【課題】構成がきわめて簡単でありながら、コンタクトチェック、充電チェックおよび絶縁抵抗チェックを確実に行うことができるようにする。
【解決手段】充電ステップでコンデンサＣを規定電圧で充電したのち、検査ステップで、直流電源Ｅより一対のプローブＰを介してコンデンサＣに所定の直流電圧を印加した状態で、電流計１１にてコンデンサＣに流れる電流（漏れ電流）値を測定してコンデンサの良否を検査するにあたって、一対のプローブＰ間に電圧計１２を接続するとともに、直流電源Ｅにスイッチ１３を設け、スイッチ１３をオフとして電圧計１２にて測定される電圧測定値により、コンタクトチェックと充電チェックとを行い、ともに良好である場合に、スイッチ１３をオンとして絶縁抵抗チェックを行う。 （もっと読む）

【課題】キャパシタの劣化の程度を精度よく判定することが可能な充電システム、電子機器および充電装置を提供する。
【解決手段】充電可能な内蔵電源２４を内蔵する電子機器（放射線画像撮影装置１）と、内蔵電源２４への充電を制御する充電制御回路８１と、内蔵電源２４の電圧を検出する電圧検出回路８２と、内蔵電源２４の劣化の程度を判定する判定部（本体制御部２２ａ）と、充電制御回路８１を介して内蔵電源２４に電力を供給する充電装置（クレードル６０）と、を備え、判定部は、充電制御回路８１による定電流充電時に電圧検出回路８２の検出結果に基づき内蔵電源２４の電圧上昇率を取得するとともに、電圧検出回路８２により検出される内蔵電源２４の電圧に応じて所定の閾値を設定し、取得した内蔵電源２４の電圧上昇率と、設定した所定の閾値との比較により内蔵電源２４の劣化の程度を判定するように構成されている。 （もっと読む）

【課題】正常に機能しているフライングキャパシタに生じる静電容量変化とは区別して、静電容量変化を伴うフライングキャパシタの故障を検出すること。
【解決手段】フライングキャパシタＣ１の放電開始時に、読込用コンデンサＣａの充電電圧に基づいてフライングキャパシタＣ１の放電電圧ＶＤ１を測定する（ステップＳ１）。次に、放電開始から時間ｔ２が経過した時点で、読込用コンデンサＣａの充電電圧に基づいてフライングキャパシタＣ１の放電電圧ＶＤ２を測定する（ステップＳ３）。続いて、ステップＳ１で測定した放電電圧ＶＤ１とステップＳ３で測定した放電電圧ＶＤ２との差分からフライングキャパシタＣ１の放電量（放電割合）を求め（ステップＳ５）、求めた放電量（放電割合）を基準となるしきい値と比較して、フライングキャパシタＣ１を構成する４つのコンデンサに関するオープン故障を診断する（ステップＳ７）。 （もっと読む）

【課題】容量素子の特性測定にかかる検査時間を短縮できる特性測定方法、および特性測定装置の提供を図る。
【解決手段】強誘電体からなる容量素子を加熱し（Ｓ２）、予備充電する（Ｓ３）。これにより強誘電体における分極の進行を速める。容量素子を予備充電後に冷却し（Ｓ４）、放電する（Ｓ５）。これにより、分極の進行が進んだ状態を維持する。その後、該容量素子を再充電し（Ｓ６）、短時間で充電電流値を漏洩電流値に到達させてから、容量素子の特性を測定する。 （もっと読む）

【課題】直流を平滑するコンデンサの寿命を正確に判定することができる電源装置及びコンデンサ寿命判定方法を提供する。
【解決手段】電源電圧の０Ｖ電圧のタイミングで平滑コンデンサ３に充電を行い、充電開始直後の平滑コンデンサ３の充電電流のピーク値ΔＶと、該ピーク値ΔＶに到達するまでのピーク電流到達時間Δｔを求める。そして、求めたピーク値ΔＶを寿命の判定基準値Ｖｒｅｆと比較し、さらにピーク電流到達時間Δｔを判定基準時間Ｔｒｅｆと比較する。この比較において、ピーク値ΔＶが寿命の判定基準値Ｖｒｅｆ以下で、かつピーク電流到達時間Δｔが判定基準時間Ｔｒｅｆ以下であれば、平滑コンデンサ３が寿命であると判定する。 （もっと読む）

