【課題】結晶化過程、特に結晶成長過程を経時的にモニターする方法、当該モニター方法を利用することを特徴とする結晶の製造方法を提供すること。
【解決手段】本発明の化合物の結晶化過程のモニター方法は、近赤外（ＮＩＲ）スペクトルを用いて行うものであり、具体的には、化合物を融点以上に加熱して溶融状態とした後から一定の温度で保存して結晶化に至るまでの間、化合物の分子構造を構成する官能基の吸光度がどのように変化するかを、近赤外分光計を用いて追跡することにより行われ、該モニター方法により得られる知見を用いて、粒度または結晶形が制御された結晶を製造することにより行われる。 （もっと読む）

【課題】 被覆材料の状態をより正確に検出して制御することで、安定した成膜を行うことができる成膜制御方法、成膜制御装置、この制御装置を具える成膜装置を提供する。
【解決手段】 本発明成膜制御装置は、窓部105を有する成膜装置100内で被覆材料を蒸発させて成膜対象200に薄膜を形成する際、窓部105を透過してきた被覆材料からの光を検出し、この検出光に基づいて蒸発量を調整する。窓部105に付着した被覆材料により窓部105の透過率が低下し、検出光が減衰した分を補償するべく、本発明制御装置は、成膜装置100の外部に配される光源20から出射されて窓部105を透過していない基準光の強度と、窓部105を透過した透過光の強度とを第一・第二測定部21,22によりそれぞれ測定し、これら強度を比較して窓部105の透過率を求め、この透過率に基づいて補正部により検出光を補正する。 （もっと読む）

【課題】 被測定物の伝達特性の測定の際の周波数分解能を高くする。
【解決手段】 入射光を生成する第一テラヘルツ光発生器１８と、入射光の光周波数f₁−f₂との差が一定の差分周波数f_IFである光周波数f₁−f₂−f_IFを有する参照光を生成する第二テラヘルツ光発生器２８と、入射光を光ファイバ２に入射して得られた応答光と参照光とに基づき、差分周波数f_IFを有する光検出信号を出力するテラヘルツ光検出器４４と、光検出信号を受けて、光ファイバ２の特性を測定するネットワークアナライザ５０を備えた測定装置１によれば、光ファイバ２に入射される入射光（テラヘルツ光）のスペクトルは、キャリア周波数（f₂−f₁）を含むものの、側帯周波数（f₂−f₁±f_IF）を含まない。よって、入射光の実効的なスペクトル幅を狭くすることができる。これにより、光ファイバ２の伝達特性の測定の際の周波数分解能が高くなる。 （もっと読む）

【課題】電磁波（例えば、テラヘルツ波）を用いて水等の流体などの試料のセンシングを行う際に、電磁波によるセンシングに対して試料を好ましい相状態にして、センシングを行うことができるセンシング装置ないし方法を提供することである。
【解決手段】センシング装置は、電磁波を伝播させるための伝送路10と、伝送路10を伝播する電磁波が分布する領域の少なくとも一部を含む部分に試料を収容するための収容部を有する。更に、収容部に収容される試料を相変化させるための相変化手段11、12を有することで、収容部内の試料を所望の相にした状態で伝送路10に電磁波を伝播させて分光学的手段などで試料の情報を得る。 （もっと読む）

【課題】 本発明は、延伸ブロー成形されたプラスチック容器のベースを検査することにより、その品質を管理する方法に関し、実行が容易であり、非常に失敗しにくいものを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】 本発明は、プラスチック容器における引き伸ばされていない及び／又はわずかにだけ引き伸ばされた領域の表面積などについて、品質特徴を測定することを提案するものである。 （もっと読む）

【課題】
不完全部分を有する半導体結晶を予め製造プロセスから取り除くことができる、半導体結晶のスクリーニング方法を提供すること。
【解決手段】
本発明の半導体結晶のスクリーニング方法は、半導体結晶に電子線又は光を照射することによって半導体結晶の不完全部分での欠陥を誘起し、その後、カソードルミネッセンス法又はフォトルミネッセンス法により半導体結晶の欠陥検査を行い、その結果に基づいて半導体結晶のスクリーニングを行う工程を備える。 （もっと読む）

【課題】 低損失な導波路を提供することを目的とする。
【解決手段】 導電体で形成される単一線と、前記単一線を覆う誘電体部材とを備え、前記誘電体部材が間隙を有している導波路を提供する。 （もっと読む）

