【課題】簡便な構成でマイグレーションの発生を抑制しつつ光学素子を所望の姿勢に補正する姿勢補正装置を得る。
【解決手段】姿勢補正装置３０は、圧電素子１１０と、圧電素子１１０に駆動電圧を印加する駆動回路１１１とを備える。駆動回路１１１は、所定の補正条件に応じて圧電素子１１０に駆動電圧を印加することによって、圧電素子１１０を伸縮させ、駆動電圧が印加された圧電素子１１０の伸縮を利用して光学素子１５の姿勢を補正する第１電圧印加モードと、駆動回路１１１が第１電圧印加モードにおいて圧電素子１１０に印加する駆動電圧とは異なる所定の交流電圧を圧電素子１１０に印加することによって、圧電素子１１０を発熱させ、圧電素子１１０に含有される水分量を低減させる第２電圧印加モードとを有する。 （もっと読む）

【課題】試料における蛍光成分を含む分光放射輝度率を効率的に測定する。
【解決手段】複数の紫外光源と白色光源を有する測定部704で、まず白色光源を点灯させて、試料の可視光成分の分光放射輝度率を得る。次に測定判定部702が、測定条件データ格納部701から、試料に応じて予め定められた、複数の紫外光源のそれぞれについて点灯するか否かを示す測定条件を取得し、点灯が示された紫外光源を判定する。そして制御部703が測定部704に対し、該点灯すると判定された紫外光源を点灯させるように制御して、試料の蛍光成分の分光放射輝度率を得る。これにより、紫外光源を無駄に点灯することなく、該試料の全分光放射輝度率を効率良く得ることができる。 （もっと読む）

【課題】精度の良い分光スペクトルを迅速に測定可能な分光測定装置、及び分光測定装置の制御方法を提供する。
【解決手段】分光測定装置１は、固定反射膜、可動反射膜、及び電圧印加により反射膜間ギャップのギャップ量を変化させる静電アクチュエーターを備えた波長可変干渉フィルター５と、光の光強度を検出するディテクター１１と、測定対象光の分光スペクトルを測定する制御回路部２０と、を備え、制御回路部２０は、ピーク対応ギャップ量を検出するピーク検出部２３と、静電アクチュエーターに印加する電圧を設定するフィルター駆動部２２と、分光スペクトルを測定する分光測定部２４とを備える。フィルター駆動部２２は、ギャップ量を、定間隔ギャップ量及びピーク対応ギャップ量に段階的に変化させ、分光測定部２４は、各定間隔ギャップ量、ピーク対応ギャップ量に対する光強度を取得する。 （もっと読む）

【課題】本発明は、信頼性の高い分光モジュールを提供する。
【解決手段】 本発明に係る分光モジュール１では、分光部４に進行する光Ｌ１が光通過孔５０を通過するに際し、分光部４側に向かって先細りとなる光入射側部５１を抜け、光入射側部５１の底面５１ｂと対向するように形成された光出射側部５２に入射した光のみが光出射開口５２ａから出射される。このため、光入射側部５１の側面５１ｃや底面５１ｂに入射した迷光Ｍは、光出射側部５２と反対側に反射されるので、光出射側部５２に迷光が入射することを抑制することができる。従って、分光モジュール１の信頼性を向上させることが可能となる。 （もっと読む）

【課題】 外乱の影響を受けることなく正確に試料の吸光度又は透過率スペクトルを算出することができる干渉分光光度計を提供する。
【解決手段】 往復移動可能な移動鏡２６２を有する移動鏡ユニット２６０と、固定鏡８５と、赤外光を出射する赤外光源部１０と、ビームスプリッタ７０と、試料を透過又は反射した光強度情報を検出する干渉光検出部２０と、移動鏡２６２の移動鏡速度情報を検出する移動鏡速度情報検出部３０と、光強度情報及び移動鏡速度情報を取得して、試料の吸光度又は透過率スペクトルを算出する制御部５１とを備える干渉分光光度計１であって、目標移動鏡速度範囲を記憶する記憶部５２を備え、制御部５１は、移動鏡２６２の移動速度が目標移動鏡速度範囲から外れたときに得られた光強度情報を、試料の吸光度又は透過率スペクトルを算出する際に採用しないようにする。 （もっと読む）

