【課題】試料の測定精度を向上し得るテラヘルツ分光装置を提案する。
【解決手段】テラヘルツ波発生素子と、楕円鏡と、テラヘルツ波発生素子で発生したテラヘルツ波を、楕円鏡がもつ第１焦点の焦点面に対して斜め方向から照射する光学レンズと、楕円鏡がもつ第２焦点に配置されたテラヘルツ波検出素子とを含むテラヘルツ分光装置とした。 （もっと読む）

【課題】簡易な構成で試料を測定し得るテラヘルツ分光装置を提案する。
【解決手段】超短ファイバレーザ器１１におけるゲインファイバ１１Ｃに対して、光カプラ１１Ｄを介して直に光ファイバＯＦ２を連結し、該光ファイバＯＦ２を通じて、ゲインファイバ１１Ｃから出力されるパルス光（ポンプ光）をエミッタ１２に導く。 （もっと読む）

本発明は、第１の態様によれば、放射源、及び／又は該放射源と干渉計との間にあり、放射が通過する媒質の特徴変数を測定するための干渉逆変換法であって、干渉計は、放射源と該干渉計との間で同じ経路を進んできた２つの光線間に限られた数の光学的段差を作り出すことによって、該放射のインターフェログラムを生成することができ、該方法は、それによって逆変換の改善を特徴付ける量を決定するステップと、いかなるサンプリング規則性の制約も加えることなく、逆変換の改善を特徴付ける量の最適化に主に寄与する段差を選択するステップと、選択された段差のみを用いることによって、自由なインターフェログラムを生成するステップとを実施することを特徴とする、干渉逆変換法に関する。第２の態様によれば、本発明は、本発明の第１の態様による方法を実施するための干渉計を提供する。
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分光光度計で得られる光学スペクトルの信号対ノイズ比を増加させる。干渉計は、光源ビームに干渉効果を導入する。二重ビーム構成は、干渉効果を有する光源ビームをリファレンスビームとサンプルビームに分岐する。リファレンスビームは、リファレンス物質と相互作用して、リファレンス検出器によって検出される。サンプルビームは、サンプル物質と相互作用して、サンプル検出器によって検出される。サンプルの光学スペクトルは、検出されたリファレンスビームと検出されたサンプルビームとの差分に基づいている。
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【課題】ユーザが容易に測定精度の管理を行うことのできる分光特性測定装置及び分光特性測定システムを提供する。
【解決手段】制御部は、精度確認スイッチが押されると（♯１１でＹＥＳ）、白色校正板及びキセノンフラッシュランプを用いて波長ずれ量Δλを算出し（♯１２〜♯１７）、工場出荷時に当該分光測色計１に格納された分光反射率特性を前記波長ずれ量Δλだけシフトさせた分光反射率特性を算出する（♯１８）。そして、制御部は、この分光反射率特性（ｃ）と、予め記憶している、マスタ機による測定動作で得られた分光反射率特性（ａ）とを比較し、マスタ機による測定動作で得られた分光反射率特性（ａ）に対する前記分光反射率特性（ｃ）の誤差を算出し（♯１９）、この誤差を表示部に表示させる（♯２０）。 （もっと読む）

【課題】強い発光異方性を示す発光体試料の発光を容易かつ確実に等方化して、その発光体試料の発光量子効率を精度よく測定できる発光量子効率測定装置を提供する。
【解決手段】発光量子効率測定装置は、積分球１の中心を含む平面上の直交する方向に、励起光導入窓２と、分光器へつながる検出プローブ端３とを有する発光量子効率測定装置において、該積分球１の内部であって、中心から該平面に対する垂線上に発光体試料５が配置され、該検出プローブ端３から発光体試料５を見通す位置にバッフル板７が置かれている。 （もっと読む）

【課題】特に比較的広い帯域幅を有する分光計について、従来のピーク探索法に比べてかなり良好な較正精度を達成する、分光計（特に２次分光計）の波長較正法を提供すること。
【解決手段】本発明の方法は、相関値がそれぞれのシフト段階について計算される、モデルスペクトルおよび較正スペクトルの対応する測定値ブロックの段階的な相対シフトの原理に基づく。それぞれの測定値ブロックについて、相関値が最適値に達するシフト値が決定される。測定値ブロックの位置マーカおよび関連するシフト値からなる値の対は、それぞれの測定値ブロックについて決定される。これらの値の対は、適した割り当て関数へのフィッティングについての設計点を表す。こうして得られた係数は、波長割り当ての係数として直接使用することができるし、あるいは、得られた係数を、たとえば、既存の第１の波長割り当ての係数と置き換えるかまたは既存の第１の波長割り当ての係数に対して補うように、既存の第１の波長割り当ての係数と組み合わせることができる。 （もっと読む）

