【課題】第１プランジャー及び第２プランジャーの可動ストローク並びに重ね代の長さを同じとしたとき、従来と比較して全長を短くすることの可能なコンタクトプローブ及びこれを備えたソケットを提供する。
【解決手段】コイルスプリング６が縮んでいる圧縮状態では、第１プランジャー４の末端部１１の平面部分は、第２プランジャー５の末端部２１の平面部分から先端側本体部２３の基端から所定長の範囲及びフランジ部２２の平面部分に跨って対面し、接触する。第２プランジャー５の末端部２１の平面部分は、第１プランジャー４の末端部１１の平面部分から先端側本体部１３の基端から所定長の範囲及びフランジ部１２の平面部分に跨って対面し、接触する。 （もっと読む）

【課題】細径化による低荷重接触であっても安定した接触が得られるコンタクトプローブを提供すること
【解決手段】スプリング６によりプランジャ５を付勢してプランジャ５の先端の接点部を接続対象物の電極に押圧接触させるコンタクトプローブ３である。プランジャ５の先端部に弾性体９を介してフレキシブル配線８を配設固定し、このフレキシブル配線８の表面の薄膜導体を接点部とした。 （もっと読む）

【課題】プローブの取り換えが可能でありかつ狭配列ピッチに適したプローブ組立体を提供する。
【解決手段】プローブ組立体は、支持体と、帯状の取付け部および該取付け部の端部から伸びかつ前記取付け部の幅寸法より小さい幅寸法を有する針先部とを備える複数のプローブであって前記取付け部の幅方向が上下方向となる状態に前記支持体の下側に前記取付け部を対向させて並列的に配置された複数のプローブと、前記各プローブを取り外し可能に支持すべく該プローブの前記取付け部をその厚さ方向に貫通して伸びかつ前記支持体に支持された細長い支持バーとを含む。前記プローブの一方の面は該面を部分的に覆う絶縁膜により覆われており、他方の面はその全面が露出面であることを特徴とする、プローブ。 （もっと読む）

【課題】 プローブカード及び試験装置に関し、電極パッドの端部とプローブ針の針痕とのクリアランスを十分確保する。
【解決手段】 プローブカード基板と、前記プローブカード基板に電気的に接続されるプローブ針と、前記プローブ針の間に個々の前記プローブ針が独立して可動できる様に間隙を有し、且つ、前記プローブ針の動きを規制して針痕を小さくするガイド部材とを備える。 （もっと読む）

【課題】被検査体の端子と接触部材とを確実に接触させた状態でプローブ本体を該端子に押圧させることにより、該端子の破損を抑えることができる通電検査装置を提供する。
【解決手段】通電検査装置１０は、被検査体本体１０２から外方に突出する第１〜第３端子１０４ａ、１０４ｂ、１０４ｃの端子板１１８に接触するプローブ本体１８と、プローブ本体１８を下方に押圧する押圧用弾性部材３４を有する第１〜第３プローブ１２ａ、１２ｂ、１２ｃと、端子板１１８よりも下方に位置する端子本体１１４に接触する第１接触部材４４と、第１接触部材４４を移動可能な状態で上方に付勢する第１弾性部材５０を有する第１〜第３端子支持部材４０ａ、４０ｂ、４０ｃを備える。 （もっと読む）

【課題】 検査用プローブを簡便に装着することのできる基板検査用治具の提供。
【解決手段】 先端が被検査基板の検査点に接触する検査端部と、検査制御部に接続される電極部に接触する電極端部と、それら両端部を連結する線状部とからなる検査用プローブを、所定の間隔をもって配置された検査側支持体及び電極側支持体に支持する基板検査治具において、前記電極側支持体と前記検査側支持体との空間を移動可能な中間板を供え、前記中間板は、前記検査用プローブを前記検査用支持体及び前記電極側支持体に支持させる際に、該検査用支持体の案内孔と該電極側支持体の案内孔の一直線上に配置される案内孔が形成されることを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】接触対象との間で確実な導通を得ることができるコンタクトプローブを提供すること。
【解決手段】コンタクトプローブ２の長手方向の少なくとも一方の端部からそれぞれ突出する複数のカーボンナノチューブで構成されるカーボンナノチューブ群ＣＴ１を備えた弾性変形可能な導電性のコンタクトプローブ２であって、各カーボンナノチューブが接触対象と接触することによって、酸化皮膜の硬度に因らず確実な導通と、繰り返し使用に対する安定した導通とを実現することができる。 （もっと読む）

