本発明は、散乱光を測定するための装置に関し、装置は、試料に焦点を合わせることのできる電磁放射を備えた少なくとも一つの集束要素と、検出器と、試料により散乱された電磁放射を検出器に導くことができる検出器光学システムを備える。装置は、環状ビームを形成する手段を備え、その環状ビームは、少なくとも一つの集束要素によって試料内の焦点に焦点を合わせることができる。試料により散乱された電磁放射は、環状ビームに囲まれた領域内で拡散し、検出光学システムにより検出することができる。
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光周波数コム光源の成分の干渉によって生成されるビートスペクトルを基準付けて補正するための方法が提供される。提案される方法は、光源とビートレプリカとの間のマッピングの変化の監視を可能にする。これは、その後、従来技術の精度および測定時間の限界を克服するために、フーリエ変換分光法または任意の他の干渉分光法用途において光源の小さな変化を補償するために使用できる。その結果、光源安定性に対する制約が減少される。
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【課題】酸、アルカリ、水のいずれに対しても不溶性であるＣｒ_２Ｏ_３が試料中に含まれていても、簡便な操作で、固体試料中の全クロムを迅速かつ正確に定量する方法を提供する。
【解決手段】固体試料に硫酸を添加して加熱する酸分解工程、及び、前記固体試料の酸分解物に過マンガン酸カリウムを添加して加熱する工程を有するようにした。 （もっと読む）

【課題】正確かつ高速に位相差および屈折率差を測定することができるシステムを提供する。
【解決手段】光を照射する光源１と、光源により照射された光を第１の光路と、第２の光路に分割する分割手段３と、第２の光路の光路長を変更する光路長変更手段７と、第２の光路内に配置された一対のレンズ８，９と、一対のレンズの間に試料を配置し移動させる試料移動手段１０と、第１の光路からの光２１と第２の光路からの光２２との干渉光の強度を検出する光検出手段１１と、光検出手段において検出された干渉光の強度に基づき光路長変更手段における光路長の変更量をフィードバック制御する制御手段１２と、制御手段により制御された光路長の変更量を検出する変更量検出手段と、を備える。 （もっと読む）

【課題】成形用原料樹脂や樹脂成形品の内部に混入または表面に付着したセルロース異物を判別するための方法を提供する。
【解決手段】
成形用原料樹脂あるいは樹脂成形品の内部に混入または表面に付着したセルロース異物、および成形用原料樹脂の製造工程あるいは樹脂成形品の成形工程の周辺環境に存在するセルロース物質の顕微赤外吸収スペクトルを透過測定または反射測定し、該スペクトルの波数１４００〜１３５０ｃｍ^−１の範囲に現れる最も吸収の強いピークの吸光度を波数３０００〜２８００ｃｍ^−１の範囲に現れる最も吸収の強いピークの吸光度で割った値と、１４６０〜１４００ｃｍ^−１の範囲に現れる最も吸収の強いピークの波数と、１１８０〜１１４０ｃｍ^−１の範囲に現れる最も吸収の強いピークの波数とを比較することによるセルロース異物およびセルロース物質の判別方法。 （もっと読む）

【課題】 迅速かつ高精度で土壌改良の進行度合いを判断することができる土壌状態判定方法を提供する。
【解決手段】 判定対象となる土壌の画像を撮像手段２によって撮像する。撮像した画像を画像処理装置１に出力する。画像処理装置１における画像処理部１２には、基準となる土壌を撮像した画像からなる基準画像の輝度値の分布が記憶されている。画像処理部１２では、判定対象となる土壌の画像における輝度値の分布を求める。比較判定部１３では、基準画像の輝度値の分布と判定対象となる画像における輝度値の分布を比較し、その結果に基づいて、判定対象となる画像の土壌判定を行う。 （もっと読む）

【課題】光学部品などが不純物に晒される前にケミカルフィルタなどの不純物除去部材の劣化度を判定することが出来る劣化判定装置を提供すること。
【解決手段】光源（短波長光源２８）からの光を誘導する光誘導部（ハーフミラー１１）と、前記光誘導部から誘導された光の照射下で、所望の雰囲気以外の不純物に晒される劣化判定部材（ターゲット板１２）と、前記劣化判定部材の劣化度を監視するモニター部（光電センサ１４、モニター部１６）と、を備える。 （もっと読む）

