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Fターム[2G020CD04]の内容

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Fターム[2G020CD04]に分類される特許

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【課題】分光蛍光光度計において、効率良く三次元傾向スペクトルを取得することによる測定時間の短縮と、試料劣化の低減と、取得データサイズの低減を実現する。
【解決手段】成分分析対象の試料を収納する試料セル、試料セルへ予め定められた波長の励起光を照射させる励起光側分光器、試料セルからの蛍光を予め定められた範囲の波長を走査して分光する蛍光側分光器、蛍光側分光器からの蛍光を検知する蛍光検知器、励起光側分光器で試料セルへ照射する励起光の波長を変えながら、蛍光検知器で検知された蛍光の波長と強度に基づいて、試料の蛍光強度の三次元蛍光スペクトルを得るコンピュータを備え、該コンピュータは、励起光側分光器で分光される励起光の波長の範囲と、蛍光側分光器で分光される蛍光の波長の範囲との組合せを複数種類設定する。 (もっと読む)


【課題】試料からの測定光のスペクトル分布を、同時に二次元で計測することができる分光装置を提供すること。
【解決手段】格子状に配列された入射ピンホール配列11と、その複数のピンホールから入射された光を波長分散する回折格子13を含む光学系と、その光学系から出射される光を受光する平面受光素子15を備え、かつ前記光学系は入射ピンホール配列11の配列方向である二方向の少なくともいずれかと、回折格子13の波長分散方向および出射光受光用平面受光素子15の画素配列方向とが、平行または直行とならないように角度をもつように配置されている。 (もっと読む)


【課題】通過距離の短い安価な吸収セルを用いてもそのセルの吸収波長を容易に特定できるようにする。
【解決手段】吸収セル40の既知の吸収波長を含む広帯域光Pwを入射部21に被測定光として入射した状態で、入射部21から分光部25を経て光電変換素子34に至る光路のいずれかに、吸収セル40を進入させて波長掃引したときに得られた第1のスペクトラム特性Faと、吸収セル40を光路から退出させて波長掃引したときに得られた第2のスペクトラム特性Fbとの差を演算して、吸収セル固有のスペクトラム特性Gを求め、そのスペクトラム特性Gと既知の吸収波長から角度波長情報を補正する。 (もっと読む)


本発明は、受け取られた光のスペクトル成分を検出するスペクトル検出装置100であって、前記受け取られた光をフィルタリングする及び所定の波長範囲内の波長を有する光を出力するフィルタリング構造110と、フィルタリング構造110により出力された光を検出する光センサ120とを有するスペクトル検出装置100において、フィルタリング構造110は、時間とともに前記所定の波長範囲の変化を可能にするように可変である、スペクトル検出装置100に関する。この配置は、低い費用において、提供されることができる小型のスペクトル検出装置を可能にする。
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本発明は、入射光Lをフィルタリングするための多数のスペクトルフィルタ(F1、F2、....、Fn)を含み、1つのスペクトルフィルタF1、F2、....、Fnは、前記入射光(L)の固有の成分を通過させるように構成されているフィルタ装置(11)と、前記入射光(L)の一部を通過させるためのアパーチャー装置(12)と、前記フィルタにかけられ、通過された光(L’)を収集するように構成されたセンサ装置(13)とを備え、前記センサ装置(13)は、イメージに関連した信号(S、S1、S2、....、Sn)を発生するためのセンサ素子(130)のアレイを含み、前記センサアレイは、多数の領域(R1、R2、....、Rn)にサブ分割されており、特定の領域(R1、R2、....、Rn)のセンサ素子(130)によって発生されるイメージに関連する信号(S)が、対応するスペクトルフィルタ(F1、F2、....、Fn)を通過した光の源の方向および/またはスペクトル組成に関する情報を含むよう、前記対応するスペクトルフィルタ(F1、F2、....、Fn)に前記センサアレイのうちの1つの領域(R1、R2、....、Rn)が割り当てられている、光センサ(1)に関する。本発明は更に、光センサデバイス(10)に入射する光(L)の源の方向および/またはスペクトル組成を測定するための光センサデバイス(10)、入射光(L)を収集する方法、および入射光(L)の源の方向および/またはスペクトル組成を測定する方法にも関する。 (もっと読む)


【課題】繰り返し露光で生じる回折光の異常ピークの発生を抑制し、急峻で異常ピークの少ない分光が可能な回折格子を実現し、この回折格子を用いることで高精度な分光分析装置を提供する。
【解決手段】一定ピッチの回折格子を繰り返し露光により作製する際に、作製する回折格子のピッチ寸法と小角偏向の繰り返し露光周期との関係において、露光すべきピッチ寸法Pと小角偏向の繰り返し露光周期Sとの比P/Sが0.1以上になるように設定して露光を繰り返し、露光で生じる回折光の異常ピークの発生を抑制し、急峻で異常ピークに少ない分光が可能な回折格子を実現する。 (もっと読む)


