充電システム、電子機器および充電装置
【課題】キャパシタの劣化の程度を精度よく判定することが可能な充電システム、電子機器および充電装置を提供する。
【解決手段】充電可能な内蔵電源２４を内蔵する電子機器（放射線画像撮影装置１）と、内蔵電源２４への充電を制御する充電制御回路８１と、内蔵電源２４の電圧を検出する電圧検出回路８２と、内蔵電源２４の劣化の程度を判定する判定部（本体制御部２２ａ）と、充電制御回路８１を介して内蔵電源２４に電力を供給する充電装置（クレードル６０）と、を備え、判定部は、充電制御回路８１による定電流充電時に電圧検出回路８２の検出結果に基づき内蔵電源２４の電圧上昇率を取得するとともに、電圧検出回路８２により検出される内蔵電源２４の電圧に応じて所定の閾値を設定し、取得した内蔵電源２４の電圧上昇率と、設定した所定の閾値との比較により内蔵電源２４の劣化の程度を判定するように構成されている。
【解決手段】充電可能な内蔵電源２４を内蔵する電子機器（放射線画像撮影装置１）と、内蔵電源２４への充電を制御する充電制御回路８１と、内蔵電源２４の電圧を検出する電圧検出回路８２と、内蔵電源２４の劣化の程度を判定する判定部（本体制御部２２ａ）と、充電制御回路８１を介して内蔵電源２４に電力を供給する充電装置（クレードル６０）と、を備え、判定部は、充電制御回路８１による定電流充電時に電圧検出回路８２の検出結果に基づき内蔵電源２４の電圧上昇率を取得するとともに、電圧検出回路８２により検出される内蔵電源２４の電圧に応じて所定の閾値を設定し、取得した内蔵電源２４の電圧上昇率と、設定した所定の閾値との比較により内蔵電源２４の劣化の程度を判定するように構成されている。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、充電システム、電子機器および充電装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
電子機器に内蔵された充電可能な内蔵電源（「キャパシタ」や「バッテリ」、「二次電池」、「蓄電デバイス」などともいう。）を充電するための充電装置や充電制御装置などが種々開発されている（例えば特許文献１〜４等参照）。
【０００３】
このような充電装置等は、例えば図１６（Ａ），（Ｂ）に示すように、内蔵電源の電圧が目標電圧Ｖ１（以下「上限電圧Ｖ１」ともいう。）に達するまで、充電電流が一定になるように充電を行う定電流充電を行うとともに、内蔵電源の電圧が目標電圧Ｖ１に達した場合に当該内蔵電源の電圧が一定になるように充電を行う定電圧充電に切り替えて、内部電源への充電を制御する充電制御部を備えるように構成されている場合がある。或いは、電子機器側に、このような充電制御部が設けられている場合もある。
【０００４】
ところで、内蔵電源が劣化すると、内部抵抗が増加したり、満充電容量が減少したりする。そのため、内蔵電源は、その使用温度環境と使用する電圧と使用頻度から予め交換周期を予測し当該交換周期に応じて交換されたり、或いは、内蔵電源の劣化をリアルタイムで判定し当該判定結果に基づいて交換されたりしている（例えば特許文献５参照）。
【０００５】
特許文献５には、内蔵電源（キャパシタ）の劣化をリアルタイムで判定する手法として、キャパシタの電圧（キャパシタ電圧）の上昇の傾きからキャパシタの劣化を判定する手法等が提案されている。
具体的には、劣化により満充電容量（キャパシタ容量）が低下すると充電できる電荷量が少なくなる。したがって、充電電流を同じとした場合には、例えば図１６に破線で示すように、キャパシタ電圧の上昇が早くなる。そのため、キャパシタ電圧の電圧上昇の傾きが所定の閾値よりも大きいときはキャパシタが劣化していると判定できる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開２００９−７７５０１号公報
【特許文献２】特開２００８−１０４２７０号公報
【特許文献３】特開２００７−３０６６５４号公報
【特許文献４】特開２００６−３３９１７号公報
【特許文献５】特開２００８−４３１７４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
しかしながら、図１６に破線で示すように、キャパシタが劣化すると、定電流充電時におけるキャパシタ電圧の電圧上昇の傾き、すなわち単位時間あたりの電圧上昇値である電圧上昇率が一定でなくなってくる。すなわち、キャパシタが劣化すると、キャパシタの電圧上昇率はキャパシタ電圧に応じて変化するようになる。そのため、キャパシタの劣化を判定するための閾値として、キャパシタ電圧によらず一定の閾値が設定されると、キャパシタの劣化を精度よく判定することができない。
【０００８】
具体的には、例えば図１７に示すように、キャパシタが劣化していない正常品である場合、すなわちキャパシタが新品または新品同様である場合には、キャパシタ電圧が下限電圧Ｖ０から上限電圧Ｖ１へと変化しても、キャパシタの電圧上昇率はほぼ一定である。
【０００９】
一方、キャパシタが劣化して交換すべき状態となった交換必要品である場合、すなわちキャパシタの劣化が進行して交換時期に達した場合には、正常品の電圧上昇率よりも電圧上昇率が大きくなるが、キャパシタ電圧が高くなるほど、すなわち上限電圧Ｖ１に近づくほど、正常品との電圧上昇率の違いが小さくなる。
また、キャパシタがさらに劣化して使用不可能な状態となった故障品である場合、すなわちキャパシタの劣化がさらに進行して寿命に達した場合には、交換必要品の電圧上昇率よりも電圧上昇率が大きくなるが、キャパシタ電圧が高くなるほど、すなわちキャパシタ電圧が上限電圧Ｖ１に近づくほど、正常品や交換必要品との電圧上昇率の違いが小さくなる。
【００１０】
そのため、キャパシタの劣化を判定するための閾値として、下限電圧Ｖ０での電圧上昇率を基準とした一定の閾値が設定されると、キャパシタが、下限電圧Ｖ０まで使い切らずに充電を繰り返すような使い方をされている場合には、キャパシタの劣化を検出することができない。
具体的には、例えば図１７に示すように、キャパシタが交換時期に達したことを判定するための閾値として、下限電圧Ｖ０での電圧上昇率を基準とした一定の閾値ΔＶth１が設定されたとする。この場合、キャパシタが下限電圧Ｖ０まで使い切らずに充電を繰り返すような使い方をされていると、キャパシタが交換時期に達していることを検出することができない。
【００１１】
また、下限電圧Ｖ０まで使い切らずに充電を繰り返すような場合でもキャパシタの劣化を検出できるよう、キャパシタの劣化を判定するための閾値として、下限電圧Ｖ０での電圧上昇率を基準とした一定の閾値よりも小さい一定の閾値を設定すると、キャパシタの劣化が無駄に検出されてしまう場合がある。
具体的には、キャパシタが交換時期に達したことを判定するための閾値としてΔＶth１よりも小さい一定の閾値が設定されたとする。この場合、キャパシタの電圧が小さい時には特に、キャパシタが交換時期に達していなくても交換時期に達したと検出されてしまう場合がある。
【００１２】
本発明は、上記の問題点を鑑みてなされたものであり、キャパシタの劣化の程度を精度よく判定することが可能な充電システム、電子機器および充電装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
前記の問題を解決するために、本発明の充電システムは、
充電可能な内蔵電源を内蔵する電子機器と、
前記内蔵電源の電圧が目標電圧に達するまで定電流充電を行うとともに、前記内蔵電源の電圧が前記目標電圧に達した場合に定電圧充電に切り替えて、前記内蔵電源への充電を制御する充電制御部と、
前記内蔵電源の電圧を検出する電圧検出部と、
前記内蔵電源の劣化の程度を判定する判定部と、
前記充電制御部を介して前記内蔵電源に電力を供給する充電装置と、を備え、
前記判定部は、前記充電制御部による前記定電流充電時に前記電圧検出部の検出結果に基づき前記内蔵電源の電圧上昇率を取得するとともに、前記電圧検出部により検出される前記内蔵電源の電圧に応じて所定の閾値を設定し、取得した前記内蔵電源の電圧上昇率と、取得した前記所定の閾値との比較により前記内蔵電源の劣化の程度を判定することを特徴とする。
【００１４】
また、本発明の電子機器は、
充電可能な内蔵電源を内蔵する電子機器において、
前記内蔵電源の電圧が目標電圧に達するまで定電流充電を行うとともに、前記内蔵電源の電圧が前記目標電圧に達した場合に定電圧充電に切り替えて、前記内蔵電源への充電を制御する充電制御部と、
前記内蔵電源の電圧を検出する電圧検出部と、
前記内蔵電源の劣化の程度を判定する判定部と、を備え、
前記判定部は、前記充電制御部による前記定電流充電時に前記電圧検出部の検出結果に基づき前記内蔵電源の電圧上昇率を取得するとともに、前記電圧検出部により検出される前記内蔵電源の電圧に応じて所定の閾値を設定し、取得した前記内蔵電源の電圧上昇率と、設定した前記所定の閾値との比較により前記内蔵電源の劣化の程度を判定することを特徴とする。
【００１５】
また、本発明の充電装置は、
電子機器が内蔵する内蔵電源に電力を供給する充電装置において、
前記内蔵電源の電圧が目標電圧に達するまで定電流充電を行うとともに、前記内蔵電源の電圧が前記目標電圧に達した場合に定電圧充電に切り替えて、前記内蔵電源への充電を制御する充電制御部と、
前記内蔵電源の電圧を検出する電圧検出部と、
前記内蔵電源の劣化の程度を判定する判定部と、を備え、
前記判定部は、前記充電制御部による前記定電流充電時に前記電圧検出部の検出結果に基づき前記内蔵電源の電圧上昇率を取得するとともに、前記電圧検出部により検出される前記内蔵電源の電圧に応じて所定の閾値を設定し、取得した前記内蔵電源の電圧上昇率と、設定した前記所定の閾値との比較により前記内蔵電源の劣化の程度を判定することを特徴とする。
【発明の効果】
【００１６】
本発明のような方式の充電システム、電子機器および充電装置によれば、内蔵電源の電圧に応じて内蔵電源の劣化の程度を判定するための閾値を設定するので、内蔵電源の電圧によらず一定の閾値が設定される場合と比較して、内蔵電源の劣化の程度を高精度に判定することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００１７】
【図１】電子機器の例としての放射線画像撮影装置の外観を示す斜視図である。
【図２】図１のＸ−Ｘ線に沿う断面図である。
【図３】図１の放射線画像撮影装置の回路構成を表すブロック図である。
【図４】充電装置の例としてのクレードルの外観を示す斜視図である。
【図５】図４に示すクレードルに放射線画像撮影装置が挿入された状態を示した斜視図である。
【図６】図４のクレードルの内部構成を模式的に示した図であり、クレードルに放射線画像撮影装置を挿入しようとする状態を示している。
【図７】図４のクレードルの内部構成を模式的に示した図であり、クレードルに放射線画像撮影装置が挿入された状態を示している。
【図８】充電システムの構成を概略的に表すブロック図である。
【図９】使用不可能判定用閾値の設定の仕方の一例を示す図である。
【図１０】使用不可能判定用閾値の設定の仕方の他の一例を示す図である。
【図１１】交換判定用閾値の設定の仕方の一例を示す図である。
【図１２】交換判定用閾値の設定の仕方の他の一例を示す図である。
【図１３】第１実施形態における充電制御に関する処理の一例を説明するためのフローチャートである。
【図１４】第２実施形態における充電制御に関する処理の一例を説明するためのフローチャートである。
【図１５】充電システムの構成の変形例を概略的に表すブロック図であり、充電制御回路等を充電装置であるクレードルに設けた場合を示す図である。
【図１６】定電流充電および定電圧充電について説明するための図である。
【図１７】内蔵電源の劣化について説明するための図である。
【発明を実施するための形態】
【００１８】
以下、図面を参照して、本発明の好適な実施形態について説明する。ただし、本発明を適用可能な実施形態はこれに限定されるものではない。また、本発明は図示例に限定されるものでもない。
【００１９】
なお、以下では、電子機器が放射線画像撮影装置であり、充電装置がクレードルである場合について説明するが、本発明は、この形態に限定されない。
また、以下では、放射線画像撮影装置として、シンチレータ等を備え、放射された放射線を可視光等の他の波長の電磁波に変換して電気信号を得る、いわゆる間接型の放射線画像撮影装置について説明するが、本発明は、シンチレータ等を介さずに放射線を放射線検出素子で直接検出する、いわゆる直接型の放射線画像撮影装置に対しても適用することができる。
また、放射線画像撮影装置が可搬型の放射線画像撮影装置である場合について説明するが、本発明は、支持台等と一体的に形成された固定型の放射線画像撮影装置に対しても適用することができる。
【００２０】
＜第１実施形態＞
本発明に係る第１実施形態では、充電制御回路８１（後述する図８参照）が、電子機器としての放射線画像撮影装置１に設けられている場合について説明する。
【００２１】
［放射線画像撮影装置の構成例について］
まず、電子機器の一例である放射線画像撮影装置１の構成例について説明する。
図１は、放射線画像撮影装置１の外観を示す斜視図である。また、図２は、図１のＸ−Ｘ線に沿う断面図である。
本実施形態において、放射線画像撮影装置１は、いわゆるフラットパネルディテクタ（以下「ＦＰＤ」という。）を可搬型に構成したカセッテ型ＦＰＤであり、放射線画像撮影に用いられ、放射線を検出して当該放射線の線量に応じた画像データを生成して取得するものである。
【００２２】
放射線画像撮影装置１は、図１や図２に示すように、筐体２内にシンチレータ３や基板４などで構成されるセンサパネルＳＰが収納されて構成されている。
【００２３】
本実施形態において、筐体２のうち、放射線入射面Ｒを有する中空の角筒状のハウジング本体部２Ａは、放射線を透過するカーボン板やプラスチックなどの材料で形成されている。このハウジング本体部２Ａの両側の開口部を蓋部材２Ｂ、２Ｃで閉塞することで筐体２が形成されている。
なお、筐体２をこのようないわゆるモノコック型として形成する代わりに、例えば、フロント板とバック板とで形成された、いわゆる弁当箱型とすることも可能である。
【００２４】
本実施形態において、筐体２の一方側の蓋部材２Ｂには、電源スイッチ３７や切替スイッチ３８などが配置されている。
また、本実施形態において、蓋部材２Ｂには、内蔵電源２４（図２や後述する図３参照）の状態や放射線画像撮影装置１の稼働状態などを表示するＬＥＤ等で構成されたインジケータ４０が配置されている。
【００２５】
また、本実施形態において、蓋部材２Ｂには、クレードル６０のコネクタ７１（後述する図６や図７参照）と接続可能なコネクタ３９が配置されている。このコネクタ３９が、クレードル６０のコネクタ７１と接続することで、充電装置としてのクレードル６０から放射線画像撮影装置１に電力が供給されるようになっている。
【００２６】
また、図示を省略するが、本実施形態において、筐体２の他方側の蓋部材２Ｃには、外部装置との間で無線通信を行うためのアンテナ装置４１ａ（後述する図８参照）が、例えば蓋部材２Ｃに埋め込まれる等して設けられている。
【００２７】
図２に示すように、筐体２の内部には、基板４の下方側に鉛の薄板等（図示省略）を介して基台３１が配置されている。この基台３１には、電子部品３２等が配設されたＰＣＢ基板３３や内蔵電源２４などが取り付けられている。
また、基板４やシンチレータ３の放射線入射面Ｒ側の面には、それらを保護するためのガラス基板３４が配設されている。
また、本実施形態においては、センサパネルＳＰと筐体２の側面との間に、それらがぶつかり合うことを防止するための緩衝材３５が設けられている。
【００２８】
図示を省略するが、基板４の検出部Ｐ上には、フォトダイオード等からなる複数の放射線検出素子７が二次元状（マトリクス状）に配列されている。各放射線検出素子７には、スイッチ素子としての薄膜トランジスタ（Thin Film Transistor。以下「ＴＦＴ」という。）８や走査線５、信号線６、バイアス線９などが接続されている。
また、基板４の検出部Ｐは、シンチレータ３に対向するように設けられている。
【００２９】
次に、放射線画像撮影装置１の回路構成について説明する。
図３は、本実施形態に係る放射線画像撮影装置１の等価回路を表すブロック図である。
【００３０】
複数の放射線検出素子７が基板４上に二次元状に配列されて検出部Ｐが形成されている。
また、各放射線検出素子７の第２電極７ｂにはそれぞれバイアス線９が接続されており、各バイアス線９は結線１０に結束されてバイアス電源１４に接続されている。そして、バイアス電源１４は、結線１０および各バイアス線９を介して各放射線検出素子７の第２電極７ｂにそれぞれ逆バイアス電圧を印加する。
【００３１】
走査駆動回路１５では、電源回路１５ａからゲートドライバ１５ｂに配線１５ｃを介してオン電圧やオフ電圧が供給される。そして、ゲートドライバ１５ｂで走査線５の各ラインＬ１〜Ｌｘに印加する電圧をオン電圧とオフ電圧との間で切り替えて、各ＴＦＴ８のオン状態とオフ状態とを切り替えることで、各放射線検出素子７からの画像データの読み出し処理等を行うように構成されている。
【００３２】
各信号線６は、読み出しＩＣ１６内に形成された各読み出し回路１７にそれぞれ接続されている。読み出し回路１７は、増幅回路１８や相関二重サンプリング回路１９などで構成されている。
読み出しＩＣ１６内には、さらに、アナログマルチプレクサ２１が設けられている。また、読み出しＩＣ１６は、Ａ／Ｄ変換部２０を介して制御手段２２に接続されている。
【００３３】
そして、例えば、各放射線検出素子７からの画像データの読み出し処理の際には、ゲートドライバ１５ｂからオン電圧が印加された走査線５に接続されているＴＦＴ８がオン状態になり、オン状態になったＴＦＴ８に接続されている放射線検出素子７から信号線６に電荷が放出され、放出された電荷が読み出し回路１７の増幅回路１８で電荷電圧変換される。
【００３４】
そして、増幅回路１８の出力側に設けられた相関二重サンプリング回路１９で、放射線検出素子７から電荷が放出される前後の増幅回路１８からの出力値の差分を算出し、算出した差分をアナログ値の画像データとして出力する。そして、出力されたアナログ値の画像データが、アナログマルチプレクサ２１を介して順次Ａ／Ｄ変換部２０に送信され、Ａ／Ｄ変換部２０で順次デジタル値の画像データに変換されて出力され、記憶手段２３に順次保存される。このようにして、各放射線検出素子７からの画像データの読み出し処理が順次行われる。
【００３５】
制御手段２２は、放射線画像撮影装置１の各機能部の動作等を制御する。
具体的には、制御手段２２は、ＣＰＵ（Central Processing Unit）等により構成される本体制御部２２ａ（後述する図８参照）、ＲＯＭ（Read Only Memory。図示省略）、ＲＡＭ（Random Access Memory）２２ｂ（後述する図８参照）、入出力インターフェース（図示省略）等がバスに接続されたコンピュータや、ＦＰＧＡ（Field Programmable Gate Array）などにより構成されている。なお、制御手段２２は、専用の制御回路で構成されていてもよい。
【００３６】
また、制御手段２２には、ＤＲＡＭ（Dynamic ＲＡＭ）等で構成される記憶手段２３が接続されている。
また、本実施形態において、制御手段２２には、アンテナ装置４１ａを有する通信部４１（後述する図８参照）や信号処理部２５（後述する図８参照）、電源スイッチ３７、切替スイッチ３８、コネクタ３９、インジケータ４０なども接続されている。
【００３７】
ここで、通信部４１は、コンソール１０１等の外部装置との間で各種信号の送受信を行う。
具体的には、通信部４１は、アンテナ装置４１ａにより、無線アクセスポイント（図示省略）を介して無線方式でコンソール１０１等の外部装置との間で通信を行うことが可能となっている。
また、通信部４１は、放射線画像撮影装置１のコネクタ３９とクレードル６０のコネクタ７１とが接続されている場合に、クレードル６０を介して有線方式でコンソール１０１等の外部装置との間で通信を行うことも可能となっている。
【００３８】
また、信号処理部２５は、各放射線検出素子７から読み出されＡ／Ｄ変換部２０でアナログ値のデータからデジタル値のデータに変換された画像データに所定の信号処理を施すことによって、画像データを外部に送信するのに適した形式のデータに変換する。
すなわち、本実施形態において、各放射線検出素子７から読み出されＡ／Ｄ変換部２０でアナログ値のデータからデジタル値のデータに変換された画像データは、信号処理部２５で外部に送信するのに適した形式のデータに変換されて、その後、通信部４１からコンソール１０１等の外部装置に送信されるようになっている。
【００３９】
また、本実施形態において、制御手段２２には、制御手段２２や走査駆動回路１５、読み出し回路１７、記憶手段２３、バイアス電源１４などの各機能部に電力を供給するための内蔵電源２４が接続されている。
なお、本実施形態では、内蔵電源２４として、リチウムイオンキャパシタ（ＬＩＣ）が用いられているが、本発明はこれに限定されるものではない。内蔵電源２４は、充電可能な内蔵電源であれば、電気二重層キャパシタ等の蓄電デバイスや通常のバッテリや二次電池などであってもよい。