【課題】高価な分光器を必要とせずに、特徴量を高精度に推定可能とする。
【解決手段】被検体の特定成分に関する特徴量を推定する特徴量推定装置は、波長帯域の相違する複数のバンド画像を分光スペクトルに変換するための分光推定パラメーターを保存する分光推定パラメーター保存部３６と、分光スペクトルを前記特徴量に変換するための検量処理パラメーターを保存する検量処理パラメーター保存部３８とを備える。さらに、特定成分に応じた所定の波長帯域を含む複数の波長帯域で前記被検体を撮影して得られるマルチバンド画像を取得するマルチバンド画像取得部と、前記分光推定パラメーターを用いて、マルチバンド画像から分光スペクトルを演算する分光推定部１６と、検量処理パラメーターを用いて、前記分光スペクトルから前記特徴量を演算する検量処理部１８とを備える。 （もっと読む）

【課題】省電力化が可能な波長可変干渉フィルター、光モジュール、及び電子機器を提供する。
【解決手段】波長可変干渉フィルター５は、固定反射膜５４及び固定電極５６１が設けられた固定基板５１と、固定基板５１に対向し、可動反射膜５５及び可動電極５６２が設けられた可動基板５２と、を具備し、固定電極５６１及び可動電極５６２は、それぞれ透光性を有し、フィルター平面視において、固定反射膜５４及び可動反射膜５５が設けられた光干渉領域Ａｒ２を含む駆動領域Ａｒ１を覆って設けられ、固定反射膜５４は、固定電極５６１を介して固定基板５１に設けられ、可動反射膜５５は、可動電極５６２を介して可動基板５２に設けられた。 （もっと読む）

【課題】撮像カメラや撮像素子などの撮像手段に十分な光量を渡してＳ／Ｎ比の劣化を抑止することができるスペクトル測定装置を提供する。
【解決手段】スペクトル測定装置１は、フーリエ変換素子としての液晶デバイス２、液晶デバイス２への印加電圧を制御する電圧制御器５および、液晶デバイス２を通過した測定対象物７の透過率波形を撮像する撮像装置３を備える。計算機４は、液晶デバイス２を通過した透過率波形に含まれる波数が非整数倍の関係となるように液晶デバイス２への印加電圧を制御しつつ撮像された画像データを記憶し、当該波数の異なる複数の画像データに基づく連立方程式を解くことにより各画素について測定区間における整数倍周波数のフーリエ成分を算出し、算出され各画素における整数倍周波数フーリエ成分を逆フーリエ変換することにより各画素ごとの分光スペクトルを算出する。 （もっと読む）

【課題】 小型化を図り、ウェハプロセスによって容易に大量生産することのできる分光モジュールの製造方法を提供する。
【解決手段】 表面２ａから入射した光を透過させる光透過部２，３と、光透過部２，３の凸曲面３ａ上に設けられ、光透過部２，３を透過した光を分光して表面２ａ側に反射する分光部と、表面２ａ側に設けられ、分光部によって分光されて反射された光を検出する光検出素子７と、を備える分光モジュール１の製造方法は、凸曲面３ａに、回折層４を形成するための材料を配置し、材料にモールドを当接させ、材料を硬化させることにより、凸曲面３ａに沿って回折層４を形成する工程と、回折層４の表面に反射層６を形成することにより、分光部を形成する工程と、を備える。 （もっと読む）