【課題】バックラッシュに起因する波長設定誤差の影響を回避し、3次元蛍光スペクトル測定の高速化または高精度化を図る。
【解決手段】コンピュータ10は、励起側分光器2および蛍光側分光器7が輝線スペクトルを有する入射光を往方向および復方向にスペクトルスキャンしたとき、検知器8によって得られる蛍光スペクトルを取得し、その蛍光スペクトルを既知の輝線の波長と比較することによって、励起パルスモータ12や蛍光パルスモータ11で設定される往方向および復方向スキャン時の波長設定誤差を取得し、各方向スキャン時の波長校正値とする。従って、両方向スキャン時での蛍光スペクトルの波長校正が可能となる。従って、片方向スキャン時の蛍光スペクトルしか利用できない場合に比べ、3次元蛍光スペクトル測定の高速化または高精度化が可能となる。 (もっと読む)


【課題】演算負荷が小さく簡易な設定で精度が高いベースライン設定を行う。
【解決手段】X軸上に存在する半円、半楕円、又は二次曲線の図形をX軸方向に走査させ、前記図形を任意の位置を基準点として固定し、ピークがY軸正方向に出る場合は、X軸上に図形が存在する範囲においてスペクトルと図形の高さの差の最小値を求め、該最小値と前記基準点における図形の高さの和を求め、基準点を含む範囲において図形をずらしていき、それぞれの図形の位置において、同様にスペクトルと図形の高さの差の最小値と前記基準点における図形の高さの和を計算し、それらの計算された値のうち最大値L(xi)を求め、該最大値L(xi)を基準点のX座標におけるベースライン値として取得する。 (もっと読む)


【課題】スペクトル形状のなまりを抑止しつつ、入力スペクトラムデータからノイズを自動的に除去すること。
【解決手段】入力スペクトラムデータを構成する測定データの極値点と該極値点近傍の測定データの平均値との差に基づき検出されるノイズ量にしたがって移動平均処理を行う測定データのポイント数を制御するように構成されたスペクトラムデータ補正装置において、
前記ノイズ量が一定の場合、前記測定データの信号レベルの大きさに応じて前記移動平均処理を行う測定データのポイント数を制御する手段を設けたことを特徴とするもの。 (もっと読む)


【課題】簡易な構成でありながら、より高い波長分解能を有する光スペクトル測定装置を提供する。
【解決手段】被測定光P1を放出する光源1と、非線形光学結晶2と、波長選択フィルタ3と、分光器4と、制御部5とを順に備える。非線形光学結晶2は、光源1から入射する被測定光P1に対して自発的パラメトリック下方変換を生じさせ、変換光P2を射出する。変換光P2においては、被測定光P1におけるわずかな波長の変化が大きく拡大されて表れる。そのため、分析器4によって、比較的高精度な変換光P2のスペクトルが得られる。被測定光P1の波長と、変換光P2の波長との関係を調べることにより、制御部5における換算によって、変換光P2のスペクトルから被測定光P1のスペクトルが求められる。このようにして得た被測定光P1のスペクトルは、分光器4によって直接測定したものよりも高精度なものである。 (もっと読む)


【課題】小型化が可能で且つ複雑な光軸合わせが不要な光検出器及びスペクトル検出器を提供すること。
【解決手段】本発明の光検出器は、基板と、前記基板上に形成され、複数の凸部を有する半導体とを有する光検出器であって、前記複数の凸部に入射した光のうち前記複数の凸部を透過する光を検出する。本発明によれば、回折格子やプリズム等の光学部品を用いなくとも、特定のピーク波長を有する光を検出することができ、複雑な光学系の光軸調整不要な小型の光検出器を実現することができる。 (もっと読む)


【課題】高次光を除去するための光学フィルタなどの光学素子を光路に着脱可能に挿入するための機構として、専用のアクチュエータやそれを制御する回路やソフトウエア類を設けることをせず、回折格子を回転させるための駆動機構に従動して光学素子を移動させるようにする。
【解決手段】分光器の回折格子10と一体化され、回折格子10とともに回転駆動される駆動アーム20を設ける。光路上に着脱可能に配置される光学素子28を支持する支持体を従動アーム22とし、従動アーム22は回折格子10の波長走査のための回転範囲外の回転角度範囲において駆動アーム20と当接する位置に配置され、駆動アーム20の当接により駆動されて光学素子28を光路上の位置と光路から外れた位置との間で移動させるように変位可能に構成されている。 (もっと読む)


