【課題】 単色光のような狭帯域光の測定においても誤差を可及的に抑制し、高い精度で色彩輝度値等の測定が行える測光装置を提供する。
【解決手段】 色彩輝度計１は、受光センサアレイ４３を備える分光光学系としてのポリクロメータ４、信号処理回路５及び演算制御部６を備えている。演算制御部６は、受光信号および所定の重み付け係数を用いて、所定の分光応答度に基づく被測定光の特性を求める演算を行う。そして、受光センサアレイ４３を構成する各受光センサの分光応答度は、その半値幅をＡ、分光応答度の中心波長間隔をＢとするとき、Ｂ≧５ｎｍであって、Ａ／Ｂ＝１．５〜４．０の範囲において選ばれる。 （もっと読む）

【課題】 小型化、低コスト化を図り、測定時間を短縮する。
【解決手段】 二次元光源Ｌの光束Ｌａを取り込み、光像（第１像２ａ及び第２像６ａ）を形成する光学系（対物光学系２やリレーレンズ６）と、光束Ｌａの透過部位に応じて透過波長が異なる分光透過特性を有するＷＢＰＦ１２（透過波長変化型フィルタ）と、光像を形成する光路中にＷＢＰＦ１２を走査可能に保持する走査ＷＢＰＦ１０と、ＷＢＰＦ１２の各走査ステップ位置においてＷＢＰＦ１２を透過した光束Ｌａにより形成される第２像６ａを撮像し、各走査ステップ位置毎に各画素の分光感度が異なる複数の画像を取得する撮像素子７とを備える。 （もっと読む）

【課題】 迷光補正を行い好適な測定画像を得ると共に、充分な精度を維持しつつ補正処理時間を短縮する。
【解決手段】 撮像により得られる観察画像に対する迷光の影響を補正して補正画像を求める迷光補正法として、迷光の影響に基づく迷光画像が重畳された観察画像と、予め測定されて記憶された、観察画像の撮像域における特定画素への単位強度の入射光に応じて該撮像域の全画素に対して得られる応答画像とから、観察画像の画素数より低い画素数の画像情報を用いて迷光画像を推定算出し、当該推定算出された迷光画像を観察画像から除去して実画像に近似する補正画像を算出する方法を用いる。 （もっと読む）

【課題】 メーカサイドの工場やサービス拠点等でしか事実上行えなかった分光輝度計の波長及び感度の校正を、ユーザサイドでも行うことができるようにする。
【解決手段】 校正用基準光源１は、積分球１１、制御処理部１２、モニターセンサ１４、複数の単波長基準光を発生する半導体レーザを備えるレーザユニット２等を備えて構成されている。制御処理部１２は、前記複数の半導体レーザを順次点灯させ、積分球１１によって多重反射された上で出力開口１１ａから放射される単波長基準光の強度を、モニターセンサ１４によってモニターさせる動作を制御する。前記出力開口１１ａに、校正対象とされる分光輝度計４の受光部が配向され、制御用ＰＣ５により、校正用基準光源１及び分光輝度計４の動作が制御される。 （もっと読む）

【課題】波長特性測定を実施するにあたって、広い波長範囲にわたって高速かつ高い波長確度で波長トラッキングを行える波長特性測定装置を実現する。
【解決手段】波長特性測定装置は、信号光を出力する波長可変光源１０１と、信号光を被測定物１１４に入射して得られる被測定光のスペクトル分布を計測する光スペクトラムアナライザ１００とを備える。波長可変光源１０１からの信号光の信号光波長が分光器１０４の持つ平坦な波長透過特性となっている所定波長範囲内に収束するように、分光器１０４および分光素子１１９の角度をそれぞれ可変させるモータ１０６，１２０の回転速度を予め決めておき、これらのモータ回転速度に従ってモータ１０６，１２０を等速度回転させながら、抽出波長及び信号光波長を掃引波長範囲にわたって掃引する。 （もっと読む）

