【課題】各チャネルの信号光の強度だけでなく、信号光の波長およびノイズ光の強度についても監視が可能な光波長多重信号監視装置および方法を提供する。
【解決手段】Ｍ本の入力導波路とＮ本の出力導波路を備えるアレイ導波路回折格子（ＡＷＧ）において、出力導波路は、各透過波長がΔλ間隔になるように配置されており、入力導波路は、各透過波長がΔλ＋ｕ間隔になるように配置される。このとき、ｊ番目（ｊ＝１，２，・・・，Ｍ）番目の入力導波路から、ｉ＋Ｍ−ｊ番目（ｉ＝１，２，・・・，Ｎ−Ｍ＋１）の出力導波路への透過波長は、順次ｕずつシフトする。この特性を利用し、ＡＷＧの入力導波路を切り替えながら所定の出力導波路へ出力される光強度を検出すれば、所定の透過バンド幅を透過する光強度を、順次透過中心波長をシフトしながら検出することになる。これにより、各チャネルの信号光の強度だけでなく、光強度スペクトルを測定することができる。 （もっと読む）

【課題】本発明は、ヘテロダイン光スペクトラムアナライザにおいて受光系を１系統にすることを目的とする。
【解決手段】本発明に係るヘテロダイン光スペクトラムアナライザは、互いに直交し且つ波長差を有する２つの直線偏光光のペアをローカル光Ｐ_Ｌとして出射するローカル光光源２と、被測定光Ｐ_０とローカル光Ｐ_Ｌとを合波する合波部３と、合波部３からの合波光を受光して被測定光Ｐ_０とローカル光Ｐ_Ｌのヘテロダイン検波信号を出力する受光部４と、を備え、波長差は、受光部４におけるヘテロダイン検波の検波帯域よりも狭いことを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】交流電源の電源周波数に依存せずに、常に検出下限性能が最適化された状態で測定データを取得することができる原子吸光分光光度計を提供する。
【解決手段】原子吸光分光光度計１１０に搭載されたマイコンチップ４２上で動作する制御プログラムにおいて、交流モータ２２を駆動させる交流電源周波数（５０Hz／６０Hz）の各場合に対して検出下限性能を最適化した、光源１１、１２の点灯期間及びサンプリングデータ抽出期間を複数記憶しておく。装置使用時、制御プログラムにより、装置で使用している交流電源の電源周波数が識別され、記憶されている複数の点灯期間及びサンプリングデータ抽出期間の中から、識別された電源周波数及び予め装置使用者により設定された測定モードに対応したものが選択され、適切な点灯期間がハードウェア（ＰＬＤ４３）に設定される。これにより、電源周波数に依存せずに、常に検出下限性能が最適化された状態で測定データを取得することができる。 （もっと読む）

【課題】周波数ディザによって電磁信号を伝搬する際のノイズを抑制するシステムおよび方法を提供する。
【解決手段】周波数ディザによってノイズを抑制するためのシステム１０であって、送信機１２、受信機３０および周波数ディザ回路４０を含むほか、送信機１２と受信機３０の間の電磁信号の伝搬経路に沿ったキャビティ２６も含む。送信機１２は１つ以上の選択可能な周波数の各周波数で電磁信号を受信機３０へ送信するように構成される。周波数ディザ回路４０は各選択可能な周波数で送信機１２から受信機３０へ送信された電磁信号に周波数ディザを適用するように構成される。この点に関し、適用される周波数ディザは、当該システムにおける予測される定在波の最小周波数周期の関数として選択されているスパンと、前記１つ以上の選択可能な周波数を含む周波数スペクトルをサンプリングするための信号処理帯域幅の関数として選択されているレートとを有する。 （もっと読む）

【課題】白色校正板としてセラミックよりも安価な材料を採用した場合であっても、高精度に白色校正を行うことができる測色装置及び白色校正方法を提供する。
【解決手段】係数記憶部２５２は、透明保護部材１２２が取り外された第１の条件で白色校正板１２３を測色したときの測色データＤ１と、透明保護部材１２２が取り付けられた第２の条件で白色校正板１２３を測色したときの測色データＤ２とに基づいて予め算出された補正係数Ｋを記憶する。白色校正値算出部２５４は、補正係数Ｋを基に、値付け値記憶部２５１に記憶された基準値付け値Ａを第２の条件で測色された基準値付け値Ａ´に補正し、Ａ´／Ｄ３により、白色校正値Ｗを算出する。色情報算出部２５６は、白色校正値算出部２５４により算出された白色校正値Ｗと試料測色データＤ４とを用いて、試料の色情報を算出する。 （もっと読む）