【課題】 低融点金属からなる接合材を用いて配線基板に固着されるコンタクトプローブの高さにバラツキが生じるのを抑制することができるコンタクトプローブを提供する。
【解決手段】 第１の導電性金属からなり、プローブ基板１１上に形成された端子電極１２に当接させる当接領域７を有するベース部３と、ベース部３上に形成され、当接領域７を露出させた状態で低融点金属からなる接合材１５を保持する接合材保持領域５と、少なくとも当接領域７及び接合材保持領域５間に形成され、低融点金属に対する濡れ性が第１の導電性金属よりも高い第２の導電性金属からなる金属膜９が形成された接合材引込領域６により構成される。 （もっと読む）

【課題】 上下可動式プローブカード、試験方法及び試験装置に関し、簡単な機構により不具合のあるプローブ針のコンタクトによるテストパッドの損傷を回避する。
【解決手段】 測定対象物に設けたパッドに対応する数の１組のプローブ針群と、前記１組のプローブ針群を支持する支持ブロックと、複数の前記支持ブロックを上下動可能に装着する支持部材と、前記支持部材を固着する基盤とを有する上下可動式プローブカードの前記各支持ブロックを、前記支持部材に対してばね部材と係合部材を有する上下動機構を介して装着する。 （もっと読む）

【課題】低コストで製造でき、すべてのプローブの脚の並び方向が揃っている電気的接続体を提供する。
【解決手段】プローブカード１０は、複数のワイヤー製のプローブ１８が絶縁性の支持板１２を上下方向に貫通した状態で固定され、プローブ１８の脚１８ａ，１８ｃはそれぞれ弾性変形可能な形状に形成されて支持板１２の上方及び下方に突出している。支持板１２は、ワイヤ径より大きな径の上板貫通穴１４ａを有する上板１４と、上板貫通穴１４ａのそれぞれと対をなしワイヤ径より大きな径の下板貫通穴１６ａを有する下板１６とが重ね合わされた状態で固定されたものである。対をなす上板貫通穴１４ａと下板貫通穴１６ａとはプローブ１８の中央付近を挟み込むように軸線がずらされており、下板１６のうち上板１４と対向する対向面には、ずらし方向に沿って延びる溝１６ｂが設けられている、 （もっと読む）

【課題】探針の長さを２種の長さに簡便に変更することができ、さらに探針の破損を防止することができる測定用プローブを提供する。
【解決手段】測定用プローブ１は、測定器に接続されて先端側を測定対象物に接触させる導電性で略棒状の探針２と、探針２の後端側を覆って支持する絶縁性で棒状の把持部３と、探針２の軸線方向に移動自在に把持部３に嵌められる筒状に形成されて、筒状の先端が探針を外界に突出可能に探針よりも僅かに大径に形成されている絶縁性の探針カバー４とを有しており、第一の規定値Ａの長さで探針カバー４から探針２を外界に突出させる第一の位置、規定値Ａの長さよりも短い第二の規定値Ｂの長さで探針カバー４から探針２を外界に突出させる第二の位置、および探針カバー４から探針２を外界に突出させずに探針カバー４の内部に収容する第三の位置の各位置で把持部３に探針カバー４を位置決めする凸部２３、凹部１１〜１３を有している。 （もっと読む）

【課題】プレス加工及び丸め加工によらず、かつ袋穴形状のプランジャと異なり金鍍金の品質管理が不要又は容易な、チューブ状プランジャの製造方法を提供する。
【解決手段】内面に金層２２を備えるチューブ状金属材料２０の先端部を小径化し、小径化した部分に切込み３０を入れ、切込み３０を入れた部分を内側に曲げ、内側に曲げた部分から末端側を一部が大径の凸部４０となるように小径化し、小径化した部分の末端でチューブ状金属材料２０を切断する。 （もっと読む）

【課題】バネ性を有し、接触対象間で確実な導通を得ることができるコンタクトプローブおよびプローブユニットを提供すること。
【解決手段】異なる基板間を接続する板厚が均一な略平板状のコンタクトプローブ２０であって、先端部で弧状に湾曲した側面を有し、この側面で一方の基板と接触する第１接触部２１と、弧状に湾曲した側面を有し、この側面で他方の基板と接触する第２接触部２２と、第１接触部２１および第２接触部２２を接続する接続部２３と、第２接触部２２から延び、一部が弧状に湾曲された形状をなし、第１接触部２１および第２接触部２２に加わる荷重によって弾性変形する弾性部２４と、を備える。 （もっと読む）