【００４０】
なお、図３では図示を省略したが、本実施形態において、内蔵電源２４には、内蔵電源２４への充電を制御する充電制御回路８１（後述する図８参照）が接続されている。この点については、後で詳しく説明する。
【００４１】
［クレードルの構成例について］
次に、充電装置の一例であるクレードル６０の構成例について説明する。
図４は、クレードル６０の外観を示す斜視図である。また、図５は、図４に示すクレードル６０に放射線画像撮影装置１が挿入された状態を示した斜視図である。
また、図６および図７は、クレードル６０の内部構成を模式的に示した図であり、図６はクレードル６０に放射線画像撮影装置１を挿入しようとする状態を示しており、図７はクレードル６０に放射線画像撮影装置１を挿入した状態を示している。
【００４２】
図４や図５に示すように、クレードル６０はほぼ直方体形状に形成され上面に開口部６１ａを有する筐体６１と、この筐体６１の開口部６１ａを被覆する被覆部材６２とを備えている。また、筐体６１の一端部には、クレードル６０を動作させる各種のスイッチ６３が設けられている。
【００４３】
図６や図７に示すように、筐体６１の内部には、筐体６１の長手方向に延在し、放射線画像撮影装置１を鉛直方向に収容する装置収容部６４が設けられている。また、筐体６１には基板６５上に配置された各種電子部品６６が収納されている。
電子部品６６には、例えば放射線画像撮影装置１の充電制御回路８１（後述する図８参照）に一定の電圧の直流電圧を供給するために、外部の交流電源から供給された交流電圧を直流電圧に変換するＡＣ／ＤＣコンバータ等を備えた安定化電源回路６６ａ（後述する図８参照）等が含まれている。
【００４４】
また、装置収容部６４は、装置収容部６４の側壁を構成する前側壁部材６７と奥側壁部材６８とを備えている。前側壁部材６７の上端部と奥側壁部材６８の上端部とによって放射線画像撮影装置１が挿入される挿入口６９（図６参照）が形成されている。放射線画像撮影装置１は、挿入口６９から前側壁部材６７と奥側壁部材６８の間に挿入されるように構成されている。
【００４５】
前側壁部材６７の内側部には、放射線画像撮影装置１を装置収容部６４内部に案内する案内部材６７ａが取り付けられている。奥側壁部材６８の内側面には、緩衝部材６８ａが長手方向の全面に亘って設けられている。
【００４６】
装置収容部６４は、その厚み方向の内寸法が放射線画像撮影装置１の厚み方向の外寸法に合わせた寸法となっている。また、装置収容部６４内の挿入口６９付近には、挿入口６９から挿入された放射線画像撮影装置１を一時的に保持する装置保持手段７０が配置されている。
【００４７】
装置収容部６４内の底部には、放射線画像撮影装置１側のコネクタ３９と接続可能なクレードル６０側のコネクタ７１が配置されている。クレードル６０側のコネクタ７１は、ケーブル（図示省略）を介して電子部品６６と電気的に接続されている。
【００４８】
本実施形態では、図６に示すように、放射線画像撮影装置１がクレードル６０に斜めに挿入されると、放射線画像撮影装置１に押されて挿入口６９を被覆する蓋部材７２が、被覆部材６２に沿って奥側（図中では左側）に退避する。
【００４９】
そして、略鉛直方向に向けられた放射線画像撮影装置１が挿入口６９から挿入されると、放射線画像撮影装置１のコネクタ３９が設けられた側の蓋部材２Ｂが一旦装置保持手段７０に当接して保持された後、図７に示すように装置保持手段７０が下方に回動することで、放射線画像撮影装置１が装置収容部６４内に収容される。
【００５０】
そして、前述したように、装置収容部６４の厚み方向の内寸法が放射線画像撮影装置１の厚み方向の外寸法に合わせた寸法となっているため、装置収容部６４内に収容された放射線画像撮影装置１側のコネクタ３９が、自動的にクレードル６０側のコネクタ７１に接続可能な位置に適切に位置決めされた状態で接続されるように構成されている。
【００５１】
［充電システムの構成例について］
次に、本実施形態に係る充電システム１００の構成について説明する。
図８は、充電システム１００の構成を概略的に表すブロック図である。
【００５２】
図８に示すように、本実施形態において、放射線画像撮影装置１における内蔵電源２４と各機能部との間には、電圧検出回路８２と電源回路８３とが設けられている。
電圧検出回路８２は、内蔵電源２４の電圧、すなわち内蔵電源２４に充電されている充電電圧を検出する電圧検出部として機能する。
電源回路８３は、内蔵電源２４から供給される電力を供給先の各機能部に適するように、その電圧値等を適宜変換・調整する。
【００５３】
また、図８に示すように、本実施形態において、放射線画像撮影装置１におけるコネクタ３９と内蔵電源２４との間には、充電制御回路８１が設けられている。充電制御回路８１は、内蔵電源２４の電圧が目標電圧（例えば、内蔵電源２４の定格電圧）に達するまで定電流充電を行うとともに、内蔵電源２４の電圧が目標電圧に達した場合に定電圧充電に切り替えて、内蔵電源２４への充電を制御する充電制御部として機能する。
【００５４】
また、本実施形態において、放射線画像撮影装置１が備える制御手段２２の本体制御部２２ａは、充電制御回路８１による定電流充電時に電圧検出回路８２の検出結果に基づいて内蔵電源２４の電圧上昇率、すなわち単位時間あたりの電圧上昇値を取得する。また、電圧検出回路８２により検出される内蔵電源２４の電圧に応じて所定の閾値を設定する。そして、取得した内蔵電源２４の電圧上昇率と、設定した所定の閾値との比較により内蔵電源２４の劣化の程度を判定するように構成されている。
すなわち、本体制御部２２ａは、内蔵電源２４の劣化の程度を判定する判定部として機能する。
【００５５】
本実施形態において、所定の閾値は、内蔵電源２４が使用不可能な程度に劣化しているか否かを判定するための使用不可能判定用閾値を含んでいる。
なお、「使用不可能な程度に劣化」とは、内蔵電源２４の内部抵抗が増加したり満充電容量が減少したりして、例えば、内蔵電源２４をこれ以上充電したり使用したりすると、内蔵電源２４が膨らんだり高温になったりする等の危険な状態になる可能性がある程度に、内蔵電源２４が劣化していることをいう。したがって、内蔵電源２４が使用不可能な程度に劣化している場合、当該内蔵電源２４は故障品であると言える。
【００５６】
そして、本体制御部２２ａは、内蔵電源２４の電圧上昇率が、内蔵電源２４の電圧に応じて設定した使用不可能判定用閾値を上回る場合に、内蔵電源２４が使用不可能な程度に劣化していると判定するように構成されている。
【００５７】
また、充電制御回路８１は、本体制御部２２ａにより内蔵電源２４が使用不可能な程度に劣化していると判定された場合に、内蔵電源２４への充電を停止するように構成されている。
【００５８】
ここで、使用不可能判定用閾値は、電圧検出回路８２により検出される内蔵電源２４の電圧に応じて設定可能となっている。
具体的には、例えば、使用不可能判定用閾値として、図９等に示す「故障品」の電圧−電圧上昇率特性曲線を基準に決定したΔＶth２ａ（Ｖ０≦Ｖbat＜Ｖ２）と、ΔＶth２ａよりも小さいΔＶth２ｂ（Ｖ２≦Ｖbat≦Ｖ１）との２つの閾値をＲＡＭ２２ｂ等に予め記憶しておく。そして、例えば図９に示すように、本体制御部２２ａは、電圧検出回路８２により検出された内蔵電源２４の電圧Ｖbatが下限電圧Ｖ０以上であり電圧Ｖ２未満であれば、使用不可能判定用閾値ΔＶth２ａを設定する。また、本体制御部２２ａは、電圧検出回路８２により検出された内蔵電源２４の電圧Ｖbatが電圧Ｖ２以上であり上限電圧Ｖ１以下であれば、使用不可能判定用閾値ΔＶth２ｂを設定するように構成することが可能である。この際、本体制御部２２ａは、内蔵電源２４の電圧上昇率が、内蔵電源２４の電圧に応じて設定した使用不可能判定用閾値ΔＶth２ａまたは使用不可能判定用閾値ΔＶth２ｂを上回る場合に、当該内蔵電源２４が使用不可能な程度に劣化していると判定する。
【００５９】
なお、図９では、使用不可能判定用閾値としてΔＶth２ａおよびΔＶth２ｂの２つを予め記憶しておき、当該２つの閾値の中から電圧検出回路８２により検出される内蔵電源２４の電圧Ｖbatに応じて１つの閾値を選択して設定するように構成したが、これに限定されるものではない。複数の使用不可能判定用閾値の中から内蔵電源２４の電圧Ｖbatに応じて１つの閾値を選択して設定することができるのであれば、予め記憶されている使用不可能判定用閾値の個数は任意である。
【００６０】
或いは、例えば、使用不可能判定用閾値を算出するための式として、図１０等に示す「故障品」の電圧−電圧上昇率特性曲線を基準に決定したΔＶth３ａ＝−Ｋ３ａ×Ｖbat＋Ｓ３ａ（Ｖ０≦Ｖbat＜Ｖ３）と、ΔＶth３ａよりも傾きが緩やかなΔＶth３ｂ＝−Ｋ３ｂ×Ｖbat＋Ｓ３ｂ（Ｖ３≦Ｖbat≦Ｖ１）との２つの直線の式がＲＡＭ２２ｂ等に予め記憶されていてもよい。この場合、例えば図１０に示すように、本体制御部２２ａは、電圧検出回路８２により検出された内蔵電源２４の電圧Ｖbatが下限電圧Ｖ０以上であり電圧Ｖ３未満であれば、使用不可能判定用閾値を算出するための式ΔＶth３ａ＝−Ｋ３ａ×Ｖbat＋Ｓ３ａに電圧検出回路８２により検出された内蔵電源２４の電圧Ｖbatを代入して使用不可能判定用閾値ΔＶth３ａを算出し、算出した使用不可能判定用閾値ΔＶth３ａを設定する。また、本体制御部２２ａは、電圧検出回路８２により検出された内蔵電源２４の電圧Ｖbatが電圧Ｖ３以上であり上限電圧Ｖ１以下であれば、使用不可能判定用閾値を算出するための式ΔＶth３ｂ＝−Ｋ３ｂ×Ｖbat＋Ｓ３ｂに電圧検出回路８２により検出された内蔵電源２４の電圧Ｖbatを代入して使用不可能判定用閾値ΔＶth３ｂを算出し、算出した使用不可能判定用閾値ΔＶth３ｂを設定するように構成することが可能である。この際、本体制御部２２ａは、内蔵電源２４の電圧上昇率が、内蔵電源２４の電圧に応じて設定した使用不可能判定用閾値ΔＶth３ａまたは使用不可能判定用閾値ΔＶth３ｂを上回る場合に、当該内蔵電源２４が使用不可能な程度に劣化していると判定する。
【００６１】
なお、図１０では、使用不可能判定用閾値を算出するための式としてΔＶth３ａ＝−Ｋ３ａ×Ｖbat＋Ｓ３ａおよびΔＶth３ｂ＝−Ｋ３ｂ×Ｖbat＋Ｓ３ｂの２つ、すなわち負の傾きを持つ直線の式２つを予め記憶しておき、当該２つの式の中から電圧検出回路８２により検出される内蔵電源２４の電圧Ｖbatに応じて１つの式を選択し、選択した１つの式に基づき使用不可能判定用閾値を算出して設定するように構成したが、これに限定されるものではない。複数の直線の式の中から内蔵電源２４の電圧Ｖbatに応じて１つの式を選択し、選択した１つの式に基づき使用不可能判定用閾値を算出して設定することができるのであれば、予め記憶されている使用不可能判定用閾値を算出するための式の個数は任意である。
【００６２】
また、使用不可能判定用閾値が、電圧検出回路８２により検出される内蔵電源２４の電圧に応じて設定可能であれば、使用不可能判定用閾値を算出するための式の種類およびその個数は任意である。具体的には、使用不可能判定用閾値を算出するための式は、１つの直線の式（ただし、傾き≠０）であってもよいし、前述したように複数の直線の式の組み合わせであってもよいし、１つの曲線の式であってもよいし、複数の曲線の式の組み合わせであってもよい。
【００６３】
また、本実施形態において、所定の閾値は、内蔵電源２４が交換すべき程度に劣化しているか否かを判定するための交換判定用閾値を含んでいる。
なお、「交換すべき程度に劣化」とは、内蔵電源２４の内部抵抗が増加したり満充電容量が減少したりして、例えば、内蔵電源２４をこれ以上充電したり使用したりすると、放射線画像撮影装置１の使用の仕方（例えば、使用頻度および１回に使用する時間）を同じとした場合に、内蔵電源２４への充電頻度が高くなる等の効率の悪い状態になる可能性がある程度に、内蔵電源２４が劣化していることをいう。したがって、内蔵電源２４が交換すべき程度に劣化している場合、当該内蔵電源２４は交換必要品であると言える。
【００６４】
そして、本体制御部２２ａは、内蔵電源２４の電圧上昇率が、内蔵電源２４の電圧に応じて設定した交換判定用閾値を上回る場合に、内蔵電源２４が交換すべき程度に劣化していると判定するように構成されている。
【００６５】
また、本体制御部２２ａは、内蔵電源２４が交換すべき程度に劣化していると判定した場合に、当該内蔵電源２４が交換時期に達したことをインジケータ４０によって放射線技師等の操作者に通知するように構成されている。すなわち、インジケータ４０は、内蔵電源２４が交換時期に達したことを通知する交換時期通知部として機能する。
【００６６】
なお、本実施形態では、内蔵電源２４が交換時期に達したことをインジケータ４０によって放射線技師等の操作者に通知するように構成したが、内蔵電源２４が交換時期に達したことを通知できるのであれば、これに限定されるものではない。具体的には、例えば、本体制御部２２ａは、内蔵電源２４が交換時期に達したことを、通信部４１によって有線方式または無線方式でコンソール１０１等の外部装置に通知するように構成することも可能である。この場合、通信部４１が交換時期通知部として機能する。また、コンソール１０１等の外部装置に、当該通知に応じて内蔵電源２４が交換時期に達したことを報知するための報知手段（例えば、表示部等）を備えるように構成することも可能である。
【００６７】
ここで、交換判定用閾値は、電圧検出回路８２により検出される内蔵電源２４の電圧に応じて設定可能となっている。
具体的には、例えば、交換判定用閾値として、図１１等に示す「交換必要品」の電圧−電圧上昇率特性曲線を基準に決定したΔＶth４ａ（Ｖ０≦Ｖbat＜Ｖ４）と、ΔＶth４ａよりも小さいΔＶth４ｂ（Ｖ４≦Ｖbat≦Ｖ１）との２つの閾値をＲＡＭ２２ｂ等に予め記憶しておく。そして、例えば図１１に示すように、本体制御部２２ａは、電圧検出回路８２により検出された内蔵電源２４の電圧Ｖbatが下限電圧Ｖ０以上であり電圧Ｖ４未満であれば、交換判定用閾値ΔＶth４ａを設定する。また、本体制御部２２ａは、電圧検出回路８２により検出された内蔵電源２４の電圧Ｖbatが電圧Ｖ４以上であり上限電圧Ｖ１以下であれば、交換判定用閾値ΔＶth４ｂを設定するように構成することが可能である。この際、本体制御部２２ａは、内蔵電源２４の電圧上昇率が、内蔵電源２４の電圧に応じて設定した交換判定用閾値ΔＶth４ａまたは交換判定用閾値ΔＶth４ｂを上回る場合に、当該内蔵電源２４が交換すべき程度に劣化していると判定する。
【００６８】
なお、図１１では、交換判定用閾値としてΔＶth４ａおよびΔＶth４ｂの２つを予め記憶しておき、当該２つの閾値の中から電圧検出回路８２により検出される内蔵電源２４の電圧Ｖbatに応じて１つの閾値を選択して設定するように構成したが、これに限定されるものではない。複数の交換判定用閾値の中から内蔵電源２４の電圧Ｖbatに応じて１つの閾値を選択して設定することができるのであれば、予め記憶されている交換判定用閾値の個数は任意である。
【００６９】
或いは、例えば、交換判定用閾値を算出するための式として、図１２等に示す「交換必要品」の電圧−電圧上昇率特性曲線を基準に決定したΔＶth５ａ＝−Ｋ５ａ×Ｖbat＋Ｓ５ａ（Ｖ０≦Ｖbat＜Ｖ５）と、ΔＶth５ａよりも傾きが緩やかなΔＶth５ｂ＝−Ｋ５ｂ×Ｖbat＋Ｓ５ｂ（Ｖ５≦Ｖbat≦Ｖ１）との２つの直線の式がＲＡＭ２２ｂ等に予め記憶されていてもよい。この場合、例えば図１２に示すように、本体制御部２２ａは、電圧検出回路８２により検出された内蔵電源２４の電圧Ｖbatが下限電圧Ｖ０以上であり電圧Ｖ５未満であれば、交換判定用閾値を算出するための式ΔＶth５ａ＝−Ｋ５ａ×Ｖbat＋Ｓ５ａに電圧検出回路８２により検出された内蔵電源２４の電圧Ｖbatを代入して交換判定用閾値ΔＶth５ａを算出し、算出した交換判定用閾値ΔＶth５ａを設定する。また、本体制御部２２ａは、電圧検出回路８２により検出された内蔵電源２４の電圧Ｖbatが電圧Ｖ５以上であり上限電圧Ｖ１以下であれば、交換判定用閾値を算出するための式ΔＶth５ｂ＝−Ｋ５ｂ×Ｖbat＋Ｓ５ｂに電圧検出回路８２により検出された内蔵電源２４の電圧Ｖbatを代入して交換判定用閾値ΔＶth５ｂを算出し、算出した交換判定用閾値ΔＶth５ｂを設定するように構成することが可能である。この際、本体制御部２２ａは、内蔵電源２４の電圧上昇率が、内蔵電源２４の電圧に応じて設定した交換判定用閾値ΔＶth５ａまたは交換判定用閾値ΔＶth５ｂを上回る場合に、当該内蔵電源２４が交換すべき程度に劣化していると判定する。
【００７０】
なお、図１２では、交換判定用閾値を算出するための式としてΔＶth５ａ＝−Ｋ５ａ×Ｖbat＋Ｓ５ａおよびΔＶth５ｂ＝−Ｋ５ｂ×Ｖbat＋Ｓ５ｂの２つ、すなわち負の傾きを持つ直線の式２つを予め記憶しておき、当該２つの式の中から電圧検出回路８２により検出される内蔵電源２４の電圧Ｖbatに応じて１つの式を選択し、選択した１つの式に基づき交換判定用閾値を算出して設定するように構成したが、これに限定されるものではない。複数の直線の式の中から内蔵電源２４の電圧Ｖbatに応じて１つの式を選択し、選択した１つの式に基づき交換判定用閾値を算出して設定することができるのであれば、予め記憶されている交換判定用閾値を算出するための式の個数は任意である。
【００７１】
また、交換判定用閾値が、電圧検出回路８２により検出される内蔵電源２４の電圧に応じて設定可能であれば、交換判定用閾値を算出するための式の種類およびその個数は任意である。具体的には、交換判定用閾値を算出するための式は、１つの直線の式（ただし、傾き≠０）であってもよいし、前述したように複数の直線の式の組み合わせであってもよいし、１つの曲線の式であってもよいし、複数の曲線の式の組み合わせであってもよい。
【００７２】
以下、本実施形態に係る充電システム１００および放射線画像撮影装置１の作用について、図１３のフローチャートを参照して説明する。
図１３は、本実施形態の放射線画像撮影装置１による充電制御に関する処理の一例を説明するためのフローチャートである。
【００７３】
まず、放射線画像撮影装置１が備える制御手段２２の本体制御部２２ａは、充電制御回路８１が定電流充電を行っているか否かを判断する（ステップＳ１０１）。
ステップＳ１０１で、充電制御回路８１が定電流充電を行っていないと判断した場合（ステップＳ１０１；Ｎｏ）、本体制御部２２ａは、ステップＳ１０１の処理を繰り返して行う。
【００７４】
一方、ステップＳ１０１で、充電制御回路８１が定電流充電を行っていると判断した場合（ステップＳ１０１；Ｙｅｓ）、本体制御部２２ａは、電圧検出回路８２の検出結果に基づいて、内蔵電源２４の電圧上昇率および内蔵電源２４の電圧を取得する（ステップＳ１０２）。
具体的には、本体制御部２２ａは、第１時点で電圧検出回路８２により検出された内蔵電源２４の電圧と、第１時点よりも後の第２時点で電圧検出回路８２により検出された内蔵電源２４の電圧と、第１時点から第２時点までに要する時間とに基づいて、単位時間あたりの電圧上昇値である電圧上昇率（＝（（第２時点での内蔵電源２４の電圧）−（第１時点での内蔵電源２４の電圧））／（第１時点から第２時点までの時間））を算出して取得する。
また、本体制御部２２ａは、第２時点で電圧検出回路８２により検出された内蔵電源２４の電圧（或いは、第１時点で電圧検出回路８２により検出された内蔵電源２４の電圧であってもよい。）を、内蔵電源２４の電圧として取得する。
【００７５】
次いで、本体制御部２２ａは、ステップＳ１０２で取得した内蔵電源２４の電圧に応じて、使用不可能判定用閾値および交換判定用閾値を設定する（ステップＳ１０３）。
【００７６】
具体的には、例えば、ＲＡＭ２２ｂ等に複数の使用不可能判定用閾値が記憶されている場合には、本体制御部２２ａは、複数の使用不可能判定用閾値のうちステップＳ１０２で取得した内蔵電源２４の電圧に対応する閾値を設定する。
或いは、例えば、ＲＡＭ２２ｂ等に複数の使用不可能判定用閾値を算出するための式が記憶されている場合には、本体制御部２２ａは、複数の使用不可能判定用閾値を算出するための式のうちステップＳ１０２で取得した内蔵電源２４の電圧に対応する式を選択し、選択した式に基づき使用不可能判定用閾値を算出して設定する。
【００７７】
また、例えば、例えば、ＲＡＭ２２ｂ等に複数の交換判定用閾値が記憶されている場合には、本体制御部２２ａは、複数の交換判定用閾値のうちステップＳ１０２で取得した内蔵電源２４の電圧に対応する閾値を設定する。
或いは、例えば、ＲＡＭ２２ｂ等に複数の交換判定用閾値を算出するための式が記憶されている場合には、本体制御部２２ａは、複数の交換判定用閾値を算出するための式のうちステップＳ１０２で取得した内蔵電源２４の電圧に対応する式を選択し、選択した式に基づき交換判定用閾値を算出して設定する。
【００７８】
このように、本実施形態においては、内蔵電源２４の電圧に応じて使用不可能判定用閾値や交換判定用閾値を設定するので、内蔵電源２４の電圧によらず一定の使用不可能判定用閾値や一定の交換判定用閾値が設定される場合と比較して、内蔵電源２４が使用不可能な程度に劣化しているか否かや、内蔵電源２４が交換すべき程度に劣化しているか否かを、高精度に判定することが可能となる。
【００７９】
