【課題】発電電流の検出を不要とし、電力損失の増加、部品の故障率が高くなることを回避する。
【解決手段】少なくとも一つの発電モジュールの出力電圧および温度を測定する測定部と、測定部によって測定された出力電圧および温度の情報から電力を計算する電力計算部と、電力計算部によって計算された電力の情報を出力する出力部とを備える。電力計算部は、発電モジュールの等価回路のモデルに基づいて出力電圧および温度の情報を使用して電力を計算する。 （もっと読む）

【課題】短時間で、より少ない演算量で標準試験条件の光を照射した場合の太陽電池の短絡電流を求める事を目的とし、ソーラーシミュレータの光量調整を容易に行う。
【解決手段】太陽電池評価装置は、測定対象の太陽電池に、所定のスペクトルと所定の放射照度を持った測定光を照射し、前記太陽電池に、特定の光と実質的に相似のスペクトルを持ち、当該特定の光の放射照度よりも低い放射照度を持った相似光と当該測定光とを重畳した重畳光を照射し、前記測定光、又は、前記重畳光を受けたときの前記太陽電池の短絡電流を、それぞれ測定し、前記測定光を受けたときに前記測定部で測定された第１短絡電流と前記重畳光を受けたときに前記測定部で測定された第２短絡電流との差分、及び、前記相似光の放射照度に基づいて、前記太陽電池が前記特定の光を受けたときの第３短絡電流を算出する。 （もっと読む）

【課題】太陽電池の欠陥検出の精度を改善する。
【解決手段】本発明の実施形態の欠陥検出装置は、検査対象である太陽電池セル９を保持する保持部１０と、複数の点光源３を備える面光源４と、駆動制御信号を生成するピッチ制御部（５，７）と、駆動制御信号に基づいて、面光源４を移動させる移動機構（６，８）と、面光源４の発光パターンを制御する発光制御信号を生成する光源制御部１３と、面光源４が発光した光に応じて太陽電池セル９に発生した電流の電流値を計測し、電流値を示す計測情報を生成する計測部１１と、を備える。ピッチ制御部（５，７）は、複数の点光源３の間隔より小さいピッチで面光源４が移動するように、駆動制御信号を生成する。計測部１１は、太陽電池セル９に対する面光源４の位置毎に、複数の計測情報を生成する。 （もっと読む）

【課題】太陽電池モジュールに複数形成されたセルの出力値を検出する。
【解決手段】本発明に係る擬似太陽光照射測定装置１００は、擬似太陽光を受光して発電する、太陽電池モジュール３０に複数形成されたセル３１に対して相対的に移動可能に設けられ、セル３１の出力値を検出する検出ヘッド２６を有する測定部２０を備える。 （もっと読む）

【課題】太陽電池パネルが備えるバイパスダイオードについて容易に診断することができる太陽光発電システムを提供する。
【解決手段】太陽光発電システム１は、バイパスダイオードを有し、太陽光を受けて発電する太陽電池ストリング３ａ，３ｂと、太陽電池ストリング３ａ，３ｂに診断電圧を印加することによって、発電時と同じ方向の電流を流す診断用電源１２ａ，１２ｂと、太陽電池ストリング３ａ，３ｂに診断電圧を印加するか否かを切り替えるスイッチ部１４ａ，１４ｂと、太陽電池ストリングに流れる電流を測定する電流検出部１５ａ，１５ｂとを備える。太陽光発電システム１はさらに、診断電圧が印加された場合に電流検出部１５ａ，１５ｂによって測定される電流の大きさと予め定められた診断閾値とを比較し、比較の結果に基づいてバイパスダイオードに不具合があるか否かを判断する制御部１７を備える。 （もっと読む）