【課題】接触方式と非接触方式を用いた検査装置における検査コストの低減が可能な半導体検査用プローブカードおよびその製造方法を提供する。
【解決手段】
本発明の半導体検査用プローブカードは、基材と、前記基材の第一の主面に配置されたプローブカード基板と、非接触結合回路を備えた検査用ＬＳＩと、電源供給ピンと、を有し、前記検査用ＬＳＩと前記電源供給ピンは、前記基材の第一の主面と反対側の第二の主面上に配置され、前記プローブカード基板と前記検査用ＬＳＩが電気的に接続され、前記プローブカード基板と前記電源供給ピンが電気的に接続される。 （もっと読む）

【課題】導電端子が磨耗されることを防ぎ、集積回路及びその他の電子製品の接点を保護し、良好な導電性を得ることができる上、導電端子を容易に交換することができる接触型電子検査モジュールを提供する。
【解決手段】接触型電子検査モジュールは、基板１及び複数の導電端子２を備える。基板１には、複数の端子孔が設けられている。複数の導電端子２は、複数の端子孔の中にそれぞれ配置されている。導電端子２の両端は、基板１の上面及び底面からそれぞれ露出される。導電端子２は、弾性体と、弾性体の中心部分に設けられた１本以上の導電フィラメントとを有する。導電フィラメントは、中間部分に設けられた弾性部と、弾性体の両端から露出するように両端に設けられた導電部とを有する。 （もっと読む）

【課題】低コストかつ、目的の端子に確実に接触でき、隣接する端子と接触を防止することができる電気信号測定用プローブを提供する。
【解決手段】電気信号測定用プローブ１のプローブヘッド４の先端部に絶縁体で平板状に形成されプローブヘッド４から突出量ｌだけ突出したガイド部材５が設けられている。 （もっと読む）

【課題】製造コストの高騰を抑えつつ、プロービング対象体における大きな打痕や反りの発生を軽減する。
【解決手段】離間した状態で対向配置された一対の第１支持板３１および第２支持板３２に形成された挿通孔（挿通孔５１ａ〜５１ｃ，５２ａ〜５２ｃ，７１ａ〜７１ｃ，７２ａ〜７２ｃ）に先端部２１側および基端部２２側がそれぞれ挿通されて各支持板３１，３２によって支持されると共に各支持板３１，３２の間に位置する中央部２３がプロービング対象体に対するプロービング時に湾曲する直径Ｐ１ａ〜Ｐ１ｃが互いに異なる複数種類のプローブピン１１ａ〜１１ｃを備え、プローブピンが挿通された一対の挿通孔におけるプローブピンの中央部側の各縁部間の距離Ｄａ〜Ｄｃが、プロービング時における各プローブピン１１ａ〜１１ｃに加わる荷重が互いに近づくように直径Ｐ１ａ〜Ｐ１ｃに応じて異なるように規定されている。 （もっと読む）

【課題】プローブ先端の高さ方向および平面方向に関して高精度に位置決め可能なプローブカードの製造方法およびプローブカードを提供する。
【解決手段】プローブが配置された複数のプローブ基板をプローブカードの第１の基板上に固定する工程を含むプローブカードの製造方法であって、前記複数のプローブ基板に配置されたプローブの先端の高さ方向の位置を揃えた状態で、前記複数のプローブ基板を配置する工程と、前記複数のプローブ基板のプローブが配置されていない方の面に、弾性変形し得るスペーサを配置し、固定用樹脂を塗布する工程と、前記弾性変形し得るスペーサが配置され前記固定用樹脂が塗布された前記複数のプローブ基板の面側に前記第１の基板を載せて加圧し、前記弾性変形し得るスペーサを変形させた状態で前記複数のプローブ基板を前記第１の基板に固定する工程とを備える。 （もっと読む）

【課題】コンタクトプローブのメンテナンスを簡単且つ安価に行うことが可能なコンタクトプローブ及びこれを用いた電子回路試験装置を提供する。
【解決手段】導電性の筒状体からなるスリーブと、 該スリーブ内に摺動自在に嵌合する導電性のプランジャーと、前記スリーブ内に配置され該プランジャーを軸方向に付勢するスプリングとを備え、前記プランジャーは貴金属の中実ムク材によって形成され前記スリーブと着脱可能に構成されている。 （もっと読む）

【課題】組立が簡略化され、信頼性が向上したコンタクトプローブピンを提供する。
【解決手段】筒状のバレルａに挿入されたバネｆつきのプランジャｂが自由に摺動し、被試験物に加圧接触する構造をもつコンタクトプローブピンで、プランジャｂのバレルａからの脱落防止用にバレルａ端部の内周にストッパーリングｃを圧入することによりバレルａ内部の径に段差をもたせた。 （もっと読む）