図９等に示すように、内蔵電源２４が劣化していない正常品である場合、すなわち内蔵電源２４が新品または新品同様である場合には、内蔵電源２４の電圧が下限電圧Ｖ０から上限電圧Ｖ１へと変化しても、内蔵電源２４の電圧上昇率はほぼ一定である。
【００８０】
一方、内蔵電源２４が劣化して交換すべき状態となった交換必要品である場合、すなわち内蔵電源２４の劣化が進行して交換時期に達した場合には、正常品の電圧上昇率よりも電圧上昇率が大きくなるが、内蔵電源２４の電圧が高くなるほど、すなわち上限電圧Ｖ１に近づくほど、正常品との電圧上昇率の違いが小さくなる。
また、内蔵電源２４がさらに劣化して使用不可能な状態となった故障品である場合、すなわち内蔵電源２４の劣化がさらに進行して寿命に達した場合には、交換必要品の電圧上昇率よりも電圧上昇率が大きくなるが、内蔵電源２４の電圧が高くなるほど、すなわち内蔵電源２４の電圧が上限電圧Ｖ１に近づくほど、正常品や交換必要品との電圧上昇率の違いが小さくなる。
【００８１】
そのため、例えば図１７に示すように、交換判定用閾値として、下限電圧Ｖ０での電圧上昇率を基準とした一定の交換判定用閾値ΔＶth１が設定されると、内蔵電源２４が下限電圧Ｖ０まで使い切らずに充電を繰り返すような使い方をされている場合には、内蔵電源２４が交換すべき程度に劣化していることを検出することができない。
また、内蔵電源２４が下限電圧Ｖ０まで使い切らずに充電を繰り返すような使い方をされている場合でも内蔵電源２４が交換すべき程度に劣化していることを検出できるよう、交換判定用閾値としてΔＶth１よりも小さい一定の交換判定用閾値を設定すると、内蔵電源２４の電圧が小さい時には特に、内蔵電源２４が交換すべき状態でなくても内蔵電源２４が交換すべき程度に劣化していると検出されてしまう場合がある。
【００８２】
これに対し、本実施形態においては、内蔵電源２４の電圧に応じて交換判定用閾値を設定するように構成されている。具体的には、内蔵電源２４の電圧が比較的低い場合には、比較的大きな交換判定用閾値ΔＶth４ａまたはΔＶth５ａを設定し、内蔵電源２４の電圧が比較的高い場合には、比較的小さな交換判定用閾値ΔＶth４ｂまたはΔＶth５ｂを設定するように構成されている。
【００８３】
そのため、内蔵電源２４の電圧によらず一定の交換判定用閾値が設定される場合に生じる問題、具体的には、内蔵電源２４が下限電圧Ｖ０まで使い切らずに充電を繰り返すような使い方をされている場合に内蔵電源２４が交換すべき程度に劣化していることを検出することができないという問題や、内蔵電源２４の電圧が小さい場合に内蔵電源２４が交換すべき状態でなくても内蔵電源２４が交換すべき程度に劣化していると検出されてしまうという問題を、発生し難くすることが可能となる。そのため、内蔵電源２４が交換すべき程度に劣化していることを精度良く判定することが可能となる。
【００８４】
また、使用不可能判定用閾値として、下限電圧Ｖ０での電圧上昇率を基準とした一定の使用不可能判定用閾値（以下「使用不可能判定用閾値Ａ」という。）が設定されると、内蔵電源２４が、下限電圧Ｖ０まで使い切らずに充電を繰り返すような使い方をされている場合には、内蔵電源２４が使用不可能な程度に劣化していることを検出することができない。
また、内蔵電源２４が下限電圧Ｖ０まで使い切らずに充電を繰り返すような使い方をされている場合でも内蔵電源２４が使用不可能な程度に劣化していることを検出できるよう、使用不可能判定用閾値として使用不可能判定用閾値Ａよりも小さい一定の使用不可能判定用閾値を設定すると、内蔵電源２４の電圧が小さい時には特に、内蔵電源２４が使用不可能な状態でなくても内蔵電源２４が使用不可能な程度に劣化していると検出されてしまう場合がある。
【００８５】
これに対し、本実施形態においては、内蔵電源２４の電圧に応じて使用不可能判定用閾値を設定するように構成されている。具体的には、内蔵電源２４の電圧が比較的低い場合には、比較的大きな使用不可能判定用閾値ΔＶth２ａまたはΔＶth３ａを設定し、内蔵電源２４の電圧が比較的高い場合には、比較的小さな使用不可能判定用閾値ΔＶth２ｂまたはΔＶth３ｂを設定するように構成されている。
【００８６】
そのため、内蔵電源２４の電圧によらず一定の使用不可能判定用閾値が設定される場合に生じる問題、具体的には、内蔵電源２４が下限電圧Ｖ０まで使い切らずに充電を繰り返すような使い方をされている場合に内蔵電源２４が使用不可能な程度に劣化していることを検出することができないという問題や、内蔵電源２４の電圧が小さい場合に内蔵電源２４が使用不可能な状態でなくても内蔵電源２４が使用不可能な程度に劣化していると検出されてしまうという問題を、発生し難くすることが可能となる。そのため、内蔵電源２４が使用不可能な程度に劣化していることを精度良く判定することが可能となる。
【００８７】
次いで、本体制御部２２ａは、ステップＳ１０２で取得した内蔵電源２４の電圧上昇率が、ステップＳ１０３で設定した使用不可能判定用閾値を上回るか否かを判定する（ステップＳ１０４）。
【００８８】
ステップＳ１０４で、内蔵電源２４の電圧上昇率が、内蔵電源２４の電圧に応じて設定した使用不可能判定用閾値を上回ると判定した場合（ステップＳ１０４；Ｙｅｓ）、本体制御部２２ａは、内蔵電源２４が使用不可能な程度に劣化していると判定する（ステップＳ１０５）。
そして、本体制御部２２ａは、内蔵電源２４への充電を停止するよう充電制御回路８１に指示するとともに（ステップＳ１０６）、内蔵電源２４への充電を停止したことをインジケータ４０によって放射線技師等の操作者に通知して（ステップＳ１０７）、本処理を終了する。なお、本体制御部２２ａは、内蔵電源２４への充電を停止したことを通信部４１によって有線方式または無線方式でコンソール１０１等の外部装置に通知するように構成することも可能である。
【００８９】
前述したように、本実施形態においては、内蔵電源２４の電圧に応じて使用不可能判定用閾値を設定するように構成されており、内蔵電源２４が使用不可能な状態でなくても内蔵電源２４が使用不可能な程度に劣化していると検出されてしまうという問題等が発生し難い。そのため、内蔵電源２４が使用不可能な状態でないのに内蔵電源２４への充電を停止してしまうことを抑制することができる。すなわち、内蔵電源２４への充電を無駄に停止してしまうことが少なく、効率よく内蔵電源２４への充電を行うことが可能となる。
【００９０】
一方、ステップＳ１０４で、内蔵電源２４の電圧上昇率が、内蔵電源２４の電圧に応じて設定した使用不可能判定用閾値を上回らないと判定した場合（ステップＳ１０４；Ｎｏ）、本体制御部２２ａは、ステップＳ１０２で取得した内蔵電源２４の電圧上昇率が、ステップＳ１０３で設定した交換判定用閾値を上回るか否かを判定する（ステップＳ１０８）。
【００９１】
ステップＳ１０８で、内蔵電源２４の電圧上昇率が、内蔵電源２４の電圧に応じて設定した交換判定用閾値を上回らないと判定した場合（ステップＳ１０８；Ｎｏ）、本体制御部２２ａは、ステップＳ１０１の処理に移行する。
【００９２】
一方、ステップＳ１０８で、内蔵電源２４の電圧上昇率が、内蔵電源２４の電圧に応じて設定した交換判定用閾値を上回ると判定した場合（ステップＳ１０８；Ｙｅｓ）、本体制御部２２ａは、内蔵電源２４が交換すべき程度に劣化していると判定する（ステップＳ１０９）。
そして、本体制御部２２ａは、内蔵電源２４が交換時期に達したことをインジケータ４０によって放射線技師等の操作者に通知して（ステップＳ１１０）、本処理を終了する。なお、本体制御部２２ａは、内蔵電源２４が交換時期に達したことを通信部４１によって有線方式または無線方式でコンソール１０１等の外部装置に通知するように構成することも可能である。
【００９３】
前述したように、本実施形態においては、内蔵電源２４の電圧に応じて交換判定用閾値を設定するように構成されており、内蔵電源２４が交換すべき状態でなくても内蔵電源２４が交換すべき程度に劣化していると検出されてしまうという問題等が発生し難い。そのため、内蔵電源２４が交換すべき状態ではないのに内蔵電源２４が交換時期に達したと通知してしまうことを抑制することができる。すなわち、内蔵電源２４が交換時期に達したことを無駄に通知してしまうことが少なく、内蔵電源２４を無駄に交換してしまう等の問題が生じ難い。
【００９４】
ここで、放射線画像撮影装置１に内蔵電源２４が着脱自在であり、複数種類の内蔵電源２４を放射線画像撮影装置１に着脱可能であれば、放射線画像撮影装置１に内蔵されている内蔵電源２４の種類に応じて、使用不可能判定用閾値や交換判定用閾値を設定するように構成することも可能である。
内蔵電源２４は、その機種等に応じて、満充電容量や充電特性などが異なる場合が多い。そのため、放射線画像撮影装置１に内蔵されている内蔵電源２４の種類（機種等）に応じて使用不可能判定用閾値や交換判定用閾値を設定することで、内蔵電源２４が使用不可能な程度に劣化しているか否かや、内蔵電源２４が交換すべき程度に劣化しているか否かを、より高精度に判定することが可能となる。
【００９５】
具体的には、例えば、内蔵電源２４に、当該内蔵電源２４の種類を識別するための識別情報を担持するものを備え、放射線画像撮影装置１に、当該放射線画像撮影装置１に内蔵されている内蔵電源２４から識別情報を取得するための識別情報取得手段を備えておく。また、放射線画像撮影装置１に着脱可能な内蔵電源２４の識別情報や、当該識別情報に対応する使用不可能判定用閾値（或いは、使用不可能判定用閾値を算出するための式）や交換判定用閾値（或いは、交換判定用閾値を算出するための式）などの所定の閾値（或いは、所定の閾値を算出するための式）をＲＡＭ２２ｂ等に予め記憶しておく。
そして、本体制御部２２ａは、識別情報取得手段により取得された識別情報に対応する使用不可能判定用閾値（或いは、使用不可能判定用閾値を算出するための式）や交換判定用閾値（或いは、交換判定用閾値を算出するための式）などをＲＡＭ２２ｂ等から抽出し、抽出した閾値（或いは、抽出した式）に基づいて、ステップＳ１０３で使用不可能判定用閾値および交換判定用閾値を設定するように構成することが可能である。
【００９６】
なお、内蔵電源２４における識別情報担持の構成や、放射線画像撮影装置１の識別情報取得手段の構成は、いかなる構成であってもよい。
例えば、内蔵電源２４の外面に当該内蔵電源２４の識別情報を担持するバーコードが印字されたバーコードシールを貼付しておけば、バーコード等を読み取って、当該内蔵電源２４の識別情報を取得する構成とすることも可能である。また、例えば、内蔵電源２４の外形、具体的には内蔵電源２４のサイズや内蔵電源２４外面に設けられた凹凸の位置・個数や内蔵電源２４の外面に設けられた反射板等の位置・個数などを、当該内蔵電源２４の識別情報と予め対応付けておけば、内蔵電源２４の外形を読み取って、当該内蔵電源２４の識別情報を取得する構成とすることも可能である。
【００９７】
以上説明した本実施形態に係る充電システム１００および電子機器としての放射線画像撮影装置１によれば、放射線画像撮影装置１の本体制御部２２ａは、充電制御回路８１による定電流充電時に電圧検出回路８２の検出結果に基づき内蔵電源２４の電圧上昇率を取得するとともに、電圧検出回路８２により検出される内蔵電源２４の電圧に応じて所定の閾値を設定し、取得した内蔵電源２４の電圧上昇率と、設定した所定の閾値との比較により内蔵電源２４の劣化の程度を判定するように構成されている。
【００９８】
したがって、内蔵電源２４の電圧に応じて内蔵電源２４の劣化の程度を判定するための閾値を設定するので、内蔵電源２４の電圧によらず一定の閾値が設定される場合と比較して、内蔵電源２４の劣化の程度を高精度に判定することが可能となる。
【００９９】
また、以上説明した本実施形態に係る充電システム１００および電子機器としての放射線画像撮影装置１によれば、所定の閾値は、内蔵電源２４が使用不可能な程度に劣化しているか否かを判定するための使用不可能判定用閾値を含み、放射線画像撮影装置１の本体制御部２２ａは、内蔵電源２４の電圧上昇率が、内蔵電源２４の電圧に応じて設定した使用不可能判定用閾値を上回る場合に、内蔵電源２４が使用不可能な程度に劣化していると判定し、充電制御回路８１は、内蔵電源２４が使用不可能な程度に劣化していると判定された場合に、当該内蔵電源２４への充電を停止するように構成されている。
【０１００】
したがって、内蔵電源２４の電圧に応じて使用不可能判定用閾値を設定するので、内蔵電源２４の電圧によらず一定の使用不可能判定用閾値が設定される場合と比較して、内蔵電源２４が使用不可能な程度に劣化しているか否かを高精度に判定することが可能となる。
また、充電制御回路８１は、内蔵電源２４が使用不可能な程度に劣化していると判定された場合に、当該内蔵電源２４への充電を停止するので、内蔵電源２４が膨らんだり高温になったりする等の危険な状態になることを防止することが可能となる。
【０１０１】
また、以上説明した本実施形態に係る充電システム１００および電子機器としての放射線画像撮影装置１によれば、所定の閾値は、内蔵電源２４が交換すべき程度に劣化しているか否かを判定するための交換判定用閾値を含み、放射線画像撮影装置１の本体制御部２２ａは、内蔵電源２４の電圧上昇率が、内蔵電源２４の電圧に応じて設定した交換判定用閾値を上回る場合に、内蔵電源２４が交換すべき程度に劣化していると判定し、交換時期通知部としてのインジケータ４０（或いは、通信部４１であってもよい。）は、内蔵電源２４が交換すべき程度に劣化していると判定された場合に、内蔵電源２４が交換時期に達したことを通知するように構成されている。
【０１０２】
したがって、内蔵電源２４の電圧に応じて交換判定用閾値を設定するので、内蔵電源２４の電圧によらず一定の交換判定用閾値が設定される場合と比較して、内蔵電源２４が交換すべき程度に劣化しているか否かを高精度に判定することが可能となる。
また、内蔵電源２４が交換すべき程度に劣化していると判定された場合に、内蔵電源２４が交換時期に達したことを通知するので、放射線技師等の操作者（或いは、コンソール１０１等の外部装置）は、内蔵電源２４が交換すべき程度に劣化していることを認識することが可能となる。これにより、内蔵電源２４への充電頻度が高くなる等の効率の悪い状態になる前に、内蔵電源２４を交換すること等が可能となる。
【０１０３】
また、以上説明した本実施形態に係る充電システム１００および電子機器としての放射線画像撮影装置１によれば、放射線画像撮影装置１の本体制御部２２ａは、電圧検出回路８２により検出される内蔵電源２４の電圧と、内蔵電源２４の種類との双方に応じて所定の閾値を設定可能である。
【０１０４】
内蔵電源２４は、その種類（機種等）に応じて、満充電容量や充電特性などが異なる場合が多い。そのため、放射線画像撮影装置１に内蔵されている内蔵電源２４の種類（機種等）に応じて使用不可能判定用閾値や交換判定用閾値などの所定の閾値を設定可能とすることで、内蔵電源２４の劣化の程度をより高精度に判定することが可能となる。
【０１０５】
なお、第１実施形態では、内蔵電源２４の劣化の程度を判定するための所定の閾値に、使用不可能判定用閾値と交換判定用閾値との両方が含まれることとして説明したが、これに限定されるものではなく、所定の閾値には、使用不可能判定用閾値と交換判定用閾値とのうち少なくともいずれか一方が含まれていればよい。
すなわち、判定部としての本体制御部２２ａは、内蔵電源２４の劣化の程度として、使用不可能な程度に劣化していることと、交換すべき程度に劣化していることとのうち少なくともいずれか一方を判定できればよい。
【０１０６】
また、所定の閾値には、使用不可能判定用閾値や交換判定用閾値以外の閾値が含まれていてもよい。無論、この場合、所定の閾値に含まれる使用不可能判定用閾値や交換判定用閾値以外の閾値も、使用不可能判定用閾値や交換判定用閾値と同様、電圧検出回路８２により検出される内蔵電源２４の電圧に応じて、或いは、電圧検出回路８２により検出される内蔵電源２４の電圧と、内蔵電源２４の種類との双方に応じて設定される。
【０１０７】
＜第２実施形態＞
次に、第２実施形態に係る充電システム１００および電子機器としての放射線画像撮影装置１について説明する。
なお、第２実施形態においては、内蔵電源２４の劣化レベルを判定する点が、第１実施形態と異なる。したがって、第１実施形態と同様の構成を有する部分については同じ符号を付して説明を省略し、主に異なる部分について説明する。
【０１０８】
本実施形態において、所定の閾値は、内蔵電源２４の劣化レベルに応じた複数種類の劣化レベル判定用閾値を含んでいる。
なお、本実施形態では、内蔵電源２４の劣化レベルとして劣化レベル１〜劣化レベル３の３つの劣化レベルを用いて説明するが、内蔵電源２４の劣化レベルの個数は３つに限ることはなく、複数であれば任意である。
【０１０９】
具体的には、本実施形態において、所定の閾値は、劣化レベル１を判定するためを劣化レベル１判定用閾値と、劣化レベル１よりも劣化の進行度が高い劣化レベル２を判定するための劣化レベル２判定用閾値と、劣化レベル２よりも劣化の進行度が高い劣化レベル３を判定するための劣化レベル３判定用閾値とを含んでいる。
すなわち、複数の劣化レベル１判定用閾値、或いは１つまたは複数の劣化レベル１判定用閾値を算出するための式と、複数の劣化レベル２判定用閾値、或いは１つまたは複数の劣化レベル２判定用閾値を算出するための式と、複数の劣化レベル３判定用閾値、或いは１つまたは複数の劣化レベル３判定用閾値を算出するための式とが、ＲＡＭ２２ｂ等に予め記憶されている。
【０１１０】
なお、本実施形態では、劣化レベル１を、内蔵電源２４が交換すべき程度ではないが劣化しているレベル、劣化レベル２を、内蔵電源２４が交換すべき程度に劣化しているレベル、劣化レベル３を、内蔵電源２４が使用不可能な程度に劣化しているレベルとするが、各劣化レベルは、これに限定されるものではない。
すなわち、本実施形態の場合、劣化レベル２判定用閾値は、第１実施形態の交換時期判定用閾値と同じであり、劣化レベル３判定用閾値は、第１実施形態の使用不可能判定用閾値と同じである。
【０１１１】
そして、本体制御部２２ａは、内蔵電源２４の電圧上昇率と、内蔵電源２４の電圧に応じて設定した各種の劣化レベル判定用閾値との比較により、内蔵電源２４の劣化の程度として該当する劣化レベルを判定するように構成されている。
【０１１２】
また、本体制御部２２ａは、判定した内蔵電源２４の劣化レベルをインジケータ４０によって放射線技師等の操作者に通知するように構成されている。すなわち、インジケータ４０は、内蔵電源２４の劣化レベルを通知する劣化レベル通知部として機能する。
【０１１３】
なお、本実施形態では、内蔵電源２４の劣化レベルをインジケータ４０によって放射線技師等の操作者に通知するように構成したが、内蔵電源２４の劣化レベルを通知できるのであれば、これに限定されるものではない。具体的には、例えば、本体制御部２２ａは、判定した内蔵電源２４の劣化レベルを、通信部４１によって有線方式または無線方式でコンソール１０１等の外部装置に通知するように構成することも可能である。この場合、通信部４１が劣化レベル通知部として機能する。また、コンソール１０１等の外部装置に、当該通知に応じて内蔵電源２４の劣化レベルを報知するための報知手段（例えば、表示部等）を備えるように構成することも可能である。
【０１１４】
以下、本実施形態に係る充電システム１００および放射線画像撮影装置１の作用について、図１４のフローチャートを参照して説明する。
図１４は、本実施形態の放射線画像撮影装置１による充電制御に関する処理の一例を説明するためのフローチャートである。
【０１１５】
まず、放射線画像撮影装置１が備える制御手段２２の本体制御部２２ａは、充電制御回路８１が定電流充電を行っているか否かを判断する（ステップＳ２０１）。
ステップＳ２０１で、充電制御回路８１が定電流充電を行っていないと判断した場合（ステップＳ２０１；Ｎｏ）、本体制御部２２ａは、ステップＳ２０１の処理を繰り返して行う。
【０１１６】
一方、ステップＳ２０１で、充電制御回路８１が定電流充電を行っていると判断した場合（ステップＳ２０１；Ｙｅｓ）、本体制御部２２ａは、電圧検出回路８２の検出結果に基づいて、内蔵電源２４の電圧上昇率および内蔵電源２４の電圧を取得する（ステップＳ２０２）。
【０１１７】
次いで、本体制御部２２ａは、ステップＳ２０２で取得した内蔵電源２４の電圧に応じて、劣化レベル１判定用閾値、劣化レベル２判定用閾値および劣化レベル３判定用閾値を設定する（ステップＳ２０３）。
【０１１８】
具体的には、例えば、ＲＡＭ２２ｂ等に複数の劣化レベル１判定用閾値が記憶されている場合には、本体制御部２２ａは、複数の劣化レベル１判定用閾値のうちステップＳ２０２で取得した内蔵電源２４の電圧に対応する閾値を設定する。
或いは、例えば、ＲＡＭ２２ｂ等に複数の劣化レベル１判定用閾値を算出するための式が記憶されている場合には、本体制御部２２ａは、複数の劣化レベル１判定用閾値を算出するための式のうちステップＳ２０２で取得した内蔵電源２４の電圧に対応する式を選択し、選択した式に基づき劣化レベル１判定用閾値を算出して設定する。
【０１１９】
また、例えば、ＲＡＭ２２ｂ等に複数の劣化レベル２判定用閾値が記憶されている場合には、本体制御部２２ａは、複数の劣化レベル２判定用閾値のうちステップＳ２０２で取得した内蔵電源２４の電圧に対応する閾値を設定する。