【課題】テラヘルツ電磁波の検出精度を向上させることができるテラヘルツ放射顕微鏡、これに用いられる、光伝導素子、レンズ及びデバイスの製造方法を提供すること。
【解決手段】光伝導素子は、基材と、電極と、膜材とを具備する。前記基材は、光源から発生したパルスレーザーが、観察対象であるデバイスに照射されることにより発生するテラヘルツ電磁波が入射する入射面を有する。前記電極は、前記基材に形成され、前記基材の入射面に入射された前記テラヘルツ電磁波を検出する。前記膜材は、前記基材の前記入射面に形成され、前記テラヘルツ電磁波を透過させ、前記パルスレーザーを反射させる。 （もっと読む）

【課題】レーザパルス光の照射に応じて半導体デバイスにて発生する電磁波パルスの強度を非接触状態で向上させる技術を提供すること。
【解決手段】半導体デバイスを検査する半導体検査装置１００である。半導体検査装置１００は、半導体デバイスが形成されている基板１に対してレーザパルス光２を出射するレーザパルス光源１４と、レーザパルス光２が照射される照射位置１０に対して逆方向バイアスをかけるための逆バイアス用電磁波パルス４を照射する電磁波パルス照射部１８と、
レーザパルス光２の照射に応じて照射位置１０から放射される電磁波パルス３を検出する検出部１７とを備えている。 （もっと読む）

【課題】太陽電池が実際に設置された環境において太陽電池全体としての電流を制約するセルを特定する方法を提供する。
【解決手段】所定の周波数の電流によって駆動される半導体発光素子を光源５とする光でセル２を順次に照射し、太陽電池１の出力電流のその周波数の成分を検出する。出力電流が最小のセルを照射した時にはその周波数の成分が大きく検出されるので、太陽電池全体としての電流を制約するセルを特定することができる。また、照射光を半導体レーザとして、離れた場所からセルを正確に照射できるようにする。 （もっと読む）

【課題】太陽電池の生産工程においてセルをラミネートする前に太陽電池の異常、特にはんだ付け不良を発見する方法及び装置であって、セルよりも小さな単位で異常を発見できるものを提供すること。
【解決手段】セルを分割した評価領域を評価するために、評価領域を含むセルに照射される光の照射量を他のセルよりも小さくし、評価領域に照射される光の照射量を変化させて太陽電池の特性値を測定する。特性値の変化に基づいて評価を行う。評価領域を変更して評価を行うことで、評価結果の異なる部分が異常であると判定することもできる。また、この評価をはんだ付けの後、セルをラミネートする前に行い、半田付け不良を発見して修復することを容易にすることができる。 （もっと読む）

【課題】低コストかつ簡易な構成で、長期の実使用状態においても、太陽照射時の発電を妨げることなく太陽電池アレイの電気特性を診断する。
【解決手段】太陽電池アレイ１２の出力が予め定めた閾値以下のときに、入力コンデンサ２６を太陽電池の開放電圧まで充電し、ＳＷ２をオフして、ＳＷ３ｉ以外のＳＷ３を中立接点ｃ、ＳＷ３ｉを接点ａに切り替え、入力コンデンサ２６に可変直流電源４０を直列接続して合計電圧をｉ列目の太陽電池モジュールストリング１６に印加し、過渡現象の電圧及び電流を測定し、電圧依存領域のＩ−Ｖ特性を取得する。ＳＷ３ｉを接点ｂ１に切り替えて、入力コンデンサ２６を一旦放電させ、ＳＷ３ｉを接点ｂ２に切り替え、入力コンデンサ２６の充電時の過渡現象の電流及び電圧を測定し、電流依存領域のＩ−Ｖ特性を取得する。両領域のＩ−Ｖ特性を結合し、直列抵抗Ｒ_Ｓ、分路抵抗Ｒ_ｓｈ等を推算し、太陽電池アレイの故障状態を診断する。 （もっと読む）

