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Fターム[2G011AB07]の内容

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Fターム[2G011AB07]に分類される特許

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【課題】検査装置に対する検査対象物の回転ずれの発生を抑制し、両者の間の電気的接続を確実に行うことのできる検査装置を提供すること。
【解決手段】
検査部材Cを保持する固定部材130と、固定部材130に対して移動自在な状態で設けられ、検査対象物Fの挿入後に、検査部材C側に向けて移動させられる可動部材150とを備え、可動部材150は、検査対象物Fの本体部F1を幅方向Yに位置決めする第1位置決め部152を有し、固定部材130は、検査部材Cと検査対象物Fとを接触させる際に、検査対象物Fの本体部F1を幅方向Yに位置決めする第2位置決め部133を有している検査装置100。 (もっと読む)


【課題】製造容易として安価に製造できるだけでなく保守も容易な、接触子と電極との導電接触を確実にすることと、接触子の内部抵抗の改善ができるプリント配線板などの電子部品に通電する検査治具及び接触子を提供する。
【解決手段】先端111が被検査プリント配線板の検査端子に導電接触する接触子10は導電性の接触針11とコイルばね12とが連結されて一体となり、接触子保持体20に保持され、検査装置と接続されている電極41と被検査プリント配線板の検査端子とに圧接されて導電接触する。
コイルばね12の電極41と接触する電極端121は端末において,中心方向に曲げられて中心近傍において切断されている。この接触子10を保持した接触子保持体20をコイルばね12と直列に電極41を有する電極部40に着脱可能に搭載する検査治具1 (もっと読む)


【課題】芯材を除去した段階で、追加の工程を必要とすることなく、接続治具に取り付けられる絶縁膜を有する接触子を提供する。
【解決手段】 対象物に設けられる対象点に電気的に接続される接続治具に組み込まれる接触子であって、導電性材料のめっき層からなる円筒形状管を備え、前記円筒形状管が、両端から対向する向きに所定の長さにわたる先端部及び後端部と、前記先端部と後端部との間に形成された、長軸方向のらせん状の壁面を有するばね部と、前記ばね部が、前記らせん状の壁面に沿って形成される絶縁層を有し、前記ばね部に形成されるめっき層と前記絶縁層の境界面が段差無く形成されていることを特徴とする接触子。 (もっと読む)


【課題】端子の軸心と端子側接触部材の軸心とが揃うようにして、端子と確実に接触させることができる電気接触子を提供する。
【解決手段】電気接触子24は、電気部品1の端子1aに接触する端子側接触部材14と、配線基板2に接触する基板側接触部材15と、両方の接触部材14,15を互いに離間する方向に付勢するコイルバネ26とを有している。コイルバネ26は、端子側接触部材14に当接する第1バネ部と、基板側接触部材15に当接する第2バネ部とを有している。第1バネ部は、バネの上下に隣接する一巻き一巻き同士の間隔が開けられてピッチが小さく形成された小ピッチ巻き部26aであると共に、第2バネ部は、小ピッチ巻き部26aよりもピッチが大きく形成された大ピッチ巻き部26dを有する大ピッチ巻き包含部26mである。 (もっと読む)


【課題】内部で発生する雑音(ノイズ)は極力抑え、修理のために針交換が可能であり、半導体デバイスのパッドに付く傷跡はできるだけ小さく、また方向を制御することが可能なプローブカードを提供する。
【解決手段】電源針配線と信号針配線とを互いにほぼ直交させ、針支持板の針を通すマイクロホール周りに座刳りを施し、針を通した状態で樹脂を用いて固定する。また、下面板・上面板ずらしと上面板・針支持板ずらしの2種類のずらしを導入することにより、針のたわみ方向を制御でき、半導体デバイスパッド上での針の滑りを制御することで傷跡を小さくできる。 (もっと読む)


【課題】隣位するプローブピン同士が接触するなど、傾斜型垂直カンチレバー形状のプローブピンを備えるプローブカードに生じていた種々の問題点を解決することができるプローブカードおよびその製造方法を提供する。
【解決手段】本発明のプローブカード1Aは、配線板2と、配線板2に対して水平方向の一方(傾斜方向SD)へ傾斜する傾斜型垂直カンチレバー形状であってその幅が配線板に近づくほど拡大する末広形状に形成されている複数個のプローブピン3とを備えている。 (もっと読む)


【課題】接触子20が検査ポイントに接触した際の衝撃を吸収する機能を、バネ部22B・22Cが良好に発揮できるようにする。
【解決手段】ガイド板24・26は、一対のバネ部22B・22Cの間に配置されており、側面視にて、ガイド板24・26と一対のバネ部22B・22Cとは重なっていない。これにより、接触子20が中間板28及びガイド板24・26に対して上方へ移動した際に、ガイド板24・26と一対のバネ部22B・22Cとの側面同士が接触しないので、ガイド板24・26と一対のバネ部22B・22Cとの間での摩擦が生じず、一対のバネ部22B・22Cがスムーズに弾性変形する。これにより、接触子20が検査ポイントに接触した際の衝撃を吸収する機能を、バネ部22B・22Cが良好に発揮できる。 (もっと読む)