或いは、例えば、ＲＡＭ２２ｂ等に複数の劣化レベル２判定用閾値を算出するための式が記憶されている場合には、本体制御部２２ａは、複数の劣化レベル２判定用閾値を算出するための式のうちステップＳ２０２で取得した内蔵電源２４の電圧に対応する式を選択し、選択した式に基づき劣化レベル２判定用閾値を算出して設定する。
【０１２０】
また、例えば、ＲＡＭ２２ｂ等に複数の劣化レベル３判定用閾値が記憶されている場合には、本体制御部２２ａは、複数の劣化レベル３判定用閾値のうちステップＳ２０２で取得した内蔵電源２４の電圧に対応する閾値を設定する。
或いは、例えば、ＲＡＭ２２ｂ等に複数の劣化レベル３判定用閾値を算出するための式が記憶されている場合には、本体制御部２２ａは、複数の劣化レベル３判定用閾値を算出するための式のうちステップＳ２０２で取得した内蔵電源２４の電圧に対応する式を選択し、選択した式に基づき劣化レベル３判定用閾値を算出して設定する。
【０１２１】
このように、本実施形態においては、内蔵電源２４の電圧に応じて劣化レベル１判定用閾値や劣化レベル２判定用閾値や劣化レベル３判定用閾値を設定するので、内蔵電源２４の電圧によらず一定の劣化レベル１判定用閾値や一定の劣化レベル２判定用閾値や一定の劣化レベル３判定用閾値が設定される場合と比較して、内蔵電源２４の劣化レベルを高精度に判定することが可能となる。
【０１２２】
次いで、本体制御部２２ａは、ステップＳ２０２で取得した内蔵電源２４の電圧上昇率が、ステップＳ２０３で設定した劣化レベル３判定用閾値を上回るか否かを判定する（ステップＳ２０４）。
【０１２３】
ステップＳ２０４で、内蔵電源２４の電圧上昇率が、内蔵電源２４の電圧に応じて設定した劣化レベル３判定用閾値を上回ると判定した場合（ステップＳ２０４；Ｙｅｓ）、本体制御部２２ａは、内蔵電源２４の劣化レベルが劣化レベル３であると判定する（ステップＳ２０５）。
そして、本体制御部２２ａは、内蔵電源２４の劣化レベルが劣化レベル３であることをインジケータ４０によって放射線技師等の操作者に通知して（ステップＳ２０６）、本処理を終了する。なお、本実施形態において、劣化レベル３は、内蔵電源２４が使用不可能な程度に劣化しているレベルであるので、本体制御部２２ａは、劣化レベル３である旨の通知とともに、内蔵電源２４への充電を停止するよう充電制御回路８１に指示するように構成することも可能である。なお、本体制御部２２ａは、内蔵電源２４の劣化レベルが劣化レベル３であることを通信部４１によって有線方式または無線方式でコンソール１０１等の外部装置に通知するように構成することも可能である。
【０１２４】
一方、ステップＳ２０４で、内蔵電源２４の電圧上昇率が、内蔵電源２４の電圧に応じて設定した劣化レベル３判定用閾値を上回らないと判定した場合（ステップＳ２０４；Ｎｏ）、本体制御部２２ａは、ステップＳ２０２で取得した内蔵電源２４の電圧上昇率が、ステップＳ２０３で設定した劣化レベル２判定用閾値を上回るか否かを判定する（ステップＳ２０７）。
【０１２５】
ステップＳ２０７で、内蔵電源２４の電圧上昇率が、内蔵電源２４の電圧に応じて設定した劣化レベル２判定用閾値を上回ると判定した場合（ステップＳ２０７；Ｙｅｓ）、本体制御部２２ａは、内蔵電源２４の劣化レベルが劣化レベル２であると判定する（ステップＳ２０８）。
そして、本体制御部２２ａは、内蔵電源２４の劣化レベルが劣化レベル２であることをインジケータ４０によって放射線技師等の操作者に通知して（ステップＳ２０９）、本処理を終了する。なお、本体制御部２２ａは、内蔵電源２４の劣化レベルが劣化レベル２であることを通信部４１によって有線方式または無線方式でコンソール１０１等の外部装置に通知するように構成することも可能である。
【０１２６】
一方、ステップＳ２０７で、内蔵電源２４の電圧上昇率が、内蔵電源２４の電圧に応じて設定した劣化レベル２判定用閾値を上回らないと判定した場合（ステップＳ２０７；Ｎｏ）、本体制御部２２ａは、ステップＳ２０２で取得した内蔵電源２４の電圧上昇率が、ステップＳ２０３で設定した劣化レベル１判定用閾値を上回るか否かを判定する（ステップＳ２１０）。
【０１２７】
ステップＳ２１０で、内蔵電源２４の電圧上昇率が、内蔵電源２４の電圧に応じて設定した劣化レベル１判定用閾値を上回らないと判定した場合（ステップＳ２１０；Ｎｏ）、本体制御部２２ａは、ステップＳ２０１の処理に移行する。
【０１２８】
一方、ステップＳ２１０で、内蔵電源２４の電圧上昇率が、内蔵電源２４の電圧に応じて設定した劣化レベル１判定用閾値を上回ると判定した場合（ステップＳ２１０；Ｙｅｓ）、本体制御部２２ａは、内蔵電源２４の劣化レベルが劣化レベル１であると判定する（ステップＳ２１１）。
そして、本体制御部２２ａは、内蔵電源２４の劣化レベルが劣化レベル１であることをインジケータ４０によって放射線技師等の操作者に通知して（ステップＳ２１２）、本処理を終了する。なお、本体制御部２２ａは、内蔵電源２４の劣化レベルが劣化レベル１であることを通信部４１によって有線方式または無線方式でコンソール１０１等の外部装置に通知するように構成することも可能である。
【０１２９】
ここで、放射線画像撮影装置１に内蔵電源２４が着脱自在であり、複数種類の内蔵電源２４を放射線画像撮影装置１に着脱可能であれば、放射線画像撮影装置１に内蔵されている内蔵電源２４の種類に応じて、劣化レベル１判定用閾値や劣化レベル２判定用閾値や劣化レベル３判定用閾値を設定するように構成することも可能である。
このように、放射線画像撮影装置１に内蔵されている内蔵電源２４の種類（機種等）に応じて劣化レベル１判定用閾値や劣化レベル２判定用閾値や劣化レベル３判定用閾値を設定することで、内蔵電源２４の劣化レベルをより高精度に判定することが可能となる。
【０１３０】
なお、この他の点は第１実施形態で示した作用と同様であるので、その説明は省略する。
【０１３１】
以上説明した本実施形態に係る充電システム１００および電子機器としての放射線画像撮影装置１によれば、所定の閾値は、内蔵電源２４の劣化レベルに応じた複数種類の劣化レベル判定用閾値を含み、放射線画像撮影装置１の本体制御部２２ａは、内蔵電源２４の電圧上昇率と、内蔵電源２４の電圧に応じて設定した各種の劣化レベル判定用閾値との比較により、内蔵電源２４の劣化の程度として該当する劣化レベルを判定し、劣化レベル通知部としてのインジケータ４０（或いは、通信部４１であってもよい。）は、判定された内蔵電源２４の劣化レベルを通知するように構成されている。
【０１３２】
したがって、内蔵電源２４の電圧に応じて各種の劣化レベル判定用閾値（本実施形態の場合、劣化レベル１判定用閾値〜劣化レベル３判定用閾値）を設定するので、各種の劣化レベル判定用閾値として内蔵電源２４の電圧によらず一定の閾値がそれぞれ設定される場合と比較して、内蔵電源２４の劣化レベルを高精度に判定することが可能となる。
また、判定された内蔵電源２４の劣化レベルを通知するので、放射線技師等の操作者（或いは、コンソール１０１等の外部装置）は、内蔵電源２４の劣化レベルを認識することが可能となる。
【０１３３】
なお、この他の点は第１実施形態で示した効果と同様であるので、その説明は省略する。
【０１３４】
なお、本発明は上記の実施形態に限定されず、本発明の趣旨から逸脱しない限り、適宜変更可能であることはいうまでもない。
【０１３５】
例えば、上記の第１実施形態および第２実施形態では、充電制御部としての充電制御回路８１を電子機器である放射線画像撮影装置１に設ける場合について説明したが、例えば図８に対応する図１５に示すように、充電制御部としての充電制御回路８１を充電装置であるクレードル６０に設けるように構成することも可能である。この場合、例えば、クレードル６０の筐体６１（図７等参照）内部の基板６５上の、各種電子部品６６が収納されている部分に充電制御回路８１を設けることが可能である。
【０１３６】
このように、充電制御部としての充電制御回路８１を充電装置であるクレードル６０に設ける場合、当該充電制御回路８１が内蔵電源２４の劣化の程度を判定する判定部としても機能するように構成することも可能であるし、判定部として機能する制御部等を充電装置であるクレードル６０に別途備えるように構成することも可能である。
【０１３７】
また、図１５では、電圧検出部としての電圧検出回路８２も充電装置であるクレードル６０に設けるように構成したが、充電制御部としての充電制御回路８１を充電装置であるクレードル６０に設ける場合、電圧検出部としての電圧検出回路８２は、電子機器である放射線画像撮影装置１に設けるように構成することも可能であるし、充電装置であるクレードル６０に設けるように構成することも可能である。なお、電圧検出回路８２をクレードル６０に設ける場合、例えば、クレードル６０の筐体６１（図７等参照）内部の基板６５上の、各種電子部品６６が収納されている部分に電圧検出回路８２を設けることが可能である。
【０１３８】
ここで、充電制御部としての充電制御回路８１を充電装置であるクレードル６０に設ける場合、例えば、電子機器である放射線画像撮影装置１に、当該放射線画像撮影装置１が内蔵する内蔵電源２４の種類を識別するための識別情報を担持するものを備え、クレードル６０に、放射線画像撮影装置１から識別情報を取得するための識別情報取得手段を備えておく。また、クレードル６０に、クレードル６０に挿入可能な放射線画像撮影装置１が内蔵する内蔵電源２４の識別情報や、当該識別情報に対応する所定の閾値（或いは、所定の閾値を算出するための式）を予め記憶しておく。そして、クレードル６０側で、識別情報取得手段により取得された識別情報に対応する所定の閾値（或いは、所定の閾値を算出するための式）を抽出し、抽出した所定の閾値（或いは、抽出した式）に基づいて、所定の閾値を設定するように構成することも可能である。これにより、放射線画像撮影装置１に内蔵されている内蔵電源２４の種類と、内蔵電源２４の電圧との双方に応じて、所定の閾値を設定するように構成することが可能となる。
また、例えば、クレードル６０が、クレードル６０側のコネクタ７１および放射線画像撮影装置１側のコネクタ３９を介して放射線画像撮影装置１との間で通信を行って、当該放射線画像撮影装置１が内蔵する内蔵電源２４の種類を識別するための識別情報を取得するように構成することも可能である。これにより、放射線画像撮影装置１に内蔵されている内蔵電源２４の種類と、内蔵電源２４の電圧との双方に応じて、所定の閾値を設定するように構成することが可能となる。
【０１３９】
また、電子機器である放射線画像撮影装置１や充電装置であるクレードル６０とは別に、充電制御部としての充電制御回路８１を備える充電制御装置を備えるように構成することも可能である。この場合、例えば、内蔵電源２４の充電時に、充電制御部としての充電制御回路８１を備える充電制御装置を、電子機器である放射線画像撮影装置１と充電装置であるクレードル６０との間に配置等することによって、当該充電制御装置を介して充電装置であるクレードル６０から電子機器である放射線画像撮影装置１が内蔵する内蔵電源２４へと電力が供給される。
この場合、電圧検出部としての電圧検出回路８２は、充電制御部としての充電制御回路８１を備える充電制御装置に設けるように構成することも可能であるし、電子機器である放射線画像撮影装置１に設けるように構成することも可能であるし、充電装置であるクレードル６０に設けるように構成することも可能である。
【０１４０】
ここで、充電制御部としての充電制御回路８１を備える充電制御装置を備える場合、例えば、電子機器である放射線画像撮影装置１に、当該放射線画像撮影装置１が内蔵する内蔵電源２４の種類を識別するための識別情報を担持するものを備え、当該充電制御装置に、放射線画像撮影装置１から識別情報を取得するための識別情報取得手段を備えておく。また、当該充電制御装置に、当該充電制御装置に接続可能な放射線画像撮影装置１が内蔵する内蔵電源２４の識別情報や、当該識別情報に対応する所定の閾値（或いは、所定の閾値を算出するための式）を予め記憶しておく。そして、当該充電制御装置側で、識別情報取得手段により取得された識別情報に対応する所定の閾値（或いは、所定の閾値を算出するための式）を抽出し、抽出した所定の閾値（或いは、抽出した式）に基づいて、所定の閾値を設定するように構成することも可能である。これにより、放射線画像撮影装置１に内蔵されている内蔵電源２４の種類と、内蔵電源２４の電圧との双方に応じて、所定の閾値を設定するように構成することが可能となる。
また、例えば、当該充電制御装置が、放射線画像撮影装置１との間で通信を行って、当該放射線画像撮影装置１が内蔵する内蔵電源２４の種類を識別するための識別情報を取得するように構成することも可能である。これにより、放射線画像撮影装置１に内蔵されている内蔵電源２４の種類と、内蔵電源２４の電圧との双方に応じて、所定の閾値を設定するように構成することが可能となる。
【０１４１】
また、上記の各実施形態（第１実施形態、第２実施形態、充電制御部としての充電制御回路８１を充電装置に設けるように構成する実施形態）では、内蔵電源２４の電圧が目標電圧に達すると同時に直ちに定電流充電から定電圧充電に切り替わるように構成したが、これに限定されるものではない。例えば、内蔵電源２４の電圧が目標電圧に近づくにつれて徐々に充電電流を下げてゆき、緩やかに定電流充電から定電圧充電に切り替わるように構成することも可能である。
すなわち、本発明でいう「内蔵電源の電圧が目標電圧に達するまで定電流充電を行うとともに、内蔵電源の電圧が目標電圧に達した場合に定電圧充電に切り替えて」には、内蔵電源２４の電圧が目標電圧に達すると同時に直ちに定電流充電から定電圧充電に切り替わる場合も、内蔵電源２４の電圧が目標電圧に近づくにつれて徐々に充電電流を下げてゆき、緩やかに定電流充電から定電圧充電に切り替わる場合も含まれる。
【０１４２】
緩やかに定電流充電から定電圧充電に切り替わるように構成する場合、徐々に充電電流を下げていく段階で、電圧上昇率も徐々に低下していく。そのため、劣化の程度を判定するための所定の閾値（例えば、使用不可能判定用閾値、交換判定用閾値、劣化レベル１判定用閾値〜劣化レベル３判定用閾値等）として、内蔵電源２４の電圧に応じた充電電流の低下に対応可能な所定の閾値（或いは、所定の閾値を算出するための式）を記憶しておく。具体的には、例えば、各充電電流に対応する所定の閾値（或いは、所定の閾値を算出するための式）をＲＡＭ２２ｂ等に予め記憶しておく。そして、ステップＳ１０２やステップＳ２０２で内蔵電源２４の電圧として第２時点での内蔵電源２４の電圧（或いは、第１時点での内蔵電源２４の電圧であってもよい。）を取得する際に、第２時点での充電電流（或いは、第１時点での充電電流であってもよい。）も取得し、取得した充電電流に対応する所定の閾値（或いは、所定の閾値を算出するための式）をＲＡＭ２２ｂ等から抽出する。そして、抽出した所定の閾値（或いは、抽出した式）に基づいて、所定の閾値を設定する。すなわち、所定の閾値を抽出した場合には、抽出した所定の閾値の中から内蔵電源２４の電圧に応じた所定の閾値を選択して設定し、所定の閾値を算出するための式を抽出した場合には、抽出した式の中から内蔵電源２４の電圧に応じた式を選択し、選択した式に基づき所定の閾値を算出して設定するように構成することも可能である。このように構成することで、内蔵電源２４の電圧が目標電圧に近づいても、内蔵電源２４の電圧によらず一定の閾値が設定される場合と比較して、内蔵電源２４の劣化の程度を高精度に判定することが可能となる。
【０１４３】
また、上記の各実施形態（第１実施形態、第２実施形態、充電制御部としての充電制御回路８１を充電装置に設けるように構成する実施形態）では、電子機器が放射線画像撮影装置１であり、充電装置がクレードル６０である場合について説明したが、この他にも、充電可能な内蔵電源２４を内蔵する電子機器であれば、ノート型パソコンや携帯電話、携帯情報端末などについても本発明を適用することが可能である。また、それらの充電装置についても本発明を適用することが可能である。
【符号の説明】
【０１４４】
１ 放射線画像撮影装置（電子機器）
２２ａ 本体制御部（判定部）
２４ 内蔵電源
４０ インジケータ（交換時期通知部、劣化レベル通知部）
６０ クレードル（充電装置）
７１ 通信部（交換時期通知部、劣化レベル通知部）
８１ 充電制御回路（充電制御部）
８２ 電圧検出回路（電圧検出部）
１００ 充電システム
【技術分野】
【０００１】
本発明は、充電システム、電子機器および充電装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
電子機器に内蔵された充電可能な内蔵電源（「キャパシタ」や「バッテリ」、「二次電池」、「蓄電デバイス」などともいう。）を充電するための充電装置や充電制御装置などが種々開発されている（例えば特許文献１〜４等参照）。
【０００３】
このような充電装置等は、例えば図１６（Ａ），（Ｂ）に示すように、内蔵電源の電圧が目標電圧Ｖ１（以下「上限電圧Ｖ１」ともいう。）に達するまで、充電電流が一定になるように充電を行う定電流充電を行うとともに、内蔵電源の電圧が目標電圧Ｖ１に達した場合に当該内蔵電源の電圧が一定になるように充電を行う定電圧充電に切り替えて、内部電源への充電を制御する充電制御部を備えるように構成されている場合がある。或いは、電子機器側に、このような充電制御部が設けられている場合もある。
【０００４】
ところで、内蔵電源が劣化すると、内部抵抗が増加したり、満充電容量が減少したりする。そのため、内蔵電源は、その使用温度環境と使用する電圧と使用頻度から予め交換周期を予測し当該交換周期に応じて交換されたり、或いは、内蔵電源の劣化をリアルタイムで判定し当該判定結果に基づいて交換されたりしている（例えば特許文献５参照）。
【０００５】
特許文献５には、内蔵電源（キャパシタ）の劣化をリアルタイムで判定する手法として、キャパシタの電圧（キャパシタ電圧）の上昇の傾きからキャパシタの劣化を判定する手法等が提案されている。
具体的には、劣化により満充電容量（キャパシタ容量）が低下すると充電できる電荷量が少なくなる。したがって、充電電流を同じとした場合には、例えば図１６に破線で示すように、キャパシタ電圧の上昇が早くなる。そのため、キャパシタ電圧の電圧上昇の傾きが所定の閾値よりも大きいときはキャパシタが劣化していると判定できる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開２００９−７７５０１号公報
【特許文献２】特開２００８−１０４２７０号公報
【特許文献３】特開２００７−３０６６５４号公報
【特許文献４】特開２００６−３３９１７号公報
【特許文献５】特開２００８−４３１７４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
しかしながら、図１６に破線で示すように、キャパシタが劣化すると、定電流充電時におけるキャパシタ電圧の電圧上昇の傾き、すなわち単位時間あたりの電圧上昇値である電圧上昇率が一定でなくなってくる。すなわち、キャパシタが劣化すると、キャパシタの電圧上昇率はキャパシタ電圧に応じて変化するようになる。そのため、キャパシタの劣化を判定するための閾値として、キャパシタ電圧によらず一定の閾値が設定されると、キャパシタの劣化を精度よく判定することができない。
【０００８】
具体的には、例えば図１７に示すように、キャパシタが劣化していない正常品である場合、すなわちキャパシタが新品または新品同様である場合には、キャパシタ電圧が下限電圧Ｖ０から上限電圧Ｖ１へと変化しても、キャパシタの電圧上昇率はほぼ一定である。
【０００９】
一方、キャパシタが劣化して交換すべき状態となった交換必要品である場合、すなわちキャパシタの劣化が進行して交換時期に達した場合には、正常品の電圧上昇率よりも電圧上昇率が大きくなるが、キャパシタ電圧が高くなるほど、すなわち上限電圧Ｖ１に近づくほど、正常品との電圧上昇率の違いが小さくなる。
また、キャパシタがさらに劣化して使用不可能な状態となった故障品である場合、すなわちキャパシタの劣化がさらに進行して寿命に達した場合には、交換必要品の電圧上昇率よりも電圧上昇率が大きくなるが、キャパシタ電圧が高くなるほど、すなわちキャパシタ電圧が上限電圧Ｖ１に近づくほど、正常品や交換必要品との電圧上昇率の違いが小さくなる。
【００１０】
そのため、キャパシタの劣化を判定するための閾値として、下限電圧Ｖ０での電圧上昇率を基準とした一定の閾値が設定されると、キャパシタが、下限電圧Ｖ０まで使い切らずに充電を繰り返すような使い方をされている場合には、キャパシタの劣化を検出することができない。
具体的には、例えば図１７に示すように、キャパシタが交換時期に達したことを判定するための閾値として、下限電圧Ｖ０での電圧上昇率を基準とした一定の閾値ΔＶth１が設定されたとする。この場合、キャパシタが下限電圧Ｖ０まで使い切らずに充電を繰り返すような使い方をされていると、キャパシタが交換時期に達していることを検出することができない。
【００１１】
また、下限電圧Ｖ０まで使い切らずに充電を繰り返すような場合でもキャパシタの劣化を検出できるよう、キャパシタの劣化を判定するための閾値として、下限電圧Ｖ０での電圧上昇率を基準とした一定の閾値よりも小さい一定の閾値を設定すると、キャパシタの劣化が無駄に検出されてしまう場合がある。