【課題】測定者がバックグラウンドスペクトルと試料スペクトルの測定を別々に行う必要のない分光測定装置を提供することにある。
【解決手段】試料設置箇所に光を導光する光出射手段と試料から出射された光を検出する光検出手段とを備え、試料に光を照射し試料からの出射光を検出することで試料スペクトルを測定する分光測定装置において、試料設置箇所近傍に配置され試料の設置の有無に関する情報を検知する検知手段と検知手段からの信号に基き、試料設置箇所に試料が設置されているか否かを判断する判断手段２４と、判断手段によって試料が測定位置に設置されていないと判断されたとき、あらかじめ設定された測定条件に従い光出射手段及び光検出手段を制御し試料未設置の状態で測定を行うことでバックグラウンドデータを自動的に取得する制御手段と取得したバックグラウンドデータを記憶する記憶手段とを備えたことを特徴とする分光測定装置。 （もっと読む）

【課題】分光装置における補正の煩雑さを軽減する。
【解決手段】 顕微鏡２２０および共焦点ユニット２１０により蛍光を分光ユニットに入射させて得られた分光特性データに基づいて測定対象の分光特性を求める情報処理装置２５０を備える。情報処理装置２５０は、外部記憶装置２５４により、複数個の光学要素のそれぞれについての分光特性を、それぞれの要素対応に記憶する記憶手段を構成する。ＣＰＵ２５２により、使用する光学系に含まれる光学要素についての特定を受け付ける手段と、受け付けた光学要素を特定する情報に基づいて、記憶手段により記憶される、使用する光学要素についての分光特性情報を読み出して、当該使用する光学系が有する分光特性情報を求め、この分光特性情報と、分光ユニットから出力される分光特性データとを用いて、対象の分光特性を求める手段とを実現する。 （もっと読む）

【課題】 波長変化に対して透過光量変化の大きいサンプルの分光特性測定における測定精度を向上させ、且つ、測定時間を短縮すること。
【解決手段】 光束を放射する光源２と、光束を分光する分光器３と、該分光器３により分光された光束の光強度を検出する第１の検出器４とを備え、被測定物の分光特性を測定するものであって、第１の検出器４が検出する光強度を予め検出する第２の検出器５と、該第２の検出器５により検出した光強度に基づいて、第１の検出器４の感度を調整する感度調整手段６とを備えている分光光度計１を提供する。 （もっと読む）

【課題】 セットアッププリントに形成された基準画像が部分的に不適正な状態になっても、基準画像を適正な状態で測定することができ、測定対象となる画像の色調を的確に測定することができる測色装置を提供する。
【解決手段】 セットアッププリントＰｓの基準画像の色調を測定する測色手段４２を備え、セットアッププリントＰｓ及び測色手段４２を基準画像Ｂｐの色調が変化する方向に相対移動可能に構成され、基準画像Ｂｐの測定結果を対象画像の測定に対する基準に設定するように構成された測色装置であって、セットアッププリントＰｓの基準画像Ｂｐが色調の変化する方向と直交する方向に所定幅で形成され、測色手段４２と基準画像Ｂｐとが対向可能な領域を少なくとも含む領域内で測色手段４２及びセットアッププリントＰｓを基準画像Ｂｐの幅方向に相対的に移動可能に構成されている。 （もっと読む）

【課題】 撮像手段への入力光量レベルの低下を補償する透過率のＮＤフィルタを用いることにより、テストパターンの低輝度撮像時の撮像データのＳ／Ｎ比を改善する。
【解決手段】 プロジェクタ３ａ，３ｂ，３ｃ，３ｄから各分割画像をスクリーン１上に投影するマルチディスプレイ装置の色補正を行うキャリブレーション装置は、複数枚のテストパターン画像をスクリーン１上に順次投影するテストパターン画像投影手段（ＰＣ５）と、シャッター速度と絞りで規定される露出条件下で複数枚のテストパターン画像を順次撮像するキャリブレーション用カメラ６と、複数枚のテストパターン画像の一連の撮像期間中に、入力光量レベルの低下を補償する透過率のＮＤフィルタをキャリブレーション用カメラ６の光路上に設けるＮＤフィルタ機構７と、キャリブレーション用カメラ６の撮像データに基づいて補正データを生成する補正データ生成手段（ＰＣ５）とから成る。 （もっと読む）