【課題】快削性を有すると共にシリコンに近い熱膨張係数を有し、高い強度を備えたセラミックス部材、このセラミックス部材を用いて形成されるプローブホルダ及びセラミックス部材の製造方法を提供すること。
【解決手段】エンスタタイト及び窒化ホウ素を構成成分として含み、窒化ホウ素が一方向に配向している焼結体であるセラミックス部材、セラミックス部材を用いて形成されるプローブホルダ及びセラミックス部材の製造方法。セラミックス部材は、配向度指数が0.8以上である。 (もっと読む)


【課題】外力の印加方向の方向性に依存せずに大きな弾性力を発揮し、かつ、それを簡易な構造によって実現することができる球殻型接触子およびその製造方法を提供する。
【解決手段】本発明の球殻型接触子1は、プローブカードに用いられる配線板4に対して球殻体の一部が埋設されたような部分埋設球殻形状であって1個もしくは複数の貫通孔が設けられた形状に形成されたばね部2を備える。球殻型接触子1の製造方法においては、配線板4に形成されたレジスト柱を熱硬化させて形成したレジスト球体を型としてばね部2をめっき形成する。 (もっと読む)


【課題】高帯域幅アプリケーションで使用されるスプリングプローブブロックアセンブリを提供する。
【解決手段】スプリングプローブブロックアセンブリは、絶縁性ハウジングを有する。ハウジング内には、信号プローブと、絶縁性層と、導電性シェルと、を有するプローブコネクタが配置される。ハウジング内には、少なくとも1つの接地プローブも配置される。接地プローブとプローブコネクタの導電性シェルとは、接地部によって電気的に接続される。接地部は、接地プローブにスプリングエネルギをもたらすような方法で接地プローブを弾力的に変形するように構成される。スプリングエネルギは、接地プローブと接地部との間に垂直力を発生させ、それが接地プローブをその位置で保持する。 (もっと読む)


【課題】 スリットバーのスリットのピッチを小さくすることなく、プローブを狭ピッチで配置することができるようにすることにある。
【解決手段】 プローブ組立体は、左右方向に間隔をおいて下方に開放する複数の第1のスリットを備える第1のスリットバーを支持片の先端部下側に配置し、左右方向に間隔をおいて下方に開放する複数の第2のスリットを備える第2のスリットバーを、その第2のスリットが第1のスリットに対し左右方向及び前後方向に位置するように、第1のスリットバーに配置し、第1及び第2のプローブの前部針先領域の少なくとも一部を、それぞれ、第1及び第2のスリットに位置させている。 (もっと読む)


【課題】基材外縁領域における信号伝送特性の変化を補償する構成を備えた接触子ホルダを提供する。
【解決手段】基材21は、その表面212、213上又は該表面の上方であって、信号伝送用接触子3bのプランジャ近傍に、接地用導体層291、292を有する。各接地用導体層は、基材21の表面212、213上において、各接地用接触子に電気的に接続された導体部分241に電気的に接続されており、また信号伝送用接触子とは電気的に接続されないようになっている。 (もっと読む)


【課題】比較的簡易な構成でありながら、基板の配線に対してプローブピンを正確に接触させることができる配線検査治具を提供する。
【解決手段】第1ガイド孔711及び第2ガイド孔721の中心位置が異なる複数種類の第1ガイド部71及び第2ガイド部72を用いることによって、撮像カメラやアクチュエータ等を必要としない簡易な構成でありながら、治具本体15に対するプリント基板200の位置を細かく調整することができる。特に、縦や横への平行移動だけでなく、水平面内での回転も可能になるため、製造ばらつきに伴うプリント基板200のあらゆる種類の位置ずれに対して幅広く対応することができる。 (もっと読む)


【課題】 高温状態及び低温状態における針先位置の変位量を同じにして、プローブの針先が目的とする電極に確実に接触するようにすることにある。
【解決手段】 プローブカードは、配線基板と、該配線基板の上側に配置された板状の補強部材と、該補強部材の下側に配置されて配線基板をその厚さ方向に貫通して下方に突出する少なくとも4つの支持部材であって、それぞれが矩形の隅角部に配置された支持部材と、配線基板の下側に配置されて支持部材を連結する結合部材と、各支持部材の下部に電気絶縁材料を介して取り付けられた複数のプローブとを含む。補強部材、支持部材及び結合部材は金属材料で形成されており、支持部材及び結合部材は結合されている。 (もっと読む)