【課題】光出力が急激に低下する期間よりも前に、その劣化の兆候の検出が可能となる半導体レーザの劣化兆候検出装置を提供する。
【解決手段】半導体レーザ２０１の光出力に関する情報を取得する受光部２０３と、レーザの発振閾値以下での発光パターンの強度分布を取得する受光部２０２と、時間Ｔ１におけるレーザの光出力に関する情報と、発光パターンの強度分布に関する情報を保持する保持部２０４と、Ｔ１＜Ｔｎである少なくとも１回以上の時間Ｔｎにおけるレーザの光出力に関する情報と、時間Ｔ１におけるレーザの光出力に関する情報とを比較し大きな変化がない場合において、レーザの時間Ｔｎにおける発振閾値以下での発光パターンの強度分布に関する情報と、時間Ｔ１における発光パターンの強度分布に関する情報とを比較することにより、レーザの光出力急激低下兆候の有無を判定する判定部２０５と、判定部からの信号を出力する出力部２０６と、を有する。 （もっと読む）

【課題】短時間で簡易に半導体素子を検査できる半導体素子の検査方法、検査装置および検査システムを提供する。
【解決手段】半導体素子の検査システムは、電流源１と、電流計２と、電圧計３と、電流制御部４と、電圧読出部５と、判定部６とを備えている。半導体素子に大きな順方向電流を印加してＰＮ接合の温度を上昇させ、高温時の順方向電圧を計測する。そして、常温時の順方向電圧との差に基づいて、半導体素子が良品か不良品かを判断する。そのため、簡易な検査システムで短時間に半導体素子の検査を行うことができる。 （もっと読む）

【課題】搬送手段の排出位置で、下方の分配手段に自然落下させ、物品の欠けが発生する可能性を低減させるとともに、テスト運転時には基準物品を連続循環搬送することにより、繰り返し検査することができる物品分類装置およびその運転方法を提供する。
【解決手段】第１に、物品を落下させて排出する排出部を有する搬送手段３と、物品の特性の検査手段２と、排出部下方に設けられる複数の分類容器５０と、物品の特性に基づき分類容器に振り分ける分配手段４からなる物品分類装置とする。第２に、排出部に設けられ、開放時には物品を落下させ、閉鎖時には物品の落下を阻止して該排出部を通過させる排出部閉鎖手段を設ける。第３に、分類運転においては排出部閉鎖手段を開放して物品を落下させる。第４に、テスト運転においては排出部閉鎖手段を閉鎖して物品の落下を阻止することにより、搬送手段による物品の循環搬送を継続する。 （もっと読む）

【課題】 エキスパンドウエハ上の発光素子の光学特性の検査の効率化を高め、単位時間あたりの検査個数を増大させる検査装置と検査方法を提供すること。
【解決手段】 複数個のウエハチャックを備えたウエハチャックステージと；各ウエハチャックにロードされたエキスパンドウエハ上の発光素子の位置を測定する位置測定装置と；各エキスパンドウエハのそれぞれに対応して設けられたフォトディテクタ及びプローブと；各エキスパンドウエハ上の発光素子が順次対応するプローブの下方に来るようにウエハチャックステージをＸＹ軸方向に移動させる手段と、プローブが発光素子の電極位置に対応する位置に来るように各プローブを移動させる手段と、プローブを対応するそれぞれの発光素子の電極と接触させる手段とを備える制御装置を有している検査装置及び当該検査装置を用いる検査方法を提供することによって解決する。 （もっと読む）

【課題】測定対象セルの抵抗成分を迂回して流れるバイアス電流を考慮し高精度で欠陥を検出することが可能な太陽電池の検査装置及び検査方法を提供する。
【解決手段】測定対象セルに光を照射するメイン光源３、他のセルに光を照射するサブ光源４、太陽電池Ｓの出力電流を電圧に変換するシャント抵抗７、電圧を増幅する増幅器８、この出力に含まれるバイアス電流を抽出するバイアス電流抽出回路９、増幅器の出力からバイアス電流を差し引くバイアス電流キャンセル回路１０、ディジタルデータに変換するＡ／Ｄ変換器１２、画像処理を行う画像処理装置１３、画像表示を行う表示器１４を備え、バイアス電流を考慮した、測定対象のセルが発電した起電流成分に基づいて検査を行う。 （もっと読む）