【課題】 迅速かつ高精度で土壌改良の進行度合いを判断することができる土壌状態判定方法を提供する。
【解決手段】 判定対象となる土壌の画像を撮像手段２によって撮像する。撮像した画像を画像処理装置１に出力する。画像処理装置１における画像処理部１２には、基準となる土壌を撮像した画像からなる基準画像の輝度値の分布が記憶されている。画像処理部１２では、判定対象となる土壌の画像における輝度値の分布を求める。比較判定部１３では、基準画像の輝度値の分布と判定対象となる画像における輝度値の分布を比較し、その結果に基づいて、判定対象となる画像の土壌判定を行う。 （もっと読む）

【課題】赤外吸収スペクトルの測定により、アイオノマー樹脂の中和度を求める方法であって、赤外吸収スペクトルのばらつきが小さく、アイオノマー樹脂の中和度の正確な測定を可能にする方法を提供する。
【解決手段】アイオノマー樹脂の試料の赤外吸収スペクトルを測定し、その１７００ｃｍ^−１のピーク高さＡ及び２９１５ｃｍ^−１のピーク高さＢを求めると共に、前記アイオノマー樹脂の試料を、アルコールを含有する塩酸と接触させて、前記アイオノマー樹脂中の金属イオンを除去した後に赤外吸収スペクトルを測定し、その１７００ｃｍ^−１のピーク高さＣ及び２９１５ｃｍ^−１のピーク高さＤを求め、式：１００−１００×（Ａ／Ｂ）／（Ｃ／Ｄ）による計算値を中和度（％）とすることを特徴とする、アイオノマー樹脂の中和度測定方法。 （もっと読む）

【課題】透過率を変更しても光路長を一定とすることができるとともに透過率の波長依存性を低減することができるテラヘルツ波用減光フィルタを提供する。
【解決手段】減光フィルタ３１は、透過領域（貫通孔３１２が形成されている領域）と遮断領域（貫通孔３１２が形成されていない領域）とがテラヘルツ波の波長において周期構造を有しないよう分布していて、透過領域が占める割合に応じた透過率でテラヘルツ波を透過させる。この減光フィルタ３１は、透過率を変更しても光路長を一定とすることができるとともに、透過率の波長依存性を低減することができる。 （もっと読む）

【課題】 本発明の解決すべき課題はリニアアレイ型検出器を用いたマッピング測定装置において、各検出素子間の特性の相違を解消することにある。
【解決手段】 直交軸Ｘ，Ｙで規定される試料表面上の所定領域５０の試料情報を、Ｘ方向に配列された複数個Ｎの検出素子１８Ａ〜１８Ｊを有したリニアアレイ型検出器１８をＹ方向に走査することにより取得するマッピング測定装置１０において、
測定領域の各測定点（１，１）〜（８，８）に対し、前記検出器１８の少なくとも複数の素子で測定を行い、その平均値を得ることを特徴とするマッピング測定装置。 （もっと読む）

【課題】分光光度計に標準的に搭載・使用される試料室ユニットとは保持機構の異なる試料室ユニットを、通常と同様に搭載・使用することができる分光光度計を提供する。
【解決手段】Ａ型試料室ユニットを標準的に搭載・使用する分光器の試料室内に、Ｂ型試料室ユニットの保持機構を備えたアダプターを取り付け、これによってＢ型試料室ユニットを搭載・使用可能にする。更に、アダプターとＢ型試料室ユニットおよび分光光度計内部の部品の間に寸法的に重複する部分を意図的に追加して、搭載した時の外光の侵入を防止する。 （もっと読む）

【課題】簡便で高精度にプラスチック材質を判別する。
【解決手段】プラスチック材質判別において、プラスチック材からなる物品の遠紫外スペクトルを測定し、次に、遠紫外スペクトルの吸収バンドの吸収端近傍のスペクトル特性より上記物品の材質を分別する。 （もっと読む）

【課題】アルカリあるいはアルカリ土類型ゼオライトにおいてルイス酸点に吸着した ＮＨ_３のＩＲ−ＴＰＤを正確に算出する方法を提供する。
【解決手段】アンモニア吸着後３７３Ｋで測定したスペクトルをＡ（３７３）として、温度Ｔにおける吸着アンモニアのスペクトルに与える寄与をＡ（３７３）−Ａ（Ｔ）と仮定し、Ａ（３７３）−Ａ（Ｔ）の１６００ｃｍ^−１付近の吸収バンド面積の温度による微分ｄ｛Ａ（３７３）−Ａ（Ｔ）｝／ｄＴによってルイス酸点に吸着したＮＨ_３のＩＲ−ＴＰＤを求める。このＩＲ−ＴＰＤと、ブレンステッド酸点に吸着したＮＨ_４のＩＲ−ＴＰＤにそれぞれ適当な係数を乗じ、合計が質量分析計で測定した気相アンモニア濃度と一致させ、脱離アンモニア中のルイス酸の寄与分を知ることによってルイス酸点の量と強度を算出する。 （もっと読む）