【課題】
本発明は、電波、光波、Ｘ線などを含む電磁波工学の分野に属する。フォトニック結晶偏光分離素子に代表される誘電率周期構造における遮断域の減衰定数を精度良く計算する手法を提供する。
【解決手段】 全方位周期境界型ＦＤＴＤ法などの既存の数値解法によって求めた伝搬域・遮断域境界での周期構造内の電磁界分布の試験関数を、固有周波数の変分表現に代入して数値積分を評価することにより、遮断域での減衰定数と固有周波数との関係を従来手法に比べ少ない計算量で精度良く計算することができる。 （もっと読む）

【課題】それぞれ複数の電磁波伝送部分に電磁波を伝播させて獲得される複数の検出信号を適当に処理することで、比較的高速、高感度に検体の物性などの情報を得ることができるセンシング装置を提供することである。
【解決手段】30GHz〜30THzの周波数領域内の周波数領域を含む電磁波を用いて検体5、6の情報を得るためのセンシング装置である。それぞれ異なる状態で電磁波を伝播するための複数の伝送部分4a、4bを有する電磁波伝送部と、伝送部分4a、4bから電磁波を受けて検出するための検出部3a、3cを備える。少なくとも一つの伝送部分4a、4bは、そこを伝播する電磁波が及ぶ部分に検体5、6を配することができるように構成されている。 （もっと読む）

【課題】 基本性能を損ねることなく効果的に省電力化を図ることのできる路面状態検出装置。
【解決手段】 路面状態検出装置は、偏光面を水平方向及び垂直方向に切替可能な偏光切替装置と、該偏光切替装置を透過した水平偏光画像及び垂直偏光画像を撮像するカメラと、該撮像された水平偏光画像及び垂直偏光画像に基づいて車両が走行する路面の乾湿状態を判定する制御装置とを備える。そして、制御装置は、周期的に上記路面状態判定を実行し、車速が低いほど、その判定点Ｐｄ間の周期Ｔを長くする。 （もっと読む）

【課題】 ファブリ・ペロー干渉計を用いて屈折率を高精度に検出することができるようにし、小型で流体以外の各種物体の屈折率を測定することができようにする。
【解決手段】 対向する面に反射膜を付加した互いに平行な２枚のガラスの間で光の反射を繰り返し共振させて干渉を生じるファブリ・ペロー干渉計を用い、前記ファブリ・ペロー干渉計には広帯域の光周波数コムを入射し、上記ファブリ・ペロー干渉計から出射する光周波数コムを、隣り合うモードの周波数間隔よりも細かい分解能でスペクトルを測定する光スペクトラムアナライザを用い、上記ファブリ・ペロー干渉計の共振周波数が、干渉計共振器の光学的長さに依存する現象により、前記光スペクトラムアナライザによって求められた光スペクトルの包落線から広い波長範囲にわたるファブリ・ペロー干渉計の一連の共振周波数を求めることにより、被測定物質の屈折率における波長分散を絶対測定する。 （もっと読む）

トーチにおいてプラズマを維持するための装置が提供される。ある実施例では、装置は、電源に連結するように構成されてトーチの半径面に沿ってループ電流を流すように構成配置された第１の電極を備える。いくつかの実施例では、トーチの半径面はトーチ長手方向軸に実質的と直交する。
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【課題】 各種の試料に対応できる汎用性の高いテラヘルツ分光装置を提供する。
【解決手段】 テラヘルツ発生器３、テラヘルツ検出器７及び第１、第２のテラヘルツ光学系４，６を１つのユニット９とした。ユニット９は分光装置本体１０の上部に対して着脱可能である。 （もっと読む）

【課題】 たとえば光学系や光学部品の透過波面の微小なうねり成分を高精度に測定することのできる光学特性測定装置。
【解決手段】 被検物（１３）を介した光束から、第１の光束と、第１の光束に対して光路長が異なる第２の光束とを生成し、第１の光束と第２の光束とを干渉させる干渉系（１，２，３，４）と、第１の光束と第２の光束との干渉により形成された干渉縞に基づいて、被検物の光学特性（透過波面、屈折率分布など）を検出するための検出系（５，１５）とを備えている。 （もっと読む）