具体的には、キャパシタが交換時期に達したことを判定するための閾値としてΔＶth１よりも小さい一定の閾値が設定されたとする。この場合、キャパシタの電圧が小さい時には特に、キャパシタが交換時期に達していなくても交換時期に達したと検出されてしまう場合がある。
【００１２】
本発明は、上記の問題点を鑑みてなされたものであり、キャパシタの劣化の程度を精度よく判定することが可能な充電システム、電子機器および充電装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
前記の問題を解決するために、本発明の充電システムは、
充電可能な内蔵電源を内蔵する電子機器と、
前記内蔵電源の電圧が目標電圧に達するまで定電流充電を行うとともに、前記内蔵電源の電圧が前記目標電圧に達した場合に定電圧充電に切り替えて、前記内蔵電源への充電を制御する充電制御部と、
前記内蔵電源の電圧を検出する電圧検出部と、
前記内蔵電源の劣化の程度を判定する判定部と、
前記充電制御部を介して前記内蔵電源に電力を供給する充電装置と、を備え、
前記判定部は、前記充電制御部による前記定電流充電時に前記電圧検出部の検出結果に基づき前記内蔵電源の電圧上昇率を取得するとともに、前記電圧検出部により検出される前記内蔵電源の電圧に応じて所定の閾値を設定し、取得した前記内蔵電源の電圧上昇率と、取得した前記所定の閾値との比較により前記内蔵電源の劣化の程度を判定することを特徴とする。
【００１４】
また、本発明の電子機器は、
充電可能な内蔵電源を内蔵する電子機器において、
前記内蔵電源の電圧が目標電圧に達するまで定電流充電を行うとともに、前記内蔵電源の電圧が前記目標電圧に達した場合に定電圧充電に切り替えて、前記内蔵電源への充電を制御する充電制御部と、
前記内蔵電源の電圧を検出する電圧検出部と、
前記内蔵電源の劣化の程度を判定する判定部と、を備え、
前記判定部は、前記充電制御部による前記定電流充電時に前記電圧検出部の検出結果に基づき前記内蔵電源の電圧上昇率を取得するとともに、前記電圧検出部により検出される前記内蔵電源の電圧に応じて所定の閾値を設定し、取得した前記内蔵電源の電圧上昇率と、設定した前記所定の閾値との比較により前記内蔵電源の劣化の程度を判定することを特徴とする。
【００１５】
また、本発明の充電装置は、
電子機器が内蔵する内蔵電源に電力を供給する充電装置において、
前記内蔵電源の電圧が目標電圧に達するまで定電流充電を行うとともに、前記内蔵電源の電圧が前記目標電圧に達した場合に定電圧充電に切り替えて、前記内蔵電源への充電を制御する充電制御部と、
前記内蔵電源の電圧を検出する電圧検出部と、
前記内蔵電源の劣化の程度を判定する判定部と、を備え、
前記判定部は、前記充電制御部による前記定電流充電時に前記電圧検出部の検出結果に基づき前記内蔵電源の電圧上昇率を取得するとともに、前記電圧検出部により検出される前記内蔵電源の電圧に応じて所定の閾値を設定し、取得した前記内蔵電源の電圧上昇率と、設定した前記所定の閾値との比較により前記内蔵電源の劣化の程度を判定することを特徴とする。
【発明の効果】
【００１６】
本発明のような方式の充電システム、電子機器および充電装置によれば、内蔵電源の電圧に応じて内蔵電源の劣化の程度を判定するための閾値を設定するので、内蔵電源の電圧によらず一定の閾値が設定される場合と比較して、内蔵電源の劣化の程度を高精度に判定することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００１７】
【図１】電子機器の例としての放射線画像撮影装置の外観を示す斜視図である。
【図２】図１のＸ−Ｘ線に沿う断面図である。
【図３】図１の放射線画像撮影装置の回路構成を表すブロック図である。
【図４】充電装置の例としてのクレードルの外観を示す斜視図である。
【図５】図４に示すクレードルに放射線画像撮影装置が挿入された状態を示した斜視図である。
【図６】図４のクレードルの内部構成を模式的に示した図であり、クレードルに放射線画像撮影装置を挿入しようとする状態を示している。
【図７】図４のクレードルの内部構成を模式的に示した図であり、クレードルに放射線画像撮影装置が挿入された状態を示している。
【図８】充電システムの構成を概略的に表すブロック図である。
【図９】使用不可能判定用閾値の設定の仕方の一例を示す図である。
【図１０】使用不可能判定用閾値の設定の仕方の他の一例を示す図である。
【図１１】交換判定用閾値の設定の仕方の一例を示す図である。
【図１２】交換判定用閾値の設定の仕方の他の一例を示す図である。
【図１３】第１実施形態における充電制御に関する処理の一例を説明するためのフローチャートである。
【図１４】第２実施形態における充電制御に関する処理の一例を説明するためのフローチャートである。
【図１５】充電システムの構成の変形例を概略的に表すブロック図であり、充電制御回路等を充電装置であるクレードルに設けた場合を示す図である。
【図１６】定電流充電および定電圧充電について説明するための図である。
【図１７】内蔵電源の劣化について説明するための図である。
【発明を実施するための形態】
【００１８】
以下、図面を参照して、本発明の好適な実施形態について説明する。ただし、本発明を適用可能な実施形態はこれに限定されるものではない。また、本発明は図示例に限定されるものでもない。
【００１９】
なお、以下では、電子機器が放射線画像撮影装置であり、充電装置がクレードルである場合について説明するが、本発明は、この形態に限定されない。
また、以下では、放射線画像撮影装置として、シンチレータ等を備え、放射された放射線を可視光等の他の波長の電磁波に変換して電気信号を得る、いわゆる間接型の放射線画像撮影装置について説明するが、本発明は、シンチレータ等を介さずに放射線を放射線検出素子で直接検出する、いわゆる直接型の放射線画像撮影装置に対しても適用することができる。
また、放射線画像撮影装置が可搬型の放射線画像撮影装置である場合について説明するが、本発明は、支持台等と一体的に形成された固定型の放射線画像撮影装置に対しても適用することができる。
【００２０】
＜第１実施形態＞
本発明に係る第１実施形態では、充電制御回路８１（後述する図８参照）が、電子機器としての放射線画像撮影装置１に設けられている場合について説明する。
【００２１】
［放射線画像撮影装置の構成例について］
まず、電子機器の一例である放射線画像撮影装置１の構成例について説明する。
図１は、放射線画像撮影装置１の外観を示す斜視図である。また、図２は、図１のＸ−Ｘ線に沿う断面図である。
本実施形態において、放射線画像撮影装置１は、いわゆるフラットパネルディテクタ（以下「ＦＰＤ」という。）を可搬型に構成したカセッテ型ＦＰＤであり、放射線画像撮影に用いられ、放射線を検出して当該放射線の線量に応じた画像データを生成して取得するものである。
【００２２】
放射線画像撮影装置１は、図１や図２に示すように、筐体２内にシンチレータ３や基板４などで構成されるセンサパネルＳＰが収納されて構成されている。
【００２３】
本実施形態において、筐体２のうち、放射線入射面Ｒを有する中空の角筒状のハウジング本体部２Ａは、放射線を透過するカーボン板やプラスチックなどの材料で形成されている。このハウジング本体部２Ａの両側の開口部を蓋部材２Ｂ、２Ｃで閉塞することで筐体２が形成されている。
なお、筐体２をこのようないわゆるモノコック型として形成する代わりに、例えば、フロント板とバック板とで形成された、いわゆる弁当箱型とすることも可能である。
【００２４】
本実施形態において、筐体２の一方側の蓋部材２Ｂには、電源スイッチ３７や切替スイッチ３８などが配置されている。
また、本実施形態において、蓋部材２Ｂには、内蔵電源２４（図２や後述する図３参照）の状態や放射線画像撮影装置１の稼働状態などを表示するＬＥＤ等で構成されたインジケータ４０が配置されている。
【００２５】
また、本実施形態において、蓋部材２Ｂには、クレードル６０のコネクタ７１（後述する図６や図７参照）と接続可能なコネクタ３９が配置されている。このコネクタ３９が、クレードル６０のコネクタ７１と接続することで、充電装置としてのクレードル６０から放射線画像撮影装置１に電力が供給されるようになっている。
【００２６】
また、図示を省略するが、本実施形態において、筐体２の他方側の蓋部材２Ｃには、外部装置との間で無線通信を行うためのアンテナ装置４１ａ（後述する図８参照）が、例えば蓋部材２Ｃに埋め込まれる等して設けられている。
【００２７】
図２に示すように、筐体２の内部には、基板４の下方側に鉛の薄板等（図示省略）を介して基台３１が配置されている。この基台３１には、電子部品３２等が配設されたＰＣＢ基板３３や内蔵電源２４などが取り付けられている。
また、基板４やシンチレータ３の放射線入射面Ｒ側の面には、それらを保護するためのガラス基板３４が配設されている。
また、本実施形態においては、センサパネルＳＰと筐体２の側面との間に、それらがぶつかり合うことを防止するための緩衝材３５が設けられている。
【００２８】
図示を省略するが、基板４の検出部Ｐ上には、フォトダイオード等からなる複数の放射線検出素子７が二次元状（マトリクス状）に配列されている。各放射線検出素子７には、スイッチ素子としての薄膜トランジスタ（Thin Film Transistor。以下「ＴＦＴ」という。）８や走査線５、信号線６、バイアス線９などが接続されている。
また、基板４の検出部Ｐは、シンチレータ３に対向するように設けられている。
【００２９】
次に、放射線画像撮影装置１の回路構成について説明する。
図３は、本実施形態に係る放射線画像撮影装置１の等価回路を表すブロック図である。
【００３０】
複数の放射線検出素子７が基板４上に二次元状に配列されて検出部Ｐが形成されている。
また、各放射線検出素子７の第２電極７ｂにはそれぞれバイアス線９が接続されており、各バイアス線９は結線１０に結束されてバイアス電源１４に接続されている。そして、バイアス電源１４は、結線１０および各バイアス線９を介して各放射線検出素子７の第２電極７ｂにそれぞれ逆バイアス電圧を印加する。
【００３１】
走査駆動回路１５では、電源回路１５ａからゲートドライバ１５ｂに配線１５ｃを介してオン電圧やオフ電圧が供給される。そして、ゲートドライバ１５ｂで走査線５の各ラインＬ１〜Ｌｘに印加する電圧をオン電圧とオフ電圧との間で切り替えて、各ＴＦＴ８のオン状態とオフ状態とを切り替えることで、各放射線検出素子７からの画像データの読み出し処理等を行うように構成されている。
【００３２】
各信号線６は、読み出しＩＣ１６内に形成された各読み出し回路１７にそれぞれ接続されている。読み出し回路１７は、増幅回路１８や相関二重サンプリング回路１９などで構成されている。
読み出しＩＣ１６内には、さらに、アナログマルチプレクサ２１が設けられている。また、読み出しＩＣ１６は、Ａ／Ｄ変換部２０を介して制御手段２２に接続されている。
【００３３】
そして、例えば、各放射線検出素子７からの画像データの読み出し処理の際には、ゲートドライバ１５ｂからオン電圧が印加された走査線５に接続されているＴＦＴ８がオン状態になり、オン状態になったＴＦＴ８に接続されている放射線検出素子７から信号線６に電荷が放出され、放出された電荷が読み出し回路１７の増幅回路１８で電荷電圧変換される。
【００３４】
そして、増幅回路１８の出力側に設けられた相関二重サンプリング回路１９で、放射線検出素子７から電荷が放出される前後の増幅回路１８からの出力値の差分を算出し、算出した差分をアナログ値の画像データとして出力する。そして、出力されたアナログ値の画像データが、アナログマルチプレクサ２１を介して順次Ａ／Ｄ変換部２０に送信され、Ａ／Ｄ変換部２０で順次デジタル値の画像データに変換されて出力され、記憶手段２３に順次保存される。このようにして、各放射線検出素子７からの画像データの読み出し処理が順次行われる。
【００３５】
制御手段２２は、放射線画像撮影装置１の各機能部の動作等を制御する。
具体的には、制御手段２２は、ＣＰＵ（Central Processing Unit）等により構成される本体制御部２２ａ（後述する図８参照）、ＲＯＭ（Read Only Memory。図示省略）、ＲＡＭ（Random Access Memory）２２ｂ（後述する図８参照）、入出力インターフェース（図示省略）等がバスに接続されたコンピュータや、ＦＰＧＡ（Field Programmable Gate Array）などにより構成されている。なお、制御手段２２は、専用の制御回路で構成されていてもよい。
【００３６】
また、制御手段２２には、ＤＲＡＭ（Dynamic ＲＡＭ）等で構成される記憶手段２３が接続されている。
また、本実施形態において、制御手段２２には、アンテナ装置４１ａを有する通信部４１（後述する図８参照）や信号処理部２５（後述する図８参照）、電源スイッチ３７、切替スイッチ３８、コネクタ３９、インジケータ４０なども接続されている。
【００３７】
ここで、通信部４１は、コンソール１０１等の外部装置との間で各種信号の送受信を行う。
具体的には、通信部４１は、アンテナ装置４１ａにより、無線アクセスポイント（図示省略）を介して無線方式でコンソール１０１等の外部装置との間で通信を行うことが可能となっている。
また、通信部４１は、放射線画像撮影装置１のコネクタ３９とクレードル６０のコネクタ７１とが接続されている場合に、クレードル６０を介して有線方式でコンソール１０１等の外部装置との間で通信を行うことも可能となっている。
【００３８】
また、信号処理部２５は、各放射線検出素子７から読み出されＡ／Ｄ変換部２０でアナログ値のデータからデジタル値のデータに変換された画像データに所定の信号処理を施すことによって、画像データを外部に送信するのに適した形式のデータに変換する。
すなわち、本実施形態において、各放射線検出素子７から読み出されＡ／Ｄ変換部２０でアナログ値のデータからデジタル値のデータに変換された画像データは、信号処理部２５で外部に送信するのに適した形式のデータに変換されて、その後、通信部４１からコンソール１０１等の外部装置に送信されるようになっている。
【００３９】
また、本実施形態において、制御手段２２には、制御手段２２や走査駆動回路１５、読み出し回路１７、記憶手段２３、バイアス電源１４などの各機能部に電力を供給するための内蔵電源２４が接続されている。
なお、本実施形態では、内蔵電源２４として、リチウムイオンキャパシタ（ＬＩＣ）が用いられているが、本発明はこれに限定されるものではない。内蔵電源２４は、充電可能な内蔵電源であれば、電気二重層キャパシタ等の蓄電デバイスや通常のバッテリや二次電池などであってもよい。
【００４０】
なお、図３では図示を省略したが、本実施形態において、内蔵電源２４には、内蔵電源２４への充電を制御する充電制御回路８１（後述する図８参照）が接続されている。この点については、後で詳しく説明する。
【００４１】
［クレードルの構成例について］
次に、充電装置の一例であるクレードル６０の構成例について説明する。
図４は、クレードル６０の外観を示す斜視図である。また、図５は、図４に示すクレードル６０に放射線画像撮影装置１が挿入された状態を示した斜視図である。
また、図６および図７は、クレードル６０の内部構成を模式的に示した図であり、図６はクレードル６０に放射線画像撮影装置１を挿入しようとする状態を示しており、図７はクレードル６０に放射線画像撮影装置１を挿入した状態を示している。
【００４２】
図４や図５に示すように、クレードル６０はほぼ直方体形状に形成され上面に開口部６１ａを有する筐体６１と、この筐体６１の開口部６１ａを被覆する被覆部材６２とを備えている。また、筐体６１の一端部には、クレードル６０を動作させる各種のスイッチ６３が設けられている。
【００４３】
図６や図７に示すように、筐体６１の内部には、筐体６１の長手方向に延在し、放射線画像撮影装置１を鉛直方向に収容する装置収容部６４が設けられている。また、筐体６１には基板６５上に配置された各種電子部品６６が収納されている。
電子部品６６には、例えば放射線画像撮影装置１の充電制御回路８１（後述する図８参照）に一定の電圧の直流電圧を供給するために、外部の交流電源から供給された交流電圧を直流電圧に変換するＡＣ／ＤＣコンバータ等を備えた安定化電源回路６６ａ（後述する図８参照）等が含まれている。
【００４４】
また、装置収容部６４は、装置収容部６４の側壁を構成する前側壁部材６７と奥側壁部材６８とを備えている。前側壁部材６７の上端部と奥側壁部材６８の上端部とによって放射線画像撮影装置１が挿入される挿入口６９（図６参照）が形成されている。放射線画像撮影装置１は、挿入口６９から前側壁部材６７と奥側壁部材６８の間に挿入されるように構成されている。
【００４５】
前側壁部材６７の内側部には、放射線画像撮影装置１を装置収容部６４内部に案内する案内部材６７ａが取り付けられている。奥側壁部材６８の内側面には、緩衝部材６８ａが長手方向の全面に亘って設けられている。
【００４６】
装置収容部６４は、その厚み方向の内寸法が放射線画像撮影装置１の厚み方向の外寸法に合わせた寸法となっている。また、装置収容部６４内の挿入口６９付近には、挿入口６９から挿入された放射線画像撮影装置１を一時的に保持する装置保持手段７０が配置されている。
【００４７】
装置収容部６４内の底部には、放射線画像撮影装置１側のコネクタ３９と接続可能なクレードル６０側のコネクタ７１が配置されている。クレードル６０側のコネクタ７１は、ケーブル（図示省略）を介して電子部品６６と電気的に接続されている。
【００４８】
本実施形態では、図６に示すように、放射線画像撮影装置１がクレードル６０に斜めに挿入されると、放射線画像撮影装置１に押されて挿入口６９を被覆する蓋部材７２が、被覆部材６２に沿って奥側（図中では左側）に退避する。
【００４９】
そして、略鉛直方向に向けられた放射線画像撮影装置１が挿入口６９から挿入されると、放射線画像撮影装置１のコネクタ３９が設けられた側の蓋部材２Ｂが一旦装置保持手段７０に当接して保持された後、図７に示すように装置保持手段７０が下方に回動することで、放射線画像撮影装置１が装置収容部６４内に収容される。
【００５０】
そして、前述したように、装置収容部６４の厚み方向の内寸法が放射線画像撮影装置１の厚み方向の外寸法に合わせた寸法となっているため、装置収容部６４内に収容された放射線画像撮影装置１側のコネクタ３９が、自動的にクレードル６０側のコネクタ７１に接続可能な位置に適切に位置決めされた状態で接続されるように構成されている。
【００５１】
［充電システムの構成例について］
次に、本実施形態に係る充電システム１００の構成について説明する。
図８は、充電システム１００の構成を概略的に表すブロック図である。
【００５２】
図８に示すように、本実施形態において、放射線画像撮影装置１における内蔵電源２４と各機能部との間には、電圧検出回路８２と電源回路８３とが設けられている。
電圧検出回路８２は、内蔵電源２４の電圧、すなわち内蔵電源２４に充電されている充電電圧を検出する電圧検出部として機能する。
電源回路８３は、内蔵電源２４から供給される電力を供給先の各機能部に適するように、その電圧値等を適宜変換・調整する。
【００５３】
また、図８に示すように、本実施形態において、放射線画像撮影装置１におけるコネクタ３９と内蔵電源２４との間には、充電制御回路８１が設けられている。充電制御回路８１は、内蔵電源２４の電圧が目標電圧（例えば、内蔵電源２４の定格電圧）に達するまで定電流充電を行うとともに、内蔵電源２４の電圧が目標電圧に達した場合に定電圧充電に切り替えて、内蔵電源２４への充電を制御する充電制御部として機能する。
【００５４】
また、本実施形態において、放射線画像撮影装置１が備える制御手段２２の本体制御部２２ａは、充電制御回路８１による定電流充電時に電圧検出回路８２の検出結果に基づいて内蔵電源２４の電圧上昇率、すなわち単位時間あたりの電圧上昇値を取得する。また、電圧検出回路８２により検出される内蔵電源２４の電圧に応じて所定の閾値を設定する。そして、取得した内蔵電源２４の電圧上昇率と、設定した所定の閾値との比較により内蔵電源２４の劣化の程度を判定するように構成されている。
すなわち、本体制御部２２ａは、内蔵電源２４の劣化の程度を判定する判定部として機能する。
【００５５】
本実施形態において、所定の閾値は、内蔵電源２４が使用不可能な程度に劣化しているか否かを判定するための使用不可能判定用閾値を含んでいる。
なお、「使用不可能な程度に劣化」とは、内蔵電源２４の内部抵抗が増加したり満充電容量が減少したりして、例えば、内蔵電源２４をこれ以上充電したり使用したりすると、内蔵電源２４が膨らんだり高温になったりする等の危険な状態になる可能性がある程度に、内蔵電源２４が劣化していることをいう。したがって、内蔵電源２４が使用不可能な程度に劣化している場合、当該内蔵電源２４は故障品であると言える。
【００５６】
そして、本体制御部２２ａは、内蔵電源２４の電圧上昇率が、内蔵電源２４の電圧に応じて設定した使用不可能判定用閾値を上回る場合に、内蔵電源２４が使用不可能な程度に劣化していると判定するように構成されている。
【００５７】
また、充電制御回路８１は、本体制御部２２ａにより内蔵電源２４が使用不可能な程度に劣化していると判定された場合に、内蔵電源２４への充電を停止するように構成されている。
【００５８】