【課題】反射像における濃淡差が相対的に小さい被測定物に対するフォーカス合わせをより容易に行なうことのできる光学特性測定装置およびフォーカス調整方法を提供する。
【解決手段】観察用光源が発生する観察光のビーム断面の光強度（光量）は、略均一である。マスク部２６ａがこの観察光の一部をマスクすることで、そのビーム断面においてレチクル像に相当する領域の光強度が略ゼロにされる。このレチクル像に相当する影領域が形成された観察光は、ビームスプリッタ２０で反射されて被測定物ＯＢＪへ照射される。この被測定物ＯＢＪに投射されたレチクル像に対応する反射像の濃淡差（コントラスト）に基づいて、被測定物ＯＢＪに対する測定光のフォーカス状態を判断する。 （もっと読む）

【課題】試料面に対する測定装置の姿勢誤差の影響を抑制するとともに、測定部位を確認し易く且つ試料面の凹んだ部位の測定が可能なよりコンパクトな反射特性測定装置を提供する。
【解決手段】試料を照明して該試料からの反射光の特性を測定する反射特性測定装置を、中心軸を挟んで第１及び第２の平面鏡が該中心軸と平行に一定の間隔で対向配置されてなり、前記中心軸方向における一端側が入射端、他端側が射出端である平行平面鏡対と、前記中心軸を含み前記第１及び第２の平面鏡に直交する入射平面に沿って、少なくとも１つの光束を、前記入射端側から所定の入射角で前記第１の平面鏡に入射させる投光系とを備えたものとする。 （もっと読む）

【課題】非接触、非破壊で、文化財を移動させることなく、文化財の材料の化学的性質を検査、分析すること。
【解決手段】文化財の被検査部を可視像で撮影する可視像撮像装置（２６）と、前記可視像撮影装置（２６）で撮影される前記被検査部に照射されるレーザー光を発生するレーザー光源と、前記被検査部から反射された散乱光を分光する分光部（１８）と、前記分光部（１８）で分光された特定の波長の光に基づいてラマンイメージ画像を撮像するラマンイメージ撮像装置（２２）と、を有する分光分析装置（４）と、前記可視像撮像装置（２６）で撮像された前記被検査部の可視像と、前記被検査部のラマンイメージ画像とを対応づけて記憶する画像記憶手段と、を備えた文化財検査装置（１）。 （もっと読む）

【課題】 構成部材として貴金属を用いることなく簡易かつ安価に製造でき、精度の良い腐食情報を取得できる腐食環境センサおよびセンサシステムを提供する。
【解決手段】 この腐食環境センサ１は、成分、組成、または表面処理状態等の種類が互いに異なる２種類の金属電極６，７を有する。これら２種類の金属電極６，７は、互いに直接に接触して固定手段１１，１２で固定されて金属電極組２とされる。この金属電極組２は、両金属電極６，７間の電極接触部８が被検出環境下に晒される。金属電極組２の電極接触部８に光を照射する発光部９およびその照射された光の前記電極接触部８での反射光を検出する受光部１０を有する光反射検出手段３を設ける。金属電極組２における前記電極接触部８の腐食を、前記光反射検出手段３の照射光に対する反射光の光強度の割合を検出することで検出する腐食検出回路４を設ける。 （もっと読む）

【課題】良好なテラヘルツ波の出力特性を有し、良好なテラヘルツイメージングを可能にするテラヘルツ波発生装置を提供する。
【解決手段】テラヘルツ波を発生させるテラヘルツ波発生装置であって、電圧が印加された状態でパルス光の照射を受けるとテラヘルツ波を発生する光伝導スイッチアレイ１１と、当該装置に入射されるパルス光を回折により光量の等しいパルス光に分岐させ、光伝導スイッチアレイ１１に分岐されたパルス光を照射させるＤＯＥ（Ｄｉｆｆｒａｃｔｉｖｅ Ｏｐｔｉｃａｌ Ｅｌｅｍｅｎｔ）９とを備える。 （もっと読む）

【課題】測定対象のイメージング画像を短時間に比較的簡易な構成で取得することができる画像形成装置、及び画像形成方法を提供する。
【解決手段】画像形成装置において、電磁波発生器1から発生した電磁波8が、空間的な信号強度変調を付与する空間的変調付与手段2を介して、測定対象3に照射される。測定対象3からの電磁波10は電磁波検出手段4で測定され、その測定信号は、空間的変調付与手段2で付与された強度変調と同期した参照信号を用いて信号処理部5により信号処理され、画像取得部7によって画像が形成される。 （もっと読む）