【課題】光学的なバンドパスフィルタを用いた測定結果と等価な測定結果が得られるマルチチャンネル分光方式の分光光度計を提供する。
【解決手段】試料からの検出光は、凹面回折格子で分光・反射されて、フォトダイオードアレイに入射する。フォトダイオードアレイは、検出光の分散方向に多数のフォトダイオードが並べられている。各フォトダイオードから出力される波長毎の光電信号は、光電データに変換された後に、光学的なバンドパスフィルタの波長と透過率との関係に対応させて重みデータで重み付けされてから加算される。加算で得られる測定データが測定結果として出力される。 （もっと読む）

【課題】光源の光量変動を補償し、良好なＳ／Ｎ比で高精度な分光測定を行なうことができる分光光度計及び分光方法を提供すること。
【解決手段】光を供給する光源１０１と、光源１０１からの光のうち、試料１０６ａを透過または反射した光、または試料１０６ａへ入射する光を分光する回折格子１０３と、試料１０６ａを透過または反射し、かつ分光された光を受光する光検出器１０７と、光源１０１からの光のうち特定の波長λ１の光を透過または反射する干渉膜１１２と、干渉膜１１２を透過または反射した特定の波長λ１の光を受光する光検出器１１３と、光検出器１０７の検出結果と光検出器１１３の検出結果とに基づいて試料１０６ａの分光特性を算出するＣＰＵ１１０とを有する。 （もっと読む）

【課題】 マルチチャンネル光検出器の感度補正をリアルタイムに実行可能にする分光装置及びスペクトルレーザ顕微鏡を提供すること。
【解決手段】 レーザ顕微鏡１０１と、前記レーザ顕微鏡１０１からの光をスペクトル測光する複数の光検出器１３ｉからなるマルチチャンネル光検出器１３を有する分光測定手段１０３とからなり、前記スペクトルと前記マルチチャンネル光検出器１３の相対位置を前記スペクトルの波長分散方向に沿って変更する前後の第１の輝度データと第２の輝度データとから、前記複数のチャンネル１３ｉそれぞれの感度ばらつきを算出して、前記第１または前記第２の輝度データを補正するスペクトルレーザ顕微鏡１００。 （もっと読む）

【課題】 測定試料の形状および物性および設置方法を限定せずに、測定試料によって反射したテラヘルツパルスの振幅強度情報と位相情報を含む測定を行う方法および装置の提供する。
【解決手段】 レーザーパルスを用いて発生させたテラヘルツパルス光を測定対象に照射し測定対象から反射する反射光を検出する分光光学系とレーザーを用いて測定対象と分光光学系との相対位置を検出する位置計測装置を備える分光計測装置を構成し、検出した相対位置情報を用いて、分光光学系の遅延装置を補正する。これにより、測定試料の形状および物性および設置方法を限定せずに、測定試料によって反射したテラヘルツパルス光の振幅強度情報と位相情報を含む測定を可能とする。 （もっと読む）