【課題】被験電池を載せた試験基板を筐体の中に差し入れて充放電試験を行う際、被験電池の温度を正確に測定する。
【解決手段】筐体内の支持板２３の下面に蝶番２５を介して杆体２６を回動自在に取り付け、杆体の先端が、筐体２１に差し込んだ基板１上の電池５の上に垂れ下がるようにする。杆体２６は先端に熱電対２９を備え、これが、杆体が降下したとき、基板上の被験電池５に当接する。支持板２３の両側に、それぞれ蝶番を介して、回動部材３１を取り付けると共に、各蝶番にばねを組み込んで、回動部材３１を上向きに回動するよう付勢する。このため回動部材３１が杆体２６を下から押し上げ、杆体はほぼ水平な姿勢を保つ。さらに、回動部材３１の両側に下に向けてレバー３３を取り付ける。基板１をレールに沿わせて筐体の中に押し込むと、基板１の先がレバー３３に当接し、レバーを前に押しやりながら、基板１の先端はソケット３に嵌合する。 （もっと読む）

【課題】２つの電圧信号を出力する電圧センサについて、その故障内容をより詳細に診断することが可能な電圧センサの故障診断装置を提供する。
【解決手段】故障診断装置１のＣＰＵ４３は、複数のセル１０_１〜１０_ｎの少なくとも１つの電圧値から組電池１０の総電圧値Ｖｉｃを算出する。また、ＣＰＵ４３は、算出した組電池１０の総電圧値Ｖｉｃと電圧センサ４１から出力されたプラス側の電圧信号Ｖｏｕｔ（＋）に基づく電圧値Ｖ（＋）とを比較すると共に、算出した組電池１０の総電圧値Ｖｉｃと電圧センサ４１から出力されたマイナス側の電圧信号Ｖｏｕｔ（−）に基づく電圧値Ｖ（−）とを比較する。さらに、ＣＰＵ４３は、第１比較機能及び第２比較機能による比較の結果から、電圧センサ４１のプラス側出力Ｖｏｕｔ（＋）の故障、マイナス側出力Ｖｏｕｔ（−）の故障、及び双方の出力Ｖｏｕｔ（＋），Ｖｏｕｔ（−）の故障を診断する。 （もっと読む）

【課題】突発的な電源異常やバッテリーの異常等を検出するシステムをメンテナンスフリーで実現するための状態監視型電源装置および電源状態監視方法を提供する。
【解決手段】電源装置１は、第１の直流電圧を第２の直流電圧に変換する絶縁型ＤＣ／ＤＣ変換部３０と、第２の直流電圧を第３の直流電圧に変換するＤＣ／ＤＣ変換部２００と、停電を検出する停電検出部２０と、ＤＣ／ＤＣ変換部３０，２００の異常を検出する電源異常検出部６０と、絶縁型ＤＣ／ＤＣ変換部３０の寿命を検出する電源寿命検出部５０と、絶縁型ＤＣ／ＤＣ変換部３０の２次側に接続されるバッテリー１５０と、バッテリー１５０の動作を監視するバッテリー管理／監視部８０と、外部システムの異常を検出するシステム異常検出部９９と、停電検出部２０、電源異常検出部６０、電源寿命検出部５０、バッテリー管理／監視部８０およびシステム異常検出部９９からの検出信号に基づいてアラーム信号を生成し出力するアラーム信号生成部９０とを備える。 （もっと読む）

【課題】コンデンサの状態を推定すること。
【解決手段】第１のコンデンサと、第１のコンデンサの一部に配置される第２のコンデンサと、第２のコンデンサを測定して得られる測定情報を処理することにより第１のコンデンサの推定された状態を示す推定状態情報を出力する制御部と、を有するコンデンサの状態推定システムとしている。 （もっと読む）