【課題】透過または反射スペクトルが測定可能であり、上述の制約を受けない波長分光装置を提供する。
【解決手段】本発明は、基板上に、スペーサ膜によって離間された2つのミラーで構成されるフィルタ・セルCFを備え、該フィルタ・セルが複数の干渉フィルタで構成される波長分光装置に関する。さらに、上記装置は複数の放射源を備える放射セルCEをさらに備え、上記放射源が各々上記干渉フィルタの1つと関連付けられる。
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【課題】ユーザによる煩雑な操作を行うことなく、キセノンランプの電極消耗による発光点像の位置変動を容易に補正することのできる分光蛍光光度計を提供する。
【解決手段】キセノンランプから成る光源11と、光源11の光を反射する反射鏡12と、反射鏡12によって反射された光から所定波長の光を励起光として分離する第1の分光系13〜15と、前記励起光を受けて試料が発する光を分光する第2の分光系21〜23と、該第2の分光系で分光された光を検出する検出器25と、反射鏡12の角度を変更する反射鏡駆動手段30と、検出器25からの出力信号が最大となるように反射鏡駆動手段30を制御する制御手段41、42とを設ける。制御手段41、42が検出器25からの出力信号に基づいて反射鏡駆動手段30を制御することにより、反射鏡12の角度が最大励起光量が得られる最適角度へと自動的に調整される。 (もっと読む)


【課題】集光レンズ内における反射によるフレア光のスペクトル列への混入を防止して、スペクトル列を精度よく検出する。
【解決手段】光を波長毎に分離してスペクトル列を生成する波長分割手段と、該波長分割手段により分離された光Lを所定の面内に集光する集光レンズ5と、該集光レンズ5の焦点面に配置され、波長毎に分離された光Lのうち、所定の波長帯域の光Lを選択する波長選択手段6とを備え、波長分割手段から集光レンズ5までの光軸Pが、集光レンズ5の光軸Pに対して、スペクトル列の配列方向に交差する方向に平行間隔をあけて配置されている分光装置1を提供する。 (もっと読む)


【課題】測定精度を向上させ得る光学遅延装置を提案する。
【解決手段】入射されるパルス光の光路長が短縮される方向又は延長される方向へ移動可能な可動ステージの移動方向に沿って配される等間隔の目盛りを検出したことを示すパルス信号に同期させて、テラヘルツ波検出部からパルス光のパルス間隔ごとに出力される信号を取り込むようにする。 (もっと読む)


【課題】より簡単な構成により分光測定を行う。
【解決手段】カメラ11は、軸上色収差を発生させるレンズ22と、レンズ22を介して測定対象物2を撮像する二次元のイメージセンサ21とを備える。記憶部33は、測定対象物までの距離と所定の複数波長におけるイメージセンサ21の出力信号との関係を記憶する。移動部32は、レンズ22の光軸に沿ってステージ12を移動させることにより、レンズ22と測定対象物2とを相対移動させる。測定部31は、移動部32により測定対象物2を移動しつつ撮像し、イメージセンサ21の出力信号と記憶部33に記憶されている前記関係とから測定対象物2の分光特性を測定する。本発明は、例えば、分光分布測定装置に適用できる。 (もっと読む)


【課題】可動部のない高精度の光スペクトル分析手段を提供する。
【解決手段】光スペクトルアナライザー及び光信号をスペクトル的に分析する方法である。光スペクトルアナライザーは、光信号を整形する光変調器などの波形整形器(101)、整形された光信号を分散させる分散ファイバーなどの分散素子(103)、整形され分散された光信号を表す出力信号を提供する検出器(105)、及び、たとえば、出力信号の逆フーリエ変換またはフーリエ変換などの変換を計算することによって出力信号を分析して光信号の周波数スペクトルを提供する信号プロセッサ(107)を備える。 (もっと読む)


【課題】分光光度計を構成する要素の切替えによって検出信号のグラフに生じるノイズや段差を分析者が容易に判別できるようにする。
【解決手段】外部制御装置10は光測定部8で得られた検出データに基づいて吸光度スペクトルなどのグラフを作成してデータ表示部16に表示させることができ、さらに、切替え波長記憶部12に格納されている各切替え波長の位置をデータ表示部16のグラフ上に表示させることもできる。
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本発明においては、ジオプタ(11)と、前記ジオプタ(11)において記録する記録手段(15,18)と、2つの干渉ビーム(F1,F2)から形成され、ジオプタ(11)の平面(x0y)においてインタフェログラム(12)の横断軸(0x)に沿って干渉ライン(13)を形成するインタフェログラムと、を有する分光器に関し、前記記録手段(15,18)は、前記インタフェログラム(12)の空間的分配を検出ように備えられた検出要素(19)のネットワークを有する分光器であって、検出要素(19)の前記ネットワーク(18)は二次元であり、前記記録手段(15,18)及び前記インタフェログラム(12)の少なくとも一部は、インタフェログラム(12)の横断軸(0x)に沿って互いに角度が付けられている、分光器について開示されている。本発明はまた、2つの干渉ビーム(F1,F2)を出射する手段を有する分光イメージング装置と、分光器とに関する。

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