【課題】大気の揺らぎの影響を考慮した大気成分の吸収の影響の除去補正を行うことで、試料の透過率、吸光度の算出精度の向上を図る。
【解決手段】試料測定時とバックグラウンド測定時とでの大気の揺らぎによる変動の影響を除去する係数Δを設定し、その係数Δを仮に決めた上で、試料スペクトル及びバックグラウンドスペクトルについて不要成分の影響を除去する除去補正を行う。その補正後の両スペクトルについて基準スペクトルに対する透過率誤差をそれぞれ求め、その二乗和が最小になるような値を見つけて係数Δとして決定する（Ｓ５）。そして、その係数Δを用いて、不要成分による透過率を表すピークパターンを修正し（Ｓ６）、修正後のピークパターンを用いて試料スペクトル及びバックグラウンドスペクトルに含まれる不要成分の影響の除去補正を行う（Ｓ７）。 （もっと読む）

【課題】赤外吸収量変化の測定を行う際に、測定時間を大幅に低減することのできる干渉分光光度計を提供する。
【解決手段】赤外光を発生する光源１１と固定鏡１５及び移動鏡１６を含み前記赤外光より干渉光を生成する干渉計、該干渉光を試料２３に照射する光学系、及び前記試料２３からの反射光又は透過光を検出する検出器２５を具備する干渉分光光度計において、前記移動鏡１６の各回の走査によって得られるインターフェログラムを基準となるインターフェログラムと比較し、その形状の違いから赤外吸収量を算出する吸収量算出手段と、前記各回の走査における移動鏡１６の駆動範囲を、前記吸収量算出手段における吸収量算出に用いられるデータの収集に必要な領域に限定する移動鏡駆動制御手段とを設ける。 （もっと読む）

【課題】高性能のチューナブルフィルタを提供する
【解決手段】光源又は他の光学系から入射する光は、第１光学系１に入射し、光軸に平行な光束に変換される。この光は、第１ウォラストンプリズム２に垂直入射し、Ｐ偏光とＳ偏光の進行方向が分離される。グレーティング５３により分光された光は、分光器カメラ光学系５４によって、Ｐ偏光とＳ偏光の偏光分離入力光ビームの２つのスペクトラム像を、それぞれ、反射型液晶素子アレイデバイス６の第１液晶素子アレイ６１、第２液晶素子アレイ６２上に結像する。第１液晶素子アレイ６１、第２液晶素子アレイ６２の各単位液晶素子に印加する電圧を調整することにより、各単位液晶素子のリターデーションを調節する。これによって、第１液晶素子アレイ６１、第２液晶素子アレイ６２から反射して、入射してきた経路を逆にたどって戻っていく光束の、偏光の向きを、入射した光の波長毎に変えることができる。 （もっと読む）

【課題】
光学的手法を用いて、被検査体の反射分光特性あるいは透過分光特性を広範囲に亘る測定装置を提供すること
【解決手段】
被検査体に光を照射する投光手段と、被検査体表面を１次元で撮像する撮像手段と、撮像手段の撮像軸上に配設され、撮像手段の視野幅方向と垂直な方向に、撮像手段に入射する光の波長を変化させる波長特性変化手段と、撮像手段からの１次元信号を逐次入力して横方向が撮像手段の１次元撮像データ数、縦方向が撮像手段の１次元データの撮像回数となる２次元画像を生成し、該２次元画像に基づいて被検査体の分光特性を測定する信号処理手段を備えることを特徴とする、分光測定装置 （もっと読む）

【課題】反射膜どうしを十分に近接させて所望の分光特性を得る。
【解決手段】間隔をあけて対向する一対の光学基板２，３と、該光学基板２，３の対向面にそれぞれ配置され、互いに対向する２つの反射膜５と、該反射膜５と同じ面にそれぞれ配置され、当該光学基板２，３の間隔を検出する間隔センサを構成する互いに対向する２つのセンサ電極６と、前記光学基板２，３を相対的に移動させ、当該光学基板２，３間の間隔を変化させるアクチュエータ４とを有し、前記２つのセンサ電極６の対向する表面の間の距離が前記２つの反射膜５の対向する表面間の距離より大きい可変分光素子１を提供する。 （もっと読む）

【課題】 スペクトル波形パターンを横軸方向に自動的に分割する領域分割方法を提供することである。
【解決手段】 横軸方向に一定間隔でサンプリングされ、横軸の各座標位置における縦軸方向の高さ情報を有するスペクトル波形パターンデータについて、予め設定した移動平均値パラメータに基づき移動平均値を計算するステップと、スペクトル波形パターンデータと移動平均値との差分値又は差分値の絶対値を計算するステップと、差分値又は差分値の絶対値が、設定した閾値よりも大きな範囲を、ピーク存在範囲と定めるステップと、ピーク存在範囲の各々について代表位置を規定するステップと、代表位置の各々の中間に領域の境界位置を定めるステップとを含むことを特徴とする方法が提供される。 （もっと読む）

【解決手段】分光器、好ましくは分光顕微鏡において、標本からの光は対物集光要素にて集光され、カメラ要素に届けられ、さらに光は光感知検出器に提供される。対物集光要素とカメラ要素との間には、焦点面が設けられ、焦点面には１又は複数の開口アレイが配置され、検出器における標本の視野を、開口内の領域に制限する。異なるサイズ及び形状の開口を備えた開口アレイを利用することで、分光器の光学系を変更する必要なしに、分光器の読取値の空間分解能を変化させることができる。その結果、光学系が口径食を最小化するように最適化されているならば、口径食を不利に増加させずに、空間分解能が変化する。 （もっと読む）