ここで、使用不可能判定用閾値は、電圧検出回路８２により検出される内蔵電源２４の電圧に応じて設定可能となっている。
具体的には、例えば、使用不可能判定用閾値として、図９等に示す「故障品」の電圧−電圧上昇率特性曲線を基準に決定したΔＶth２ａ（Ｖ０≦Ｖbat＜Ｖ２）と、ΔＶth２ａよりも小さいΔＶth２ｂ（Ｖ２≦Ｖbat≦Ｖ１）との２つの閾値をＲＡＭ２２ｂ等に予め記憶しておく。そして、例えば図９に示すように、本体制御部２２ａは、電圧検出回路８２により検出された内蔵電源２４の電圧Ｖbatが下限電圧Ｖ０以上であり電圧Ｖ２未満であれば、使用不可能判定用閾値ΔＶth２ａを設定する。また、本体制御部２２ａは、電圧検出回路８２により検出された内蔵電源２４の電圧Ｖbatが電圧Ｖ２以上であり上限電圧Ｖ１以下であれば、使用不可能判定用閾値ΔＶth２ｂを設定するように構成することが可能である。この際、本体制御部２２ａは、内蔵電源２４の電圧上昇率が、内蔵電源２４の電圧に応じて設定した使用不可能判定用閾値ΔＶth２ａまたは使用不可能判定用閾値ΔＶth２ｂを上回る場合に、当該内蔵電源２４が使用不可能な程度に劣化していると判定する。
【００５９】
なお、図９では、使用不可能判定用閾値としてΔＶth２ａおよびΔＶth２ｂの２つを予め記憶しておき、当該２つの閾値の中から電圧検出回路８２により検出される内蔵電源２４の電圧Ｖbatに応じて１つの閾値を選択して設定するように構成したが、これに限定されるものではない。複数の使用不可能判定用閾値の中から内蔵電源２４の電圧Ｖbatに応じて１つの閾値を選択して設定することができるのであれば、予め記憶されている使用不可能判定用閾値の個数は任意である。
【００６０】
或いは、例えば、使用不可能判定用閾値を算出するための式として、図１０等に示す「故障品」の電圧−電圧上昇率特性曲線を基準に決定したΔＶth３ａ＝−Ｋ３ａ×Ｖbat＋Ｓ３ａ（Ｖ０≦Ｖbat＜Ｖ３）と、ΔＶth３ａよりも傾きが緩やかなΔＶth３ｂ＝−Ｋ３ｂ×Ｖbat＋Ｓ３ｂ（Ｖ３≦Ｖbat≦Ｖ１）との２つの直線の式がＲＡＭ２２ｂ等に予め記憶されていてもよい。この場合、例えば図１０に示すように、本体制御部２２ａは、電圧検出回路８２により検出された内蔵電源２４の電圧Ｖbatが下限電圧Ｖ０以上であり電圧Ｖ３未満であれば、使用不可能判定用閾値を算出するための式ΔＶth３ａ＝−Ｋ３ａ×Ｖbat＋Ｓ３ａに電圧検出回路８２により検出された内蔵電源２４の電圧Ｖbatを代入して使用不可能判定用閾値ΔＶth３ａを算出し、算出した使用不可能判定用閾値ΔＶth３ａを設定する。また、本体制御部２２ａは、電圧検出回路８２により検出された内蔵電源２４の電圧Ｖbatが電圧Ｖ３以上であり上限電圧Ｖ１以下であれば、使用不可能判定用閾値を算出するための式ΔＶth３ｂ＝−Ｋ３ｂ×Ｖbat＋Ｓ３ｂに電圧検出回路８２により検出された内蔵電源２４の電圧Ｖbatを代入して使用不可能判定用閾値ΔＶth３ｂを算出し、算出した使用不可能判定用閾値ΔＶth３ｂを設定するように構成することが可能である。この際、本体制御部２２ａは、内蔵電源２４の電圧上昇率が、内蔵電源２４の電圧に応じて設定した使用不可能判定用閾値ΔＶth３ａまたは使用不可能判定用閾値ΔＶth３ｂを上回る場合に、当該内蔵電源２４が使用不可能な程度に劣化していると判定する。
【００６１】
なお、図１０では、使用不可能判定用閾値を算出するための式としてΔＶth３ａ＝−Ｋ３ａ×Ｖbat＋Ｓ３ａおよびΔＶth３ｂ＝−Ｋ３ｂ×Ｖbat＋Ｓ３ｂの２つ、すなわち負の傾きを持つ直線の式２つを予め記憶しておき、当該２つの式の中から電圧検出回路８２により検出される内蔵電源２４の電圧Ｖbatに応じて１つの式を選択し、選択した１つの式に基づき使用不可能判定用閾値を算出して設定するように構成したが、これに限定されるものではない。複数の直線の式の中から内蔵電源２４の電圧Ｖbatに応じて１つの式を選択し、選択した１つの式に基づき使用不可能判定用閾値を算出して設定することができるのであれば、予め記憶されている使用不可能判定用閾値を算出するための式の個数は任意である。
【００６２】
また、使用不可能判定用閾値が、電圧検出回路８２により検出される内蔵電源２４の電圧に応じて設定可能であれば、使用不可能判定用閾値を算出するための式の種類およびその個数は任意である。具体的には、使用不可能判定用閾値を算出するための式は、１つの直線の式（ただし、傾き≠０）であってもよいし、前述したように複数の直線の式の組み合わせであってもよいし、１つの曲線の式であってもよいし、複数の曲線の式の組み合わせであってもよい。
【００６３】
また、本実施形態において、所定の閾値は、内蔵電源２４が交換すべき程度に劣化しているか否かを判定するための交換判定用閾値を含んでいる。
なお、「交換すべき程度に劣化」とは、内蔵電源２４の内部抵抗が増加したり満充電容量が減少したりして、例えば、内蔵電源２４をこれ以上充電したり使用したりすると、放射線画像撮影装置１の使用の仕方（例えば、使用頻度および１回に使用する時間）を同じとした場合に、内蔵電源２４への充電頻度が高くなる等の効率の悪い状態になる可能性がある程度に、内蔵電源２４が劣化していることをいう。したがって、内蔵電源２４が交換すべき程度に劣化している場合、当該内蔵電源２４は交換必要品であると言える。
【００６４】
そして、本体制御部２２ａは、内蔵電源２４の電圧上昇率が、内蔵電源２４の電圧に応じて設定した交換判定用閾値を上回る場合に、内蔵電源２４が交換すべき程度に劣化していると判定するように構成されている。
【００６５】
また、本体制御部２２ａは、内蔵電源２４が交換すべき程度に劣化していると判定した場合に、当該内蔵電源２４が交換時期に達したことをインジケータ４０によって放射線技師等の操作者に通知するように構成されている。すなわち、インジケータ４０は、内蔵電源２４が交換時期に達したことを通知する交換時期通知部として機能する。
【００６６】
なお、本実施形態では、内蔵電源２４が交換時期に達したことをインジケータ４０によって放射線技師等の操作者に通知するように構成したが、内蔵電源２４が交換時期に達したことを通知できるのであれば、これに限定されるものではない。具体的には、例えば、本体制御部２２ａは、内蔵電源２４が交換時期に達したことを、通信部４１によって有線方式または無線方式でコンソール１０１等の外部装置に通知するように構成することも可能である。この場合、通信部４１が交換時期通知部として機能する。また、コンソール１０１等の外部装置に、当該通知に応じて内蔵電源２４が交換時期に達したことを報知するための報知手段（例えば、表示部等）を備えるように構成することも可能である。
【００６７】
ここで、交換判定用閾値は、電圧検出回路８２により検出される内蔵電源２４の電圧に応じて設定可能となっている。
具体的には、例えば、交換判定用閾値として、図１１等に示す「交換必要品」の電圧−電圧上昇率特性曲線を基準に決定したΔＶth４ａ（Ｖ０≦Ｖbat＜Ｖ４）と、ΔＶth４ａよりも小さいΔＶth４ｂ（Ｖ４≦Ｖbat≦Ｖ１）との２つの閾値をＲＡＭ２２ｂ等に予め記憶しておく。そして、例えば図１１に示すように、本体制御部２２ａは、電圧検出回路８２により検出された内蔵電源２４の電圧Ｖbatが下限電圧Ｖ０以上であり電圧Ｖ４未満であれば、交換判定用閾値ΔＶth４ａを設定する。また、本体制御部２２ａは、電圧検出回路８２により検出された内蔵電源２４の電圧Ｖbatが電圧Ｖ４以上であり上限電圧Ｖ１以下であれば、交換判定用閾値ΔＶth４ｂを設定するように構成することが可能である。この際、本体制御部２２ａは、内蔵電源２４の電圧上昇率が、内蔵電源２４の電圧に応じて設定した交換判定用閾値ΔＶth４ａまたは交換判定用閾値ΔＶth４ｂを上回る場合に、当該内蔵電源２４が交換すべき程度に劣化していると判定する。
【００６８】
なお、図１１では、交換判定用閾値としてΔＶth４ａおよびΔＶth４ｂの２つを予め記憶しておき、当該２つの閾値の中から電圧検出回路８２により検出される内蔵電源２４の電圧Ｖbatに応じて１つの閾値を選択して設定するように構成したが、これに限定されるものではない。複数の交換判定用閾値の中から内蔵電源２４の電圧Ｖbatに応じて１つの閾値を選択して設定することができるのであれば、予め記憶されている交換判定用閾値の個数は任意である。
【００６９】
或いは、例えば、交換判定用閾値を算出するための式として、図１２等に示す「交換必要品」の電圧−電圧上昇率特性曲線を基準に決定したΔＶth５ａ＝−Ｋ５ａ×Ｖbat＋Ｓ５ａ（Ｖ０≦Ｖbat＜Ｖ５）と、ΔＶth５ａよりも傾きが緩やかなΔＶth５ｂ＝−Ｋ５ｂ×Ｖbat＋Ｓ５ｂ（Ｖ５≦Ｖbat≦Ｖ１）との２つの直線の式がＲＡＭ２２ｂ等に予め記憶されていてもよい。この場合、例えば図１２に示すように、本体制御部２２ａは、電圧検出回路８２により検出された内蔵電源２４の電圧Ｖbatが下限電圧Ｖ０以上であり電圧Ｖ５未満であれば、交換判定用閾値を算出するための式ΔＶth５ａ＝−Ｋ５ａ×Ｖbat＋Ｓ５ａに電圧検出回路８２により検出された内蔵電源２４の電圧Ｖbatを代入して交換判定用閾値ΔＶth５ａを算出し、算出した交換判定用閾値ΔＶth５ａを設定する。また、本体制御部２２ａは、電圧検出回路８２により検出された内蔵電源２４の電圧Ｖbatが電圧Ｖ５以上であり上限電圧Ｖ１以下であれば、交換判定用閾値を算出するための式ΔＶth５ｂ＝−Ｋ５ｂ×Ｖbat＋Ｓ５ｂに電圧検出回路８２により検出された内蔵電源２４の電圧Ｖbatを代入して交換判定用閾値ΔＶth５ｂを算出し、算出した交換判定用閾値ΔＶth５ｂを設定するように構成することが可能である。この際、本体制御部２２ａは、内蔵電源２４の電圧上昇率が、内蔵電源２４の電圧に応じて設定した交換判定用閾値ΔＶth５ａまたは交換判定用閾値ΔＶth５ｂを上回る場合に、当該内蔵電源２４が交換すべき程度に劣化していると判定する。
【００７０】
なお、図１２では、交換判定用閾値を算出するための式としてΔＶth５ａ＝−Ｋ５ａ×Ｖbat＋Ｓ５ａおよびΔＶth５ｂ＝−Ｋ５ｂ×Ｖbat＋Ｓ５ｂの２つ、すなわち負の傾きを持つ直線の式２つを予め記憶しておき、当該２つの式の中から電圧検出回路８２により検出される内蔵電源２４の電圧Ｖbatに応じて１つの式を選択し、選択した１つの式に基づき交換判定用閾値を算出して設定するように構成したが、これに限定されるものではない。複数の直線の式の中から内蔵電源２４の電圧Ｖbatに応じて１つの式を選択し、選択した１つの式に基づき交換判定用閾値を算出して設定することができるのであれば、予め記憶されている交換判定用閾値を算出するための式の個数は任意である。
【００７１】
また、交換判定用閾値が、電圧検出回路８２により検出される内蔵電源２４の電圧に応じて設定可能であれば、交換判定用閾値を算出するための式の種類およびその個数は任意である。具体的には、交換判定用閾値を算出するための式は、１つの直線の式（ただし、傾き≠０）であってもよいし、前述したように複数の直線の式の組み合わせであってもよいし、１つの曲線の式であってもよいし、複数の曲線の式の組み合わせであってもよい。
【００７２】
以下、本実施形態に係る充電システム１００および放射線画像撮影装置１の作用について、図１３のフローチャートを参照して説明する。
図１３は、本実施形態の放射線画像撮影装置１による充電制御に関する処理の一例を説明するためのフローチャートである。
【００７３】
まず、放射線画像撮影装置１が備える制御手段２２の本体制御部２２ａは、充電制御回路８１が定電流充電を行っているか否かを判断する（ステップＳ１０１）。
ステップＳ１０１で、充電制御回路８１が定電流充電を行っていないと判断した場合（ステップＳ１０１；Ｎｏ）、本体制御部２２ａは、ステップＳ１０１の処理を繰り返して行う。
【００７４】
一方、ステップＳ１０１で、充電制御回路８１が定電流充電を行っていると判断した場合（ステップＳ１０１；Ｙｅｓ）、本体制御部２２ａは、電圧検出回路８２の検出結果に基づいて、内蔵電源２４の電圧上昇率および内蔵電源２４の電圧を取得する（ステップＳ１０２）。
具体的には、本体制御部２２ａは、第１時点で電圧検出回路８２により検出された内蔵電源２４の電圧と、第１時点よりも後の第２時点で電圧検出回路８２により検出された内蔵電源２４の電圧と、第１時点から第２時点までに要する時間とに基づいて、単位時間あたりの電圧上昇値である電圧上昇率（＝（（第２時点での内蔵電源２４の電圧）−（第１時点での内蔵電源２４の電圧））／（第１時点から第２時点までの時間））を算出して取得する。
また、本体制御部２２ａは、第２時点で電圧検出回路８２により検出された内蔵電源２４の電圧（或いは、第１時点で電圧検出回路８２により検出された内蔵電源２４の電圧であってもよい。）を、内蔵電源２４の電圧として取得する。
【００７５】
次いで、本体制御部２２ａは、ステップＳ１０２で取得した内蔵電源２４の電圧に応じて、使用不可能判定用閾値および交換判定用閾値を設定する（ステップＳ１０３）。
【００７６】
具体的には、例えば、ＲＡＭ２２ｂ等に複数の使用不可能判定用閾値が記憶されている場合には、本体制御部２２ａは、複数の使用不可能判定用閾値のうちステップＳ１０２で取得した内蔵電源２４の電圧に対応する閾値を設定する。
或いは、例えば、ＲＡＭ２２ｂ等に複数の使用不可能判定用閾値を算出するための式が記憶されている場合には、本体制御部２２ａは、複数の使用不可能判定用閾値を算出するための式のうちステップＳ１０２で取得した内蔵電源２４の電圧に対応する式を選択し、選択した式に基づき使用不可能判定用閾値を算出して設定する。
【００７７】
また、例えば、例えば、ＲＡＭ２２ｂ等に複数の交換判定用閾値が記憶されている場合には、本体制御部２２ａは、複数の交換判定用閾値のうちステップＳ１０２で取得した内蔵電源２４の電圧に対応する閾値を設定する。
或いは、例えば、ＲＡＭ２２ｂ等に複数の交換判定用閾値を算出するための式が記憶されている場合には、本体制御部２２ａは、複数の交換判定用閾値を算出するための式のうちステップＳ１０２で取得した内蔵電源２４の電圧に対応する式を選択し、選択した式に基づき交換判定用閾値を算出して設定する。
【００７８】
このように、本実施形態においては、内蔵電源２４の電圧に応じて使用不可能判定用閾値や交換判定用閾値を設定するので、内蔵電源２４の電圧によらず一定の使用不可能判定用閾値や一定の交換判定用閾値が設定される場合と比較して、内蔵電源２４が使用不可能な程度に劣化しているか否かや、内蔵電源２４が交換すべき程度に劣化しているか否かを、高精度に判定することが可能となる。
【００７９】
図９等に示すように、内蔵電源２４が劣化していない正常品である場合、すなわち内蔵電源２４が新品または新品同様である場合には、内蔵電源２４の電圧が下限電圧Ｖ０から上限電圧Ｖ１へと変化しても、内蔵電源２４の電圧上昇率はほぼ一定である。
【００８０】
一方、内蔵電源２４が劣化して交換すべき状態となった交換必要品である場合、すなわち内蔵電源２４の劣化が進行して交換時期に達した場合には、正常品の電圧上昇率よりも電圧上昇率が大きくなるが、内蔵電源２４の電圧が高くなるほど、すなわち上限電圧Ｖ１に近づくほど、正常品との電圧上昇率の違いが小さくなる。
また、内蔵電源２４がさらに劣化して使用不可能な状態となった故障品である場合、すなわち内蔵電源２４の劣化がさらに進行して寿命に達した場合には、交換必要品の電圧上昇率よりも電圧上昇率が大きくなるが、内蔵電源２４の電圧が高くなるほど、すなわち内蔵電源２４の電圧が上限電圧Ｖ１に近づくほど、正常品や交換必要品との電圧上昇率の違いが小さくなる。
【００８１】
そのため、例えば図１７に示すように、交換判定用閾値として、下限電圧Ｖ０での電圧上昇率を基準とした一定の交換判定用閾値ΔＶth１が設定されると、内蔵電源２４が下限電圧Ｖ０まで使い切らずに充電を繰り返すような使い方をされている場合には、内蔵電源２４が交換すべき程度に劣化していることを検出することができない。
また、内蔵電源２４が下限電圧Ｖ０まで使い切らずに充電を繰り返すような使い方をされている場合でも内蔵電源２４が交換すべき程度に劣化していることを検出できるよう、交換判定用閾値としてΔＶth１よりも小さい一定の交換判定用閾値を設定すると、内蔵電源２４の電圧が小さい時には特に、内蔵電源２４が交換すべき状態でなくても内蔵電源２４が交換すべき程度に劣化していると検出されてしまう場合がある。
【００８２】
これに対し、本実施形態においては、内蔵電源２４の電圧に応じて交換判定用閾値を設定するように構成されている。具体的には、内蔵電源２４の電圧が比較的低い場合には、比較的大きな交換判定用閾値ΔＶth４ａまたはΔＶth５ａを設定し、内蔵電源２４の電圧が比較的高い場合には、比較的小さな交換判定用閾値ΔＶth４ｂまたはΔＶth５ｂを設定するように構成されている。
【００８３】
そのため、内蔵電源２４の電圧によらず一定の交換判定用閾値が設定される場合に生じる問題、具体的には、内蔵電源２４が下限電圧Ｖ０まで使い切らずに充電を繰り返すような使い方をされている場合に内蔵電源２４が交換すべき程度に劣化していることを検出することができないという問題や、内蔵電源２４の電圧が小さい場合に内蔵電源２４が交換すべき状態でなくても内蔵電源２４が交換すべき程度に劣化していると検出されてしまうという問題を、発生し難くすることが可能となる。そのため、内蔵電源２４が交換すべき程度に劣化していることを精度良く判定することが可能となる。
【００８４】
また、使用不可能判定用閾値として、下限電圧Ｖ０での電圧上昇率を基準とした一定の使用不可能判定用閾値（以下「使用不可能判定用閾値Ａ」という。）が設定されると、内蔵電源２４が、下限電圧Ｖ０まで使い切らずに充電を繰り返すような使い方をされている場合には、内蔵電源２４が使用不可能な程度に劣化していることを検出することができない。
また、内蔵電源２４が下限電圧Ｖ０まで使い切らずに充電を繰り返すような使い方をされている場合でも内蔵電源２４が使用不可能な程度に劣化していることを検出できるよう、使用不可能判定用閾値として使用不可能判定用閾値Ａよりも小さい一定の使用不可能判定用閾値を設定すると、内蔵電源２４の電圧が小さい時には特に、内蔵電源２４が使用不可能な状態でなくても内蔵電源２４が使用不可能な程度に劣化していると検出されてしまう場合がある。
【００８５】
これに対し、本実施形態においては、内蔵電源２４の電圧に応じて使用不可能判定用閾値を設定するように構成されている。具体的には、内蔵電源２４の電圧が比較的低い場合には、比較的大きな使用不可能判定用閾値ΔＶth２ａまたはΔＶth３ａを設定し、内蔵電源２４の電圧が比較的高い場合には、比較的小さな使用不可能判定用閾値ΔＶth２ｂまたはΔＶth３ｂを設定するように構成されている。
【００８６】
そのため、内蔵電源２４の電圧によらず一定の使用不可能判定用閾値が設定される場合に生じる問題、具体的には、内蔵電源２４が下限電圧Ｖ０まで使い切らずに充電を繰り返すような使い方をされている場合に内蔵電源２４が使用不可能な程度に劣化していることを検出することができないという問題や、内蔵電源２４の電圧が小さい場合に内蔵電源２４が使用不可能な状態でなくても内蔵電源２４が使用不可能な程度に劣化していると検出されてしまうという問題を、発生し難くすることが可能となる。そのため、内蔵電源２４が使用不可能な程度に劣化していることを精度良く判定することが可能となる。
【００８７】
次いで、本体制御部２２ａは、ステップＳ１０２で取得した内蔵電源２４の電圧上昇率が、ステップＳ１０３で設定した使用不可能判定用閾値を上回るか否かを判定する（ステップＳ１０４）。
【００８８】
ステップＳ１０４で、内蔵電源２４の電圧上昇率が、内蔵電源２４の電圧に応じて設定した使用不可能判定用閾値を上回ると判定した場合（ステップＳ１０４；Ｙｅｓ）、本体制御部２２ａは、内蔵電源２４が使用不可能な程度に劣化していると判定する（ステップＳ１０５）。
そして、本体制御部２２ａは、内蔵電源２４への充電を停止するよう充電制御回路８１に指示するとともに（ステップＳ１０６）、内蔵電源２４への充電を停止したことをインジケータ４０によって放射線技師等の操作者に通知して（ステップＳ１０７）、本処理を終了する。なお、本体制御部２２ａは、内蔵電源２４への充電を停止したことを通信部４１によって有線方式または無線方式でコンソール１０１等の外部装置に通知するように構成することも可能である。
【００８９】
前述したように、本実施形態においては、内蔵電源２４の電圧に応じて使用不可能判定用閾値を設定するように構成されており、内蔵電源２４が使用不可能な状態でなくても内蔵電源２４が使用不可能な程度に劣化していると検出されてしまうという問題等が発生し難い。そのため、内蔵電源２４が使用不可能な状態でないのに内蔵電源２４への充電を停止してしまうことを抑制することができる。すなわち、内蔵電源２４への充電を無駄に停止してしまうことが少なく、効率よく内蔵電源２４への充電を行うことが可能となる。
【００９０】
一方、ステップＳ１０４で、内蔵電源２４の電圧上昇率が、内蔵電源２４の電圧に応じて設定した使用不可能判定用閾値を上回らないと判定した場合（ステップＳ１０４；Ｎｏ）、本体制御部２２ａは、ステップＳ１０２で取得した内蔵電源２４の電圧上昇率が、ステップＳ１０３で設定した交換判定用閾値を上回るか否かを判定する（ステップＳ１０８）。
【００９１】