【課題】機械的な形成から生じる問題点を回避し、さらに異なるデザインのプローブの製造に柔軟に対応できる、プローブの製造方法を提供する。
【解決手段】半導体集積回路をテストするためのプローブ・テスト・ヘッドを製造する方法は、1つ又は複数のマスクとして、複数のプローブ81の形状を画成するステップと、該マスクを使用して、複数のプローブを製造するためのステップと、第1のダイ42と第2のダイ44内の対応するホールを通して複数のプローブ81を配置するステップとを含んでいる。該複数のプローブ81を製造するためのステップは、フォト・エッチングと光画成電気鋳造のうちの1つを含んでもよい。 (もっと読む)


【課題】屈曲方向を一様に揃えることができるとともに、装置に対して容易に取り付けおよび取り外し可能なコンタクトプローブおよびプローブユニットを提供すること。
【解決手段】一端が先鋭化した柱状をなす第1接触部と、第1接触部の他端から第1接触部の長手方向に沿って略柱状をなして延び、外部からの荷重によって弾性座屈を生じる弾性座屈部と、弾性座屈部が延びる方向の端部であって第1接触部に連なる端部とは異なる端部から延びる接続部と、接続部の弾性座屈部に連なる端部とは異なる端部から延びる腕部と、腕部の端部のうち接続部に連なる端部とは異なる端部から腕部以上の長さで延びるとともに、腕部との間に空間を形成する延在部と、延在部の端面のうち腕部に連なる端部とは異なる端部側であって、第1接触部の先鋭化した一端に対して最も遠くに位置する端面と直交する方向へ突出し、先端が先鋭化した第2接触部と、を備えた。 (もっと読む)


【課題】ソケット基板等に組み込まなくても分解することなく安定した動作が可能なプローブピンを形成することができるプローブピン用コンタクトを提供する。
【解決手段】上部コンタクト21および下部コンタクト22は、それぞれ、コイルバネ23の一端に係合する突出部28を第1の端部24側に有し、コイルバネ23の他端を保持するためのかぎ爪状フック29を第2の端部25側に有し、各コンタクトの突出部28とかぎ爪状フック29との間にコイルバネ23が保持される。上部コンタクト21および下部コンタクト22を互いに反対方向を向けてコイルバネ23の内部に挿入することでプローブピンが形成される。 (もっと読む)


【課題】 プリント配線板に設けられたスルーホールの電気的導通検査を正確に行うことができるプリント配線板用検査治具を提供する。
【解決手段】 保持ボード10,12と、保持ボード10に進退動自在に保持されるプローブピン34と、保持ボード12に収容されるばね部材36と、を備える。プローブピン34は、その先端部40が保持ボード10から外部に突出される非検査位置と、その先端部40の少なくとも一部が保持ボード10に収容される検査位置との間を移動自在に構成される。プローブピン34の先端部40には、プローブピン34の軸線方向に対して傾斜する傾斜面46が形成されている。プリント配線板6の検査時には、プローブピン34の傾斜面46がプリント配線板6のスルーホール48の開口縁部50a,50bに押し当てられる。 (もっと読む)


【課題】第1プランジャー及び第2プランジャーの可動ストローク並びに重ね代の長さを同じとしたとき、従来と比較して全長を短くすることの可能なコンタクトプローブ及びこれを備えたソケットを提供する。
【解決手段】コイルスプリング6が縮んでいる圧縮状態では、第1プランジャー4の末端部11の平面部分は、第2プランジャー5の末端部21の平面部分から先端側本体部23の基端から所定長の範囲及びフランジ部22の平面部分に跨って対面し、接触する。第2プランジャー5の末端部21の平面部分は、第1プランジャー4の末端部11の平面部分から先端側本体部13の基端から所定長の範囲及びフランジ部12の平面部分に跨って対面し、接触する。 (もっと読む)


【課題】低コストで製造することのできるプローブを提供する。
【解決手段】電気的測定に用いられるプローブは、一方の端より、第1の内部導電部となる領域、一方の電極端子と接触する第1の端子接触部となる領域、蛇行形状に形成された第1のバネ部となる領域、前記第1の内部導電部及び第2の内部導電部を囲むための筐体部となる領域、蛇行形状に形成された第2のバネ部となる領域、他方の電極端子と接触する第2の端子接触部となる領域、第2の内部導電部となる領域が順に接続されている形状の1枚の金属板を折曲げることにより形成されるものであって、前記第1の端子接触部となる領域を折曲げることにより形成される第1の端子接触部と、前記第2の端子接触部となる領域を折曲げることにより形成される第2の端子接触部と、を有し、前記電気的測定を行う際には、前記第1の内部導電部と前記第2の内部導電部とが接触しているものである。 (もっと読む)


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