【課題】発光ダイオードの発光光に含まれる発光強度リップルや発光ダイオードの光強度分布の全体的な非平坦性の影響を除外して観測波長を高精度に校正する。
【解決手段】特定波長の光を吸収するガス吸収セルに発光ダイオードから出射された所定波長帯域の基準光を通過させ、当該通過後の透過光の観測スペクトラムを求める工程と、観測スペクトラムに移動平均処理を施して移動平均化観測スペクトラムを求める工程と、移動平均化観測スペクトラムと観測スペクトラムとの比をとることにより補正観測スペクトラムを求める工程と、補正観測スペクトラムにおけるガス吸収セルの吸収波長と既知の特定波長との差異に基づいて観測波長を校正する工程とを有する。 （もっと読む）

【課題】被測定光を干渉計に与えた際の、干渉計の出力を光電変換することにより得られた電気信号の増幅率を適切に決定する。
【解決手段】干渉計１０と、干渉光を光電変換して干渉信号を出力する干渉信号出力部２０と、干渉信号の最大値を測定する最大値測定部３０と、干渉信号に基づき被測定光の特性を測定する測定処理回路５０と、干渉信号を増幅して測定処理回路５０に与える干渉信号増幅部４０と、干渉信号増幅部４０におけるＡＭＰ増幅器４６の増幅率を設定する増幅率設定部６０とを備え、増幅率設定部６０は、最大値測定部３０の測定結果に増幅率を乗じた値が、測定処理回路５０の処理できる信号値の上限の１／２以下になるように、増幅率を設定し、しかも、干渉計１０における可変長光路の長さが、干渉計１０における固定長光路の長さに等しくなる前に、増幅率の設定を終了する。 （もっと読む）

光信号計測システム［１２００］は、調整可能な光学フィルタ［４０２］を設ける［１２０２］。未知の光信号［６２８］が調整可能な光学フィルタ［４０２］を介してを走査される［１２０４］。調整可能な光学フィルタ［４０２］をＯＳＡおよびＰＭＤ計測のうちの少なくとも一方については走査モードで、ＣＤ計測についてはステッピングモードで動作させることにより、調整可能な光学フィルタ［４０２］を介して走査される未知の光信号［６２８］の波長および色分散値が計測される［１２０６］。未知の光信号［６２８］における波長および分散値が特定される［１２０８］。
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【課題】高圧容器の健全性を診断する方法として、多数点の変形を検知する場合でも１本の光ファイバで構成することができ、構造が単純で低コストの高圧容器の健全性診断方法を提供するものである。
【解決手段】同一のブラッグ波長を有する複数のブラッググレーティング２を離散的に形成した光ファイバ３を、複数のブラッグクレーティングが異なる位置になるように高圧容器１に密接して取り付け、高圧容器１へのガス充填後に、光ファイバ３の端部に接続した光の入出射機能を有する光計測器４からの出射光に対するブラッググレーティング２からの反射光の波長分布を光計測器４で計測し、波長分布の経時変化に基づいて、高圧容器１の健全性を診断するものである。 （もっと読む）

分光器は、入射光内に存在する異なる波長成分の間の曖昧さを区別する。分光器内の空間フィルタは、入射光を空間的にフィルタ処理する。分散系は、空間的にフィルタ処理された光を受け取り、２つ以上の波長別画像が検出器系において少なくとも部分的にオーバーラップするように空間フィルタの画像を波長に依存して分散する。検出器系は、１つ以上のオーバーラップした画像の間の曖昧さを除去するために分散光を検出及び処理する検出器アレイ及びプロセッサを具備する。検出器アレイは、符号化開口関数により定義される符号化開口空間フィルタに関連する符号化開口画像を検出してもよく、プロセッサは、符号化開口関数を補完する解析関数を使用して検出器アレイの出力信号を処理してもよい。検出器系は空間フィルタ画像をフィルタ処理し、結果として得られる検出器アレイの出力信号を電子的に処理してもよい。
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【課題】 放射または反射された光の角度情報と分光強度情報とを同時に測定可能な分光測定装置を提供する。
【解決手段】 測定対象物の一点に焦点位置を有し、放射または反射された光を平行光化する第一のレンズ群と、平行光化された光を二次元分光器のスリットの位置に結像させる第二のレンズ群と、スリットを通過した光を分光し二次元分光画像とする二次元分光器と、撮像手段と、データ処理装置とを有し、放射（反射）角度と分光強度を同時に測定する。なお、反射光を分光測定する場合には、光源と、レンズとピンホールとの組み合わせになる光学系とを有し、光源からの光をスポット光とする照射手段を備えることが好ましい。また、偏光特性を測定する場合には、光源からの光に偏光を与える偏光子を照射手段の光路上に備え、かつ第一のレンズ群と二次元分光器の間の光路上に検光子を配設することが好ましい。 （もっと読む）