【課題】狭帯域光源、特に狭帯域化レーザのスペクトルを高分解能で測定可能にする。
【解決手段】狭帯域化レーザによって放射された光ビーム（６４）のスペクトルを測定するための分光計装置（１０）は１つのエタロン（１６）と光ビーム（６４）を第１の部分ビーム（６６）と第２の部分ビーム（６８）とに分けるビームスプリッタ（１８）と、ｎ及びｋは１以上の整数として第１の部分ビーム（６６）はエタロン（１６）を経てｎ回、第２の部分ビーム（６８）は（ｎ+ｋ）回指向させるための光指向素子（２０）と、光感知検出器（２２）と、検出器（２２）によって記録され、エタロン（１６）をｎ回通過した第１の部分ビーム（６６）とエタロン（１６）を（ｎ+ｋ）回通過した第２の部分ビーム（６８）とのスペクトルを評価してエタロン（１６）の装置関数に対して補正された光スペクトルを決定する、スペクトル評価デバイス（２８）とを有する。 （もっと読む）

【課題】波長変調スペクトロスコピー装置を較正する方法を提供すること。
【解決手段】サンプル気体内の検体濃度を計測するように構成された波長変調スペクトロスコピー装置を較正する幾つかの方法を開示する。本方法の各々は、それに関する検体濃度の決定を可能とさせるサンプル気体が危険な気体であるか否かによらず比較的安全な気体を用いた較正及び再較正を可能にしている。本発明の一実施形態では、そのサンプル気体に関する第１の傾斜係数及び較正関数を決定すること（この後で、同じまたは異なるサンプル気体に関する第１の傾斜係数及び第２の傾斜係数に基づいて換算係数を決定し、後続の較正（または、再較正）においてこれを使用し較正関数をスケール換算することが可能である）によってサンプル気体特異的な較正を実現している。本発明の別の実施形態では、可変の気体組成及び一定の気体組成における検体濃度の決定を可能とさせるようにサンプル気体に非特異的な較正を実現している。 （もっと読む）

本発明は、電磁スペクトルの全部分の光特性を測定するためのスペクトル検出器に関し、コレステリック液晶材料及び前記コレステリック液晶材料のヘリックスピッチを変更可能とする切り替え手段を含み、透過波長バンドの位置が前記切り替え手段に応じて調節される。スペクトル検出器はさらに、ある角度でスペクトル検出器に入射する入射光を選択するために、少なくともひとつの光方向選択構成を含む。本発明はまた本発明のスペクトル検出器を含む照明システムに関する。
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【課題】容易に被測定物の分光特性を測定可能であるとともに、構成が簡単で安価な分光測定装置、校正装置、分光測定方法、および校正方法を提供する。
【解決手段】分光測定装置１０は、アレイ状に配列されるとともに、被測定物１００から出力される光を受光して受光した光に応じた受光信号を出力する複数の受光素子と、受光素子から出力される受光信号を認識する受光信号認識手段３２１と、各受光素子のそれぞれに対する分光感度特性値を記憶する記憶手段３１と、受光素子から出力される受光信号、および記憶手段３１に記憶される各受光素子に対する分光感度特性値に基づいて、二次元マトリクス演算処理により、各受光素子に対応する各画素の分光特性値を演算する分光特性演算手段３２２と、を具備した。 （もっと読む）

本発明は、本発明は、スペクトル検出器の製造方法に関し、フォトディテクタアレイとコレステリック液晶材料を電磁スペクトル検出器のすべての部分の光を測定するために含む。前記コレステリック液晶材料の異なる部分で紫外放射を異なる曝露強度又は曝露時間で制御されつつ暴露することにより、前記コレステリック液晶材料の部分が得られ、一般的にそれぞれの部分はそれ自体の伝達性を持つ。さらに、本発明はまた本発明の方法により製造されるスペクトル検出器に関する。
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【課題】
非特許文献１に記載のイメージ分光器は、画像と分光を同時に得ることができることは既に公知であるが、文献１の従来技術では分光後の画像が暗い欠点がある。
本発明は、上記欠点を解消することを目的とする。
【解決手段】
本発明のイメージ分光器は、対象からの光を受ける対物レンズからの光を二次元平面で多数の微小区域に分割するマイクロレンズアレイが配置されていることを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】対象の形状と光学成分とを同時に取得できるイメージ分光器において、センサ近接場光の制御を可能にする装置を提供する。
【解決手段】イメージ分光器は、対象からの光を受ける対物レンズからの光を二次元平面で多数の微小区域に分割するマイクロレンズアレイと、各マイクロレンズアレイを透過した光から近接場光を得るスリットアレイを配置してあり、顕微鏡下での細胞の蛍光局所やフォトルミネッセンス、ラマンなどへの応用される。 （もっと読む）

【課題】ターゲット、ハイパー分光器または光学系を移動させずに、ターゲット全体のハイパースペクトル画像を走査することができる。
【解決手段】焦点面１７０上に、複数の列光学画像１７１、１７２、１７３を含むターゲット１４０の光学画像を合焦させる光学系１１０と、光学系１１０と別に設置されたハイパー分光器１２０と、選択的に複数の列光学画像１７１、１７２、１７３のうちの１つをハイパー分光器１２０へ伝達させる中継モジュール１３０と、を備えるハイパースペクトル走査装置が提供される。 （もっと読む）