干渉計（１０）を較正する方法は、電気信号（２２０）の印加に応じて光学ギャップ（１５）を制御するようになっているアクチュエータ（５０）を使用する。所定の略単色の波長を有し、第１の所定の入射角（６５）を有する光ビーム（６０）が干渉計に照射され、アクチュエータに印加される電気信号（２２０）を変化させる間に、干渉計から第２の所定の角度（７５）で反射する光（７０、８０）が検出され、それにより、印加される電気信号と干渉計の光路長との間に較正された関係が確立される。
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【課題】 複数の測色装置の測定精度を均一化でき、ひいては複数のプリント装置を用いて品質にばらつきのないプリントを複数作製できる、測色装置の校正方法を提供する。
【解決手段】 写真処理システム２００は複数のプリント装置１０を含む。写真処理システム２００では、任意のプリント装置１０の測色ユニット２４を基準機としその他のプリント装置１０の測色ユニット２４を校正機として、基準機によるテストプリント１００の発色濃度の測定値と校正機による当該テストプリント１００の発色濃度の測定値とを比較して校正係数を取得する。そして、校正機を含むプリント装置１０のセットアップの際に、校正係数を用いて校正機によるテストプリント１００の発色濃度の測定値を校正する。 （もっと読む）

【課題】出力光学系にレンズを用いながら色収差の問題を解消し、また、光量減少を伴うことなく照射域を調整可能にした波長可変単色光源を提供する。
【解決手段】波長可変単色光源の出力光学系３にズームレンズ（レンズ系１８）を用いると共に、このレンズ系１８の焦点距離を変えるズーム駆動機構２３とレンズ系１８の全体または一部をその光軸方向に移動させて焦点調整を行う合焦機構２２とを備えた。また、これらを自動制御するために、ハーフミラー１９、イメージセンサー２０、及び制御装置２１を設けた。これにより、出力波長を変えたとき焦点の再調整を行うことで色収差を解消することができ、ズーミングにより照射域を調整することが可能となる。 （もっと読む）

【課題】簡易構造、且つ、低コストでありながら、同時に、従来よりも単色光の照射強度を増大することができる太陽電池の分光感度測定装置を提供する。
【解決手段】この分光感度測定装置１００は、２つの長波長光源１０２Ａ及び短波長光源１０２Ｂを有する入射光学系１０２と、入射光学系１０２の光源１０２Ａ、１０２Ｄから出射される光を分光し、所定スペクトルの単色光を出射可能な分光光学系１０４と、分光光学系１０４から入射される光を被測定物１１０に照射する出射光学系１０６と、バイアス光源１０８Ａからのバイアス光を被測定物１１０に照射するバイアス光学系１０８と、を備えており、分光光学系１０４は凹面グレーティング１０４Ｂを有して構成されている。 （もっと読む）

【課題】干渉計監視のための方法および装置を提供する。
【解決手段】本発明で提供する干渉計の監視方法は、第１の光信号を干渉計および波長基準要素に結合するステップと、干渉計内での第１の光信号の一部の干渉の結果である第１の生成干渉信号を検出するステップと、第１の光信号と波長基準要素との相互作用の結果である生成基準信号を検出するステップと、第１の生成基準信号を生成基準信号と比較し、干渉計のドリフトが有る場合、該ドリフトを検出するステップと、を有する。
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【課題】 外部共振器型半導体レーザから射出されるレーザ光の波長を広い範囲にわたり判定する波長判定装置及び波長判定方法を提供する。
【解決手段】 外部共振器型半導体レーザ５０から射出されたレーザ光は、２つの検出器２０２、２０３によって２段階に判定される。検出器２０２はオプティカルウェッジ２０４を備え、その反射光の光強度が２分割ディテクタ２０６で検出される。一方、検出器２０３はオプティカルウェッジ２０５を備え、その反射光の強度が２分割ディテクタ２０７で検出される。２つのオプティカルウェッジ２０４、２０５は、それぞれ異なる波長範囲のレーザ光を受光しても、ほとんど同じ干渉縞を生じるよう、ウエッジ角や板厚が調整される。これにより、２分割ディテクタ２０６からの差分値を用いてレーザ光の概略的な波長の範囲が決定され、その後２分割ディテクタ２０７からの差分値を用いて詳細なレベルの波長が決定される。 （もっと読む）