ステップＳ１０８で、内蔵電源２４の電圧上昇率が、内蔵電源２４の電圧に応じて設定した交換判定用閾値を上回らないと判定した場合（ステップＳ１０８；Ｎｏ）、本体制御部２２ａは、ステップＳ１０１の処理に移行する。
【００９２】
一方、ステップＳ１０８で、内蔵電源２４の電圧上昇率が、内蔵電源２４の電圧に応じて設定した交換判定用閾値を上回ると判定した場合（ステップＳ１０８；Ｙｅｓ）、本体制御部２２ａは、内蔵電源２４が交換すべき程度に劣化していると判定する（ステップＳ１０９）。
そして、本体制御部２２ａは、内蔵電源２４が交換時期に達したことをインジケータ４０によって放射線技師等の操作者に通知して（ステップＳ１１０）、本処理を終了する。なお、本体制御部２２ａは、内蔵電源２４が交換時期に達したことを通信部４１によって有線方式または無線方式でコンソール１０１等の外部装置に通知するように構成することも可能である。
【００９３】
前述したように、本実施形態においては、内蔵電源２４の電圧に応じて交換判定用閾値を設定するように構成されており、内蔵電源２４が交換すべき状態でなくても内蔵電源２４が交換すべき程度に劣化していると検出されてしまうという問題等が発生し難い。そのため、内蔵電源２４が交換すべき状態ではないのに内蔵電源２４が交換時期に達したと通知してしまうことを抑制することができる。すなわち、内蔵電源２４が交換時期に達したことを無駄に通知してしまうことが少なく、内蔵電源２４を無駄に交換してしまう等の問題が生じ難い。
【００９４】
ここで、放射線画像撮影装置１に内蔵電源２４が着脱自在であり、複数種類の内蔵電源２４を放射線画像撮影装置１に着脱可能であれば、放射線画像撮影装置１に内蔵されている内蔵電源２４の種類に応じて、使用不可能判定用閾値や交換判定用閾値を設定するように構成することも可能である。
内蔵電源２４は、その機種等に応じて、満充電容量や充電特性などが異なる場合が多い。そのため、放射線画像撮影装置１に内蔵されている内蔵電源２４の種類（機種等）に応じて使用不可能判定用閾値や交換判定用閾値を設定することで、内蔵電源２４が使用不可能な程度に劣化しているか否かや、内蔵電源２４が交換すべき程度に劣化しているか否かを、より高精度に判定することが可能となる。
【００９５】
具体的には、例えば、内蔵電源２４に、当該内蔵電源２４の種類を識別するための識別情報を担持するものを備え、放射線画像撮影装置１に、当該放射線画像撮影装置１に内蔵されている内蔵電源２４から識別情報を取得するための識別情報取得手段を備えておく。また、放射線画像撮影装置１に着脱可能な内蔵電源２４の識別情報や、当該識別情報に対応する使用不可能判定用閾値（或いは、使用不可能判定用閾値を算出するための式）や交換判定用閾値（或いは、交換判定用閾値を算出するための式）などの所定の閾値（或いは、所定の閾値を算出するための式）をＲＡＭ２２ｂ等に予め記憶しておく。
そして、本体制御部２２ａは、識別情報取得手段により取得された識別情報に対応する使用不可能判定用閾値（或いは、使用不可能判定用閾値を算出するための式）や交換判定用閾値（或いは、交換判定用閾値を算出するための式）などをＲＡＭ２２ｂ等から抽出し、抽出した閾値（或いは、抽出した式）に基づいて、ステップＳ１０３で使用不可能判定用閾値および交換判定用閾値を設定するように構成することが可能である。
【００９６】
なお、内蔵電源２４における識別情報担持の構成や、放射線画像撮影装置１の識別情報取得手段の構成は、いかなる構成であってもよい。
例えば、内蔵電源２４の外面に当該内蔵電源２４の識別情報を担持するバーコードが印字されたバーコードシールを貼付しておけば、バーコード等を読み取って、当該内蔵電源２４の識別情報を取得する構成とすることも可能である。また、例えば、内蔵電源２４の外形、具体的には内蔵電源２４のサイズや内蔵電源２４外面に設けられた凹凸の位置・個数や内蔵電源２４の外面に設けられた反射板等の位置・個数などを、当該内蔵電源２４の識別情報と予め対応付けておけば、内蔵電源２４の外形を読み取って、当該内蔵電源２４の識別情報を取得する構成とすることも可能である。
【００９７】
以上説明した本実施形態に係る充電システム１００および電子機器としての放射線画像撮影装置１によれば、放射線画像撮影装置１の本体制御部２２ａは、充電制御回路８１による定電流充電時に電圧検出回路８２の検出結果に基づき内蔵電源２４の電圧上昇率を取得するとともに、電圧検出回路８２により検出される内蔵電源２４の電圧に応じて所定の閾値を設定し、取得した内蔵電源２４の電圧上昇率と、設定した所定の閾値との比較により内蔵電源２４の劣化の程度を判定するように構成されている。
【００９８】
したがって、内蔵電源２４の電圧に応じて内蔵電源２４の劣化の程度を判定するための閾値を設定するので、内蔵電源２４の電圧によらず一定の閾値が設定される場合と比較して、内蔵電源２４の劣化の程度を高精度に判定することが可能となる。
【００９９】
また、以上説明した本実施形態に係る充電システム１００および電子機器としての放射線画像撮影装置１によれば、所定の閾値は、内蔵電源２４が使用不可能な程度に劣化しているか否かを判定するための使用不可能判定用閾値を含み、放射線画像撮影装置１の本体制御部２２ａは、内蔵電源２４の電圧上昇率が、内蔵電源２４の電圧に応じて設定した使用不可能判定用閾値を上回る場合に、内蔵電源２４が使用不可能な程度に劣化していると判定し、充電制御回路８１は、内蔵電源２４が使用不可能な程度に劣化していると判定された場合に、当該内蔵電源２４への充電を停止するように構成されている。
【０１００】
したがって、内蔵電源２４の電圧に応じて使用不可能判定用閾値を設定するので、内蔵電源２４の電圧によらず一定の使用不可能判定用閾値が設定される場合と比較して、内蔵電源２４が使用不可能な程度に劣化しているか否かを高精度に判定することが可能となる。
また、充電制御回路８１は、内蔵電源２４が使用不可能な程度に劣化していると判定された場合に、当該内蔵電源２４への充電を停止するので、内蔵電源２４が膨らんだり高温になったりする等の危険な状態になることを防止することが可能となる。
【０１０１】
また、以上説明した本実施形態に係る充電システム１００および電子機器としての放射線画像撮影装置１によれば、所定の閾値は、内蔵電源２４が交換すべき程度に劣化しているか否かを判定するための交換判定用閾値を含み、放射線画像撮影装置１の本体制御部２２ａは、内蔵電源２４の電圧上昇率が、内蔵電源２４の電圧に応じて設定した交換判定用閾値を上回る場合に、内蔵電源２４が交換すべき程度に劣化していると判定し、交換時期通知部としてのインジケータ４０（或いは、通信部４１であってもよい。）は、内蔵電源２４が交換すべき程度に劣化していると判定された場合に、内蔵電源２４が交換時期に達したことを通知するように構成されている。
【０１０２】
したがって、内蔵電源２４の電圧に応じて交換判定用閾値を設定するので、内蔵電源２４の電圧によらず一定の交換判定用閾値が設定される場合と比較して、内蔵電源２４が交換すべき程度に劣化しているか否かを高精度に判定することが可能となる。
また、内蔵電源２４が交換すべき程度に劣化していると判定された場合に、内蔵電源２４が交換時期に達したことを通知するので、放射線技師等の操作者（或いは、コンソール１０１等の外部装置）は、内蔵電源２４が交換すべき程度に劣化していることを認識することが可能となる。これにより、内蔵電源２４への充電頻度が高くなる等の効率の悪い状態になる前に、内蔵電源２４を交換すること等が可能となる。
【０１０３】
また、以上説明した本実施形態に係る充電システム１００および電子機器としての放射線画像撮影装置１によれば、放射線画像撮影装置１の本体制御部２２ａは、電圧検出回路８２により検出される内蔵電源２４の電圧と、内蔵電源２４の種類との双方に応じて所定の閾値を設定可能である。
【０１０４】
内蔵電源２４は、その種類（機種等）に応じて、満充電容量や充電特性などが異なる場合が多い。そのため、放射線画像撮影装置１に内蔵されている内蔵電源２４の種類（機種等）に応じて使用不可能判定用閾値や交換判定用閾値などの所定の閾値を設定可能とすることで、内蔵電源２４の劣化の程度をより高精度に判定することが可能となる。
【０１０５】
なお、第１実施形態では、内蔵電源２４の劣化の程度を判定するための所定の閾値に、使用不可能判定用閾値と交換判定用閾値との両方が含まれることとして説明したが、これに限定されるものではなく、所定の閾値には、使用不可能判定用閾値と交換判定用閾値とのうち少なくともいずれか一方が含まれていればよい。
すなわち、判定部としての本体制御部２２ａは、内蔵電源２４の劣化の程度として、使用不可能な程度に劣化していることと、交換すべき程度に劣化していることとのうち少なくともいずれか一方を判定できればよい。
【０１０６】
また、所定の閾値には、使用不可能判定用閾値や交換判定用閾値以外の閾値が含まれていてもよい。無論、この場合、所定の閾値に含まれる使用不可能判定用閾値や交換判定用閾値以外の閾値も、使用不可能判定用閾値や交換判定用閾値と同様、電圧検出回路８２により検出される内蔵電源２４の電圧に応じて、或いは、電圧検出回路８２により検出される内蔵電源２４の電圧と、内蔵電源２４の種類との双方に応じて設定される。
【０１０７】
＜第２実施形態＞
次に、第２実施形態に係る充電システム１００および電子機器としての放射線画像撮影装置１について説明する。
なお、第２実施形態においては、内蔵電源２４の劣化レベルを判定する点が、第１実施形態と異なる。したがって、第１実施形態と同様の構成を有する部分については同じ符号を付して説明を省略し、主に異なる部分について説明する。
【０１０８】
本実施形態において、所定の閾値は、内蔵電源２４の劣化レベルに応じた複数種類の劣化レベル判定用閾値を含んでいる。
なお、本実施形態では、内蔵電源２４の劣化レベルとして劣化レベル１〜劣化レベル３の３つの劣化レベルを用いて説明するが、内蔵電源２４の劣化レベルの個数は３つに限ることはなく、複数であれば任意である。
【０１０９】
具体的には、本実施形態において、所定の閾値は、劣化レベル１を判定するためを劣化レベル１判定用閾値と、劣化レベル１よりも劣化の進行度が高い劣化レベル２を判定するための劣化レベル２判定用閾値と、劣化レベル２よりも劣化の進行度が高い劣化レベル３を判定するための劣化レベル３判定用閾値とを含んでいる。
すなわち、複数の劣化レベル１判定用閾値、或いは１つまたは複数の劣化レベル１判定用閾値を算出するための式と、複数の劣化レベル２判定用閾値、或いは１つまたは複数の劣化レベル２判定用閾値を算出するための式と、複数の劣化レベル３判定用閾値、或いは１つまたは複数の劣化レベル３判定用閾値を算出するための式とが、ＲＡＭ２２ｂ等に予め記憶されている。
【０１１０】
なお、本実施形態では、劣化レベル１を、内蔵電源２４が交換すべき程度ではないが劣化しているレベル、劣化レベル２を、内蔵電源２４が交換すべき程度に劣化しているレベル、劣化レベル３を、内蔵電源２４が使用不可能な程度に劣化しているレベルとするが、各劣化レベルは、これに限定されるものではない。
すなわち、本実施形態の場合、劣化レベル２判定用閾値は、第１実施形態の交換時期判定用閾値と同じであり、劣化レベル３判定用閾値は、第１実施形態の使用不可能判定用閾値と同じである。
【０１１１】
そして、本体制御部２２ａは、内蔵電源２４の電圧上昇率と、内蔵電源２４の電圧に応じて設定した各種の劣化レベル判定用閾値との比較により、内蔵電源２４の劣化の程度として該当する劣化レベルを判定するように構成されている。
【０１１２】
また、本体制御部２２ａは、判定した内蔵電源２４の劣化レベルをインジケータ４０によって放射線技師等の操作者に通知するように構成されている。すなわち、インジケータ４０は、内蔵電源２４の劣化レベルを通知する劣化レベル通知部として機能する。
【０１１３】
なお、本実施形態では、内蔵電源２４の劣化レベルをインジケータ４０によって放射線技師等の操作者に通知するように構成したが、内蔵電源２４の劣化レベルを通知できるのであれば、これに限定されるものではない。具体的には、例えば、本体制御部２２ａは、判定した内蔵電源２４の劣化レベルを、通信部４１によって有線方式または無線方式でコンソール１０１等の外部装置に通知するように構成することも可能である。この場合、通信部４１が劣化レベル通知部として機能する。また、コンソール１０１等の外部装置に、当該通知に応じて内蔵電源２４の劣化レベルを報知するための報知手段（例えば、表示部等）を備えるように構成することも可能である。
【０１１４】
以下、本実施形態に係る充電システム１００および放射線画像撮影装置１の作用について、図１４のフローチャートを参照して説明する。
図１４は、本実施形態の放射線画像撮影装置１による充電制御に関する処理の一例を説明するためのフローチャートである。
【０１１５】
まず、放射線画像撮影装置１が備える制御手段２２の本体制御部２２ａは、充電制御回路８１が定電流充電を行っているか否かを判断する（ステップＳ２０１）。
ステップＳ２０１で、充電制御回路８１が定電流充電を行っていないと判断した場合（ステップＳ２０１；Ｎｏ）、本体制御部２２ａは、ステップＳ２０１の処理を繰り返して行う。
【０１１６】
一方、ステップＳ２０１で、充電制御回路８１が定電流充電を行っていると判断した場合（ステップＳ２０１；Ｙｅｓ）、本体制御部２２ａは、電圧検出回路８２の検出結果に基づいて、内蔵電源２４の電圧上昇率および内蔵電源２４の電圧を取得する（ステップＳ２０２）。
【０１１７】
次いで、本体制御部２２ａは、ステップＳ２０２で取得した内蔵電源２４の電圧に応じて、劣化レベル１判定用閾値、劣化レベル２判定用閾値および劣化レベル３判定用閾値を設定する（ステップＳ２０３）。
【０１１８】
具体的には、例えば、ＲＡＭ２２ｂ等に複数の劣化レベル１判定用閾値が記憶されている場合には、本体制御部２２ａは、複数の劣化レベル１判定用閾値のうちステップＳ２０２で取得した内蔵電源２４の電圧に対応する閾値を設定する。
或いは、例えば、ＲＡＭ２２ｂ等に複数の劣化レベル１判定用閾値を算出するための式が記憶されている場合には、本体制御部２２ａは、複数の劣化レベル１判定用閾値を算出するための式のうちステップＳ２０２で取得した内蔵電源２４の電圧に対応する式を選択し、選択した式に基づき劣化レベル１判定用閾値を算出して設定する。
【０１１９】
また、例えば、ＲＡＭ２２ｂ等に複数の劣化レベル２判定用閾値が記憶されている場合には、本体制御部２２ａは、複数の劣化レベル２判定用閾値のうちステップＳ２０２で取得した内蔵電源２４の電圧に対応する閾値を設定する。
或いは、例えば、ＲＡＭ２２ｂ等に複数の劣化レベル２判定用閾値を算出するための式が記憶されている場合には、本体制御部２２ａは、複数の劣化レベル２判定用閾値を算出するための式のうちステップＳ２０２で取得した内蔵電源２４の電圧に対応する式を選択し、選択した式に基づき劣化レベル２判定用閾値を算出して設定する。
【０１２０】
また、例えば、ＲＡＭ２２ｂ等に複数の劣化レベル３判定用閾値が記憶されている場合には、本体制御部２２ａは、複数の劣化レベル３判定用閾値のうちステップＳ２０２で取得した内蔵電源２４の電圧に対応する閾値を設定する。
或いは、例えば、ＲＡＭ２２ｂ等に複数の劣化レベル３判定用閾値を算出するための式が記憶されている場合には、本体制御部２２ａは、複数の劣化レベル３判定用閾値を算出するための式のうちステップＳ２０２で取得した内蔵電源２４の電圧に対応する式を選択し、選択した式に基づき劣化レベル３判定用閾値を算出して設定する。
【０１２１】
このように、本実施形態においては、内蔵電源２４の電圧に応じて劣化レベル１判定用閾値や劣化レベル２判定用閾値や劣化レベル３判定用閾値を設定するので、内蔵電源２４の電圧によらず一定の劣化レベル１判定用閾値や一定の劣化レベル２判定用閾値や一定の劣化レベル３判定用閾値が設定される場合と比較して、内蔵電源２４の劣化レベルを高精度に判定することが可能となる。
【０１２２】
次いで、本体制御部２２ａは、ステップＳ２０２で取得した内蔵電源２４の電圧上昇率が、ステップＳ２０３で設定した劣化レベル３判定用閾値を上回るか否かを判定する（ステップＳ２０４）。
【０１２３】
ステップＳ２０４で、内蔵電源２４の電圧上昇率が、内蔵電源２４の電圧に応じて設定した劣化レベル３判定用閾値を上回ると判定した場合（ステップＳ２０４；Ｙｅｓ）、本体制御部２２ａは、内蔵電源２４の劣化レベルが劣化レベル３であると判定する（ステップＳ２０５）。
そして、本体制御部２２ａは、内蔵電源２４の劣化レベルが劣化レベル３であることをインジケータ４０によって放射線技師等の操作者に通知して（ステップＳ２０６）、本処理を終了する。なお、本実施形態において、劣化レベル３は、内蔵電源２４が使用不可能な程度に劣化しているレベルであるので、本体制御部２２ａは、劣化レベル３である旨の通知とともに、内蔵電源２４への充電を停止するよう充電制御回路８１に指示するように構成することも可能である。なお、本体制御部２２ａは、内蔵電源２４の劣化レベルが劣化レベル３であることを通信部４１によって有線方式または無線方式でコンソール１０１等の外部装置に通知するように構成することも可能である。
【０１２４】
一方、ステップＳ２０４で、内蔵電源２４の電圧上昇率が、内蔵電源２４の電圧に応じて設定した劣化レベル３判定用閾値を上回らないと判定した場合（ステップＳ２０４；Ｎｏ）、本体制御部２２ａは、ステップＳ２０２で取得した内蔵電源２４の電圧上昇率が、ステップＳ２０３で設定した劣化レベル２判定用閾値を上回るか否かを判定する（ステップＳ２０７）。
【０１２５】
ステップＳ２０７で、内蔵電源２４の電圧上昇率が、内蔵電源２４の電圧に応じて設定した劣化レベル２判定用閾値を上回ると判定した場合（ステップＳ２０７；Ｙｅｓ）、本体制御部２２ａは、内蔵電源２４の劣化レベルが劣化レベル２であると判定する（ステップＳ２０８）。
そして、本体制御部２２ａは、内蔵電源２４の劣化レベルが劣化レベル２であることをインジケータ４０によって放射線技師等の操作者に通知して（ステップＳ２０９）、本処理を終了する。なお、本体制御部２２ａは、内蔵電源２４の劣化レベルが劣化レベル２であることを通信部４１によって有線方式または無線方式でコンソール１０１等の外部装置に通知するように構成することも可能である。
【０１２６】
一方、ステップＳ２０７で、内蔵電源２４の電圧上昇率が、内蔵電源２４の電圧に応じて設定した劣化レベル２判定用閾値を上回らないと判定した場合（ステップＳ２０７；Ｎｏ）、本体制御部２２ａは、ステップＳ２０２で取得した内蔵電源２４の電圧上昇率が、ステップＳ２０３で設定した劣化レベル１判定用閾値を上回るか否かを判定する（ステップＳ２１０）。
【０１２７】
ステップＳ２１０で、内蔵電源２４の電圧上昇率が、内蔵電源２４の電圧に応じて設定した劣化レベル１判定用閾値を上回らないと判定した場合（ステップＳ２１０；Ｎｏ）、本体制御部２２ａは、ステップＳ２０１の処理に移行する。
【０１２８】
一方、ステップＳ２１０で、内蔵電源２４の電圧上昇率が、内蔵電源２４の電圧に応じて設定した劣化レベル１判定用閾値を上回ると判定した場合（ステップＳ２１０；Ｙｅｓ）、本体制御部２２ａは、内蔵電源２４の劣化レベルが劣化レベル１であると判定する（ステップＳ２１１）。
そして、本体制御部２２ａは、内蔵電源２４の劣化レベルが劣化レベル１であることをインジケータ４０によって放射線技師等の操作者に通知して（ステップＳ２１２）、本処理を終了する。なお、本体制御部２２ａは、内蔵電源２４の劣化レベルが劣化レベル１であることを通信部４１によって有線方式または無線方式でコンソール１０１等の外部装置に通知するように構成することも可能である。
【０１２９】
ここで、放射線画像撮影装置１に内蔵電源２４が着脱自在であり、複数種類の内蔵電源２４を放射線画像撮影装置１に着脱可能であれば、放射線画像撮影装置１に内蔵されている内蔵電源２４の種類に応じて、劣化レベル１判定用閾値や劣化レベル２判定用閾値や劣化レベル３判定用閾値を設定するように構成することも可能である。
このように、放射線画像撮影装置１に内蔵されている内蔵電源２４の種類（機種等）に応じて劣化レベル１判定用閾値や劣化レベル２判定用閾値や劣化レベル３判定用閾値を設定することで、内蔵電源２４の劣化レベルをより高精度に判定することが可能となる。
【０１３０】
なお、この他の点は第１実施形態で示した作用と同様であるので、その説明は省略する。
【０１３１】
以上説明した本実施形態に係る充電システム１００および電子機器としての放射線画像撮影装置１によれば、所定の閾値は、内蔵電源２４の劣化レベルに応じた複数種類の劣化レベル判定用閾値を含み、放射線画像撮影装置１の本体制御部２２ａは、内蔵電源２４の電圧上昇率と、内蔵電源２４の電圧に応じて設定した各種の劣化レベル判定用閾値との比較により、内蔵電源２４の劣化の程度として該当する劣化レベルを判定し、劣化レベル通知部としてのインジケータ４０（或いは、通信部４１であってもよい。）は、判定された内蔵電源２４の劣化レベルを通知するように構成されている。
【０１３２】
したがって、内蔵電源２４の電圧に応じて各種の劣化レベル判定用閾値（本実施形態の場合、劣化レベル１判定用閾値〜劣化レベル３判定用閾値）を設定するので、各種の劣化レベル判定用閾値として内蔵電源２４の電圧によらず一定の閾値がそれぞれ設定される場合と比較して、内蔵電源２４の劣化レベルを高精度に判定することが可能となる。