【課題】 本発明の解決すべき課題は、演算負荷が小さく、しかも簡易な設定で精度の高いベースライン補正を行うことにある。
【解決手段】
基準軸Ｘと、該基準軸Ｘに対し直交方向に伸張する計測値軸Ｙとを有し、前記基準軸Ｘ上の各点に対し一の計測値が特定される計測曲線のベースライン設定方法において、
基準軸Ｘ上の特定点ｘ_ｉに対応し、基準軸に平行に所定長の線分Ｌを引き、
前記線分Ｌ上の各点Ｌ（ｘ_ｊ）おける計測値ｙ_ｊのうち、最も基準軸に近いｙ_ｍｉｎを、前記特定点（ｘ_ｉ，ｙ_ｉ）におけるベースライン点（ｘ_ｉ，ｙ_ｍｉｎ）とし、
有効基準軸範囲でベースライン点を取得し、該ベースライン点を結ぶ線をベースラインとすることを特徴とするベースライン設定方法。 （もっと読む）

【課題】出荷前の校正がより正確に行われた分光特性測定装置を提供する。
【解決手段】分光特性測定装置１００は、測定試料２４に照明光を照射する照明部２１と、照明光を照射された測定試料２４からの放射光を波長に応じて分散させる分光部３２と、分光部３２により分散された光を波長ごとに受光し、電気信号に変換して出力する複数の受光素子を有する受光部３３と、照明光の分光強度分布に基づいて予め算出された、受光素子の合成中心波長を記憶している記憶部４３とを備えている。 （もっと読む）

【課題】ＤＷＤＭ伝送などで高波長精度による光スペクトラムの測定を可能にする。
【解決手段】光スペクトルモニタは、光スペクトルの掃引に応じた回折角で被測定光を回折する回折手段３を有し、回折手段３による１次回折光を受光し、受光量に応じた電気信号に変換出力する。入射手段２は、被測定光の波長の１／２波長付近で発光する広帯域光源からなる波長モニタ用光源２２と、被測定光と波長モニタ用光源２２からの光とを合成する合波器２３とを含む。波長モニタ手段６は、被測定光の１次回折光と波長モニタ用光源２２の２次回折光とを分波する分波部６１を有し、分波部６１で分波した波長モニタ用光源２２の２次回折光を入力して波長をモニタする。 （もっと読む）

【課題】ステージ装置を不要とするとともに、より少ないデータ数で解析を可能とし短時間で解析可能とする干渉装置を提供する。
【解決手段】干渉装置（１００）は、スペクトル幅の広い光を照射する広域スペクトル光源（１１）と、広域スペクトル光源から光を分岐するビームスプリッター（ＢＳ）と、ビームスプリッターで分岐された一方の光（Ｌ２）を、スペクトル幅内の第１波長領域と該第１波長領域と異なる第２波長領域とで位相を変調する位相変調部（３０）と、位相が変調された光束を第１反射面（ＲＭＲ）に照射し、ビームスプリッターで分岐された他方の光を第２反射面（ＳＡ）に照射し、第１反射面で反射した第１反射光と第２反射面で反射した第２反射光を合成して合成光とする光分割合成部（ＰＢＳ、２６）と、を備える。 （もっと読む）

本発明は、１）第１周波数コムと、２）干渉を生成するべく、第１周波数コムと相互作用するべく構成された第２周波数コムと、３）２つのコムの周波数成分中の周波数成分のサブセットの間においてうなり信号を隔離する手段であって、この周波数成分のサブセットは、好ましくは、第１周波数コムの単一ライン及び第２周波数コムの単一ラインであるが、これは、必須ではない、手段と、４）このうなり信号を監視し、且つ、この信号を第１及び第２周波数コムの周波数成分全体の間のうなり干渉信号を記録する取得ユニット装置用のトリガとして又はクロックとして使用する手段と、を有する干渉計に関する。
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【課題】 本体部に光を適切に入射させることができる分光モジュールの製造方法及び分光モジュールを提供する。
【解決手段】 分光モジュール１の製造方法においては、光検出素子５と光透過板５６とが貼り合わされて構成された光検出ユニット１０を光学樹脂剤６３によって基板２の前面２ａに接着する。このとき、光検出素子５の光通過孔５０が光透過板５６によって覆われているため、光通過孔５０内への光学樹脂剤６３の進入が防止される。しかも、光検出ユニット１０を準備するに際しては、光検出部５ａが設けられた半導体基板９１と光透過板５６とを貼り合わせた後に、半導体基板９１に光通過孔５０を形成するため、屈折や散乱等の発生の原因となり得るものが光通過孔５０内に進入するのを確実に防止することができる。 （もっと読む）

【課題】本発明は、信頼性の高い分光モジュールを提供する。
【解決手段】 本発明に係る分光モジュール１では、分光部４に進行する光Ｌ１が光通過孔５０を通過するに際し、基板２側に向かって先細りとなる光入射側部５１を抜け、光入射側部５１の底面５１ｂと対向するように形成された光出射側部５２に入射した光のみが光出射開口５２ａから出射される。このため、光入射側部５１の側面５１ｃや底面５１ｂに入射した迷光Ｍは、光出射側部５２と反対側に反射されるので、光出射側部５２に迷光が入射することを抑制することができる。従って、分光モジュール１の信頼性を向上させることが可能となる。 （もっと読む）