【課題】分光スペクトル推定のための学習スペクトルデータを効率的に取得する。
【解決手段】学習データ生成用データ保持部１３２は、基材の分光反射率と、基材上における複数の網点率１００％の単色色材の分光スペクトルを保持する。学習データ生成部１２２は、所定の標準光源と所定の等色関数を前提とし、色材の分光反射率と三刺激値との関係を規定した第１式と、三刺激値と色材の網点率との関係を規定した第２式と、基材上の色材層の反射率とＳ／Ｋ値（Ｓは散乱係数、Ｋは吸収係数）との関係を規定した第３式と、基材のＳ／Ｋ値と基材上の複数の単色色材のＳ／Ｋ値とを加算して得られる混色色材の、Ｓ／Ｋ値と反射率との関係を規定した第４式とを用いて、学習データとすべき複数の分光スペクトルを生成する。 （もっと読む）

【課題】 光源の、紫外域を含む分光放射輝度を取得する。
【解決手段】 光源の可視域における分光放射輝度の測定値、および、蛍光物質を含む複数の試料の、光源の光に対する反射光の可視域における分光放射輝度の測定値を入力する。そして、光源の分光放射輝度の測定値、複数の試料の分光放射輝度の測定値、および、複数の試料の二分光放射輝度率から、光源の紫外域における分光放射輝度を算出する。 （もっと読む）

【課題】 データ曲線に対してノイズを適切に除去することができるピーク検出方法を提供する。
【解決手段】 波長と吸光度との関係を示すデータ曲線に対して、ピークを検出するピーク検出方法であって、前記データ曲線に対して、ピーク候補を検出処理するピーク検出処理ステップと、波長範囲と当該波長範囲におけるパラメータとを一組にしてピーク判定情報とし、複数のピーク判定情報を入力する入力ステップと、複数のピーク判定情報に基づいて、各波長範囲には一組にされたそれぞれのパラメータを用いて、前記ピーク候補がピークであるか否かを判定する判定ステップとを含む。 （もっと読む）

【課題】 試料の二分光放射輝度率を高精度、短時間に測定する。
【解決手段】 照射部102は、紫外域から可視域の範囲において、設定された幅で波長をシフトした、設定された波長幅を有する測定光を発生し、測定光の分光放射輝度を測定する。測定部103は、測定光の照射に対して試料12が放射する光の分光放射輝度を可視域において測定する。演算部104は、測定光の分光放射輝度および試料12が放射する光の分光放射輝度から試料12の二分光放射輝度率を演算する。 （もっと読む）

【課題】分光画像を得るまでに要する処理時間を短くするとともに、ノイズの少ない分光画像を得ることを課題とする。
【解決手段】所定の撮像領域からの光を、光学フィルタ２を介して、２次元配置された画素アレイを有する画像センサ４で検出し、その検出結果を出力する分光画像撮像装置において、上記光学フィルタとして、画像センサ上における１つの画素に対応した格子パターンを有する回析格子を用い、その回析格子を通過した光の回析角度に応じた画像センサ上の干渉地点の違いにより、隣接する２つの画素間における輝度Ｉ１，Ｉ２の差分値が異なるように構成されている。そして、当該隣接する２つの画素間における輝度差分値に基づくコントラスト指標値Ｉｃ＝（Ｉ１−Ｉ２）／（Ｉ１＋Ｉ２）を算出し、各コントラスト指標値の違いを階調の違いで表現した画像を分光画像として生成し、その分光画像からノイズ成分を除去する。 （もっと読む）

【課題】照明光が対物レンズを通過した後の分光スペクトルを取得し、照明光の劣化を自動的に補償する。
【解決手段】検査装置１は、分光特性が既知の被照明物から対物レンズ１２１を経て撮像素子１２３に入射される照明光の分光スペクトルを取得する分光計測部１３と、撮像素子１２３の分光感度及び分光計測部１３によって取得した照明光の分光スペクトルの積で表されるシステム関数を、予め定められたターゲット値となるように補正する制御部１４とを備える。 （もっと読む）