【課題】 半田材検査装置の利用者の手間を軽減する。
【解決手段】 半田材検査装置は、試験用半田材を用いて印刷処理を実行したときの印刷処理時間と、上記印刷処理時間における試験用半田材の劣化度データとを対応付けた教師データを予め記憶した記憶部１４と、制御部１３とを備える。この制御部１３は、検査対象半田材の劣化度を示す劣化度データを取得する劣化度データ取得部３１と、教師データを参照して、使用限界値として設定される劣化度データに対応付けられている印刷処理時間Ｔ２と、上記劣化度データ取得部３１に取得された劣化度データに対応付けられている印刷処理時間Ｔ１とを読み出す読出部３３と、両印刷処理時間Ｔ１・Ｔ２の差を示す使用可能残時間ＴＲを演算する演算部３４と、使用可能残時間ＴＲを利用者に通知する表示制御部３５と、を含む。 （もっと読む）

【課題】 低コストな湿度検出装置及び画像形成装置の提供。
【解決手段】 湿度に応じて、その形状を変化させる繊維、発光素子であるＬＥＤ、受光素子であるＰＤから構成され、繊維から反射する光量、繊維を透過する光量の変化を測定することにより湿度を検出することを特徴とする湿度検出装置。 （もっと読む）

【課題】 高速測定が可能な観測装置、観測方法等を提供する。
【解決手段】 本発明の第１の側面は、液晶変調素子によって、右回り円偏光及び左回り円偏光が選択的に作り出されるように前記液晶変調素子が制御され、偏光子を通過する光によって試料を観測することを特徴とする観測装置にある。また、本発明の他の側面は、偏光子及び液晶変調素子を順に通過するように光の光路が設定された状態で、前記偏光子を通過する光によって試料を観測する際に、前記液晶変調素子によって、右回り円偏光及び左回り円偏光が選択的に作り出されるように前記液晶変調素子を制御する工程と、前記液晶変調素子によって作り出される右回り円偏光状態及び左回り円偏光状態に対応した、前記試料の光学データをそれぞれ生成する工程とを有することを特徴とする観測方法にある。 （もっと読む）

【課題】 高精度な非金属介在物検査方法及びこれを用いた鋼材の製造方法を提供する。
【解決手段】 本発明に係る鋼中非金属介在物検査方法は、照明光源として単波長レーザ光源を使用した光学顕微鏡を用いて鏡面研磨した鋼の表面を観察し、観察した濃淡画像における鋼と非金属介在物との輝度差に基づいて、非金属介在物を識別することを特徴とする。また、本発明に係る鋼材の製造方法は、本発明に係る鋼中非金属介在物検査方法を適用して鋼鋳片及び／又は鋼材の清浄度を調査し、該調査結果に基づいて製造条件を調整する及び／又は鋼材を分別することにより、要求清浄度に合致する鋼材を製造することを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】複屈折プリズムペアを用いた撮像偏光計測法が有する様々な特徴を継承しつつ、複屈折プリズムペアのリタデーションが温度変化その他の要因により変動することによって生じる偏光状態の２次元空間分布を示すパラメータの計測誤差を効果的に低減すること。
【解決手段】光強度分布Ｉ（ｘ，ｙ）中に含まれる振動成分から方程式を解くことにより、基準位相関数φ_１（ｘ，ｙ）、φ_２（ｘ，ｙ）が求められることに着目し、ストークスパラメータの２次元空間分布Ｓ_０（ｘ，ｙ）、Ｓ_１（ｘ，ｙ）、Ｓ_２（ｘ，ｙ）、Ｓ_３（ｘ，ｙ）の測定と同時に、基準位相関数φ_１（ｘ，ｙ）とφ_２（ｘ，ｙ）を較正するようにした。 （もっと読む）

【課題】 ソフトマテリアル、たとえば高分子ゲル等の複雑系物質の動的構造（動的感受率）の解析のための周波数依存誘電感受率の測定方法の問題点を解消し、物質起源の高振動数領域での高い感度をもって、広い範囲で複雑系の動的構造を解析することのできる手段を提供する。
【解決手段】 可視視光による光散乱分光法と時間分解分光法との併用によって不均一複雑系物質の熱ゆらぎのスペクトルをそれぞれ観測し、得られたスペクトルデータに対して、不均一複雑系物質の静電動的感受率における全体の緩和過程は動的階層に対応する複数の緩和過程の重ね合わせよりなり且つ各緩和過程はそれぞれ特徴的な緩和時間を有するとともに各緩和過程はそれぞれ単一の指数関数により表すことができるというモデルを適用し、各緩和過程が有する緩和時間を求めることにより、不均一複雑系物質の動的階層構造を静電動的感受率の振動数依存性として解析するものである。 （もっと読む）