能に構成する。したがって、筐体だけの単一部品でプローブピンを支持できる。ハンダ部は、これをターゲットボードの接続端子にハンダ付けする。したがって、ターゲットボードに固定用のボルト孔を設ける必要がない。 （もっと読む）

【課題】 半導体デバイスのような電子部品から延びる、バネ接触要素のような細長い相互接続要素をソケット式に受容するための製品及びアセンブリの提供。
【解決手段】 ソケット基板には、電子部品から延びる細長い相互接続要素の端部を受容するための捕獲パッドが備えられる。種々の捕獲パッドの構成が開示される。ハウジングのような固定用デバイスが、電子部品をソケット基板に対して確実に位置決めする。外部デバイスに対する接続は、ソケット基板の表面に隣接する導電性トレースを介してもたらされる。ソケット基板は、支持基板によって支持することができる。特に好ましい実施例では、捕獲パッドは印刷回路板のような一次基板の上に直接に形成される。 （もっと読む）

【課題】モジュールＩＣをテストソケットに装着してテストを行うテストハンドラに使用され、テスト中のＩＣの発熱補償を効果的に行うことのできる発熱補償装置を提供する。
【解決手段】各モジュールＩＣの端部を押してテストソケット７に接続するバータイプのプッシュバー３６２を備えたプレスユニットに並列に対向設置され、内部に前記冷却流体が流動する冷気流路１１３、１１４、１１５が形成された一対の支持部材１１と、各プッシュバーの間から冷気流路を介して供給される冷却流体を、各モジュールＩＣ面に向けて噴射させる複数の冷却流体噴射ユニット１２とを有する。この噴射ユニットの噴射方向はモジュールＩＣ面に対して傾斜する場合と、噴射位置がＩＣ面の中心にある場合がある。 （もっと読む）

【課題】高周波デバイスの電気計測に用いる高周波プローブに関し、実使用と等価な状態で信号レベルの測定が可能な高周波プローブを提供する。
【解決手段】高周波プローブ本体１は、信号用探針８およびグランド用探針９がグランド−信号−グランドから成るコプレーナ線路を構成する先端部４と、同軸線路部２と、コプレーナ線路から同軸線路へインピーダンス変換する変換部３とから構成される。金属ブロック１０は、信号用探針８の先端から測定周波数の１／４波長の距離Ｌで同軸線路部２の外周グランド導体７に結合され、被測定物５１のマイクロストリップ線路２４とその両側に設けられたグランド電極パッド５４に共通に接触することにより、計測点での線路インピーダンスを高くする。 （もっと読む）

【課題】 自動化に好適なベアチップキャリアを提供する。
【解決手段】 キャリアベース７に設けた凹部にエラストマ８を置き、更にこの上にバンプ１０が設けられたコンタクトシート１１を置き、コンタクトシート上に被検査物であるベアチップ９を搭載すると共に、コンタクトシート上のバンプにベアチップのパッドを当接せしめ、ベアチップを押圧部材３でエラストマ側に押圧してベアチップの所定の検査を行うためのベアチップキャリアにおいて、押圧部材を組み付けたキャリア蓋１と、キャリア蓋と押圧部材との間に設けたばね２と、キャリア蓋をキャリアベース側に固定するためキャリア蓋の側部に設けられたフック部１３と、キャリアベース又はキャリアベースに固定された部材６に一端が固定された可撓性を有する一対のキャリア蓋止め部材５と、キャリア蓋止め部材に設けたキャリア蓋を係止するための係止部とで構成した。 （もっと読む）