【課題】 可視域外における光源の分光放射輝度特性を判定する。
【解決手段】 光源判定チャートは、可視域外における光源の分光放射輝度特性の判定に利用される。パッチ32Bは、可視域外において第一の分光放射輝度特性を有する光源LAの光、および、可視域外において第二の分光放射輝度特性を有する光源LBの光に対して蛍光を放射する。パッチ32Aは、光源LAの光に対して蛍光を放射し、光源LBの光に対して蛍光を放射しない。参照部31は、光源LA、LBの光に対して蛍光を放射せず、パッチ32A、32Bにおける蛍光の放射の判定に利用される。 （もっと読む）

【課題】高分解能で、かつ低コストで製造可能な干渉フィルターを提供する。
【解決手段】エタロン５は、下部基板５１と、下部基板５１に対向する上部基板５２と、下部基板５１に設けられる下部反射膜５６と、上部基板５２に設けられるとともに、下部反射膜５６に対してギャップを介して対向する上部反射膜５７と、を備え、下部基板５１の上部基板５２に対向する面のうち、少なくとも下部反射膜５６が設けられる下部反射膜形成面５１１Ａには、上部基板５２に対向する表面が平滑面となる平滑膜５１２が設けられ、下部反射膜５６は、平滑膜５１２の表面に設けられる。 （もっと読む）

【課題】励起波長等が未知の試料に対しても適用可能な蛍光分光光度計を提供する。
【解決手段】本発明に係る蛍光分光光度計は、光源１と、試料セル３と、光源１からの光を分光し、所望の波長の光を試料セル３に照射する励起側分光系２と、励起側分光系２から試料セル３に入射し、該試料セル３を透過した透過光の光路上から外れた位置に配置された、試料セル３からの出射光を分光する出射側分光系４と、出射側分光系４からの出射光のうち励起側分光系２から試料セル３に照射された光と同一波長の出射光を検出可能な光検出器５とを有する。光検出器５で検出される散乱光量が減少するときの分光系２、４の設定波長が測定試料の吸光波長となるため、未知の試料の吸光特性の測定が可能になる。 （もっと読む）

【課題】リフレクタにより十分な光量を確保して良好な測定が可能でありながら、白色光源の交換の際のコストが低く、交換作業が容易な分光反射率測定機を提供する。
【解決手段】ハロゲンランプ１２と、ハロゲンランプからの光を反射するリフレクタ１５と、反射光が通過するピンホール２ａを有するピンホール部材２と、ピンホールを通過した反射光を略平行な光束とするコリメータレンズ３とを有する光源部１０１を備えた分光反射率測定機において、光源部は、接触面１６ｂを有しリフレクタが取り付けられた第１基体１６と、当て付け面１４ａを有しハロゲンランプが着脱可能に取り付けられて第１基体に装着される光源着脱部１４とを備え、当て付け面および接触面は、光源着脱部を第１基体に装着し、当て付け面と接触面とが接触したときに、ハロゲンランプの発光点１２ｂがリフレクタの第１焦点１５ｂと略一致する所定の精度に加工されている。 （もっと読む）

【課題】ハイパースペクトルイメージデータに基づく標的検出のためのシステム、回路、及び方法が開示される。
【解決手段】フィルタ係数は、修正済みの制約付きエネルギー最小化（ＣＥＭ）法を用いて決定される。修正済みＣＥＭ法は、制約付きリニアプログラミング最適化を実行するように動作可能な回路に使用することができる。フィルタ係数を含むフィルタを、ハイパースペクトルイメージデータの複数のピクセルに適用することにより、それらピクセルのＣＥＭ値が形成され、このＣＥＭ値に基づいて一又は複数の標的ピクセルが特定される。本プロセスを繰返すことにより、ハイパースペクトルイメージデータから前記特定された標的ピクセルを除外することによって決定されるフィルタ係数を使用して、標的認識を向上させることができる。 （もっと読む）