また、判定された内蔵電源２４の劣化レベルを通知するので、放射線技師等の操作者（或いは、コンソール１０１等の外部装置）は、内蔵電源２４の劣化レベルを認識することが可能となる。
【０１３３】
なお、この他の点は第１実施形態で示した効果と同様であるので、その説明は省略する。
【０１３４】
なお、本発明は上記の実施形態に限定されず、本発明の趣旨から逸脱しない限り、適宜変更可能であることはいうまでもない。
【０１３５】
例えば、上記の第１実施形態および第２実施形態では、充電制御部としての充電制御回路８１を電子機器である放射線画像撮影装置１に設ける場合について説明したが、例えば図８に対応する図１５に示すように、充電制御部としての充電制御回路８１を充電装置であるクレードル６０に設けるように構成することも可能である。この場合、例えば、クレードル６０の筐体６１（図７等参照）内部の基板６５上の、各種電子部品６６が収納されている部分に充電制御回路８１を設けることが可能である。
【０１３６】
このように、充電制御部としての充電制御回路８１を充電装置であるクレードル６０に設ける場合、当該充電制御回路８１が内蔵電源２４の劣化の程度を判定する判定部としても機能するように構成することも可能であるし、判定部として機能する制御部等を充電装置であるクレードル６０に別途備えるように構成することも可能である。
【０１３７】
また、図１５では、電圧検出部としての電圧検出回路８２も充電装置であるクレードル６０に設けるように構成したが、充電制御部としての充電制御回路８１を充電装置であるクレードル６０に設ける場合、電圧検出部としての電圧検出回路８２は、電子機器である放射線画像撮影装置１に設けるように構成することも可能であるし、充電装置であるクレードル６０に設けるように構成することも可能である。なお、電圧検出回路８２をクレードル６０に設ける場合、例えば、クレードル６０の筐体６１（図７等参照）内部の基板６５上の、各種電子部品６６が収納されている部分に電圧検出回路８２を設けることが可能である。
【０１３８】
ここで、充電制御部としての充電制御回路８１を充電装置であるクレードル６０に設ける場合、例えば、電子機器である放射線画像撮影装置１に、当該放射線画像撮影装置１が内蔵する内蔵電源２４の種類を識別するための識別情報を担持するものを備え、クレードル６０に、放射線画像撮影装置１から識別情報を取得するための識別情報取得手段を備えておく。また、クレードル６０に、クレードル６０に挿入可能な放射線画像撮影装置１が内蔵する内蔵電源２４の識別情報や、当該識別情報に対応する所定の閾値（或いは、所定の閾値を算出するための式）を予め記憶しておく。そして、クレードル６０側で、識別情報取得手段により取得された識別情報に対応する所定の閾値（或いは、所定の閾値を算出するための式）を抽出し、抽出した所定の閾値（或いは、抽出した式）に基づいて、所定の閾値を設定するように構成することも可能である。これにより、放射線画像撮影装置１に内蔵されている内蔵電源２４の種類と、内蔵電源２４の電圧との双方に応じて、所定の閾値を設定するように構成することが可能となる。
また、例えば、クレードル６０が、クレードル６０側のコネクタ７１および放射線画像撮影装置１側のコネクタ３９を介して放射線画像撮影装置１との間で通信を行って、当該放射線画像撮影装置１が内蔵する内蔵電源２４の種類を識別するための識別情報を取得するように構成することも可能である。これにより、放射線画像撮影装置１に内蔵されている内蔵電源２４の種類と、内蔵電源２４の電圧との双方に応じて、所定の閾値を設定するように構成することが可能となる。
【０１３９】
また、電子機器である放射線画像撮影装置１や充電装置であるクレードル６０とは別に、充電制御部としての充電制御回路８１を備える充電制御装置を備えるように構成することも可能である。この場合、例えば、内蔵電源２４の充電時に、充電制御部としての充電制御回路８１を備える充電制御装置を、電子機器である放射線画像撮影装置１と充電装置であるクレードル６０との間に配置等することによって、当該充電制御装置を介して充電装置であるクレードル６０から電子機器である放射線画像撮影装置１が内蔵する内蔵電源２４へと電力が供給される。
この場合、電圧検出部としての電圧検出回路８２は、充電制御部としての充電制御回路８１を備える充電制御装置に設けるように構成することも可能であるし、電子機器である放射線画像撮影装置１に設けるように構成することも可能であるし、充電装置であるクレードル６０に設けるように構成することも可能である。
【０１４０】
ここで、充電制御部としての充電制御回路８１を備える充電制御装置を備える場合、例えば、電子機器である放射線画像撮影装置１に、当該放射線画像撮影装置１が内蔵する内蔵電源２４の種類を識別するための識別情報を担持するものを備え、当該充電制御装置に、放射線画像撮影装置１から識別情報を取得するための識別情報取得手段を備えておく。また、当該充電制御装置に、当該充電制御装置に接続可能な放射線画像撮影装置１が内蔵する内蔵電源２４の識別情報や、当該識別情報に対応する所定の閾値（或いは、所定の閾値を算出するための式）を予め記憶しておく。そして、当該充電制御装置側で、識別情報取得手段により取得された識別情報に対応する所定の閾値（或いは、所定の閾値を算出するための式）を抽出し、抽出した所定の閾値（或いは、抽出した式）に基づいて、所定の閾値を設定するように構成することも可能である。これにより、放射線画像撮影装置１に内蔵されている内蔵電源２４の種類と、内蔵電源２４の電圧との双方に応じて、所定の閾値を設定するように構成することが可能となる。
また、例えば、当該充電制御装置が、放射線画像撮影装置１との間で通信を行って、当該放射線画像撮影装置１が内蔵する内蔵電源２４の種類を識別するための識別情報を取得するように構成することも可能である。これにより、放射線画像撮影装置１に内蔵されている内蔵電源２４の種類と、内蔵電源２４の電圧との双方に応じて、所定の閾値を設定するように構成することが可能となる。
【０１４１】
また、上記の各実施形態（第１実施形態、第２実施形態、充電制御部としての充電制御回路８１を充電装置に設けるように構成する実施形態）では、内蔵電源２４の電圧が目標電圧に達すると同時に直ちに定電流充電から定電圧充電に切り替わるように構成したが、これに限定されるものではない。例えば、内蔵電源２４の電圧が目標電圧に近づくにつれて徐々に充電電流を下げてゆき、緩やかに定電流充電から定電圧充電に切り替わるように構成することも可能である。
すなわち、本発明でいう「内蔵電源の電圧が目標電圧に達するまで定電流充電を行うとともに、内蔵電源の電圧が目標電圧に達した場合に定電圧充電に切り替えて」には、内蔵電源２４の電圧が目標電圧に達すると同時に直ちに定電流充電から定電圧充電に切り替わる場合も、内蔵電源２４の電圧が目標電圧に近づくにつれて徐々に充電電流を下げてゆき、緩やかに定電流充電から定電圧充電に切り替わる場合も含まれる。
【０１４２】
緩やかに定電流充電から定電圧充電に切り替わるように構成する場合、徐々に充電電流を下げていく段階で、電圧上昇率も徐々に低下していく。そのため、劣化の程度を判定するための所定の閾値（例えば、使用不可能判定用閾値、交換判定用閾値、劣化レベル１判定用閾値〜劣化レベル３判定用閾値等）として、内蔵電源２４の電圧に応じた充電電流の低下に対応可能な所定の閾値（或いは、所定の閾値を算出するための式）を記憶しておく。具体的には、例えば、各充電電流に対応する所定の閾値（或いは、所定の閾値を算出するための式）をＲＡＭ２２ｂ等に予め記憶しておく。そして、ステップＳ１０２やステップＳ２０２で内蔵電源２４の電圧として第２時点での内蔵電源２４の電圧（或いは、第１時点での内蔵電源２４の電圧であってもよい。）を取得する際に、第２時点での充電電流（或いは、第１時点での充電電流であってもよい。）も取得し、取得した充電電流に対応する所定の閾値（或いは、所定の閾値を算出するための式）をＲＡＭ２２ｂ等から抽出する。そして、抽出した所定の閾値（或いは、抽出した式）に基づいて、所定の閾値を設定する。すなわち、所定の閾値を抽出した場合には、抽出した所定の閾値の中から内蔵電源２４の電圧に応じた所定の閾値を選択して設定し、所定の閾値を算出するための式を抽出した場合には、抽出した式の中から内蔵電源２４の電圧に応じた式を選択し、選択した式に基づき所定の閾値を算出して設定するように構成することも可能である。このように構成することで、内蔵電源２４の電圧が目標電圧に近づいても、内蔵電源２４の電圧によらず一定の閾値が設定される場合と比較して、内蔵電源２４の劣化の程度を高精度に判定することが可能となる。
【０１４３】
また、上記の各実施形態（第１実施形態、第２実施形態、充電制御部としての充電制御回路８１を充電装置に設けるように構成する実施形態）では、電子機器が放射線画像撮影装置１であり、充電装置がクレードル６０である場合について説明したが、この他にも、充電可能な内蔵電源２４を内蔵する電子機器であれば、ノート型パソコンや携帯電話、携帯情報端末などについても本発明を適用することが可能である。また、それらの充電装置についても本発明を適用することが可能である。
【符号の説明】
【０１４４】
１ 放射線画像撮影装置（電子機器）
２２ａ 本体制御部（判定部）
２４ 内蔵電源
４０ インジケータ（交換時期通知部、劣化レベル通知部）
６０ クレードル（充電装置）
７１ 通信部（交換時期通知部、劣化レベル通知部）
８１ 充電制御回路（充電制御部）
８２ 電圧検出回路（電圧検出部）
１００ 充電システム
【特許請求の範囲】
【請求項１】
充電可能な内蔵電源を内蔵する電子機器と、
前記内蔵電源の電圧が目標電圧に達するまで定電流充電を行うとともに、前記内蔵電源の電圧が前記目標電圧に達した場合に定電圧充電に切り替えて、前記内蔵電源への充電を制御する充電制御部と、
前記内蔵電源の電圧を検出する電圧検出部と、
前記内蔵電源の劣化の程度を判定する判定部と、
前記充電制御部を介して前記内蔵電源に電力を供給する充電装置と、を備え、
前記判定部は、前記充電制御部による前記定電流充電時に前記電圧検出部の検出結果に基づき前記内蔵電源の電圧上昇率を取得するとともに、前記電圧検出部により検出される前記内蔵電源の電圧に応じて所定の閾値を設定し、取得した前記内蔵電源の電圧上昇率と、設定した前記所定の閾値との比較により前記内蔵電源の劣化の程度を判定することを特徴とする充電システム。
【請求項２】
前記所定の閾値は、前記内蔵電源が使用不可能な程度に劣化しているか否かを判定するための使用不可能判定用閾値を含み、
前記判定部は、前記内蔵電源の電圧上昇率が、前記内蔵電源の電圧に応じて設定した前記使用不可能判定用閾値を上回る場合に、前記内蔵電源が使用不可能な程度に劣化していると判定し、
前記充電制御部は、前記判定部により前記内蔵電源が使用不可能な程度に劣化していると判定された場合に、前記内蔵電源への充電を停止することを特徴とする請求項１に記載の充電システム。
【請求項３】
前記内蔵電源が交換時期に達したことを通知する交換時期通知部を備え、
前記所定の閾値は、前記内蔵電源が交換すべき程度に劣化しているか否かを判定するための交換判定用閾値を含み、
前記判定部は、前記内蔵電源の電圧上昇率が、前記内蔵電源の電圧に応じて設定した前記交換判定用閾値を上回る場合に、前記内蔵電源が交換すべき程度に劣化していると判定し、
前記交換時期通知部は、前記判定部により前記内蔵電源が交換すべき程度に劣化していると判定された場合に、前記内蔵電源が交換時期に達したことを通知することを特徴とする請求項１または請求項２に記載の充電システム。
【請求項４】
前記内蔵電源の劣化レベルを通知する劣化レベル通知部を備え、
前記所定の閾値は、前記内蔵電源の劣化レベルに応じた複数種類の劣化レベル判定用閾値を含み、
前記判定部は、前記内蔵電源の電圧上昇率と、前記内蔵電源の電圧に応じて設定した前記各種の劣化レベル判定用閾値との比較により、前記内蔵電源の劣化の程度として該当する劣化レベルを判定し、
前記劣化レベル通知部は、前記判定部により判定された前記内蔵電源の劣化レベルを通知することを特徴とする請求項１から請求項３のいずれか一項に記載の充電システム。
【請求項５】
前記判定部は、前記電圧検出部により検出される前記内蔵電源の電圧と、前記内蔵電源の種類との双方に応じて前記所定の閾値を設定することを特徴とする請求項１から請求項４のいずれか一項に記載の充電システム。
【請求項６】
前記充電制御部は、前記電子機器に設けられていることを特徴とする請求項１から請求項５のいずれか一項に記載の充電システム。
【請求項７】
前記充電制御部は、前記充電装置に設けられていることを特徴とする請求項１から請求項５のいずれか一項に記載の充電システム。
【請求項８】
前記内蔵電源は、リチウムイオンキャパシタであることを特徴とする請求項１から請求項７のいずれか一項に記載の充電システム。
【請求項９】
前記電子機器は放射線画像撮影装置であることを特徴とする請求項１から請求項８のいずれか一項に記載の充電システム。
【請求項１０】
前記充電装置はクレードルであることを特徴とする請求項１から請求項９のいずれか一項に記載の充電システム。
【請求項１１】
充電可能な内蔵電源を内蔵する電子機器において、
前記内蔵電源の電圧が目標電圧に達するまで定電流充電を行うとともに、前記内蔵電源の電圧が前記目標電圧に達した場合に定電圧充電に切り替えて、前記内蔵電源への充電を制御する充電制御部と、
前記内蔵電源の電圧を検出する電圧検出部と、
前記内蔵電源の劣化の程度を判定する判定部と、を備え、
前記判定部は、前記充電制御部による前記定電流充電時に前記電圧検出部の検出結果に基づき前記内蔵電源の電圧上昇率を取得するとともに、前記電圧検出部により検出される前記内蔵電源の電圧に応じて所定の閾値を設定し、取得した前記内蔵電源の電圧上昇率と、設定した前記所定の閾値との比較により前記内蔵電源の劣化の程度を判定することを特徴とする電子機器。
【請求項１２】
電子機器が内蔵する内蔵電源に電力を供給する充電装置において、
前記内蔵電源の電圧が目標電圧に達するまで定電流充電を行うとともに、前記内蔵電源の電圧が前記目標電圧に達した場合に定電圧充電に切り替えて、前記内蔵電源への充電を制御する充電制御部と、
前記内蔵電源の電圧を検出する電圧検出部と、
前記内蔵電源の劣化の程度を判定する判定部と、を備え、
前記判定部は、前記充電制御部による前記定電流充電時に前記電圧検出部の検出結果に基づき前記内蔵電源の電圧上昇率を取得するとともに、前記電圧検出部により検出される前記内蔵電源の電圧に応じて所定の閾値を設定し、取得した前記内蔵電源の電圧上昇率と、設定した前記所定の閾値との比較により前記内蔵電源の劣化の程度を判定することを特徴とする充電装置。
【請求項１】
充電可能な内蔵電源を内蔵する電子機器と、
前記内蔵電源の電圧が目標電圧に達するまで定電流充電を行うとともに、前記内蔵電源の電圧が前記目標電圧に達した場合に定電圧充電に切り替えて、前記内蔵電源への充電を制御する充電制御部と、
前記内蔵電源の電圧を検出する電圧検出部と、
前記内蔵電源の劣化の程度を判定する判定部と、
前記充電制御部を介して前記内蔵電源に電力を供給する充電装置と、を備え、
前記判定部は、前記充電制御部による前記定電流充電時に前記電圧検出部の検出結果に基づき前記内蔵電源の電圧上昇率を取得するとともに、前記電圧検出部により検出される前記内蔵電源の電圧に応じて所定の閾値を設定し、取得した前記内蔵電源の電圧上昇率と、設定した前記所定の閾値との比較により前記内蔵電源の劣化の程度を判定することを特徴とする充電システム。
【請求項２】
前記所定の閾値は、前記内蔵電源が使用不可能な程度に劣化しているか否かを判定するための使用不可能判定用閾値を含み、
前記判定部は、前記内蔵電源の電圧上昇率が、前記内蔵電源の電圧に応じて設定した前記使用不可能判定用閾値を上回る場合に、前記内蔵電源が使用不可能な程度に劣化していると判定し、
前記充電制御部は、前記判定部により前記内蔵電源が使用不可能な程度に劣化していると判定された場合に、前記内蔵電源への充電を停止することを特徴とする請求項１に記載の充電システム。
【請求項３】
前記内蔵電源が交換時期に達したことを通知する交換時期通知部を備え、
前記所定の閾値は、前記内蔵電源が交換すべき程度に劣化しているか否かを判定するための交換判定用閾値を含み、
前記判定部は、前記内蔵電源の電圧上昇率が、前記内蔵電源の電圧に応じて設定した前記交換判定用閾値を上回る場合に、前記内蔵電源が交換すべき程度に劣化していると判定し、
前記交換時期通知部は、前記判定部により前記内蔵電源が交換すべき程度に劣化していると判定された場合に、前記内蔵電源が交換時期に達したことを通知することを特徴とする請求項１または請求項２に記載の充電システム。
【請求項４】
前記内蔵電源の劣化レベルを通知する劣化レベル通知部を備え、
前記所定の閾値は、前記内蔵電源の劣化レベルに応じた複数種類の劣化レベル判定用閾値を含み、
前記判定部は、前記内蔵電源の電圧上昇率と、前記内蔵電源の電圧に応じて設定した前記各種の劣化レベル判定用閾値との比較により、前記内蔵電源の劣化の程度として該当する劣化レベルを判定し、
前記劣化レベル通知部は、前記判定部により判定された前記内蔵電源の劣化レベルを通知することを特徴とする請求項１から請求項３のいずれか一項に記載の充電システム。
【請求項５】
前記判定部は、前記電圧検出部により検出される前記内蔵電源の電圧と、前記内蔵電源の種類との双方に応じて前記所定の閾値を設定することを特徴とする請求項１から請求項４のいずれか一項に記載の充電システム。
【請求項６】
前記充電制御部は、前記電子機器に設けられていることを特徴とする請求項１から請求項５のいずれか一項に記載の充電システム。
【請求項７】
前記充電制御部は、前記充電装置に設けられていることを特徴とする請求項１から請求項５のいずれか一項に記載の充電システム。
【請求項８】
前記内蔵電源は、リチウムイオンキャパシタであることを特徴とする請求項１から請求項７のいずれか一項に記載の充電システム。
【請求項９】
前記電子機器は放射線画像撮影装置であることを特徴とする請求項１から請求項８のいずれか一項に記載の充電システム。
【請求項１０】
前記充電装置はクレードルであることを特徴とする請求項１から請求項９のいずれか一項に記載の充電システム。
【請求項１１】
充電可能な内蔵電源を内蔵する電子機器において、
前記内蔵電源の電圧が目標電圧に達するまで定電流充電を行うとともに、前記内蔵電源の電圧が前記目標電圧に達した場合に定電圧充電に切り替えて、前記内蔵電源への充電を制御する充電制御部と、
前記内蔵電源の電圧を検出する電圧検出部と、
前記内蔵電源の劣化の程度を判定する判定部と、を備え、
前記判定部は、前記充電制御部による前記定電流充電時に前記電圧検出部の検出結果に基づき前記内蔵電源の電圧上昇率を取得するとともに、前記電圧検出部により検出される前記内蔵電源の電圧に応じて所定の閾値を設定し、取得した前記内蔵電源の電圧上昇率と、設定した前記所定の閾値との比較により前記内蔵電源の劣化の程度を判定することを特徴とする電子機器。
【請求項１２】
電子機器が内蔵する内蔵電源に電力を供給する充電装置において、
前記内蔵電源の電圧が目標電圧に達するまで定電流充電を行うとともに、前記内蔵電源の電圧が前記目標電圧に達した場合に定電圧充電に切り替えて、前記内蔵電源への充電を制御する充電制御部と、
前記内蔵電源の電圧を検出する電圧検出部と、
前記内蔵電源の劣化の程度を判定する判定部と、を備え、
前記判定部は、前記充電制御部による前記定電流充電時に前記電圧検出部の検出結果に基づき前記内蔵電源の電圧上昇率を取得するとともに、前記電圧検出部により検出される前記内蔵電源の電圧に応じて所定の閾値を設定し、取得した前記内蔵電源の電圧上昇率と、設定した前記所定の閾値との比較により前記内蔵電源の劣化の程度を判定することを特徴とする充電装置。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【図１３】
【図１４】
【図１５】
【図１６】
【図１７】
【図２】
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【図１６】
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【公開番号】特開２０１２−１８２９５８（Ｐ２０１２−１８２９５８Ａ）
【公開日】平成２４年９月２０日（２０１２．９．２０）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２０１１−４５８３１（Ｐ２０１１−４５８３１）
【出願日】平成２３年３月３日（２０１１．３．３）
【出願人】（３０３０００４２０）コニカミノルタエムジー株式会社 (2,950)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２４年９月２０日（２０１２．９．２０）
【国際特許分類】
【出願日】平成２３年３月３日（２０１１．３．３）
【出願人】（３０３０００４２０）コニカミノルタエムジー株式会社 (2,950)
【Ｆターム（参考）】
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