【課題】固定時に負圧で生じる変形を発生させないでフリップチップＬＥＤの測定を行う。
【解決手段】フリップチップＬＥＤ用試験装置３は、透明な基板３０、スペーサ部材３２、柔軟で透明な支持台３４、及び真空発生機３６を含む。スペーサ部材は透明な基板の第一表面３００上に形成される。柔軟で透明な基板の支持台は、閉空間Ｓ１が柔軟で透明な支持台、スペーサ部材、及び透明な基板の第一表面により形成されるように、スペーサ部材へ取り外し可能に組み込まれる。真空発生機は閉空間から空気を吸い出すため、閉空間へ接続され、次に透明な基板の一部は第一表面に張り付き、フリップチップＬＥＤを配置するための試験領域３４０を形成する。 （もっと読む）

【解決手段】 ストッカ７に載置された複数の分類トレイ６を、複数のトレイグループにグループ化し、さらに供給位置（排出ステーション１３Ｆ）とストッカとの間に設けた中間ステージに上記ストッカの各トレイグループに対応する載置領域Ｆ１〜Ｆ５を設定する。
また中間ステージ４へと物品（ＬＥＤ素子１）を移載する第１移載手段５と、ストッカ７の所要の分類トレイ６へと物品を移載する第２移載手段８とを設けて、上記第１移載手段５が物品を中間ステージ４の所要の載置領域に移載すると、上記第２移載手段８は当該載置領域の複数の物品を保持して、上記ストッカ７の対応する分類トレイ６に移載する。
そして第２移載手段が物品をストッカの分類トレイに移載する間、上記第１移載手段は上記供給位置からの物品の取り出しを継続して行う。
【効果】 物品分類装置の稼働効率を高くすることが可能である。 （もっと読む）

【課題】検査対象となる光源からの光の光学特性が正確に検査できることで、検査効率の向上を図ることができると共に、高い検査信頼性を得ることができる。
【解決手段】検査装置は、検査対象となるＬＥＤからの光を採光部２により取り込み、ＬＥＤの光学的な検査を分光器により行うためのものである。採光部２は、ＬＥＤに向けて光を取り入れるための開口部が設けられていると共に、取り入れた光を分光器へ出力する光ファイバ４が基端部に設けられたカップ状のケース部２１と、ＬＥＤから開口部を通じて光ファイバ４へ至るまでの光軸を含む範囲以外の範囲を遮蔽する環状に形成された遮蔽部材２２１がケース部２１内の奥行き方向に沿って１０枚配置され、光軸に対して斜行して開口部に入射する光を制限する光調整部とを備えている。 （もっと読む）

【課題】半導体チップをサブマウント上に接合した形態の半導体装置を容易に安定して検査することを目的とする。
【解決手段】検査治具１４の蓋部１３に開口部２１を設けて半導体チップ１０の端子を露出させることにより、半導体チップ１０を損傷させることなくプローブ１５を半導体チップ１０の端子に直接接続して検査を行うことができるため、半導体チップ１０をサブマウント１１上に接合した形態の半導体装置１０Ａを容易に安定して検査することができる。 （もっと読む）

【課題】実仕様に合致したより正確な光量検査を効率よく行う。
【解決手段】複数のステージ２１が設けられ、複数のステージ２１を移動させるインデックステーブル２と、ステージ２１上に搭載され、半導体チップとしてのＬＥＤ素子チップ５が内部に収容されて通電可能とされるソケット６と、半導体ウエハ４を個片化した後の複数のＬＥＤ素子チップ５のうち、これよりも数が少ない一または複数のＬＥＤ素子チップ５を、インデックステーブル２の複数のステージのうち、これよりも数が少ない一または複数のステージ２１上の各ソケット６に移送するピッカー７１と、一または複数のステージ２１に一または複数のＬＥＤ素子チップ５を搭載して一または複数のＬＥＤ素子チップ５を検査する検査手段を有している。 （もっと読む）