【課題】電源素子の充電時と放電時における出力電圧や温度のような状態量を簡易かつ安価に計測できる状態計測装置を提供する。
【解決手段】セル計測回路１１は、電池セルＢの両端間に計測用コンピュータ１２と、コンデンサＣ１とが互いに並列に接続されている。起動フォトカプラ１４の出力側１４ｂは、計測用コンピュータ１２と、基準電圧発生ＩＣ１５と、温度センサ１６に接続されている。基準電圧発生ＩＣ１５と温度センサ１６の出力端子は計測用コンピュータ１２の入力端子に接続されている。計測用コンピュータ１２は、出力フォトカプラ１８の入力側１８ａに接続されている。起動フォトカプラ１４からの起動信号を受けて、計測用コンピュータ１２は、各電池セルＢｎの出力電圧を検出し、温度センサ１６から温度を読み込み、基準電圧発生ＩＣから読み込んだ基準電圧に基づいて出力電圧と温度の大きさの演算を行う。 （もっと読む）

【課題】通電用クリップを用いて多数個の電子部品の試験を、同時に、かつ、自動的に行うことができるような給放電用試験装置を提供すること。
【解決手段】電子部品の電極を突出させてセットする電子部品トレイと、電子部品の電極に臨ませて設けた通電用クリップと、この通電用クリップの１対の接触端子間が開閉するようにクリップ体間に進退するためのクサビ体を可動するクサビ体用シリンダと、通電用クリップとクサビ体とを一体に電子部品の電極側に進退する通電用クリップ用シリンダとを具備し、通電用クリップ用シリンダは、通電用クリップとクサビ体を進退する上シリンダと、上シリンダの退動の動作を一時的にわずかなストロークで停止させるための下シリンダとからなり、通電用クリップの１対の接触端子により電子部品の電極を圧接摺動せしめる。 （もっと読む）

【課題】 電子部品から平行に延びるフレキシブルな薄板電極にワンタッチで確実に接続できる試験用コネクタを提供する。
【解決手段】
上段挟持板１０はプラスチック製の細長い板であり、その下面に、左右の接触端子１２が間隔を設けて取り付けてある。下段挟持板１１は細長いプリント基板でできており、その上面に形成される金属箔部分１３が左右の接触端子を形成している。上段挟持板は１０両端の近くから下に向かって支柱１７が延びており、これら支柱は下段挟持板１１を貫き、プラスチックの細長い基台１９に固定されている。他方、下段挟持板１１から上段挟持板１０を貫いて３本の上段支柱１７が上に伸びており、これら上段支柱の上に細長い押圧部材２０が支持されている。押圧部材と上段挟持板の間には支柱に沿う格好でコイルスプリング２１が縮設されている。 （もっと読む）

【課題】電気二重層キャパシタを備える電気二重層キャパシタ装置に関し、電気二重層キャパシタユニットの静電容量低下等に起因する電気二重層キャパシタユニットの端子間電圧異常を速やかに報知する。
【解決手段】電気二重層キャパシタユニット（４１、４２・・・４ｎ）と並列に接続されるとともに、電気二重層キャパシタユニットの静電容量の減少による電圧異常を判定する基準電圧（Ｖｒｅｆ）が設定され、電気二重層キャパシタユニットの端子間電圧が基準電圧以上に充電されたか否かを監視し、端子間電圧が基準電圧以上に到達した場合に電気二重層キャパシタユニットの異常を表す出力を発生する電圧異常監視手段（電圧監視部１０、電圧監視回路１０１、１０２・・・１０ｎ）と、この電圧異常監視手段の前記出力に基づき異常を報知する異常報知手段（信号伝達部１２、発光素子Ｄ２０）とを備える。 （もっと読む）

【課題】故障判定に専用の回路を設けることなく、極めて簡単な回路構成としながら故障を判定して安全性を向上する。
【解決手段】パック電池は、電池１の電圧を検出するアナログフロントエンド２と、このアナログフロントエンド２に接続されて、アナログフロントエンド２からアナログの電圧信号が入力されるマイコン３とを備える。パック電池は、マイコン３が、アナログフロントエンド２から入力される電圧信号を切り換えて、アナログフロントエンド２又はマイコン３の故障判定をしている。 （もっと読む）

