【課題】 偏光を使用した欠陥検出装置を提供する。
【解決手段】 表面を検査する装置は、調整可能な偏光を有する照射ビームで表面を照射するように適応される照射光学系を備えている。この装置は、更に、配向を有する各分析器に各々関連され、表面上の照射エリアから分析器を経て受け取った光に応答して信号を発生するように適応される少なくとも１つの検出器を備え、少なくとも１つの検出器の１つは、照射エリアからの散乱光を受け取るように適応される。又、この装置は、照射エリアを照射するように照射光学系を向け、それにより少なくとも１つの検出器に発生される較正信号に応答して、調整可能な偏光、及び各検出器の各分析器の配向を設定するように適応されるコントローラも備えている。 （もっと読む）

【課題】 構成が簡単で、そして小型化が容易な環状発光装置を提供すること
【解決手段】 基板表面に、環状に形成されたエレクトロルミネッセンス発光性積層体を付設してなる環状発光装置。 （もっと読む）

【課題】 検査対象表面にある緩やかな凹凸があった場合や欠陥とは言えない浅い傷や加工プロセス途上の表面荒さや、洗浄液残り等があった場合、照明によってはこれらの陰影が現われ、重欠陥であるクラック状欠陥と区別できないという問題がある。本発明は、検査対象表面にある緩やかな凹凸があった場合や、プロセス途上で生じた軽微なスクラッチやチッピングや面荒れ又はピット等微細な欠陥とは言えない浅い傷が陰影として現われず、本来の重欠陥であるクラック状欠陥だけが陰影として現われる照明手段を備える表面欠陥装置を提供することを目的とする。
【解決手段】 本発明の表面欠陥検出方法および表面欠陥検出装置は、検査対象物表面への入射角度が広角かつ均一な拡散光照明手段で照明し、テレセントリック光学系の撮像手段により撮像することにより、緩やかや凹凸や欠陥とは言えない微小な傷が陰影となって現われてないために、欠陥と誤認することがなく、欠陥検査の信頼性を高める効果を有する。 （もっと読む）

【課題】 本発明は精密で高品質の光学部分においていかなる種類の欠陥も検出することができる装置を提供する。
【解決手段】 照明手段（１）及び人工視覚の関連システム（２）を含む光学部品（３）を測定又は制御するための装置であって、光学部品（３）が照明手段（１）と人工視覚システム（２）の間に置かれ、前記照明手段（１）が空間及び時間で変化しうる輝度の発光背景を生成するためのプログラム可能な光電子手段を含み、それが複数の鮮明度チャートを連続的に生成するように設計され、各チャートが高い空間周波数を有する均一な背景にわたって繰り返されかつ対照させたパターンを含み、前記角度はパターンが観察される対象上の点から測定され、前記連続的に生成される鮮明度チャートが、前記鮮明度チャートに対応する複数の像が光学部品（３）による反射又は透過後に人工視覚システムによって収集されて単一の合成像の形で再結合されるように、空間的にシフトされる。 （もっと読む）

【課題】例えば、球面形状のフロントガラス又はその他の物質表面上の傷の信頼できる検出を実現すること
【解決手段】本発明は、物質、特にガラスの表面（２）上の傷を検出するための装置、及びそれに対応する方法に関する。該装置は、照明ユニット（３）と記録ユニット（４）を有する。前記照明ユニット（３）と前記記録ユニット（４）は、物質表面（２）上の走査線（６）を記録し、前記表面（２）に対して変位可能である。より正確に傷を特定するために、照明装置（３）は、少なくとも１つのライトストリップ（９）と好ましくは少なくとも１つの光源（１６）を有する。前記ライトストリップ（９）は、前記走査線（６）を横切る平行光プールを生成する。前記プールは前記走査線（６）に沿って拡散又は疑似拡散となる。前記光源（１６）は、前記走査線（６）を横切る拡散光又は疑似拡散光を生成する。 （もっと読む）

本発明は、形成物に対して相対的に動く材料（０３）の表面（０２）の上で照明形成物（１）を生成するための光学システムに関するものである。本発明によると、制御装置（２３）によりパルス駆動される複数の光源を備える照明装置（０６）が、前記形成物を生成するための光（７）を放出し、検出装置（８）が前記照明装置（０６）の前記光源から放出される光を検出し、前記制御装置（２３）は個々の光源（０７）又は１つのグループの光源を制御し、少なくとも１つの光源のターンオン時間（ｔ３）が前記検出装置の露光時間（ｔ１）と同期化されており、前記光源（０７）の前記ターンオン時間（ｔ３）は前記検出装置（０８）の前記露光時間（ｔ１）よりも短く設定されている。 （もっと読む）

繊維機械において動かされる布（１００）を光で監視する装置（１）はハウジング（２）を持ち、このハウジング内に、布（１００）をその幅に沿って光で監視する少なくとも１つの光電子行センサ（３１．１〜３１．３）が設けられている。ハウジング（２）内にアナロクセンサ信号をディジタルセンサ信号に変換する少なくとも１つのアナログ／ディジタル変換器（４１）も設けられている。更にハウジング（２）内に、ディジタルセンサ信号を動作開始出力信号に処理するディジタル電子回路（５）が設けられている。動作開始信号は、布に関係する動作例えば布の駆動装置の停止を開始することができる。装置（１）は、完全なデータ処理又は信号を分散して最低レベルで行う。それにより装置は安価で、場所を節約し、幾何学的にも価格的にも基準化可能である。
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【課題】 管引きされるガラス管を管引き成形ライン上で連続して異物等の検査を行う。
【解決手段】 連続成形を行う管引き成形ライン３に設置され、管軸方向に連続移送されるガラス管１５を撮影する撮像装置２０と、この撮像装置２０に対しガラス管軸を挟み対向配置された光源１９と、この光源１９で光照射されたガラス管１５の撮像装置２０による撮影画像を画像処理し異物不良等を検出する画像処理装置２３を備えた装置で、画像処理装置２３は、検査枠５３が、撮影画像５０のガラス管１５肉厚部の肉厚遮光部分５１よりも内方側の透光部分５２に、肉厚遮光部分５１から所定距離Ｒだけ離して設定されていて、該検査枠５３内にある異物等の遮光画像５８を画像処理して不良検出するものであり、検査枠５３が、該ガラス管１５蛇行時の肉厚遮光部分５１の位置変動に追随して所定距離Ｒを維持するよう設定されている。 （もっと読む）

対象物（２）の特徴を映す測定システム（１）が少なくとも第１層（２ａ）及び第２層（２ｂ）を有する。対象物（２）は入射光（４）で照射され、対象物（２）からの反射光（５ｂ）が検出光を電荷に変換する画像センサー（６）で検出され、それにより対象物（２）の映像が作られる。対象物（２）の第１層（２ａ）及び第２層（２ｂ）で散乱した光（５ａ）に関する情報が映像から得られ、情報は対象物（２）上の欠陥を検出するために記憶された情報と比較される。
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