【課題】蓄電部の内部抵抗値と容量値を高精度に求めることができる蓄電装置を提供することを目的とする。
【解決手段】キャパシタからなる蓄電部２３と、蓄電部２３に接続された充放電回路１９、および電圧検出回路と、蓄電部２３に配された温度センサ２５と、充放電回路１９、電圧検出回路、および温度センサ２５が接続された制御回路４１とを有し、制御回路４１は、温度センサ２５の出力が基準温度に至り、かつ蓄電部２３への充放電信号を受信していない時に、充放電回路１９により定電流（Ｉ）で蓄電部２３の充電、または放電の少なくともいずれかを制御し、その際の蓄電部２３の電圧（Ｖｃ）の変化を電圧検出回路で検出することで、蓄電部２３の内部抵抗値（Ｒ）と容量値（Ｃ）を求めるようにした。 （もっと読む）

【課題】コンデンサやバッテリーを被試験試料とした充放電試験装置に関し、直流の充電電流又は放電電流に、バランスのとれたリップル電流を重畳して試験を行う。
【解決手段】充放電回路３から被試験試料のコンデンサ又はバッテリーに対する直流の充放電電流に、所望の周期のリップル電流を重畳して供給する充放電試験装置１であって、被試験試料２に対する直流の充電又は放電を行う充放電回路３と、リップル重畳回路４とを含み、リップル重畳回路４は、交流信号発生部６からのリップル電流の周期の交流信号に従って内部インピーダンスを制御する電子負荷回路５と、この電子負荷回路５に直接又は電源７を介して並列に接続したコイル８と、電子負荷回路５に直接又は電源７を介して直列に接続したコンデンサ９とを含む構成を備えている。 （もっと読む）

【課題】簡便にキャパシタ電源の劣化度を推定又は測定してキャパシタの異常を判別し、寿命を予測できるようにする。
【解決手段】キャパシタの静電容量又は内部抵抗が当初の値に対して劣化する割合を劣化度とし所定の劣化度まで劣化するのに要する時間を劣化時間として、劣化度と劣化時間の平方根との比の劣化係数を参照データ記憶手段３に格納し、キャパシタの電圧と温度を測定し劣化係数を参照データ記憶手段３から取得して推定劣化度演算手段４により稼働中のキャパシタの推定劣化度を求め、キャパシタを定電流により充放電して充放電の直前と直後及び充放電中の電圧を測定して実劣化度演算手段５によりキャパシタの静電容量又は内部抵抗の実劣化度を求め、推定劣化度と実劣化度との差を求めて差が基準値を越える場合にはキャパシタの異常を異常判定手段７により判定する。 （もっと読む）

【課題】 基板の回路構成によらず、電気的な検査が可能となる検査装置を提供する。
【解決手段】上述した課題は、各画素が、保持容量と、前記保持容量と直列に接続された半導体スイッチ素子とを備えた複数の画素を有するアクティブマトリクス基板の検査装置であって、前記保持容量を充電する電圧を供給する電源と、任意の画素の前記スイッチ素子を照射する光源と、前記保持容量から放出された電荷量を測定する電荷量測定装置と、を備えたことを特徴とする検査装置等により解決することができる。 （もっと読む）

予め設定した期間にわたって、プログラムされた電圧に対して、少なくとも１つの部品を充電、保持、および／または放電するステップと、各部品が充電、保持、および放電されている間に、各被試験部品の品質に対応する、少なくとも１つの値を定期的に測定するステップとを含む、多層セラミックコンデンサのような少なくとも１つの部品を試験するための方法。少なくとも１つの値は、電圧値、電流値、漏れ電流値、静電容量値、散逸率値、およびあらゆるそれらの組み合わせから成る群より選択することができる。曲線は、プログラムされた電圧に対して、各部品が、充電、保持、および放電されている間に収集した、定期的に測定した値からデジタル化することができる。
（もっと読む）

【課題】ピン治具を挿入、接続してなる汎用充電器性能検査器において、ピン治具を交換して、自動的にその機種のシーケンスデータを選択する。
【解決手段】交換可能なピン治具に充電器を検査するピン治具内に、充電器の固有情報を保存させ、ピン治具を汎用充電器性能検査装置に挿入、接続するのみで、固有の検査のシーケンスデータを自動で選択できるようにし、検査器の安価性に加え、自動による検査の高速性を可能にした。 （もっと読む）